TWI533181B - 光學式觸控感測裝置及其觸控信號判斷方法 - Google Patents

Description

光學式觸控感測裝置及其觸控信號判斷方法

本發明是有關於一種觸控感測裝置，且特別是有關於一種避免手掌誤觸的光學式觸控感測裝置及其方法。

為使電子裝置能夠達到輕、薄、短、小外型觀感，同時讓使用者易於操作電子裝置的應有功能，觸控螢幕逐漸成為電子裝置的必備輸出與輸入工具。使用者在操作可攜式電子裝置(例如是手機或平板電腦等)上的觸控面板時，通常會以手部懸空的方式操作觸控面板，以避免手掌或身體其他部分誤觸觸控面板。然而，隨著電子裝置的外型愈發輕薄，使用者在握持電子裝置所使用的空間變小，因而會無可避免地讓手掌接觸到觸控面板而產生誤觸或誤操作。

依據感應器的工作原理，觸控面板大致可區分為電容式、電阻式、光學式…等數種類型。在電容式及電阻式觸控裝置中，目前已有技術可以藉由接觸物的觸控面積大小來判斷是否為手掌誤觸。然而，光學式觸控裝置在感測器的工作原理上與其他觸控 裝置不同，難以單純藉由觸控信號的遮蔽區域大小來判斷是否為手掌誤觸。其理由在於，光學式觸控感測裝置中取像單元所擷取的影像會因為觸控物距離鏡頭越遠而使觸控物所佔的面積越小。

圖1A及圖1B是光學式觸控感應裝置100在感測觸控物120時產生鏡頭影像150的示意圖。圖1A中觸控物120相對於取像單元110之間的距離D1小於圖1B中觸控物120相對於取像單元110之間的距離D2，且圖1A與圖1B中的觸控物120皆具備相同大小。請同時參考圖1A及圖1B，當取像單元110沿著觸控面130取像以獲得鏡頭影像150時，圖1A中觸控物120所形成的遮蔽區域A1將會大於圖1B中觸控物120所形成的遮蔽區域A2。由於光學觸控感應技術難以直接藉由鏡頭影像上的遮蔽區域來作為手掌誤觸的判斷依據，因此廠商需另尋其他技術來解決光學式觸控裝置在手掌誤觸上的問題。

本發明提供一種光學式觸控感測裝置及其觸控信號判斷方法。此光學式觸控感測裝置先行判斷每個觸控信號之間的間距是否在手掌間距內，再判斷每個觸控信號在光學觸控資料中所遮蔽的寬度或面積，藉以將較大面積的觸控信號判斷為由手掌或其他大型觸控物所產生。如此一來，便可藉由光學是觸控感測裝置來判斷是否有手掌誤觸的情況，並忽略誤觸的觸控信號。

本發明提出一種光學式觸控感測裝置，其包括光源模組、 至少一個取像元件以及處理單元。光源模組配置於觸控面。光源模組向觸控面提供偵測光線。取像元件沿著觸控面取像以基於所述偵測光線而擷取光學觸控資料。處理單元耦接所述取像元件以接收所述光學觸控資料。處理單元依據辨識閥值來辨識所述光學觸控資料以獲得多個觸控信號、所述觸控信號所對應的多個觸控座標及多個遮蔽參數。處理單元比較所述觸控座標之間的觸控物間距是否小於或等於手掌間距。當所述觸控信號之間的觸控物間距小於或等於所述手掌間距時，處理單元比較所述觸控信號所對應的所述遮蔽參數以選擇所述遮蔽參數中的最大遮蔽參數，並依據最大遮蔽參數及面積閥值以決定忽略最大遮蔽參數所對應的觸控信號。

從另一角度來看，本發明提出一種光學式觸控感測裝置的觸控信號判斷方法，其包括下列步驟。透過至少一取像元件而接收基於偵測光線的光學觸控資料；依據辨識閥值來辨識所述光學觸控資料以獲得多個觸控信號、所述觸控信號所對應的多個觸控座標及多個遮蔽參數；比較所述觸控座標之間的觸控物間距是否小於或等於手掌間距；當所述觸控信號之間的觸控物間距小於或等於所述手掌間距時，比較所述觸控信號所對應的所述遮蔽參數以選擇所述遮蔽參數中的最大遮蔽參數；以及，當所述最大遮蔽參數大於面積閥值時，忽略所述最大遮蔽參數所對應的觸控信號。

基於上述，本發明實施例所述的光學式觸控感測裝置藉 由多個觸控信號的觸控座標來判斷這些觸控信號之間的間距是否在手掌間距內，然後利用光學觸控資料中之觸控信號所占有的遮蔽寬度或遮蔽面積來判斷在是否具有較大面積的觸控信號，藉以將此較大面積的觸控信號判斷為由手掌或其他大型觸控物所產生。藉此，便可藉由光學式觸控感測裝置來判斷是否有手掌誤觸的情況，並忽略誤觸的觸控信號。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

100、200‧‧‧光學式觸控感應裝置

110‧‧‧取像單元

120‧‧‧觸控物

130‧‧‧觸控面

150‧‧‧鏡頭影像

210‧‧‧光機模組

220‧‧‧光源模組

230‧‧‧取像元件

240‧‧‧處理單元

250‧‧‧觸控面

260‧‧‧邊條

S310~S360、S610~695‧‧‧步驟

410、510‧‧‧光學觸控資料

420‧‧‧辨識閥值

TS1、TS2‧‧‧觸控信號

W1、W2‧‧‧觸控信號的遮蔽參數

SP1、SP2‧‧‧觸控信號的深度

P1、P2‧‧‧觸控座標

D1、D2‧‧‧觸控物與取像單元之間的距離

圖1A及圖1B是光學式觸控裝置在感測觸控物以產生鏡頭影像的示意圖。

圖2A及圖2B分別是符合本發明實施例的一種光學式觸控感應裝置的示意圖及方塊圖。

圖3是符合本發明實施例之一種光學式觸控感應裝置200之觸控信號判斷方法的流程圖。

圖4及圖5為取像元件所擷取之光學觸控資料的示意圖。

圖6是符合本發明實施例之另一種光學式觸控感應裝置之觸控信號判斷方法的流程圖。

為使光學式觸控感測裝置能夠從兩個或兩個以上的觸控信號中判斷何者為手掌所形成的觸控信號，本發明實施例的光學式觸控感測裝置先判斷這兩個觸控信號之間的間距是否超過預設的手掌距離，再藉由這兩個觸控信號所遮蔽的區域來判別這兩個觸控信號的觸控面積，以將兩個觸控信號之間的間距低於預設手掌距離及具備較大觸控面積的觸控信號判斷為由手掌所形成的誤觸觸控信號，從而將其忽略或刪除。藉此，本發明實施例的光學式觸控感測裝置便可在多個觸控信號中判斷是否有手掌誤觸的情況。下述揭示將說明本發明實施例的各個實施細節，應用本發明實施例者亦可依照下述揭示進行適度延伸。

圖2A及圖2B分別是符合本發明實施例的一種光學式觸控感應裝置200的示意圖及方塊圖。請參考圖2A及圖2B，光學式觸控感測裝置200主要包括光源模組220、至少一個取像元件230以及處理單元240。於本實施例中，光源模組220及取像元件230整合成光機模組210，並且配置於觸控面250周邊。光源模組220受控於處理單元240，以向觸控面250提供偵測光線。取像元件230亦受控於處理單元240以沿著觸控面250取像，並基於光源模組220所產生的偵測光線來擷取光學觸控資料(例如，鏡頭影像)。於本實施例中，光學式觸控感測裝置200在觸控面250周圍配置兩個光機模組210。應用本實施例者可依其需求在光學式觸控感測裝置200中光機模組210的數量。

處理單元240可以是各種形式的功能模組、嵌入式系統 或微處理器。處理單元240用以耦接光機模組210以控制光源模組220以及取像元件230。透過取像元件230以接收光學觸控資料，並分析此光學觸控資料以進行本發明實施例所述之光學式觸控感測裝置200的觸控信號判斷方法。

光學式觸控感測裝置200更包括環繞於觸控面250四周的邊條260。邊條260的功用將依據光學式觸控感測裝置200如何偵測觸控物而不同。光學式觸控感測裝置200可以採用「觸控物遮蔽」型態來感測觸控物。「觸控物遮蔽」型態是，光學式觸控感測裝置200利用偵測光線在觸控面250上形成一道光面，若有觸控物在觸控面250上時則會遮斷光線以在取像元件230所擷取的光學觸控資料上留下陰影及位置。處理單元240可得出手指觸控點與光學鏡頭之間的相對角度，並根據已知光學鏡頭之間的距離並結合三角定位法來計算觸控點的精確位置。此時，邊條260便用來反射偵測光線，藉以讓光線可以反射回取像元件230的鏡頭。相對地，光學式觸控感測裝置200也可以採用「觸控物反射」類型的方式來感測觸控物。「觸控物反射」類型是，光學式觸控感測裝置200利用取像元件230來感測藉由偵測光線在觸控到觸控物後所反射的光線位置及光線強度，處理單元240便利用反射的光線位置及光線強度並結合上述三角定位法來計算觸控點的精確位置。此時，邊條260便用來發散或吸收偵測光線，以避免將偵測光線反射回取像元件230。本發明實施例的光學式觸控感測裝置200主要是採用「觸控物遮蔽」型態來感測觸控物，但應用本實施 例者應可藉由本案實施例的揭示而可輕易類推至採用「觸控物反射」型態的光學式觸控感測裝置。於本實施例中，邊條的寬度依照觸控面250而可適度變更，通常約略為3~5毫米。

圖3是符合本發明實施例之一種光學式觸控感應裝置200之觸控信號判斷方法的流程圖。於本實施例中，觸控信號判斷方法主要是以圖2B中的處理單元240來實現。請同時參照圖2A、圖2B及圖3，於步驟S310中，處理單元240控制光機模組210中的光源模組220以使其發射偵測光線，並透過光機模組210中至少一個取像元件230以接收基於所述偵測光線所產生的光學觸控資料。光學觸控資料可以如圖4及圖5所示。圖4及圖5為取像元件230所擷取之光學觸控資料的示意圖。圖4及圖5的X軸利用像素點(pixel)來表示作為光學觸控資料中的距離單位，Y軸則利用取像元件230感受到的光線強度所轉換而成的電壓來做為觸控信號的信號強度。圖4是當光學式觸控感測裝置200的觸控面250並未出現觸控物時所產生的光學觸控資料410。於本實施例中，處理單元240將圖4繪示的光學觸控資料410作為原始亮度，並且依據原始亮度(光學觸控資料410)在Y軸上的特定比例(例如，光學觸控資料410中亮度的75%)做為辨識閥值420。處理單元240可以藉由此辨識閥值420來作為從光學觸控資料中判斷出觸控信號的依據。

圖5則是當光學式觸控感測裝置200的觸控面250出現兩個觸控物時所產生的光學觸控資料510。在此以圖5來說明後續 的實施方式，並加以說明圖3中的步驟流程。請同時參照圖3及圖5，於圖3的步驟S320中，處理單元240依據辨識閥值410來辨識光學觸控資料510以獲得多個觸控信號TS1、TS2、這些觸控信號所對應的觸控座標P1、P2及多個遮蔽參數W1、W2。詳細來說，本發明實施例之「觸控物遮蔽」型態光學式觸控感測裝置200可利用光學觸控資料510中具有亮度較弱的遮蔽區域來識別觸控信號的座標以及信號強度。因此，圖2B中的處理單元240可藉由辨識閥值410來定義出光學觸控信號的臨界值。低於此辨識閥值410的所在區域可判定為觸控信號，例如觸控信號TS1及TS2。

於本實施例中，在辨識出觸控信號TS1及TS2之後，處理單元240亦會獲得每個觸控信號所對應的觸控座標以及遮蔽參數。觸控座標可以是圖2B之處理單元240經三角定位法計算後的二維座標。在此將觸控信號TS1的觸控座標稱為P1，將觸控信號TS2的觸控座標稱為P2。於本實施例中，觸控信號TS1對應觸控座標P1及遮蔽參數W1；觸控信號TS2對應觸控座標P2及遮蔽參數W2。本實施例以兩個觸控信號TS1、TS2作為舉例，然應用本實施例者亦可獲得數目為三個或以上的觸控信號。

特別說明的是，觸控信號TS1、TS2對應的遮蔽參數W1、W2用以表示觸控信號TS1、TS2相對應的觸控面積。於本實施例中，遮蔽參數W1、W2可以是觸控信號TS1、TS2分別在光學觸控資料中於辨識閥值420上的X軸寬度。於其他實施例中，遮蔽參數也可以是處理單元240藉由兩個取像元件230所獲得的兩個 光學觸控資料透過觸控物對應的遮蔽信號而交錯成的遮蔽面積。藉此，觸控信號對應的遮蔽參數便是用以表示觸控物相對應的遮蔽面積大小。

若於步驟S320辨識出只有一個觸控信號的話，處理單元240則會依照一般觸控信號辨識程序來判斷此觸控信號的位置及信號強度，藉以執行相應的觸控操作。另一方面，當處理單元240於步驟320中獲得兩個或兩個以上的觸控信號，藉以進入步驟S330繼續進行後續步驟流程。

於步驟S330中，處理單元240比較觸控信號TS1、TS2對應之觸控座標P1、P2之間的觸控物間距是否小於或等於手掌間距。換句話說，光學式觸控感測裝置200可藉由經三角定位法所計算出觸控信號TS1、TS2的精確觸控座標P1、P2來計算觸控座標P1、P2之間的觸控物間距，且判斷此觸控物間距是否小於或等於一般使用者手掌的距離，從而得知這兩個觸控信號TS1、TS2是否分別為手指觸控物及手掌觸控物。手掌間距可以是預設的參數，使用者也可以依其需調整此手掌間距的數值。

當觸控信號TS1、TS2之間的觸控物間距大於上述手掌間距時，表示這兩個觸控信號TS1、TS2相距過遠而不會是由同一個使用者之同一隻手上之手指與手掌所形成的不同觸控物所形成，有可能是同一個使用者同時使用左手與右手來進行觸控的情況，或是不同使用者分別使用各自的手指在進行觸控的情況。因此，當步驟S330為否時便進入步驟S335，處理單元240這兩個觸控 信號依照一般多點觸控辨識程序來判斷此觸控信號TS1、TS2的位置及信號強度，藉以執行相應的觸控操作。

相對地，當觸控信號TS1、TS2之間的觸控物間距小於或等於上述手掌間距時，表示這兩個觸控信號TS1、TS2相距較近而可能是由同一個使用者之同一隻手上之手指與手掌所形成的不同觸控物所形成。因此，當觸控信號TS1、TS2之間的觸控物間距小於或等於手掌間距時(也就是，步驟S330為是)，則進入步驟S340，處理單元240比較觸控信號TS1、TS2所對應的遮蔽參數W1、W2以選擇這些遮蔽參數中的最大遮蔽參數。從這些遮蔽參數中選擇最大遮蔽參數的理由是，希望從與觸控信號之觸控面積相關的這些遮蔽參數中找到疑似的手掌觸控物。

在本實施例中，處理單元240可依據上述最大遮蔽參數以及面積閥值之間的關係來判斷是否決定是否忽略最大遮蔽參數所對應的觸控信號。詳細來說，於步驟S350中，處理單元240判斷上述最大遮蔽參數是否大於一面積閥值。此處所指的「面積閥值」可以是固定的面積數值，或是藉由這些遮蔽參數中的次大遮蔽參數乘以一個倍率值(如，1倍至1.5倍)以作為面積閥值。此後者的作法是考量到當最大遮蔽參數大於次大遮蔽參數大很多倍時，則最大遮蔽參數所對應的觸控信號有較高可能性為手掌觸控物所形成，藉此便從步驟S350進入步驟S360，光學式觸控感測裝置200中的處理單元240刪除或忽略此最大遮蔽參數所對應的觸控信號。相反地，當最大遮蔽參數跟次大遮蔽參數之間的數值 相差不大時，則最大遮蔽參數跟次大遮蔽參數所對應的觸控信號很有可能皆是手指觸控物所形成。若是如此，便從步驟S350進入步驟S335，處理單元240藉由一般多指觸控觸控辨識程序來執行對應操作。

當所述最大遮蔽參數大於所述面積閥值時，表示此最大遮蔽參數對應的觸控信號所遮蔽的面積遠大於預設的手指觸控物所形成的遮蔽面積。也就是說，最大遮蔽參數對應的觸控信號可能是手掌觸控物所形成。因此便從步驟S350進入步驟S360，處理單元240便忽略此最大遮蔽參數所對應的觸控信號，藉以避免手掌誤觸。相對而言，當所述最大遮蔽參數小於或等於所述面積閥值時，處理單元240無法判定最大遮蔽參數對應的觸控信號為何種觸控物所形成的，因此便從步驟S350進入步驟S335，處理單元240這些觸控信號依照一般多點觸控辨識程序執行相應的觸控操作。

本發明實施例亦藉由圖2A、圖2B及圖6來提出另外一種光學式觸控感應裝置200之觸控信號判斷方法，圖6是符合本發明實施例之另一種光學式觸控感應裝置200之觸控信號判斷方法的流程圖。圖6與圖3的差異在於圖6額外增加了一些步驟，以使光學式觸控感應裝置200在判斷手掌誤觸時能夠更為準確。

請同時參照圖2A、圖2B及圖6，並以圖5的光學觸控資料510作為舉例。於步驟S610中，處理單元240控制光機模組210中的光源模組220以使其發射偵測光線，並透過光機模組210中 至少一個取像元件230以接收基於所述偵測光線所產生的光學觸控資料。於步驟S620中，處理單元240依據辨識閥值410來辨識光學觸控資料510以獲得多個觸控信號TS1、TS2、這些觸控信號所對應的觸控座標P1、P2及多個遮蔽參數W1、W2。於步驟S630中，處理單元240統計所述觸控信號的數量是否為1。當觸控信號的數量等於1時，便從步驟S630進入步驟S635，處理單元240依照一般觸控信號辨識程序來判斷此觸控信號的位置及信號強度，藉以執行相應的觸控操作。相對地，當觸控信號的數量不等於1時，表示觸控信號的數量為兩個或兩個以上，便從步驟S630進入步驟S640。

於步驟S640中，處理單元240透過觸控信號TS1、TS2對應的觸控座標P1、P2以計算兩者之間的觸控物間距。於步驟S650中，處理單元240比較觸控信號對應之觸控座標之間的觸控物間距是否小於或等於手掌間距。當觸控信號TS1、TS2之間的觸控物間距大於上述手掌間距時，便進入步驟S635，依照一般多點觸控辨識程序來判斷此觸控信號，以執行相應的觸控操作。相對地，當觸控信號TS1、TS2之間的觸控物間距小於或等於上述手掌間距時，便從步驟S650進入步驟S660。

於步驟S660中，處理單元240比較這些觸控信號的多個信號強度以判斷這些信號強度之間的差值是否大於信號強度閥值。所謂的「觸控信號的信號強度」可以是指觸控信號中Y軸深度，也就是光線強度。換句話說，觸控信號TS1的信號強度是以深度 SP1來判斷；觸控信號TS2的信號強度是以深度SP2來判斷。所謂的「信號強度閥值」則可為預設的數值，藉以用於保留多個信號強度相近的觸控信號。如果這些觸控信號之間的差值大於信號強度閥值的話，表示有些觸控信號的信號強度過小，因而可從步驟S660進入步驟S670，處理單元240忽略較低之信號強度所對應的觸控信號。

如果這些觸控信號之間的差值小於或等於信號強度閥值的話，表示有些觸控信號的信號強度相近，便從步驟S660進入步驟S680，處理單元240比較觸控信號所對應的遮蔽參數以選擇這些遮蔽參數中的最大遮蔽參數。於步驟S690中，處理單元240判斷上述最大遮蔽參數是否大於面積閥值。當上述最大遮蔽參數大於面積閥值時，便從步驟S690進入步驟S695，光學式觸控感測裝置200中的處理單元240刪除或忽略此最大遮蔽參數所對應的觸控信號。相反地，當上述最大遮蔽參數小於或等於面積閥值時，便從步驟S690進入步驟S635，處理單元240藉由一般多指觸控觸控辨識程序來執行對應操作。

於步驟S690之後，符合本發明的相關實施例還可以另外增加一些步驟以提升光學式觸控感測裝置在判斷手掌誤觸的精確度。於本實施例中，圖2B的處理單元240比較這些觸控信號所對應的遮蔽參數以選擇這些遮蔽參數中的次大遮蔽參數。所謂的「次大遮蔽參數」就是這些遮蔽參數中具備第二大數值的參數。之後，處理單元240判斷最大遮蔽參數所對應之觸控信號(稱為Ax)的 觸控座標及次大遮蔽參數所對應之觸控信號(稱為Ay)的觸控座標的相對應關係，藉以判斷觸控信號Ax與觸控信號Ay之間的位置關係是否符合使用者的手掌位置。換句話說，當最大遮蔽參數所對應之觸控信號Ax的觸控座標位於次大遮蔽參數所對應之觸控信號Ay的觸控座標下方時，表示位於下方的觸控信號Ax相較於觸控信號Ay而言具有較大的遮蔽區域，符合使用者手掌在誤觸時的情況。因此，處理單元240便可於此時忽略最大遮蔽參數所對應的觸控信號Ax。相對地，當最大遮蔽參數所對應之觸控信號Ax的觸控座標並沒有位於次大遮蔽參數所對應之觸控信號Ay的觸控座標下方時，處理單元240便可將這些觸控信號TS1、TS2依照一般多點觸控辨識程序來進行判斷，以執行相應的觸控操作。

綜上所述，本發明實施例所述的光學式觸控感測裝置藉由多個觸控信號的觸控座標來判斷這些觸控信號之間的間距是否在手掌間距內，然後利用光學觸控資料中之觸控信號所占有的遮蔽寬度或遮蔽面積來判斷在是否具有較大面積的觸控信號，藉以將此較大面積的觸控信號判斷為由手掌或其他大型觸控物所產生。藉此，便可藉由光學式觸控感測裝置來判斷是否有手掌誤觸的情況，並忽略誤觸的觸控信號。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍 當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

S310~S360‧‧‧步驟

Claims (11)

1. 一種光學式觸控感測裝置，包括：一光源模組，配置於一觸控面，向該觸控面提供一偵測光線；至少一取像元件，沿著該觸控面取像以基於該偵測光線而擷取一光學觸控資料；以及一處理單元，耦接該至少一取像元件以接收該光學觸控資料，依據一辨識閥值來辨識該光學觸控資料以獲得多個觸控信號、該些觸控信號所對應的多個觸控座標及多個遮蔽參數，比較該些觸控座標之間的一觸控物間距是否小於或等於一手掌間距，當該些觸控信號之間的觸控物間距小於或等於該手掌間距時，比較該些觸控信號所對應的該些遮蔽參數以選擇該些遮蔽參數中的一最大遮蔽參數，並依據該最大遮蔽參數及一面積閥值之一關係以決定是否忽略該最大遮蔽參數所對應的該觸控信號。
2. 如申請專利範圍第1項所述的光學式觸控感測裝置，當該些觸控信號之間的觸控物間距小於或等於該手掌間距時，該處理單元比較該些觸控信號的多個信號強度，且當該些信號強度之間的差值大於一信號強度閥值時，忽略較低之該信號強度所對應的該觸控信號。
3. 如申請專利範圍第1項所述的光學式觸控感測裝置，在獲得該些觸控信號及其所對應的該些觸控座標及對應的該些遮蔽參數後，該處理單元統計該些觸控信號的一數量，且當該數量等於1時，依據該觸控信號執行一觸控動作。
4. 如申請專利範圍第1項所述的光學式觸控感測裝置，該處理單元比較該些觸控信號所對應的該些遮蔽參數以選擇該些遮蔽參數中的一次大遮蔽參數，判斷該最大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標及該次大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標的一相對位置關係，當該最大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標位於該次大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標下方時，忽略該最大遮蔽參數所對應的該觸控信號。
5. 如申請專利範圍第1項所述的光學式觸控感測裝置，更包括：至少一邊條，設置於該觸控面四周，用以反射、發散或吸收該偵測光線。
6. 如申請專利範圍第1項所述的光學式觸控感測裝置，其中該些遮蔽參數是該些觸控信號在該光學觸控資料上的一寬度值或利用該至少兩個取像元件所形成的一面積值。
7. 一種光學式觸控感測裝置的觸控信號判斷方法，包括：透過至少一取像元件而接收一觸控面上基於一偵測光線的一光學觸控資料；依據一辨識閥值來辨識該光學觸控資料以獲得多個觸控信號、該些觸控信號所對應的多個觸控座標及多個遮蔽參數；比較該些觸控座標之間的一觸控物間距是否小於或等於一手掌間距；當該些觸控信號之間的觸控物間距小於或等於該手掌間距時， 比較該些觸控信號所對應的該些遮蔽參數以選擇該些遮蔽參數中的一最大遮蔽參數；以及當該最大遮蔽參數大於一面積閥值時，忽略該最大遮蔽參數所對應的該觸控信號。
8. 如申請專利範圍第7項所述的觸控信號判斷方法，當該些觸控信號之間的觸控物間距小於或等於該手掌間距時，更包括下列步驟：比較該些觸控信號的多個信號強度；以及當該些信號強度之間的差值大於一信號強度閥值時，忽略較低之該信號強度所對應的該觸控信號。
9. 如申請專利範圍第7項所述的觸控信號判斷方法，獲得該些觸控信號及其所對應的該些觸控座標及對應的該些遮蔽參數後更包括：統計該些觸控信號的一數量；以及當該數量等於1時，依據該觸控信號執行一觸控動作。
10. 如申請專利範圍第7項所述的的觸控信號判斷方法，更包括：比較該些觸控信號所對應的該些遮蔽參數以選擇該些遮蔽參數中的一次大遮蔽參數；判斷該最大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標及該次大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標的相對應關係；以及 當該最大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標位於該次大遮蔽參數所對應之該觸控信號的該觸控座標下方時，忽略該最大遮蔽參數所對應的該觸控信號。
11. 如申請專利範圍第7項所述的的觸控信號判斷方法，其中該些遮蔽參數是該些觸控信號在該光學觸控資料上的一寬度值或利用該至少兩個取像元件所形成的一面積值。