TWI515625B - 電子機器及電子機器之控制方法 - Google Patents

電子機器及電子機器之控制方法 Download PDF

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TWI515625B
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山田錠治
中川裕史
山本倫生
林真人
水橋比呂志
池野考造
木田芳利
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日本顯示器股份有限公司
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Description

電子機器及電子機器之控制方法 相關申請之交叉引用
本申請案係基於且主張2013年3月29日申請之先前之日本專利申請案第2013-073875號之優先權之權益，該申請案之全部內容係以引用之方式併入本文。
本文所述之實施例一般關於一種電子機器及電子機器之控制方法。
行動電話、智慧型手機、平板終端及筆記型個人電腦等可攜帶之電子機器正在普及。該等電子機器例如包括與顯示面板成為一體之輸入面板。輸入面板係例如於使用者接觸到顯示畫面時，檢測所接觸之位置。輸入面板例如具備檢測靜電電容之變化之感測器。
先前係計算包含輸入面板之模組所接觸之位置座標。因此，包含輸入面板之模組無需將包括輸入面板上之位置座標及該位置上之物理量(電極間電容值或檢測電極電壓值)之資訊之三維資訊輸出至應用處理器。
然而，只要應用處理器可與應用協同作用地使用三維資訊，則電子機器之高性能化之期待提昇。
本發明之實施形態之目的在於提供一種通用性較高之電子機器 及電子機器之控制方法。
10‧‧‧附有感測器之顯示器件
12‧‧‧TFT基板
13‧‧‧絕緣層
14‧‧‧透明絕緣基板
20‧‧‧檢測電路
22‧‧‧感測器處理部
24‧‧‧同步處理部
26‧‧‧表格控制器
28‧‧‧感測器驅動時序控制器
30‧‧‧顯示驅動器
40‧‧‧應用處理器
222‧‧‧A/D轉換器
224‧‧‧濾波器
AR‧‧‧陣列基板
CE‧‧‧共用電極
CF‧‧‧彩色濾光片
Comp‧‧‧比較器
CT‧‧‧對向基板
DS‧‧‧資料集處理部
EXVCOM‧‧‧感測器驅動時序信號
IRQ‧‧‧中斷請求信號
LQ‧‧‧液晶層
PE‧‧‧像素電極
POL1‧‧‧第1偏光板
POL2‧‧‧第2偏光板
Ref‧‧‧閾值
Rx‧‧‧感測器檢測值
SE‧‧‧檢測電極
Sigx‧‧‧影像顯示信號
SW1‧‧‧開關
SW2‧‧‧開關
TB‧‧‧表格選擇部
TCON‧‧‧時序控制器
TRCRQ‧‧‧表格選擇要求
TRCST‧‧‧表格設定
TSHD‧‧‧感測器水平期間
TSVD‧‧‧感測器垂直期間
Tx‧‧‧感測器驅動信號
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
VCOM‧‧‧共用驅動信號
Vth‧‧‧閾值
x‧‧‧第1方向
y‧‧‧第2方向
z‧‧‧第3方向
參照圖式對實現本發明之各種特徵之通用架構進行敍述。上述圖式及相關敍述係用於說明本發明之實施例，但並不限制本發明之範圍。
圖1係概略性地表示一實施形態之電子機器之一構成例之示意性方塊圖。
圖2係概略性地表示圖1所示之附有感測器之顯示器件之一構成例之示意性剖面圖。
圖3係用以說明圖2所示之附有感測器之顯示器件之共用電極與檢測電極之一構成例之示意性立體圖。
圖4係表示靜電電容型感測器之驅動信號與檢測信號之一例之示意圖。
圖5係概略性地表示圖1所示之電子機器之檢測電路及顯示驅動器之一構成例之示意性方塊圖。
圖6係表示資料集之內容之一例之示意圖。
圖7係表示資料集之輸出時序之一例之示意圖。
圖8係表示基於自感測器處理部輸出之原始資料(Raw data)群之三維資料之一例之示意圖。
圖9係表示基於自感測器處理部輸出之原始資料(Raw data)群之三維資料之一例之示意圖。
以下，參照隨附圖式對各種實施例進行敍述。
一般而言，根據一實施例，電子機器包括：顯示器件，其具備複數個第1電極、第2電極及第3電極，其中上述複數個第1電極係配置成矩陣狀，上述第2電極係與上述第1電極對向地配置，且包含沿第1 方向延伸且並排地配置於與上述第1方向交叉之第2方向之複數個電極圖案，上述第3電極係與上述第2電極對向地配置，且包含沿上述第2方向延伸且並排地配置於上述第1方向之複數個電極圖案；顯示驅動器，其係對上述第2電極施加感測器驅動信號；檢測電路，其發送檢測資料群，該檢測資料群包含以對上述第2電極施加感測器驅動信號之每一時序，自上述第3電極之複數個電極圖案檢測出之一檢測期間之物理量資料；及應用處理器，其處理自上述檢測電路接收到之上述檢測資料群。
以下，參照圖式，對實施形態之電子機器及電子機器之控制方法進行詳細說明。
圖1係概略性地表示一實施形態之電子機器之一構成例之示意性方塊圖。
本實施形態之電子機器具備附有感測器之顯示器件10、檢測電路20、顯示驅動器30及應用處理器40。再者，應用處理器40係組裝於行動電話等電子機器內之例如半導體積體電路(LSI(Large Scale Integration，大規模積體電路))。應用處理器40具有藉由OS(Operating System，操作系統)等軟體而複合地執行網頁(Web)瀏覽或多媒體處理等複數個功能處理的作用。應用處理器40係進行高速之運算處理者，且亦可為雙核心(Dual-Core)、或四核心(Quad-Core)者。作為動作速度，較佳為例如500MHz以上、更佳為1GHz。
附有感測器之顯示器件10具備顯示器件及感測器。附有感測器之顯示器件10係對檢測電路20輸出感測器檢測值Rx，並且依據自顯示驅動器30接收之影像顯示信號Sigx，顯示影像，且依據感測器驅動信號Tx驅動感測器。
檢測電路20係將自附有感測器之顯示器件10接收之檢測值Rx與表示各種資訊之資料合併，產生資料集Data，並輸出至應用處理器 40。又，檢測電路20係依據自應用處理器40接收之表格選擇信號(Table Sel.)，對顯示驅動器30輸出表格選擇請求TRCRQ。進而，檢測電路20依據自應用處理器40接收之感測器設定信號(TP setting)，將控制感測器之驅動時序之控制信號EXVCOM輸出至顯示驅動器30。
顯示驅動器30係將自應用處理器40接收之圖形資料以顯示器件10可進行顯示的方式進行處理，並將影像顯示信號Sigx輸出至顯示器件10。又，顯示驅動器30依據自檢測電路20接收之控制信號EXVCOM，將感測器驅動信號Tx施加至顯示器件10。
應用處理器40依據自檢測電路20接收之資料集Data，使用基於感測器檢測值Rx之原始資料(Raw data)進行各種處理。關於原始資料將於下文敍述。應用處理器40係自資料集Data中所包含之信號獲取顯示驅動器30之狀態，且經由檢測電路20控制顯示驅動器30，獲得檢測電路20與顯示驅動器30之同步。
圖2係概略性地表示圖1所示之附有感測器之顯示器件10之一構成例之示意性剖面圖。再者，圖2中之第1方向X與第2方向Y為相互大致正交之方向，且第3方向Z係與由第1方向X及第2方向Y規定之平面大致正交之方向。
附有感測器之顯示器件10係使用液晶顯示器件作為顯示器件，並且兼用該液晶顯示器件中原本具備之電極之一部分(下述共用電極CE)及顯示用驅動信號(下述共用驅動信號VCOM)，構成靜電電容型感測器。
附有感測器之顯示器件10具備陣列基板AR、對向基板CT及保持於陣列基板AR與對向基板CT之間之液晶層LQ。
陣列基板AR具備第1偏光板POL1、TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)基板12、共用電極CE及像素電極PE。
TFT基板12具備玻璃等透明絕緣基板、未圖示之開關元件、源極 配線或閘極配線等各種配線、及作為覆蓋該等之絕緣膜之平坦化層。開關元件係例如配置成以第1方向X為列方向且以第2方向Y為行方向之矩陣狀，且藉由供給至閘極配線之信號而切換源極配線與像素電極PE之連接。
共用電極CE係配置於TFT基板12上，且由絕緣層13覆蓋。共用電極CE係例如於第1方向X延伸，並且複數個並排地配置於第2方向Y。共用電極CE係例如由ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)或IZO(Indium zinc oxide，氧化銦鋅)等透明電極材料形成。於本實施形態中，共用電極CE亦被用作感測器用驅動電極。
像素電極PE係配置於絕緣層13上，且由未圖示之配向膜覆蓋。像素電極PE係例如並排配置成以第1方向X為列方向且以第2方向Y為行方向之矩陣狀。複數列像素電極PE係介隔絕緣層13而與1個共用電極CE對向。像素電極PE係例如由ITO或IZO等透明電極材料形成。
第1偏光板POL1係配置於TFT基板12之外側(與共用電極CE為相反側)之主表面。
對向基板CT具備玻璃等透明絕緣基板14、彩色濾光片CF、檢測電極SE及第2偏光板POL2。
彩色濾光片CF係以覆蓋呈格子狀配置於透明絕緣基板14上之黑矩陣(未圖示)之狀態配置。彩色濾光片CF例如具備複數層著色層，且分別配置於在第1方向X上鄰接之像素之彩色濾光片CF之著色層為互不相同之顏色。例如，彩色濾光片CF具備由分別著色成紅色、藍色、綠色之類之3原色之樹脂材料而形成之著色層。包含著色成紅色之樹脂材料之紅色著色層(未圖示)係對應於紅色像素而配置。包含著色成藍色之樹脂材料之藍色著色層(未圖示)係對應於藍色像素而配置。包含著色成綠色之樹脂材料之綠色著色層係對應於綠色像素而配置。該等著色層彼此之邊界位於與黑矩陣重疊之位置。彩色濾光片 CF係由保護層(未圖示)覆蓋。保護層係緩解彩色濾光片CF之表面之凹凸之影響。保護層係由未圖示之配向膜覆蓋。
檢測電極SE係配置於透明絕緣基板14之外側(與彩色濾光片CF為相反側)之主表面。檢測電極SE係於與共用電極CE所延伸之方向(第1方向X)大致正交之方向(第2方向Y)上延伸，並且於第1方向X上並排地配置複數個。檢測電極SE係例如由ITO或IZO等透明電極材料形成。
第2偏光板POL2係配置於檢測電極SE上(透明絕緣基板14之與彩色濾光片CF之相反側)。第1偏光板POL1之第1偏光軸與第2偏光板POL2之第2偏光軸係例如存在正交之位置關係(正交偏光鏡)。此時，一偏光板例如以其偏光軸與液晶分子之初始配向方向平行或正交之方式配置。
圖3係用以說明圖2所示之附有感測器之顯示器件之共用電極CE與檢測電極SE之一構成例之示意性立體圖。
於該例中，共用電極CE係分割為於第2方向Y(圖之左右方向)延伸之複數個條紋狀之電極圖案。於寫入影像信號時，對於電極圖案，藉由顯示驅動器30而依序施加(供給)共用電壓VCOM，且分時地進行線序掃描驅動。又，於驅動感測器時，對於各電極圖案(或以複數個電極圖案為組之各電極圖案群)，藉由顯示驅動器30而依序施加感測器驅動信號Tx。於本實施形態中，將依序施加至各電極圖案(或以複數個電極圖案為組之各電極圖案群)之感測器驅動信號Tx稱為感測器驅動信號Tx1~Txn。Tx之下標「n」係於對各電極圖案不斷地依序施加感測器驅動信號Tx之情形時表示電極圖案之數量，且於對以複數個電極圖案為組而形成之各電極圖案群不斷地依序施加感測器驅動信號Tx之情形時表示電極圖案群之數量。
另一方面，檢測電極SE包含於與共用電極CE之電極圖案之延伸 方向正交之方向延伸之複數(m)個條紋狀之電極圖案1~電極圖案m。自檢測電極SE之各電極圖案各者將感測器檢測值Rx輸出，且向圖1所示之檢測電路20輸入。於本實施形態中，尤其將分別自電極圖案1~電極圖案m輸出之感測器檢測值Rx稱為感測器檢測值Rx1~Rxm。
圖4係表示靜電電容型感測器之驅動信號與檢測信號之一例之示意圖。靜電電容型感測器具備隔著介電體相互對向配置之一對電極(共用電極CE及檢測電極SE)，且構成第1電容元件。
第1電容元件係其一端連接於交流信號源，且另一端經由電阻而接地，並且連接於圖1所示之檢測電路20。若自交流信號源對共用電極CE(電容元件之一端)施加特定之頻率(例如數kHz~數十kHz左右)之交流矩形波(感測器驅動信號Tx)，則於檢測電極SE(第1電容元件之另一端)出現如圖4所示之輸出波形(感測器檢測值Rx)。
於手指未接觸之狀態下，伴隨著對第1電容元件之充放電，流動有與第1電容元件之電容值對應之電流。此時之第1電容元件之另一端之電位波形例如成為圖4之波形V0，且該電位波形被檢測電路20檢測。
另一方面，於手指已接觸之狀態下，由手指形成之第2電容元件成為串聯地追加於第1電容元件之形態。於該狀態下，伴隨著對第1電容元件與第2電容元件之充放電，而分別流動有電流。此時之第1電容元件之另一端之電位波形例如成為圖4之波形V1，且該電位波形被檢測電路20檢測。此時，第1電容元件之另一端之電位成為由流經第1電容元件與第2電容元件之電流之值決定之分壓電位。因此，波形V1成為小於非接觸狀態下之波形V0之值。因此，藉由比較感測器檢測值Rx與閾值Vth，而判定手指有無接觸感測器。
再者，上述說明係對檢測手指是否接觸於感測器之方法進行了說明，但即便於手指未接觸感測器之狀態下，感測器檢測值Rx亦變 化，故而亦可進行懸空檢測等。
於本實施形態中，所謂原始資料係包括將共用電極CE之電極圖案(或電極圖案群)與檢測電極SE之電極圖案交叉之位置座標和該位置上之感測器檢測值Rx之物理量(電極間電容值或檢測電極電壓值)建立對應所得之資訊之三維資訊。
自檢測電極SE輸出包含以將感測器驅動信號Tx1施加至電極圖案之時序獲得之m個感測器檢測值Rx1~Rxm的原始資料(稱為原始資料Tx#1)。同樣地，自檢測電極SE輸出包含以將感測器驅動信號Tx2施加至電極圖案之時序獲得之m個感測器檢測值Rx1~Rxm的原始資料(稱為原始資料Tx#2)。以下，同樣地，自檢測電極SE於一檢測期間(一訊框期間)輸出包含以施加感測器驅動信號Txn之時序獲得之m個感測器檢測值Rx1~Rxm的原始資料(稱為原始資料Tx#n)。於本實施形態中，尤其將使原始資料Tx#1~Tx#n合併而成之原始資料稱為原始資料群。
圖5係概略性地表示圖1所示之電子機器之檢測電路20及顯示驅動器30之一構成例之示意性方塊圖。
顯示驅動器30具備自複數個表格(Table1、Table2、...)選擇1個表格之表格選擇部TB。於各表格中，儲存有感測器之檢測期間(感測器水平期間TSHD成為H位準之期間)、感測器驅動信號Tx之脈衝寬度及感測器之驅動方法等值。顯示驅動器30係選擇複數個表格中之1個，使用所儲存之資訊，控制影像顯示信號Sigx及感測器驅動信號Tx之時序。較理想為，例如為於藉由感測器而檢測懸空動作時及檢測對顯示器件之接觸時，變更感測器驅動信號Tx之脈衝寬度。
檢測電路20具備感測器處理部22、同步處理部24、表格控制器26、感測器驅動時序控制器28及資料集處理部DS。
感測器處理部22具備比較器COMP、A/D(Analog to Digital，類比 /數位)轉換器222、濾波器224及時序控制器TCON。
比較器COMP係自附有感測器之顯示器件10接收感測器檢測值Rx，且輸出與閾值Ref之差值。於比較器COMP並列地連接有電容器與開關SW2。又，於比較器COMP之前段配置有開關SW1，且藉由該開關SW1而切換附有感測器之顯示器件10與電容器及開關SW2之連接。比較器COMP之輸出係由切換開關SW2而重設。開關SW1及開關SW2之切換係由時序控制器TCON控制。
A/D轉換器222係以特定之時序，將自比較器COMP輸出之值取樣且保持特定期間，且作為數位信號對濾波器224輸出。濾波器224係包含例如FIR濾波器等數位濾波器。濾波器224之運算係使用自應用處理器40發送之感測器設定信號(TP setting)中所包含之係數(FIR coefficient)。濾波器224係將運算處理後之值作為原始資料向資料集處理部DS輸出。即，原始資料係自感測器檢測值Rx與閾值Ref之差值去除雜訊成分所得之數位資料。
表格控制器26係基於自應用處理器40接收之表格選擇信號(Table Sel.)，產生表格選擇請求TRCRQ，且向顯示驅動器輸出。表格選擇信號(Table Sel.)係以基於串列通信之標準、例如SPI或I2C通信標準之結構自應用處理器40發送至檢測電路20。表格控制器26係將所接收之表格選擇信號(Table Sel.)轉換為平行信號輸出。
感測器驅動時序控制器28係自應用處理器40接收感測器設定信號(TP setting)。感測器設定信號(TP setting)係以基於串列通信之標準、例如SPI或I2C通信標準之結構自應用處理器40發送至檢測電路20。感測器驅動時序控制器28係使用感測器設定信號(TP setting)中所包含之感測器驅動信號Tx之頻率、及感測器驅動信號Tx之脈衝數，產生感測器驅動時序信號EXVCOM，並向顯示驅動器30輸出。
再者，感測器驅動信號Tx之脈衝數及頻率較理想為變更為使用 儲存於顯示驅動器30之每個表格之感測器之檢測期間(水平期間TSHD成為H位準之期間)整體之高度。因此，應用處理器40較理想為相應於所使用之表格，變更感測器設定信號(TP setting)中所包含之感測器驅動信號Tx之頻率、及感測器驅動信號Tx之脈衝數之值。
同步處理部24係自顯示驅動器30接收感測器水平期間TSHD及感測器垂直期間TSVD，區分第幾個電極圖案(或電極圖案群)被驅動及訊框期間。而且，同步處理部24係相應於經區分之電極圖案及訊框期間，將預先設定之記號或編號等識別值向資料集處理部DS輸出。
資料集處理部DS係將自感測器處理部22接收之原始資料、自應用處理器40接收之感測器設定信號(TP setting)、與基於自顯示驅動器30接收之表格設定TRCST之顯示驅動器30之控制相關之資訊、及與自同步處理部24及感測器處理部22獲得之檢測電路20之控制相關之資訊合併，產生資料集Data。關於資料集Data中所包含之資訊係於下文敍述。資料集處理部DS係將資料集Data向應用處理器40輸出。再者，資料集處理部DS係以基於例如SPI或I2C等串列通信標準之結構發送資料集Data。資料集處理部DS係於將資料集Data向應用處理器40輸出之前，將中斷請求信號IRQ向應用處理器40輸出。
圖6係表示資料集處理部DS所產生之資料集Data中所包含之內容之一例之示意圖。資料集Data係包含原始資料、DDI(Display Driver Integrated Circuit，顯示器驅動積體電路)狀態、觸控IC(Touch Integrated Circuit，觸控積體電路)狀態及訊框索引。亦可不包含訊框索引。原始資料係包含一檢測期間中之原始資料Tx#1~Tx#n之原始資料群。檢測電路20係依序保持相應於依序施加至共用電極CE之感測器驅動信號Tx自檢測電極SE獲得之原始資料Tx#1~Tx#n，產生原始資料群。DDI狀態包含觸控時間、觸控報告率(顯示之分割數)、感測器驅動信號Tx之電壓、及感測器驅動信號Tx之脈衝寬度等。DDI狀 態係與顯示驅動器30之控制相關之資訊。觸控IC狀態包含感測器驅動信號Tx之頻率、感測器驅動信號Tx脈衝數、伴隨該等參數之檢測部常數。觸控IC狀態係與檢測電路20之控制相關之資訊。訊框索引係資料集Data之缺損對策之資料。再者，資料集Data只要至少包含原始資料即可，亦可不包含DDI狀態、觸控IC狀態及訊框索引。
圖7係對檢測電路20以垂直同步模式(V-Sync Mode，Vertical Synchronization Mode)向應用處理器40輸出之資料集Data之輸出時序進行說明之示意圖。
資料集處理部DS係若自感測器處理部22接收到一檢測期間中之最後之原始資料Tx#n，則向應用處理器40輸出中斷請求信號IRQ。應用處理器40係響應中斷請求信號IRQ而自資料集處理部DS讀出資料集Data。資料集處理部DS係將圖6所示之資料集Data向應用處理器40輸出。即，檢測電路20係將檢測資料群(原始資料群)向應用處理器40輸出。原始資料群包含以每一個對共用電極CE施加感測器驅動信號Tx之時序自檢測電極SE之電極圖案獲得之一檢測期間之所有之物理量資料。
自資料集處理部DS向應用處理器40傳輸資料集Data之傳輸時間例如為0.8ms以內。資料集Data之資料尺寸例如為Tx列數×Rx列數×16bit(位元)。Tx列數係於一檢測期間中對共用電極CE之各電極圖案施加感測器驅動信號Tx之列數。Tx列數係於對各電極圖案不斷地依序供給感測器驅動信號Tx之情形時，對應於電極圖案之數量。又，Tx列數係於對以複數個電極圖案為組之各電極圖案群不斷地依序供給感測器驅動信號Tx之情形時，對應於電極圖案群之數量。Rx列數係對應於檢測電極SE之電極圖案數m。再者，資料集處理部DS對應用處理器40輸出資料集Data(發送中斷請求信號IRQ)之間隔例如為8.4ms。
應用處理器40係使用自檢測電路20接收之原始資料群(全部訊框 資料(whole frame data))，執行運算處理(三維資料處理)。圖8及圖9係表示基於原始資料群之三維資料之一例之圖。於圖8中，表示使用者之手指等不位於感測器之附近時基於原始資料群之三維資料之一例。於圖9中，表示使用者之手指等位於感測器之附近時基於原始資料群之三維資料之一例。再者，於圖8及圖9中，將寬度方向(感測器驅動信號Tx之掃描方向)與縱深方向設為位置座標，將高度方向設為物理量，繪製原始資料群。
應用處理器40係使用藉由運算處理而獲得之三維資料，執行各種應用之處理(App.layer)。
資料集處理部DS係亦於下一檢測期間中同樣地將資料集Data向應用處理器40輸出。即，資料集處理部DS係若自感測器處理部22接收到下一檢測期間中之Tx#n，則將中斷請求信號IRQ向應用處理器40輸出，其後，將包含下一檢測期間中之原始資料群之資料集Data向應用處理器40輸出。應用處理器40中之處理係與上述相同。
根據本實施形態，檢測電路20可以簡單之構成將原始資料群向應用處理器40輸出。檢測電路20只要至少將原始資料群作為資料集data向應用處理器40輸出即可，且作為資料集data所需之資料量可以較少。又，資料集data包含全部之原始資料Tx#1~Tx#n，故而，於自檢測電路20向應用處理器40發送原始資料之發送過程中，原始資料不會缺漏。應用處理器40可使用包括包含座標位置與物理量之三維資訊之原始資料群，執行運算處理，且可使用三維資料執行各種應用。因此，可期待電子機器之高性能化。本實施形態係即便使感測器高精細化，亦可無需特別之構成方面之變更地應用於檢測電路20。根據以上所述，可提供一種通用性較高之電子機器及電子機器之控制方法。
已對本發明之若干個實施形態進行了說明，但該等實施形態係作為示例而提出者，並非意圖限定發明之範圍。該等新穎之實施形態 可以其他各種形態實施，且可於不脫離發明之主旨之範圍內進行各種省略、置換、變更。該等實施形態及其變形包含於發明之範圍或主旨，且包含於申請專利範圍中記載之發明及其均等之範圍內。
再者，於本實施形態中，應用處理器40之構成可利用硬體實現，亦可利用軟體實現。
再者，上述說明係對附有感測器之顯示器件具備液晶顯示器件作為顯示器件之構成進行了說明，但亦可為具備有機電致發光顯示器件等其他顯示器件之構成。
又，於圖2等所示之例中，液晶顯示器件係對將像素電極PE及共用電極CE之兩者配備於陣列基板AR之構成、即IPS(In-Plane Switching，共平面切換)模式或FFS(Fringe Field Switching，邊緣電場切換)模式等主要利用橫向電場(亦包含邊緣電場)之構成進行了說明，但液晶顯示器件之構成並不限定於該等。亦可至少將像素電極PE配備於陣列基板AR，且將共用電極CE配備於陣列基板AR及對向基板CT中之任一者。
於TN(Twisted Nematic，扭轉向列)模式、OCB(Optically Compensated Bend，光學補償彎曲)模式、VA(Vertical Aligned，垂直配向)模式等之主要利用縱向電場之構成之情形時，將共用電極CE配備於對向基板CT。即，配置共用電極CE之位置為構成TFT基板12之絕緣基板與構成對向基板CT之絕緣基板14之間即可。
雖對特定之實施例進行了說明，但該等實施例僅以例示之方法揭示，並非用於限制本發明的範圍。實際上，於不脫離本發明之精神之前提下，此處說明之新穎之方法及系統可以各種其他形式實施；此外，可對此處所說明之方法及系統進行各種省略、替換及變形。隨附之申請專利範圍及其等效形式意在包含本發明之範圍及精神內之形式與變形。再者，上述實施例可相互結合而實施。
IRQ‧‧‧中斷請求信號

Claims (3)

  1. 一種包含附有感測器之顯示器件之電子機器，其包括：顯示器件，其具備複數個第1電極、第2電極及第3電極，上述複數個第1電極係配置成矩陣狀，上述第2電極係與上述第1電極對向地配置，且包含沿第1方向延伸且並排地配置於與上述第1方向交叉之第2方向之複數個電極圖案，上述第3電極係與上述第2電極對向地配置，且包含沿上述第2方向延伸且並排地配置於上述第1方向之複數個電極圖案；顯示驅動器，其係對上述第2電極施加感測器驅動信號；檢測電路，其發送檢測資料群，該檢測資料群包含以對上述第2電極施加感測器驅動信號之每一時序，自上述第3電極之複數個電極圖案檢測出之一檢測期間之物理量資料；及應用處理器，其處理自上述檢測電路接收到之上述檢測資料群。
  2. 如請求項1之包含附有感測器之顯示器件之電子機器，其中上述檢測資料群包括表示上述第2電極之複數個電極圖案與上述第3電極之複數個電極圖案交叉之位置之複數個位置座標、及與各個上述位置座標建立對應之電壓值資料。
  3. 一種電子機器之控制方法，該電子機器包括：顯示器件，其具備複數個第1電極、第2電極及第3電極，上述複數個第1電極係配置成矩陣狀，上述第2電極係與上述第1電極對向地配置，且包含沿第1方向延伸且並排地配置於與上述第1方向交叉之第2方向之複數個電極圖案，上述第3電極係與上述第2電極對向地配置，且包含沿上述第2方向延伸且並排地配置於上述第1方向之複數個電極圖案； 顯示驅動器，其係對上述第2電極施加感測器驅動信號；及檢測電路，其檢測以對上述第2電極施加上述感測器驅動信號之每一時序自上述第3電極之複數個電極圖案獲得之物理量資料；該電子機器之控制方法依序記憶對施加至上述第2電極之每一感測器驅動信號所檢測出之物理量資料，且將包含一檢測期間之物理量資料之檢測資料群向應用處理器發送。
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