TWI521493B - 電子機器及其時序控制方法 - Google Patents
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Description
本發明係關於顯示裝置及其驅動方法、以及電子機器者,該顯示裝置具備於畫面顯示圖像之顯示元件,與以交替重複進行掃描之掃描模式、及休止該掃描之休止模式的方式,驅動前述顯示元件之驅動機構。
近年來,液晶顯示裝置所代表之薄型、輕型、及低耗電量之顯示裝置被積極應用。如此之顯示裝置顯著的是用於搭載於例如行動電話、智慧型手機、膝上型PC(個人電腦)等。又,期待今後更薄型之顯示裝置即電子紙之開發及普及亦快速發展。在如此之狀況中,當前各種顯示裝置共通之問題為降低耗電量。
專利文獻1揭示有藉由設置較掃描1次畫面之掃描時間長之非掃描時間,即將全掃描信號線設為非掃描狀態之休止時間,而實現低耗電量之顯示裝置之驅動方法。
又,設置於上述顯示裝置之顯示畫面之觸控面板亦被積極應用(例如,專利文獻2)。該觸控面板為檢測藉由使用者之手指、筆等(以下,稱為「手指等」)指示之上述顯示畫面上之位置,並將檢測出之位置資訊輸出之位置輸入裝置。由於上述觸控面板相較於鍵盤、滑鼠等之輸入裝置可進行直覺之操作,故顯著用於搭載於例如行動電話、智慧型手機、膝上型PC等。
[專利文獻1]日本公開專利公報「特開2001-312253號(2001年11月09日公開)」
[專利文獻2]日本公開專利公報「特開2001-060079號(2001年03月06日公開)」
上述觸控面板之檢測動作因上述顯示裝置之驅動信號之影響,導致SN比(signal-to-noise ratio,信噪比)下降,並使檢測精度惡化。另一方面,上述顯示裝置之驅動信號之影響在未進行顯示之掃描之非掃描期間,比在進行顯示之掃描之掃描期間明顯小。因此,可考慮在上述顯示裝置之非掃描期間,進行上述觸控面板之檢測之動作。
圖12係顯示先前之顯示裝置之動作狀態之時間變化的時序圖。如圖12所示,在先前之顯示裝置中,1幀期間(1/60≒16.6ms)大部分為掃描期間,而非掃描期間為100μs等級之顯著較短。
另一方面,圖13係顯示專利文獻1之顯示裝置之動作狀態及各種信號之時間變化的時序圖。如圖13所示,在專利文獻1之顯示裝置中,由於1幀期間之上述掃描期間縮短,故上述非掃描期間延長。藉此,上述非掃描期間較上述觸控面板之檢測動作所需之檢測期間長,從而可期待於上述非掃描期間進行上述檢測。
然而,據說要實現自動識別使用者以手寫於上述觸控面
板而輸入之文字等之符號,所謂的「手寫輸入」功能,上述觸控面板必須1秒內進行上述手寫之檢測動作100次左右。即,上述觸控面板進行上述檢測動作之檢測動作頻率必須為100Hz左右或其以上。
然而,通常之顯示裝置在1秒內顯示60次1畫面之圖像,即,更新頻率為60Hz。因此,上述非掃描期間1秒內僅有60次,其結果,難以於上述非掃描期間進行上述手寫之檢測動作。
本發明係鑑於上述問題點而完成者,其目的在於提供一種可增加外部之檢測裝置之檢測動作次數,且能夠提高上述檢測結果之精度之顯示裝置等。
本發明之顯示裝置,其特徵為其係具備於畫面上顯示圖像之顯示元件,與以交替重複進行掃描之掃描模式、及休止該掃描之休止模式的方式驅動前述顯示元件之驅動機構者,為達成上述目的,該驅動機構可藉由複數次掃描模式及複數次休止模式進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件,且在前述休止模式下,對外部之檢測裝置輸出指示檢測之檢測指示信號。
又,本發明之顯示裝置之驅動方法,其特徵為其係對於畫面上顯示圖像之顯示元件,以交替重複進行掃描之掃描模式、及休止該掃描之休止模式的方式驅動者,為達成上述目的,該驅動方法係以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描的方式驅動前述顯示元件,且
在前述休止模式下,對外部之檢測裝置輸出指示檢測之檢測指示信號。
根據上述之構成及方法,可藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描。因此,相較於藉由1次掃描模式及1次休止模式進行1畫面之掃描之先前之顯示裝置,可增加前述休止模式之次數。
又,在前述休止模式中,該檢測裝置係藉由將檢測指示信號輸出至外部之檢測裝置,而進行檢測之動作。藉此,前述檢測裝置可提高前述檢測之結果之精度。又,如上所述,由於可增加前述休止模式之次數,故可增加前述檢測動作之次數。其結果,可例如與前述手寫輸入對應。
如上所述,由於本發明之顯示裝置可藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描,故相較於先前之顯示裝置,可增加前述休止模式之次數,另一方面,由於在前述休止模式中,係將檢測指示信號輸出至外部之檢測裝置,故可增加該檢測裝置之檢測動作之次數,且發揮可提高上述檢測結果之精度之效果。
[實施形態1]
參照圖1~圖3、圖9、圖19說明本發明之一實施形態。
(電子機器1之構成)
首先,參照圖9說明本實施形態之電子機器1之構成。圖9係顯示本實施形態之電子機器1之構成之細節的方塊圖。
如圖9所示,電子機器1具備顯示裝置2、觸控面板3、及本體裝置10。在本實施形態之電子機器1中,本體裝置10經由顯示裝置2顯示輸出影像,且經由觸控面板3獲取使用者之指示,並基於已獲取之指示進行各種處理。再者,除影像以外,亦可經由顯示裝置2,顯示輸出靜止圖像、符號等任意之資訊。
顯示裝置2具有顯示面板(顯示元件)2a、掃描線驅動電路(閘極驅動器、驅動機構)4、信號線驅動電路(源極驅動器、驅動機構)5、共通電極驅動電路6、及時序控制器(驅動機構)7。再者,觸控面板3具有檢測部8及控制部9。
顯示面板2a具備包含矩陣狀配置之複數個像素之畫面。又,顯示面板2a具備用於按線序選擇掃描前述畫面之N條(N為任意之整數)之掃描信號線G(閘極線)。再者,顯示面板2a具備對已選擇之線所含之一列像素供給資料信號之M條(M為任意之整數)資料信號線S(源極線)。掃描信號線G與資料信號線S相互交叉。
圖9所示之G(n)表示第n條(n為1以上N以下之整數)之掃描信號線G。例如,G(1)、G(2)、及G(3)分別表示第1條、第2條、及第3條掃描信號線S。另一方面,S(i)表示第i條(i為1以上M以下之整數)之資料信號線S。例如S(1)、S(2)、及S(3)分別表示第1條、第2條及第3條資料信號線S。
掃描線驅動電路4係例如從畫面之上向下依序掃描各掃描信號線G。此時,係對各掃描信號線G輸出用於使像素所具備且連接於像素電極之開關元件處於導通狀態之矩形
波。藉此,使畫面內之1列像素處於選擇狀態。
但,掃描線驅動電路4之掃描並不限定於上述依序掃描。例如,亦可為在掃描第1條、第3條、第5條...奇數號掃描信號線後,掃描第2條、第4條、第6條...偶數號掃描信號線之隔行掃描。
信號線驅動電路5係根據從本體裝置10經由時序控制器7輸入之影像信號(箭頭A),計算應向所選擇之1列各像素輸出之電壓值,並將該值之電壓輸出至各資料信號線S。結果,係對位於所選擇之掃描信號線G上之各像素供給圖像資料。
顯示裝置2具備相對於畫面內之各像素設置之共通電極(未圖示)。共通電極驅動電路6係基於由時序控制器7輸入之信號(箭頭B),對共通電極輸出用於驅動共通電極之特定之共通電壓(箭頭C)。
時序控制器7係基於由本體裝置10輸入之時脈信號、水平同步信號、及垂直同步信號(箭頭D、時脈信號、影像同步信號),對各電路輸出作為用於使各電路同步動作之基準之信號。具體而言,掃描線驅動電路4係基於垂直同步信號,輸出閘極開始脈衝信號、閘極時脈信號、及閘極輸出啟用信號(箭頭E)。信號線驅動電路5係基於水平同步信號,輸出源極開始脈衝信號、源極鎖存選通信號、及源極時脈信號(箭頭F)。
掃描線驅動電路4以由時序控制器7接收之閘極開始脈衝信號為信號,開始顯示面板2a之掃描,根據使掃描信號線
G之選擇狀態轉換之信號即閘極時脈信號,對各掃描信號線G依序施加選擇電壓。信號線驅動電路5係基於由時序控制器7接收之源極開始脈衝信號,根據源極時脈信號,將所輸入之各像素之圖像資料儲存於暫存器。且,信號線驅動電路5儲存圖像資料後,根據下一個源極鎖存選通信號,將圖像資料寫入顯示面板2a之各資料信號線S。圖像資料之寫入係使用例如信號線驅動電路5具有之類比放大器。
在觸控面板3中,檢測部8係設置於顯示裝置2之顯示面板2a之畫面,檢測藉由使用者之手指等指示之上述畫面上之位置者,而控制部9係控制檢測部8者。具體而言,若控制部9經由驅動線路Tx,驅動檢測部8,則檢測部8檢測出上述位置,並經由檢測線路Sx將檢測信號發送至控制部9。控制部9係基於來自檢測部8之檢測信號,製作顯示所檢測之位置之檢測資料(箭頭I),並發送至本體裝置10。
在本實施形態中,係利用投影型靜電電容方式之觸控面板3。投影型靜電電容方式之觸控面板3之情形,檢測部8為於玻璃、塑膠等之透明基板上形成有由ITO(Indium Tin Oxide,銦錫氧化物)等構成之矩陣狀透明電極圖案者。若使用者之手指等接觸或接近檢測部8,則其附近之複數個透明電極圖案之靜電電容會產生變化。因此,控制部9可藉由檢測上述透明電極圖案之電流或電壓之變化,而檢測使用者之手指等接觸或接近之位置。
再者,觸控面板3亦有檢測使用者之手指等接觸或接近
上述畫面上之任意之位置之情形。該情形,只要檢測上述接觸或接近即可,無需檢測上述位置。
本體裝置10係基於來自觸控面板3之檢測資料,辨識使用者之操作,或為控制顯示裝置2之顯示,進行將影像信號及影像同步信號發送至顯示裝置2等各種之處理者。
再者,用以使電子機器1內之各電路動作所需之電壓係由例如電源生成電路(未圖示)供給,但該電源生成電路亦可包含於本體裝置10。該情形,從本體裝置10將各電壓供給至顯示裝置2,且從本體裝置10將各電壓供給至觸控面板3。作為用以使電子機器1內之各電路動作所需之電壓之一例,係對信號線驅動電路5供給電源電壓Vdd。
再者,以下,統稱掃描線驅動電路4及信號線驅動電路5之情形,記載為「驅動電路4、5」。
在本實施形態中,時序控制器7係將控制驅動電路4、5之驅動及休止之信號即休止驅動控制信號(箭頭G)輸出至驅動電路4、5。
具體而言,時序控制器7在進行掃描之掃描模式之情形,將指示上述驅動之休止驅動控制信號輸出至驅動電路4、5。藉此,驅動電路4、5以進行顯示之掃描的方式驅動顯示面板2a。
另一方面,時序控制器7在休止上述掃描之休止模式之情形,係將指示上述休止之休止驅動控制信號輸出至驅動電路4、5,藉此,驅動電路4、5休止顯示之掃描。時序控制器7係交替重複上述掃描模式及上述休止模式。
又,時序控制器7在上述休止模式之情形,係將觸控面板3中指示檢測動作之信號即檢測指示信號(箭頭H)輸出至觸控面板3之控制部9。在觸控板3中,若控制部9從顯示裝置2之時序控制器7接收檢測指示信號,則檢測部8進行檢測之動作,控制部9會將顯示該檢測結果之檢測資料輸出至本體裝置10。
再者,在本實施形態中,時序控制器7係以藉由2次掃描模式及2次休止模式進行1畫面之掃描的方式,將上述休止驅動控制信號輸出至驅動電路4、5。
圖1係顯示本實施形態之顯示裝置2之動作狀態及各種信號之時間變化的時序圖。圖1中從上依序顯示有垂直同步信號、動作模式、休止驅動控制信號、及輸出至各掃描信號線G之掃描信號。
再者,在本實施形態及以下之實施形態中,休止驅動控制信號與檢測指示信號相同,但並不限定於此。例如,可使休止驅動控制信號與檢測指示信號之相位反轉,亦可在由休止驅動控制信號進入休止模式後,開始檢測指示信號之變化。即,可使開始檢測動作之時機較成為休止模式之時機遲。又,為了簡略化,掃描信號線G之數設為18條,但並不限定於此。
若參照圖1,則首先,輸入垂直同步信號之下降脈衝,開始1畫面之掃描,轉移至第1掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L(低)位準,依序驅動掃描信號線G1~G9,進行畫面之上半部分之掃描。再者,由於檢測指示信號為
L(低)位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第1休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H(高)位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H(高),在觸控面板3進行檢測之動作。
其次,轉移至第2掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L位準,依次驅動剩餘之掃描信號線G10~G18,進行畫面之下半部分之掃描,完成1畫面之掃描。再者,由於檢測指示信號為L位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第2休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H位準,在觸控面板3進行檢測之動作。其後,再次輸入垂直同步信號之下降脈衝,重複上述動作。
若比較圖1與先前例圖13,則可瞭解在本實施形態中,1幀期間之休止模式(休止期間)之次數較先前例從1次倍增至2次。通常,由於1幀期間為1秒60次,故1秒內之休止模式之次數增加至2×60=120次。
又,在驅動信號造成之影響較少之休止模式中,觸控面板3進行檢測之動作。因此,可提高該檢測結果之精度。又,可1秒內進行上述檢測120次。其結果,可例如與手寫輸入對應。
又,在本實施形態中,作為顯示面板2a之各像素之開關元件,採用於其半導體層中使用所謂的氧化物半導體之TFT(Thin Film Transistor,薄膜電晶體)。上述氧化物半導體含有例如IGZO(InGaZnOx)。參照圖19說明該構成之優
點。
圖19係顯示各種TFT之特性之圖表。圖19中顯示使用氧化物半導體之TFT、使用a-Si(amorphous silicon,非晶矽)之TFT、及使用LTPS(Low Temperature Poly Silicon,低溫多晶矽)之TFT之各種特性。在圖式中,橫軸表示閘極電壓Vgh,縱軸表示汲極電流Id。
如圖19所示,TFT在閘極電壓Vgh為某一臨限值Vgh(TFT-off)以下之情形,汲極電流Id呈小且大致一定之斷開狀態。其次,若閘極電壓Vgh上升超過上述臨限值Vgh(TFT-off),則汲極電流Id上升。而若閘極電壓Vgh進一步上升超過其他臨限值Vgh(TFT-on),則汲極電流Id呈大且大致一定之導通狀態。
再者,如圖19所示,使用氧化物半導體之TFT在導通狀態下之電流(即,電子移動率)較使用a-Si之TFT大。圖式雖省略,然具體而言,在閘極電壓Vgh(TFT-on)下之汲極電流Id,於使用a-Si之TFT時為1μA,相對於此,使用氧化物半導體之TFT時則為20~50μA左右。從上所述,可瞭解使用氧化物半導體之TFT在導通狀態下之電子移動率較使用a-Si之TFT高20~50倍左右,且導通特性非常優良。
又,如圖19所示,使用氧化物半導體之TFT在斷開狀態下之電流(即洩漏電流)較使用a-Si之TFT或LTPS之TFT小。圖式雖省略,然具體而言,在閘極電壓Vgh(TFT-off)下之汲極電流Id,於使用a-Si之TFT時為10pA,相對於此,使用氧化物半導體之TFT時則為0.1pA左右。從上所述,可
瞭解使用氧化物半導體之TFT在斷開狀態下之洩漏電流為使用a-Si之TFT之百分之一左右,幾乎不會產生洩漏電流,斷開特性非常優良。
從上所述,在本實施形態之顯示裝置2中,各像素之開關元件中採用將氧化物半導體用於半導體層之TFT,藉此使各像素之TFT之導通特性及斷開特性非常優良。因此,對各像素寫入像素資料時之電子移動率增大,可進一步縮短該寫入花費之時間。
即,由於本實施形態之顯示裝置2可顯著高速地進行掃描,可縮短掃描模式之期間,故可充分確保休止模式之期間。因此,可進一步提高觸控面板3之檢測結果之精度。
再者,在本實施形態中,時序控制器7重新生成休止驅動控制信號,並輸出至驅動電路4、5,但亦可無需對信號線驅動電路5重新生成休止驅動控制信號,而僅以既存之信號實現休止驅動。圖2係顯示掃描線驅動電路4之控制信號與來自掃描線驅動電路4之輸出信號之例的時序圖。圖2中從上起依序顯示有閘極時脈信號GCK、閘極輸出啟用信號GOE、及掃描信號G1~G7之時間變化。
閘極輸出啟用信號GOE係在自閘極時脈信號GCK之下降起經過特定期間之時點(閘極時脈信號GCK即將上升前)上升,而在閘極時脈信號GCK之上升之特定期間後下降者。閘極輸出啟用信號GOE在上升時,目前H位準之掃描信號G下降,而在下降時,下一個掃描信號G上升。即,閘極輸出啟用信號GOE為H位準時,全部之掃描信號G成為L位
準,從而驅動休止。
因此,若成為休止模式,則將閘極時脈信號GCK維持於L位準,且經過上述特定期間後,將閘極輸出啟用信號GOE維持於H位準。其結果,掃描信號線G之驅動休止。從上所述,可瞭解能夠僅以既存之信號實現休止驅動。
又,若觸控面板3之檢測動作較該動作所需之最短期間長,且若在檢測指示信號為H位準之期間內,則可以任意之時序進行。圖3係顯示檢測指示信號,與觸控面板3進行檢測動作之檢測時間之例之時序圖。在圖3之(a)~(c)中分別於上段記載檢測指示信號,於下段顯示觸控面板3之檢測期間(H位準)。
在圖3之(a)之例中,檢測指示信號為H位準期間為觸控面板3之檢測期間。又,在圖3之(b)之例中,距離檢測指示信號之上升時點之特定期間為觸控面板3之檢測期間。再者,該特定期間只要與檢測指示信號為H位準期間相同或較短即可。又,在圖3之(c)之例中,從較檢測指示信號之上升之時點後之時點,至較檢測指示信號之下降時點前之時點,為觸控面板3之檢測期間。因此,從圖3之(a)~(c),可瞭解觸控面板3之檢測期間可進行各種變更。
又,在本實施形態中,雖利用有投影型靜電電容方式之觸控面板3,但亦可利用表面型靜電電容方式、電阻膜方式等任意之檢測方式之觸控面板3。再者,在投影型靜電電容方式之情形,由於檢測部8形成有複數個電極圖案,故容易受到顯示面板2a之驅動之影響。因此,對具備投影
型靜電電容方式之觸控面板3之電子機器1應用本發明之顯示裝置2,藉此可期待更顯著之效果。
[實施形態2]
其次,參照圖4說明本發明之其他實施形態。本實施形態之電子機器1相較於圖1所示之電子機器1,不同的是在休止模式下,信號線驅動電路5之驅動能力降低,其他之構成相同。再者,對與在上述實施形態中說明之構成及處理為相同之構成及處理附註相同之符號,並省略其說明。
圖4係顯示本實施形態之顯示裝置2之動作狀態及各種信號之時間變化的時序圖。在圖4中,從上依次顯示垂直同步信號、動作模式、休止驅動控制信號、及信號線驅動電路5之驅動能力之狀態。再者,關於上述驅動能力之狀態,H位準為進行通常驅動之狀態,而L位準為使該驅動降低化之狀態。作為信號線驅動電路5之驅動能力之降低化,考慮有接收水平同步信號或影像信號之接收電路之停止、類比放大器之停止、及使動作速度降低至一半等各種者。
若參照圖4,則信號線驅動電路5在第1、第2掃描模式下,進行通常之驅動,另一方面,在第1、第2休止模式下,使該驅動降低化。藉此,顯示裝置2可減少休止模式之耗電量。又,由於顯示裝置2可使上述驅動造成之雜訊之產生減少化,故可進一步提高觸控面板3之檢測結果之精度。
[實施形態3]
其次,參照圖5說明本發明之又一其他實施形態。本實施形態之電子機器1相較於圖1所示之電子機器1,不同的是顯示裝置2之掃描為隔行掃描(interlace),及從第1休止模式即將轉移至第2掃描模式前,將資料信號之極性反轉方面,而其他之構成相同。再者,對在上述實施形態中說明之構成及處理相同之構成及處理附註相同之符號,並省略其說明。
圖5係顯示本實施形態之顯示裝置2之動作狀態及各種信號之時間變化的時序圖。圖5中從上依序顯示有垂直同步信號、動作模式、休止驅動控制信號、輸出至各掃描信號線G之掃描信號、及輸出至資料信號線S之資料信號之極性。
若參照圖5,則首先,輸入垂直同步信號之下降脈衝,開始1畫面之掃描,轉移至第1掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L位準,依序驅動奇數線路之掃描信號線G1、G3、G5...,進行畫面之一半之掃描。再者,由於檢測指示信號為L位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第1休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H位準,在觸控面板3進行檢測之動作。
其次,在即將轉移至第2掃描模式之前,反轉資料信號之極性,其後轉移至第2掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L位準,依序驅動偶數線路之掃描信號線G2、G4、G6...,進行畫面之剩餘一半之掃描,完成1畫面之掃
描。再者,由於檢測指示信號為L位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第2休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H位準,在觸控面板3進行檢測之動作。其後,再次輸入垂直同步信號之下降脈衝,重複上述動作。
圖1所示之顯示裝置2之情形,由於上部掃描與下部掃描之間存在休止模式之期間,故認為有例如因不連續進行1畫面之掃描,而導致於上部與下部之交界目測到線路等顯示品質降低之虞。相對於此,在本實施形態之顯示裝置2中,由於是進行隔行掃描,故可消除目測到上述線路之虞,從而抑制顯示品質之降低。
又,由於資料信號之極性在下一個1幀期期反轉,故可防止圖像於顯示面板2a上發生殘像。然而,資料信號之極性在從第1掃描模式轉移至第1休止模式後立即反轉之情形,有目測到亮度梯度等顯示品質降低之虞。相對於此,在本實施形態之顯示裝置2中,資料信號之極性並非在從第1掃描模式即將轉移至第1休止模式之前進行反轉,而是在即將轉移至第2掃描模式之前進行反轉。即,由於至上述極性反轉之前之期間增長,故可使目測到上述亮度梯度之可能性降低,從而抑制顯示品質之降低。
此處,針對顯示裝置2之上述極性之反轉驅動加以說明。將相同之圖像於相同位置長時間顯示,藉此,由於防止該圖像於畫面上發生殘像,故顯示面板2a之像素電極較
佳為每特定次數(例如1次)之1幀期間,便反轉電壓之極性。對顯示面板2a之全像素電極施加在某一幀相同極性之電壓,在該某一幀之下一個幀施加逆極性之電壓,重複此之反轉方式稱為「幀反轉」。幀反轉可藉由每1幀期間,反轉在某一幀對全部資料信號線S施加之電壓之極性而實現。
再者,為防止閃爍,較佳為對排列於掃描信號線G方向及資料信號線S方向中至少一者之每個像素電極,反轉電壓之極性。該反轉有「源極反轉」、「線反轉」、「點反轉」等。以下,參照圖14~圖17詳細地說明該等反轉。
圖14~圖17係顯示顯示面板2a之掃描信號線G、資料信號線S、及像素電極之構造之構造圖。又,關於圖14~圖17之各者,(a)顯示某一幀(第n幀)之各像素電極之電壓極性,(b)顯示在下一幀(第n+1幀)經施加逆極性電壓之各像素電極之電壓之極性。各像素電極之電壓極性係由圖中之正(+)及負(-)表示。
圖14顯示源極反轉之一例。源極反轉為反轉對每條資料信號線(源極線)S施加之電壓之極性者。藉此,如圖14所示,可對排列於掃描信號線G方向之每個像素電極,反轉電壓之極性。
圖15為與圖14相同之源極反轉,但相較於圖14,其像素電極之配置不同。圖14中,連接於資料信號線S之像素電極係相對於該資料信號線S配置於一側(在圖示之例中為右側)。相對於此,圖15中,連接於資料信號線S之像素電極
係相對於該資料信號線S配置成鋸齒狀。因此,配置於相鄰之資料信號線S之間之像素電極的電壓極性在圖14之配置中相同,而在圖15之配置中互異。
圖16顯示線反轉之一例。線反轉為對經驅動之每條掃描信號線G(每水平掃描期間)反轉對資料信號線S施加之電壓極性者。藉此,如圖14所示,可對每個排列於資料信號線S方向之像素電極反轉電壓之極性。
圖17顯示點反轉之一例。點反轉可藉由組合圖14所示之源極反轉與圖16所示之線反轉而實現。具體而言,在驅動第1掃描信號線G1時,將各資料信號線S施加之電壓之極性,於第1條設為正(+),以下依序反轉。其次,在驅動第2掃描信號線G2時,將各資料信號線S施加之電壓之極性,於第1條設為負(-),以下依序反轉。且,驅動第3條以後之掃描信號線G時亦同樣進行重複,藉此,如圖17所示,可使於掃描信號線G方向及資料信號線S方向相鄰之像素電極彼此之電壓極性不同。
然而,本實施形態之顯示裝置2之情形,如圖5所示,係一面進行隔行掃描,一面在第1掃描模式與第2掃描模式之間反轉對資料信號線S施加之電壓之極性。藉此,可實現如圖16所示之線反轉。其結果,相較於對經驅動之每條掃描信號線G反轉上述電壓之極性之情形,可一面抑制耗電量一面實現上述線反轉。再者,在本實施形態中,雖是每隔1條掃描信號線G進行隔行掃描,但亦可每隔複數條掃描信號線G進行隔行掃描。
[實施形態4]
其次,參照圖6說明本發明之又一其他實施形態。本實施形態之電子機器1相較於圖1所示之電子機器1,不同的是藉由3次掃描模式及3次休止模式進行1畫面之掃描,及從休止模式即將轉移至掃描模式之前,將資料信號之極性反轉,而其他之構成相同。再者,對與上述實施形態中說明之構成及處理相同之構成及處理附註相同之符號,並省略其說明。
圖6係顯示本實施形態之顯示裝置2之動作狀態及各種信號之時間變化的時序圖。圖6中從上依序顯示垂直同步信號、動作模式、休止驅動控制信號、輸出至各掃描信號線G之掃描信號、及輸出至資料信號線S之資料信號之極性。
若參照圖6,則首先輸入垂直同步信號之下降脈衝,開始1畫面之掃描。其次,在即將轉移至第1掃描模式之前,反轉資料信號之極性,其後,轉移至第1掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L位準,依序驅動上部之掃描信號線G1~G6,進行畫面上部之掃描。再者,由於檢測指示信號為L位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第1休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H位準,而在觸控面板3進行檢測之動作。
其次,在即將轉移至第2掃描模式之前,反轉資料信號之極性,其後,轉移至第2掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L位準,依序驅動中部之掃描信號線G7~G12,
進行畫面中部之掃描。再者,由於檢測指示信號為L位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第2休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H位準,在觸控面板3進行檢測之動作。
其次,在即將轉移至第3掃描模式之前,反轉資料信號之極性,其後,轉移至第3掃描模式。此時,使休止驅動控制信號為L位準,依序驅動下部之掃描信號線G13~G18,進行畫面下部之掃描,完成1畫面之掃描。再者,由於檢測指示信號為L位準,故在觸控面板3休止檢測之動作。
其次,轉移至第3休止模式。此時,使休止驅動控制信號為H位準,休止上述掃描。同時,藉由使檢測指示信號為H位準,在觸控面板3進行檢測之動作。其後,再次輸入垂直同步信號之下降脈衝,重複上述動作。
如上所述,在本實施形態之顯示裝置2中,即使1幀期間之掃描模式及休止模式之各次數為3以上,仍可發揮本發明之上述效果。
又,由於資料信號之極性在下一個1幀期間反轉,故可防止圖像於顯示面板2a上發生殘像。再者,資料信號之極性並非在從掃描模式至即將轉移至休止模式之前反轉,而是在即將轉移至下一個掃描模式之前反轉。即,由於至反轉上述極性之前之時間增長,故目測到上述亮度梯度之可能性降低,從而可抑制顯示品質之降低。
[實施形態5]
其次,參照圖7及圖8說明本發明之其他實施形態。本實施形態之電子機器1相較於圖1所示之電子機器1,不同的是時序控制器7可切換由1次掃描模式及1次休止模式進行1畫面之掃描之通常掃描用時序信號之輸出,與藉由2次掃描模式及2次休止模式進行1畫面之掃描之複數掃描用時序信號之輸出,其他之構成相同。再者,對與上述實施形態中說明之構成及處理相同之構成及處理附註相同之符號,並省略其說明。
圖7係顯示本實施形態之顯示裝置2之時序控制器7之概略構成的方塊圖。如圖7所示,時序控制器7之構成為具備通常掃描用時序生成電路(通常掃描用驅動機構70)、複數掃描用時序生成電路(複數掃描用驅動機構)71、及選擇部(選擇機構)72。
通常掃描用時序生成電路70係以藉由1次掃描模式及1次休止模式進行1畫面之掃描(以下,稱為「通常掃描」)的方式,生成休止驅動控制信號及檢測指示信號者。又,複數掃描用時序生成電路71係以藉由2次掃描模式及2次休止模式進行1畫面之掃描(以下,稱為「複數掃描」)的方式,生成休止驅動控制信號及檢測指示信號者。
選擇部72基於預先設定之條件,選擇通常掃描用時序生成電路70及複數掃描用時序生成電路71之任一者。選擇部72從經選擇之電路獲取休止驅動控制信號及檢測指示信號,並分別輸出至驅動電路5、6及觸控面板3。
作為選擇部72之上述預先設定之條件考慮有各種者。例如,考慮每1幀期間交替進行通常掃描及複數掃描。該情形下,觸控面板3在1秒內進行檢測動作之次數為60次×1.5=90次。
又,考慮在1秒內,於特定次數之1幀期間進行複數掃描,而在剩餘之1幀期間進行通常掃描。例如,若於最初之40次1幀期間進行複數掃描,而於剩餘之20次1幀期間進行通常掃描,則觸控面板3在1秒內進行檢測動作之次數為40次×2+20次=100次。
圖8係顯示本實施形態之顯示裝置2之動作狀態及各種信號之時間變化的時序圖。圖8中,從上起依序顯示垂直同步信號、動作模式、及休止驅動控制信號。
圖8顯示每1幀期間交替進行通常掃描與複數掃描之例。再者,在1幀期間內,通常掃描之掃描模式之期間與複數掃描之掃描模式之期間之合計值可不同,亦可相同。
再者,在上述實施形態中,選擇部72基於預先設定之條件而進行選擇,但亦可基於來自本體裝置10之指示進行選擇。該情形下,可以本體裝置10所期望之時序,使觸控面板3之檢測次數增加。
[變化例1]
以下,參照圖10及圖11說明本實施形態之電子機器1之變化例。
(電子機器1')
圖10係顯示本實施形態之電子機器1'之構成細節的方塊
圖。電子機器1與電子機器1'之不同點為檢測指示信號之路徑。
如上所述,圖9之電子機器1係從顯示裝置2之時序控制器7向觸控面板3之控制部9直接輸出檢測指示信號。
相對於此,圖10之電子機器1'係將檢測指示信號從顯示裝置2之時序控制器7經由本體裝置10,向觸控面板3之控制部9輸出。
具體而言,顯示裝置2之時序控制器7係將第1檢測指示信號(箭頭H1)輸出至本體裝置10。其次,接收第1檢測指示信號之本體裝置10將時序與第1檢測指示信號大致相等之第2檢測指示信號(箭頭H2)輸出至觸控面板3之控制部9。
以圖10之電子機器1'所示之路徑輸出檢測指示信號之情形,會產生經由本體裝置10程度之延遲。又,對第1檢測指示信號施與例如將信號位準進行反轉等之信號處理之情形,亦會因該信號處理而產生延遲。
因該等之延遲,亦即經由本體裝置10而造成之延遲,或本體裝置10之信號處理而造成之延遲,會導致於第1檢測指示信號與第2檢測指示信號之間產生延遲時間Tdelay。
因此,圖10之電子機器1'之構成亦可設為例如如圖11所示,考慮延遲時間Tdelay,而輸出各檢測指示信號。即,時序控制器7之構成可舉例為將第1檢測指示信號(箭頭H1),較觸控面板檢測時間Ttp之開始時刻提前延遲時間Tdelay輸出至本體裝置10等。
接收第1檢測指示信號之本體裝置10因應需要對第1檢測
指示信號施與上述信號處理,生成第2檢測指示信號,輸出至觸控面板3之控制部9。
藉此,可將自輸出第1檢測指示信號之時刻經過延遲時間Tdelay之時刻設為觸控面板檢測時間Ttp之開始時刻。
(顯示面板2a)
本實施形態之顯示面板2a亦可為具有液晶層之液晶面板。該情形,本實施形態之顯示裝置2為液晶顯示裝置。
又,本實施形態之顯示面板2a之像素亦可具有以對應於流動電流之亮度發光之元件的有機EL(Electro luminescence:電致發光)二極體。該情形,本實施形態之顯示裝置2為有機EL顯示器(有機電致發光顯示裝置)。
有機EL顯示器在掃描模式下之耗電量較大,且會增大該有機EL顯示器之驅動信號對檢測裝置帶來之影響。因此,若對該有機EL顯示器應用本發明,則更能發揮效果。
[變化例2]
圖18係顯示圖9所示之顯示裝置2之變化例之構成的說明圖。在圖9之顯示裝置2中,時序控制器7係將時序與休止驅動控制信號相同之檢測指示信號(箭頭H)輸出至觸控面板3之控制部9。
此處,在圖9之顯示裝置2中,時序控制器7從接收影像信號(時脈信號、同步信號、影像資料信號等)至向信號線驅動電路5輸出同步控制信號(源極開始脈衝信號、源極鎖存選通信號、源極時脈信號等)之前,會生成數個時脈量~數個線路掃描量之延遲。其原因為時序控制器7內部之時
序生成或圖像處理等需要時間。
另一方面,顯示裝置2如圖18所示,掃描線驅動電路4亦可具備對應於掃描信號線G之條數之數量之閘極驅動部4'(在圖示之例中為2個)。
又,顯示裝置2如圖18所示,信號線驅動電路5亦可具備對應於資料信號線S之條數之數量之源極驅動部5'(信號線驅動部、檢測指示機構、在圖示之例中為3個)。
該等源極驅動部5'以不存在上述之延遲的程度,較時序控制器7更精確地辨識掃描模式及休止模式之時序。
因此,如圖18所示,亦可從源極驅動部5'中之1個經由連接端子20,向觸控面板3之控制部9輸出檢測指示信號。藉此,由於可除去從時序控制器7向檢測部控制部9輸出檢測指示信號時之延遲之影響,故可將顯示裝置2之休止模式之期間更正確地傳達至檢測裝置3,從而可更正確地控制觸控面板3之檢測部8之檢測動作。
此處,在上述各實施形態中,關於觸控面板檢測期間,只要觸控面板檢測期間之開始時刻及結束時刻在檢測指示信號為有效之期間即可。
本發明並不限定於各實施形態,可在申請專利範圍所示之範圍內進行各種變更,且適當組合不同之實施形態所分別揭示之技術手段而獲得之實施形態亦涵蓋於本發明之技術範圍內。
例如,在上述實施形態中,係從時序控制器7向觸控面板3輸出檢測指示信號。相對於此,由於對應於檢測指示
信號之休止驅動控制信號係從時序控制器7向掃描線驅動電路4輸出,故掃描線驅動電路4亦可將檢測指示信號發送至觸控面板3。
又,在上述實施形態中,雖利用觸控面板3,但本發明亦可適用於任意之檢查裝置。作為該檢測裝置之例,除觸控面板3以外,可舉出接收(檢測)來自外部裝置之電波之RF(Radio Frequency,射頻)接收電路等。RF接收電路在接收電波時,亦受到從顯示裝置放射之EMI(Electro Magnetic Interference,電磁干擾)之影響。因此,在顯示裝置為休止模式時,RF接收電路進行電波之接收(檢測)動作,藉此可提高已接收之信號之精度。
如上所述,本發明之顯示裝置之特徵為其係具備於畫面顯示圖像之顯示元件,與以交替重複進行掃描之掃描模式及休止該掃描之休止模式的方式,驅動前述顯示元件之驅動機構者,為解決上述問題,該驅動機構可以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件,而在前述休止模式下,係對外部之檢測裝置輸出指示檢測之檢測指示信號。
又,本發明之顯示裝置之驅動方法之特徵為其係對於畫面顯示圖像之顯示元件,以交替重複進行掃描之掃描模式及休止該掃描之休止模式的方式進行驅動者,為解決上述問題,係以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描的方式驅動前述顯示元件,而在前述休止模式下,係對外部之檢測裝置輸出指示檢測之檢測指示信
號。
根據上述之構成及方法,可藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描。因此,相較於藉由1次掃描模式及1次休止模式進行1畫面之掃描之先前之顯示裝置,可增加前述休止模式之次數。
又,在前述休止模式中,該檢測裝置係藉由將檢測指示信號輸出至外部之檢測裝置,而進行檢測之動作。藉此,前述檢測裝置可提高前述檢測結果之精度。又,如上所述,由於可增加前述休止模式之次數,故可增加前述檢測動作之次數。其結果,可例如與前述手寫輸入對應。
在本發明之一態樣之顯示裝置中,前述驅動機構在前述休止模式下,較佳為減少或休止前述顯示裝置內之電路之動作,或是使該電路低能力化。該情形,可減少休止模式下之耗電量。又,由於可減少前述驅動造成之雜訊之產生,故可進一步提高前述檢測裝置之檢測結果之精度。
作為前述顯示元件,可舉出具備矩陣狀排列之複數個像素電極之矩陣型顯示元件。
在本發明之一態樣之顯示裝置中,前述掃描亦可為隔行掃描。該情形,由於係進行畫面整體籠統之掃描,故相較於隔以時間進行畫面之一部分之掃描之情形,可抑制顯示品質之劣化。再者,上述隔行掃描可為每隔1線路之隔行掃描,亦可為每隔複數線路之隔行掃描。
然而,顯示裝置中存在有在進行1畫面之掃描期間,以使對前述像素電極施加之電壓之極性反轉的方式,驅動前
述顯示元件之顯示裝置。該情形,該顯示裝置之驅動信號對檢測裝置帶來之影響增大。因此,若對該顯示裝置應用本發明,則更能發揮效果。
本發明之一態樣之顯示裝置中,前述驅動機構亦可以在從前述休止模式即將轉移至前述掃描模式之前,反轉對前述像素電極施加之電壓之極性的方式,驅動前述顯示元件。該情形,相較於在從前述掃描模式轉移至前述休止模式之後,立即反轉前述圖像之信號之極性,並輸入至前述顯示元件之情形,可抑制例如亮度梯度之產生等般之顯示品質之下降。
本發明之一態樣之顯示裝置中,前述顯示元件進一步具備用於驅動前述像素電極之複數條資料信號線及複數條掃描信號線,前述驅動機構具備分別驅動前述資料信號線及前述掃描信號線之資料驅動電路及掃描驅動電路,而前述檢測指示信號可向前述資料驅動電路及掃描驅動電路中任一者輸出。
由於前述資料驅動電路及掃描驅動電路為驅動前述顯示元件最近之電路,故而更精確地掌握驅動前述顯示元件之時序。即,亦可嚴密地掌握休止模式之期間。因此,可藉由從前述資料驅動電路及掃描驅動電路中任一者輸出前述檢測指示信號,而在休止模式期間內確實進行檢測裝置之檢測動作。
在本發明之一態樣之顯示裝置中,前述驅動機構較佳為具備通常掃描用驅動機構,其以藉由1次掃描模式及1次休
止模式進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件;複數掃描用驅動機構,其以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件;及選擇機構,其選擇通常掃描用驅動機構及複數掃描用驅動機構中之任一者。
例如,舉例有前述選擇機構係預先設定選擇前述通常掃描用驅動機構之期間及選擇前述複數掃描用驅動機構之時間之比例,基於該比例,選擇通常掃描用驅動機構及複數掃描用驅動機構中之任一者。
又,舉例有前述選擇機構係預先設定於特定時間內選擇前述通常掃描用驅動機構之次數及於特定時間內選擇前述複數掃描用驅動機構之次數中之任一者,並基於該次數,選擇通常掃描用驅動機構及複數掃描用驅動機構中之任一者。
該等之情形,可將特定時間內之休止模式之次數,亦即在特定時間內之上述檢測動作之次數設為期望之次數。
又,舉例有前述選擇機構係基於來自外部裝置之指示,選擇通常掃描用驅動機構及複數掃描用驅動機構中之任一者。該情形,可以前述外部之裝置期望之時序,使上述檢測動作之次數增加。
再者,作為前述顯示裝置之例,舉例有液晶顯示裝置、有機電致發光(EL)顯示裝置等。有機EL顯示裝置於掃描模式下之耗電量較大,該顯示裝置之驅動信號對檢測裝置帶來之影響會增大。因此,若對該顯示裝置應用本發明,則
更能發揮效果。
在本發明之一態樣之顯示裝置中,前述顯示元件具備複數個像素,與設置於該複數個像素之各者之複數個開關元件,該開關元件較佳為半導體層是使用氧化物半導體之TFT。
作為各像素之開關元件,係採用半導體層係使用電子移動率相對較高之氧化物半導體之TFT,藉此,可使對各像素寫入像素資料時之電子移動率增大,縮短該寫入所花費之時間。藉此,由於可非常高速地進行掃描,可縮短掃描模式之期間,故可充分確保休止模式之期間。因此,可進一步提高前述檢測裝置之檢測結果之精度。再者,作為前述氧化物半導體,較佳為使用電子移動率更高之IGZO。
再者,若為具備上述構成之顯示裝置,與基於來自該顯示裝置之檢測指示信號進行檢測之檢測裝置之電子機器,則可發揮與上述之效果相同之效果。
又,作為前述檢測裝置之例,舉例有設置於前述顯示裝置之畫面之觸控面板,與檢測電波並接收該電波所含之信號之RF接收裝置等。
由於前述觸控面板接近於前述顯示裝置設置,故該顯示裝置之驅動信號產生之影響較大。因此,若利用觸控面板作為前述檢測裝置,則本發明更能發揮效果。
又,前述RF接收裝置容易受到前述顯示裝置之驅動信號所致之從該顯示裝置放射之EMI(電磁干擾)之影響。因此,若利用RF接收裝置作為前述檢測裝置,則本發明更能
發揮效果。
如上所述,由於本發明之顯示裝置可藉由複數次掃描模式及複數次休止模式進行1畫面之掃描,在前述休止模式下,係將檢測指示信號輸出至外部之檢測裝置,故可增加該檢測裝置之檢測動作之次數,且由於可提高上述檢測結果之精度,故可適用於進行掃描之任意之顯示裝置。
1‧‧‧電子機器
1'‧‧‧電子機器
2‧‧‧顯示裝置
2a‧‧‧顯示面板(顯示元件)
3‧‧‧觸控面板
4‧‧‧掃描線驅動電路(驅動機構)
5‧‧‧信號線驅動電路(驅動機構)
6‧‧‧共通電極驅動電路
7‧‧‧時序控制器(驅動機構)
8‧‧‧檢測部
9‧‧‧控制部
10‧‧‧本體裝置
70‧‧‧通常掃描用時序生成電路(通常掃描用驅動機構)
71‧‧‧複數掃描用時序生成電路(複數掃描用驅動機構)
72‧‧‧選擇部(選擇機構)
G‧‧‧掃描信號線
G1~G6‧‧‧上部之掃描信號線
G7~G12‧‧‧中部之掃描信號線
G13~G18‧‧‧下部之掃描信號線
S‧‧‧資料信號線
S1~S8‧‧‧資料信號線
圖1係顯示本發明之一實施形態之電子機器之顯示裝置之動作狀態、及各種信號之時間變化之時序圖。
圖2係顯示上述顯示裝置之休止模式時之掃描線驅動電路之控制信號,與來自該掃描線驅動電路之輸出信號之例之時序圖。
圖3(a)~(c)係顯示由上述顯示裝置輸出之檢測指示信號,與上述電子機器之觸控面板之檢測時間之例的時序圖。
圖4係顯示本發明之其他實施形態之電子機器之顯示裝置之動作狀態、及各種信號之時間變化之時序圖。
圖5係顯示本發明之又一其他實施形態之電子機器之顯示裝置之動作狀態、及各種信號之時間變化之時序圖。
圖6係顯示本發明之又一其他實施形態之電子機器之顯示裝置之動作狀態、及各種信號之時間變化之時序圖。
圖7係顯示本發明之其他實施形態之電子機器之顯示裝置的時序控制器之概略構成之方塊圖。
圖8係顯示上述顯示裝置之動作狀態及各種信號之時間變化之時序圖。
圖9係顯示上述電子機器之構成之細節之方塊圖。
圖10係顯示上述電子機器之變化例之構成之細節的方塊圖。
圖11係顯示考慮延遲時間之顯示裝置之驅動方法之時序圖。
圖12係顯示先前之顯示裝置之動作狀態之時間變化的時序圖。
圖13係顯示先前之其他顯示裝置之動作狀態及各種信號之時間變化之時序圖。
圖14(a)、(b)係顯示上述顯示裝置之顯示面板之結構之一例的結構圖,且係顯示源極反轉及幀反轉之一例者。
圖15(a)、(b)係顯示上述顯示面板之結構之其他例之結構圖,且係顯示源極反轉及幀反轉之其他例者。
圖16(a)、(b)係顯示上述顯示面板之結構之一例之結構圖,且係顯示汲極反轉及幀反轉之一例者。
圖17(a)、(b)係顯示上述顯示面板之結構之一例之結構圖,且係顯示點反轉及幀反轉之一例者。
圖18係顯示上述顯示裝置之變化例之構成之說明圖。
圖19係顯示各種TFT之特性之圖表。
Claims (14)
- 一種電子機器,其特徵為其包括顯示裝置及觸控面板;其中前述顯示裝置包括於畫面上顯示圖像之顯示元件、及以交替重複進行掃描之掃描模式及休止該掃描之休止模式的方式驅動前述顯示元件之驅動機構;該驅動機構係可以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式來進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件;在前述複數次休止模式中之一次之期間內,對前述觸控面板,將前述觸控面板之檢測區域全體作為檢測對象,輸出檢測指示信號,其係指示往該觸控面板之輸入之檢測;前述顯示元件係包括矩陣狀排列之複數個像素電極之矩陣型顯示元件;前述顯示元件進一步包括用於驅動前述像素電極之複數條資料信號線及複數條掃描信號線,且前述驅動機構包括分別驅動前述資料信號線及前述掃描信號線之資料驅動電路及掃描驅動電路,前述檢測指示信號係前述資料驅動電路或掃描驅動電路之任一者所輸出者;前述觸控面板係基於來自前述顯示裝置之前述檢測指示信號,將前述觸控面板之檢測區域全體作為檢測對象,檢測往該觸控面板之輸入。
- 如請求項1之電子機器,其中前述驅動機構在前述休止模式下,減少或休止前述顯示裝置內之電路之動作,或是使該電路低能力化。
- 如請求項1或2之電子機器,其中前述掃描為隔行掃描。
- 如請求項1或2之電子機器,其中前述驅動機構包含:通常掃描用驅動機構,其以藉由1次掃描模式及1次休止模式進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件;複數掃描用驅動機構,其以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式進行1畫面之掃描的方式,驅動前述顯示元件;及選擇機構,其選擇通常掃描用驅動機構或複數掃描用驅動機構之任一者。
- 如請求項4之電子機器,其中前述選擇機構預先設定有選擇前述通常掃描用驅動機構之期間與選擇前述複數掃描用驅動機構之期間之比例,基於該比例,選擇通常掃描用驅動機構或複數掃描用驅動機構之任一者。
- 如請求項4之電子機器,其中前述選擇機構預先設定有於特定時間內選擇前述通常掃描用驅動機構之次數、或於特定時間內選擇前述複數掃描用驅動機構之次數之任一者,並基於該次數,選擇通常掃描用驅動機構或複數掃描用驅動機構之任一者。
- 如請求項4之電子機器,其中前述選擇機構基於來自外部裝置之指示,選擇通常掃描用驅動機構或複數掃描用驅動機構之任一者。
- 如請求項1或2之電子機器,其中前述顯示裝置為液晶顯示裝置。
- 如請求項8之電子機器,其中前述驅動機構在進行1畫面之掃描期間,以將對前述像素電極施加之電壓之極性反轉的方式驅動前述顯示元件。
- 如請求項8之電子機器,其中前述驅動機構在即將從前述休止模式轉移至前述掃描模式之前,以將對前述像素電極施加之電壓之極性反轉的方式驅動前述顯示元件。
- 如請求項1或2之電子機器,其中前述顯示裝置為有機電致發光顯示裝置。
- 如請求項1或2之電子機器,其中前述顯示元件包含複數個像素、及設置於該複數個像素之各者之複數個開關元件,且該開關元件為於半導體層中使用氧化物半導體之TFT。
- 如請求項12之電子機器,其中前述氧化物半導體為IGZO。
- 一種電子機器之時序控制方法,該電子機器包括顯示裝置及觸控面板;前述顯示裝置對於在畫面顯示圖像之顯示元件,以交替重複進行掃描之掃描模式及休止該掃描之休止模式的方式驅動,且以藉由複數次掃描模式及複數次休止模式,進行1畫面之掃描的方式驅動;前述顯示裝置為了驅動前述顯示元件所包括之排列成 矩陣狀之複數個像素電極,分別驅動前述顯示元件所包括之複數條資料信號線及複數條掃描信號線之資料驅動電路或掃描驅動電路之任一者係在前述複數次休止模式中之一次之期間內,對前述觸控面板,將前述觸控面板之檢測區域全體作為檢測對象,輸出指示往該觸控面板之輸入之檢測之檢測指示信號;前述觸控面板係基於來自前述顯示裝置之前述檢測指示信號,將前述觸控面板之檢測區域全體作為檢測對象,檢測往該觸控面板之輸入。
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