TWI497389B

TWI497389B - 測定觸碰面板上之校正後觸碰位置的方法以及其校正後觸碰位置測定模組

Info

Publication number: TWI497389B
Application number: TW102121029A
Authority: TW
Inventors: Gerben Hekstra
Original assignee: Innolux Corp
Priority date: 2012-06-20
Filing date: 2013-06-14
Publication date: 2015-08-21
Also published as: TW201401145A; CN103513847A; US20130342468A1

Description

測定觸碰面板上之校正後觸碰位置的方法以及其校正後觸碰位置測定模組

本發明是有關於一種用以測定電容觸碰面板上之一觸碰位置的方法，以及用以測定觸碰位置的觸碰面板模組。

電容觸碰面板裝置被廣泛地應用，讓使用者可以與電子裝置進行互動。尤其，透明的觸碰面板可用於一顯示裝置的上方，讓使用者可以藉由在顯示裝置上呈現的一圖形使用者界面(graphical user interface)而與電子裝置進行互動。這類型的觸碰面板被應用於例如是行動電話、平板電腦以及其他攜帶型電子裝置。

習知用於上述裝置的觸碰面板包括有第一電極與第二電極的玻璃板，其中第一電極具有多數個第一感測元件位於玻璃板的一表面，第二電極位於玻璃板的另一表面。觸碰面板之感測原理係提供一種測定第一電極之任一第一感測元件與第二電極之電容(改變)之方法。前述電容改變係因為一觸碰事件，觸碰事件有時也被稱作一手勢(gesture)或觸碰手勢。藉由測定感測元件中，電容改變最大的位置來判定此觸碰事件的中心位置。

在共平面的觸碰面板中，感測器位於單一(氧化銦錫，ITO)層，且每一感測器具有自己的感測電路。共平面觸碰技術係使用差動電容量測(differential capacitance measurements)結合一共平面觸碰感測板。感測電路用以量測感測器的電荷，此電荷需要用來負載每一各別感測器的內部電容以及另外(可施用的)手指觸碰電容，手指觸碰電容係藉由手指觸碰感測器所產生。感測器的內部電容取決於感測面積、感測器與參考(電壓)層的距離以及感測器與參考層之間的材料之介電係數。假設內部電容穩定且恆定，內部電容係由調諧(tuning)/校準(calibration)程序所產生。因此由一觸碰事件造成感測電容的變化，將成為揭露觸碰所在位置的區別因素。

觸碰面板的準確度表現對於觸碰面板的功能性而言係為最重要的特性，其中準確度係用以顯示出觸碰面板識別觸碰事件與物理觸碰之實際觸碰點是否相同的能力。此外，高準確度將增進測定觸碰事件之形狀與尺寸的能力。再者，一觸碰顯示器的高度空間準確度表現，將能校正後地識別筆尖(stylus)的輸入值(例如是<4mm之相對小的作用直徑觸碰)。

一般來說，具有固定尺寸的觸碰面板之準確度，將隨著感測器密度的增加而提升，感測器密度例如是每一顯示區域的主動感測器之總數量。當每一區域具有較大的感測器密度時，不僅是觸碰位置的偵測準確度會提高，同樣的觸碰形狀與尺寸的偵側準確度也會更為提升。對於畫素顯示面板的典型觸碰應用(例如部分顯示將被啟動/選擇，作為一觸碰事件的回應)而言，觸碰感測器的極限尺寸將等同於顯示畫素感測器，換言之，當觸碰感測器密度等同於顯示器的每英吋畫素(Pixels-Per-Inch,PPI)值時，可達到最大的準確度。

由於各種因素，例如是成本、設計與製程能力(軌距/空隙能力)以及顯示型態(如：軌距/繞線佈局的使用率)，觸碰驅動器/控制器的輸入/輸出線數量將有所限制。因此，一顯示模組之觸碰面板的感測器數量，一般來說將遠小於顯示畫素的實際數量，對於可達成的準確度將有負面的影響。通常，對於筆尖大小的輸入(如僅有<4mm直徑的小區域觸碰表面)，相較於手指大小輸入(具有較大的觸碰區域，例如是9mm直徑)，需要相對高的準確度。由於筆尖大小的輸入係有關於傳統觸碰顯示器的功能，例如是線的繪製以及手寫功能，這些功能需要小空間輸入(與辨識)。

第3圖繪示所謂的「質心」法，根據偵測觸碰感測值來計算習知觸碰面板裝置的觸碰位置。在此所述之觸碰位置係定義為在觸碰面板上感測到一例如是手指或筆尖之物體所觸碰的位置。第3圖繪示觸碰面板之一部分，包括多數個感測器10排列於一鑽石形狀區域中。此面板被一物體觸碰在觸碰位置21(第3圖中的x-y座標之中心)，此物體具有一觸碰點區域A，觸碰點區域A係以一圍繞於觸碰位置21為中心的圓圈所標示。每一電容感測器的偵測值(或偵測量)以S1、S2...S9標示，並畫出一區域的方式來表示。較大的區域代表具有較高的偵測量。此偵測量係與覆蓋感測器單元之區域A的部分成比例。第五感測器量測最大偵測量，相鄰的第四、第八與第七感測器量測量逐漸減少。觸碰位置[x,y]可藉由以下公式估計：

在此公式中，向量P_i 代表第i個感測器的中心位置[x_i ,y_i ]。計算得到的觸碰位置[x,y]為中心位置[x_i ,y_i ]之加權平均，其中感測器數量即為權重。在此範例中，第3圖中計算出的觸碰位置在標號20之位置，標號20略低於真實觸碰位置21。這是由於遠離感測器單元7之中心，並未真正地覆蓋到觸碰區域A，因而有效地將估計的觸碰位置沿著-y軸的方向「拖曳」。

因此，質心法所給予的計算位置[x,y]相較於感測方格具有較高的分辨率。然而，質心法僅提供真實觸碰位置的一近似值。誤差的方向與程度隨著真實位置的不同而改變。舉例來說，若感測器10被觸碰的位置就在中央，質心法將會提供準確的結果。若真實的觸碰位置不在中央，將會產生變動的誤差。

如第4a圖所繪示之直線a到e，當使用者留下或畫出一直線通過感測面板時，變動的誤差尤其明顯。直線a、b、c、d與e透過質心法被「移動」如第4b圖中的擺動直線a’、b’、c’、 d’與e’。在第4b圖中，僅繪示在單一感測器10內之擺動。然而，由於多數個感測器形成規格網格，擺動也將隨著繪示之直線a至e的長度而規則地重複出現。

本發明係提供一種用以測定觸碰位置的方法與裝置，可減少擺動效應(wobble effect)。

本發明係有關於一種測定一觸碰面板上之一校正後觸碰位置的方法，觸碰面板具有複數個感測器，且此方法包括以下步驟。取得一觸碰位置的一第一估計值，觸碰位置定義為在觸碰面板上，感測到一物體所觸碰的位置。藉由提供至少一預定測繪來測定一校正向量，預定測繪係使用第一估計值為預定測繪的輸入值。結合第一估計值與校正向量，用以取得校正後觸碰位置。

根據本發明，提出一種用於一觸碰面板的一校正後觸碰位置測定模組，包括一估計單元、一測繪單元以及一處理器。估計單元用以取得一觸碰位置的一第一估計值。測繪單元利用至少一預定測繪，測定一校正向量，預定測繪係使用第一估計值為預定測繪的輸入值。處理器混合第一估計值與校正向量，用以取得校正後觸碰位置。

根據本發明，提出一種觸碰感測系統包括一觸碰面板以及前述包括包括一估計單元、一測繪單元以及一處理器之觸碰位置測定模組。觸碰感測板具有多數個感測器，觸碰位置測定模組用以自觸碰感測板接收觸碰感測量測值。

根據本發明，提出一種儲存有一電腦程式的電腦產品，電腦程式用以執行前述測定一觸碰面板上之一校正後觸碰位置的方法。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

1‧‧‧共平面觸碰面板

2‧‧‧覆蓋層

4、14‧‧‧子層

6‧‧‧基材層

8‧‧‧感測層

10、10a、10b、10c、10d、10e‧‧‧感測器

12、12’、12”‧‧‧參考電極層

13‧‧‧使用者介面元件

16‧‧‧顯示層

18‧‧‧感測元件

20‧‧‧第一估計值

21‧‧‧真實觸碰位置

60、61‧‧‧曲線圖

62、63‧‧‧數值

90‧‧‧觸碰位置測定模組

91‧‧‧估計單元

92‧‧‧處理器

93、94‧‧‧測繪單元

95‧‧‧轉換單元

100‧‧‧電子裝置

A‧‧‧觸碰點尺寸

E_cor 、E_err ‧‧‧函數

S₁ 、S₂ ...S_n ‧‧‧感測值

x,y,u,v‧‧‧座標

[u_cor ,v_cor ]‧‧‧校正向量

[u_err ,v_err ]‧‧‧誤差值

[u_i ,v_i ]‧‧‧整數部分

[u_f ,v_f ]‧‧‧小數部分

[u,v]_est ‧‧‧第一估計值(座標)

[u,v]_true ‧‧‧真實觸碰位置

[u,v]_cor ‧‧‧校正後的[u,v]座標值

[x,y]_cor ‧‧‧校正後的[x,y]座標值

第1圖繪示依照本發明實施例具有觸碰面板裝置之電子裝置的俯視圖。

第2a-2c圖繪示依照本發明不同實施例之觸碰面板裝置的剖面示意圖。

第3圖繪示測定觸碰面板之觸碰位置質心法。

第4a與4b圖繪示擺動效應。

第5a-5e圖繪示依照本發明實施例測定觸碰位置之方法的不同形式的感測器。

第6a與6b圖繪示依照本發明實施例之方法的校正函數。

第7a與7b圖繪示依照本發明實施例測定觸碰位置的方法。

第8圖繪示依照本發明實施例的觸碰位置測定模組。

首先，將針對共平面觸碰面板作更加詳細的描述。第1圖繪示電子裝置100的俯視圖，電子裝置100包括一共平面觸碰面板1及使用者介面元件13。電子裝置可被應用於例如是行動電話、平板電腦以及其他攜帶型電子裝置。此外，也可應用於非顯示(輸入)裝置，例如是滑鼠墊 (mouse pads)與圖形輸入板(graphics tablets)。電子裝置100之共平面觸碰面板1的表面可利用手指觸碰或筆尖觸碰。

共平面觸碰面板1表面被區分為多數個感應器10。在第1圖之實施例中，該些感測器10分別形成一鑽石圖案，但也可形成其他圖案(見第5b至5e之實施例)。每一感測器10包括一觸碰感測元件18(未繪示於第1圖中)，可獨立地被位置測定模組90所讀取。

共平面觸碰面板的表面常被一玻璃蓋層所保護。對於具有顯示層16之電子裝置，顯示層常位於共平面觸碰面板表面之下，然而，也存在顯示層與共平面觸碰面板各層混雜或共用的不同實施例。關於觸碰面板各層的細節將參照後方第2a-2c圖做描述。

第2a圖繪示一所謂的「離散式」共平面觸碰面板的剖面結構，第2b圖繪示一「外嵌式(on-cell)」共平面觸碰面板的剖面結構，第2c圖繪示一「視窗整合式(window integrated)」共平面觸碰面板的剖面結構。

在第2a圖中，頂層為透明的覆蓋層2。此覆蓋層2用以保護下方各層結構免於損壞，假使共平面觸碰面板1應用於一顯示層16上，覆蓋層2通常由玻璃或其他堅硬且透明的材料所組成。若沒有顯示層16(例如是一滑鼠墊)，則可使用非透明的覆蓋層2。在某些實施例中，覆蓋層2也可省略，例如是為了節省成本。在一實施例中，可以偏光層作為覆蓋層2以及做為手指或筆尖所觸碰的表面。因此，覆蓋層2不需要代表一玻璃頂面。

覆蓋層2下方為一子層4。子層4可例如包括一防碎 (anti-splinter)層，用以防止當覆蓋層2損壞時碎裂成尖銳的碎片。子層4也可為一偏光層，例如和顯示層16一起操作。子層4也可為一種光學膠(optical clear adhesive)或僅為一空氣間隙(air gap)(在感測器邊緣具有雙側黏著劑的所圍繞形成的空間)。

子層4下方為感測層8。感測層8包括多數個分離之觸碰感測元件18。感測元件18位於一基材層6上。在基材層6底下可為一參考電極層12。參考電極層12可提供一參考電壓。觸碰感測元件18可包括氧化銦錫(ITO)，適用於透明感測器與軌跡。

感測層8與參考電極層12附著之基材層6的下方為另一子層14。子層14同樣可為空氣間隙、偏光層、黏著層等。

子層14之下為顯示層16。此顯示層舉例來說可為一液晶顯示器(liquid crystal display,LCD)或有機發光二極體(organic light-emitting diode,OLED)顯示器。

除了將參考電極層12設置於基材層6下方之外，參考電極層12也可設置於堆疊結構中的其他地方，舉例來說參考電極層12’位於顯示層16之上，或參考電極層12”位於顯示層16之堆疊內部。參考電極層12、12’、12”之功能將參考第2a-2c圖做說明。參考電極層12、12’、12”也可以氧化銦錫為材料所製成。

如上所述，以具有參考電極層12的基材層6、感測層8與覆蓋層2所形成之共平面觸碰面板裝置的實施例中，可不具有顯示層16，舉例來說可應用於滑鼠墊或圖形輸入板。

第2b圖繪示代替上述「離散式」共平面觸碰面板實施例的「外嵌式」共平面觸碰面板的變化實施例。與前述實施例主要不同之處，係在於具有觸碰感測元件18之感測層8並非位於分離的基材層6上，而是位於顯示層16之上。這樣的設置節省了一額外的層，且降低了觸碰顯示器的尺寸與製造成本。在本實施例中，參考電極層12”位於顯示層16之堆疊中。

第2c圖繪示另一「視窗整合式」共平面觸碰面板的變化實施例。可參照美國專利公開號2010/0097344 A1，當中詳述了此變化實施例的多種實施態樣。同樣地，此實施例中不具有分離的基材層6，感測層8位於子層4與14其中之一。也可以不需要子層4，將感測層8之感測元件18直接設置於覆蓋層2上(見第2c圖之實施例)。參考電極層12’與12”分別位於顯示層16之堆疊上與顯示層16之堆疊中。

要注意的是，上述實施例之共平面觸碰面板包括電容觸碰感測器，但並不限定於此。任何局部表面積算感測器(local surface-integrating sensor)，例如是光感觸碰感測器，皆可應用於本發明。

第3圖繪示基本的質心法，引起第4a與4b圖中的擺動問題已於前面介紹。接著，依據本發明之概念所揭露的方法將繪示於第5a圖中。

第5a圖繪示一觸碰面板的一部分，此觸碰面板包括具有多數個具有鑽石形狀的感測器10a。繪示的x軸與y軸分別對齊觸碰面板模組的側邊。也就是說，位置[x,y]=[0,0]對應於左下角。圖中同樣繪示座標軸u與v，形成[u,v]座標系。u軸與v軸對齊感測器10a的側邊。此外，座標軸已正規化(normalized)，使得感測器10a的邊界對應於u與v為整數的直線(參見繪示之直線u=0、u=1、v=0等)。

利用質心法或任何其他的估計法可測定觸碰位置的第一估計值20。若利用質心法，第一估計值20可以在[x,y]座標系被計算出(如公式(1))，接著透過仿射轉換(affine transformation)將其轉換為對應之[u,v]座標，其中仿射轉換係由網格中的感測器10a之預定配置所決定。在另一實施例中，質心法也可藉由直接將感測器中心位置P_i 以[u,v]座標表示，計算第一估計值20為[u,v]座標。

接著，將第一估計值20分為一整數部分[u_i ,v_i ]與一小數部分[u_f ,v_f ]。由於[u,v]座標已被正規化且對齊網格，整數部分[u_i ,v_i ]將對準第一估計值20所在之感測單元的一角。小數部分[u_f ,v_f ]將由第一估計值20所在之感測單元的一角所指明。

真實的觸碰位置將以點21標示(為了更清楚地顯示擺動效應，點20與21之間的距離有稍微誇張化)。在點20與21之間可畫出一校正向量(correction vector)[u_cor ,v_cor ]，也就是說[u,v]_true (真實觸碰位置)=[u,v]_est (第一估計值)+[u_cor ,v_cor ]。

估計值中的誤差值[u_err ,v_err ]=-[u_cor ,v_cor ]，此誤差值係取決於真實位置21與感測器10a之中心的相對位置。換句話說，存在一函數E_err (u_f ,v_f )，當給定一特定的[u_f ,v_f ]_true 座標，將可得到估計誤差值[u_err ,v_err ]。接著，可藉由[u_cor ,v_cor ]=-[u_err ,v_err ]得到反函數E_cor (u_f ,v_f )，用以測繪(map)一特定估計值[u_f ,v_f ]_est 。

雖然函數E_cor (u_f ,v_f )能以第一原理(first principle)做衍生性分析，但其可更有效地利用例如是機器人以實驗的方式測定此函數，此實驗係有系統地在一預定的「真實」位置碰觸一面板，並分析其產生的估計位置。在這樣的方式下，可形成一二維查詢表(lookup table,LUT)，用以提供將[u_f ,v_f ]_est 轉換為[u_cor ,v_cor ]所需的測繪。

以[u,v]座標系來施行計算在本發明實施例中並非必要條件，也可施行計算並產生於[x,y]座標系或其他座標系的二維測繪。

[u,v]座標系或其他座標軸等可對齊感測器10a至10e之側邊的優點，在於具有高度準確性。也就是說，在u方向所需的校正量u_cor 只取決於u_f ，在v方向所需的校正量v_cor 只取決於v_f 。除了利用二維測繪，也可使用兩分開的一維測繪，即u_cor =E_cor,u (u_f )且v_cor =E_cor,v (v_f )。

若感測器的側邊皆等長(例如是第5a至5c圖中的感測器10a、10b與10c)且觸碰感測元件18與其它底下的電路不會造成感測器10a、10b與10c內部不對稱，則一單一的一維測繪可用於u_cor 與v_cor ，即E_cor,u (x)=E_cor,v (x)，其中x為介於0到1之間的任意數。

第5b-5e圖繪示可結合應用於上述方法的其他感測器配置。第5b圖繪示平行四邊形感測器10b的配置，其中[u,v]座標系並非垂直。上述方法也可應用於感測器10b。第5c圖繪示具有正方形感測器10c之網格，第5d與5e圖繪示矩形感測器10d、10e，上述方法皆可應用於此些感測器。

第6a與6b圖繪示函數E_cor,u (u_f )與E_cor,v (v_f )測繪分別具有值62與63的實施例曲線圖60與61。x軸為索引，也就是在第6a圖中，當x=0時對應於u_f =0，當x=64時對應於u_f =1。y軸提供所需的校正值u_cor (曲線圖60)與v_cor (曲線圖61)。在角落點的中心位置，校正值為0，而在中間區域，誤差值(之絕對值)達到極值。

習知本領域之技術人員可有許多方式執行一估計元件，無論是[u,v]座標系、[x,y]座標系或任何其他座標系，用以估計第6a與6b圖中所繪示之一維測繪或上述討論之二維測繪。其中估計元件可為處理器、積體電路，可程式化邏輯積體電路等，在一陣列(LUT)中程式化或排列執行索引操作，用以估計合適的函數，例如是多項式或傅利葉級數，此函數符合預定的校正資料。要注意的是，預定校正資料係根據輸入之估計值被再製。

感測器之對稱性(如第5a至5e圖繪示之感測器以及第6a與6b圖繪示之測繪)使其可交疊(folding)並更簡單地執行一估計元件，用以估計測繪E_cor,u (u_f )與E_cor,v (v_f )。也就是說，估計元件可利用例如是查詢表(LUT)、預程式化符合函數(pre-programmed fit function)、多項式估計電路或任何合適的估計元件，估計出當u_f =[0,...,0.5]時的測繪E_cor,u (u_f )，使得第6a圖中的資料點0至32可被大約估計。接著，當u_f =[0.5,...,1]時的測繪可利用對稱法估計，即當u_f =[0.5,...,1]時，E_cor,u (u_f )=E_cor,u (1-u_f )。

所需的校正值一般來說取決於觸碰物件與觸碰面板接觸之尺寸A的部分(後方即稱為觸碰點尺寸A)。因此提供多數個不同的預定點尺寸A_i 之E_cor,i 測繪是有益的。舉例來說，若以點尺寸i=1、4與9mm² 進行E_cor 測繪，而觸碰面板被以一具有點尺寸6 mm² 之物件所觸碰，則可使用(最接近的)i=4之查詢表或利用E_cor,Ai =4與E_cor,Ai =9之結果的內插值。

第7a圖繪示依據本發明實施例之方法70的步驟。首先，在步驟71中測定估計值[u,v]_est ，估計值[u,v]_est 在步驟72中分離為一整數部分[u_i ,v_i ]與一小數部分[u_f ,v_f ]。在步驟73中，測定點尺寸A來測定測繪E_cor (u_f ,v_f )，點尺寸舉例來說可由所有的感測器之量測來估計，也就是。在步驟74中，估計一二維測繪E_cor (u_f ,v_f )，用以取得校正向量[u_cor ,v_cor ]。接著在步驟75中，以u=u_i +u_f +u_cor 與v=v_i +v_f +v_cor 計算校正後的觸碰位置[u,v]_cor 。最後，將各[u,v]值轉換為螢幕(觸碰面板模組)的[x,y]座標系。舉例來說，[x,y]座標系之座標軸可對齊觸碰面板模組之邊界且[x,y]座標系也正規化使其對應於一畫素增加量(increment)而具有一增加量。

第7b圖繪示依據本發明實施例之方法80的步驟。步驟81、82對應於第7a圖中之步驟71、72。在步驟83中，係根據偵測點尺寸A選擇一維估計函數E_cor,u 與E_cor,v 。由於感測器之對稱性，僅需選擇u_f 與v_f 之單一函數E_cor 。在步驟84a與84b中，u_cor 與v_cor 藉由估計E_cor,u 與E_cor,v 而測定。步驟85與86同樣對應於第7a圖之步驟75與76。

第8圖繪示裝於一觸碰面板1之一校正後觸碰位置測定模組90。校正後觸碰位置測定模組90與觸碰面板1可形成一觸碰面板裝置。第n感測器之感測值S₁ 、S₂ ...S_n 輸入位置估計單元91中。位置估計單元91依據感測值，利用例如是質心法產生一第一估計值[u,v]_est 。一處理器92從估計單元91接收第一估計值[u,v]_est 。估計單元91也可提供一觸碰點尺寸之估計值至處理器92。

處理器92接著分別傳送u_f 與v_f 值至測繪單元93與94。測繪單元93用以計算測繪值E_cor,u (u_f )。處理器92也可傳送點尺寸至測繪單元93，使測繪單元93可選擇上述之一合適的測繪。在另一實施例中，處理器92可執行一校正，例如是依據由測繪單元93所得到的一個或多個計算的測繪結果，執行如上述之內插法。同樣地，測繪單元94用以計算E_cor,v (v_f )。最後，處理器92計算校正後的[u,v]座標值[u,v]_cor ，並透過轉換單元95將校正後之[u,v]值轉換為[x,y]座標系，即為校正後的[x,y]座標值[x,y]_eor 。

在上述說明中可以觀察到，在許多位置的指稱係為「測繪單元」或「處理器」。可以理解的是此些測繪單元/處理器可以任何要求的技術進行設計，例如模擬、數位或兩者之混合。一種合適的實施方式為軟體控制處理器，軟體儲存於觸碰面板裝置之一合適的記憶體中並連接處理器/控制器。記憶體以任何習知合適之隨機存取記憶器(random access memory,RAM)或唯讀記憶體(read only memory,ROM)的形式排列，唯讀記憶體可為任何可抹除之ROM形式，例如是電子可抹拭唯讀記憶體(electrically erasable ROM,EEPROM)。部分軟體可為內建。部分軟體可被儲存為例如是可更新(updatable)，比方藉由一伺服器控制，定期地通過空氣無線傳輸更新。

依據本發明之電腦產品可包括一可攜式電腦媒體，例如是光碟、磁碟、固態記憶體、硬碟等。此電腦產品可包括或為一伺服器的一部分，伺服器分配軟體(應用程式)執行本發明實施例之各部分於具有一合適之觸碰面板的裝置，用以執行上述裝置的處理器。

可以理解的是，本發明之範圍僅受到後方之申請專利範圍與其相等的技術所限制。在本說明書與申請專利範圍中，「包括」以及類似的詞彙並未具有限制的性質，相對地，除了位於此詞彙後方的項目包括其中以外，也不排除沒有特別提到的項目。此外，關於元件使用不定詞「一」，也不排除此元件具有多於一個的可能性，除非說明內容清楚地需要一個且只有一個此元件。因此不定詞「一」通常具有「至少一」的意思。

綜上所述，雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。