CN103513847A - 测定触碰面板上的校正后触碰位置的方法及其测定模块 - Google Patents

Abstract

一种用以测定一触碰面板上的校正后触碰位置的方法，触碰面板具有多个感测器，此方法包括以下步骤。取得一触碰位置的一第一估计值，触碰位置定义为在触碰面板上，感测到例如是手指或笔尖的物体所触碰的位置。通过提供至少一预定测绘，测定校正向量，预定测绘是使用第一估计值为预定测绘的输入值。结合第一估计值与校正向量，用以取得校正后触碰位置。

Description

测定触碰面板上的校正后触碰位置的方法及其测定模块

技术领域

本发明是有关于一种用以测定电容触碰面板上的一触碰位置的方法，以及用以测定触碰位置的触碰面板模块。 

背景技术

电容触碰面板装置被广泛地应用，让使用者可以与电子装置进行互动。尤其，透明的触碰面板可用于一显示装置的上方，让使用者可以通过在显示装置上呈现的一图形使用者界面(graphical user interface)而与电子装置进行互动。这类型的触碰面板被应用于例如是移动电话、平板计算机以及其它携带型电子装置。 

已知用于上述装置的触碰面板包括有第一电极与第二电极的玻璃板，其中第一电极具有多个第一感测元件位于玻璃板的一表面，第二电极位于玻璃板的另一表面。触碰面板的感测原理是提供一种测定第一电极的任一第一感测元件与第二电极的电容(改变)的方法。前述电容改变是因为一触碰事件，触碰事件有时也被称作一手势(gesture)或触碰手势。通过测定感测元件中，电容改变最大的位置来判定此触碰事件的中心位置。 

在共平面的触碰面板中，感测器位于单一(氧化铟锡，ITO)层，且每一感测器具有自己的感测电路。共平面触碰技术是使用差动电容测量(differential capacitance measurements)结合一共平面触碰感测板。感测电路用以测量感测器的电荷，此电荷需要用来负载每一各别感测器的内部电容以及另外(可施用的)手指触碰电容，手指触碰电容是通过手指触碰感测器所产生。感测器的内部电容取决于感测面积、感测器与参考(电压)层的距离以及感测器与参考层之间的材料的介电系数。假设内部电容稳定且恒定，内部电容是由调谐(tuning)/校准(calibration)程序所产生。因此由一触碰事件造成感测电容的变化，将成为揭露触碰所在位置的区别因素。 

触碰面板的准确度表现对于触碰面板的功能性而言为最重要的特性，其 中准确度用以显示出触碰面板识别触碰事件与物理触碰的实际触碰点是否相同的能力。此外，高准确度将增进测定触碰事件的形状与尺寸的能力。再者，一触碰显示器的高度空间准确度表现，将能校正后地识别笔尖(stylus)的输入值(例如是＜4mm的相对小的作用直径触碰)。 

一般来说，具有固定尺寸的触碰面板的准确度，将随着感测器密度的增加而提升，感测器密度例如是每一显示区域的主动感测器的总数量。当每一区域具有较大的感测器密度时，不仅是触碰位置的检测准确度会提高，同样的触碰形状与尺寸的检测准确度也会更为提升。对于像素显示面板的典型触碰应用(例如部分显示将被启动/选择，作为一触碰事件的响应)而言，触碰感测器的极限尺寸将等同于显示像素感测器，换言之，当触碰感测器密度等同于显示器的每英吋像素(Pixels-Per-Inch,PPI)值时，可达到最大的准确度。 

由于各种因素，例如是成本、设计与制程能力(轨距/空隙能力)以及显示型态(如：轨距/绕线布局的使用率)，触碰驱动器/控制器的输入/输出线数量将有所限制。因此，一显示模块的触碰面板的感测器数量，一般来说将远小于显示像素的实际数量，对于可达成的准确度将有负面的影响。通常，对于笔尖大小的输入(如仅有<4mm直径的小区域触碰表面)，相较于手指大小输入(具有较大的触碰区域，例如是9mm直径)，需要相对高的准确度。由于笔尖大小的输入是有关于传统触碰显示器的功能，例如是线的绘制以及手写功能，这些功能需要小空间输入(与识别)。 

图3绘示所谓的「质心」法，根据检测触碰感测值来计算已知触碰面板装置的触碰位置。在此所述的触碰位置是定义为在触碰面板上感测到一例如是手指或笔尖的物体所触碰的位置。图3绘示触碰面板的一部分，包括多个感测器10排列于一钻石形状区域中。此面板被一物体触碰在触碰位置21(图3中的x-y坐标的中心)，此物体具有一触碰点区域A，触碰点区域A是以一围绕于触碰位置21为中心的圆圈所标示。每一电容感测器的检测值(或检测量)以S1、S2…S9标示，并画出一区域的方式来表示。较大的区域代表具有较高的检测量。此检测量是与覆盖感测器单元的区域A的部分成比例。第五感测器测量最大检测量，相邻的第四、第八与第七感测器检测量逐渐减少。触碰位置[x,y]可通过以下公式估计： 

$[x,y]=\frac{\underset{i}{\mathrm{\&Sigma;}}{S}_i\&CenterDot;\stackrel{\&OverBar;}{P_i}}{\underset{i}{\mathrm{\&Sigma;}}{S}_i}---\left(1\right)$

在此公式中，向量P_i代表第i个感测器的中心位置[x_i,y_i]。计算得到的触碰位置[x,y]为中心位置[x_i,y_i]的加权平均，其中感测器数量即为权重。在此范例中，图3中计算出的触碰位置在标号20的位置，标号20略低于真实触碰位置21。这是由于远离感测器单元7的中心，并未真正地覆盖到触碰区域A，因而有效地将估计的触碰位置沿着-y轴的方向「拖曳」。 

因此，质心法所给予的计算位置[x,y]相较于感测方格具有较高的分辨率。然而，质心法仅提供真实触碰位置的一近似值。误差的方向与程度随着真实位置的不同而改变。举例来说，若感测器10被触碰的位置就在中央，质心法将会提供准确的结果。若真实的触碰位置不在中央，将会产生变动的误差。 

如图4a所绘示的直线a到e，当使用者留下或画出一直线通过感测面板时，变动的误差尤其明显。直线a、b、c、d与e通过质心法被「移动」如图4b中的摆动直线a’、b’、c’、d’与e’。在图4b中，仅绘示在单一感测器10内的摆动。然而，由于多个感测器形成规格网格，摆动也将随着绘示的直线a至e的长度而规则地重复出现。 

本发明是提供一种用以测定触碰位置的方法与装置，可减少摆动效应(wobble effect)。 

发明内容

本发明是有关于一种测定一触碰面板上的一校正后触碰位置的方法，触碰面板具有多个感测器，且此方法包括以下步骤。取得一触碰位置的一第一估计值，触碰位置定义为在触碰面板上，感测到一物体所触碰的位置。通过提供至少一预定测绘来测定一校正向量，预定测绘是使用第一估计值为预定测绘的输入值。结合第一估计值与校正向量，用以取得校正后触碰位置。 

根据本发明，提出一种用于一触碰面板的一校正后触碰位置测定模块，包括一估计单元、一测绘单元以及一处理器。估计单元用以取得一触碰位置的一第一估计值。测绘单元利用至少一预定测绘，测定一校正向量，预定测绘是使用第一估计值为预定测绘的输入值。处理器混合第一估计值与校正向量，用以取得校正后触碰位置。 

根据本发明，提出一种触碰感测***包括一触碰面板以及前述包括一估计单元、一测绘单元以及一处理器的触碰位置测定模块。触碰感测板具有多个感测器，触碰位置测定模块用以自触碰感测板接收触碰感测测量值。 

根据本发明，提出一种储存有一计算机程序的计算机产品，计算机程序用以执行前述测定一触碰面板上的一校正后触碰位置的方法。 

为了对本发明的上述及其它方面有更佳的了解，下文特举实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。 

附图说明

图1绘示依照本发明实施例具有触碰面板装置的电子装置的俯视图。 

图2a-2c绘示依照本发明不同实施例的触碰面板装置的剖面示意图。 

图3绘示测定触碰面板的触碰位置质心法。 

图4a与图4b绘示摆动效应。 

图5a-5e绘示依照本发明实施例测定触碰位置的方法的不同形式的感测器。 

图6a与图6b绘示依照本发明实施例的方法的校正函数。 

图7a与图7b绘示依照本发明实施例测定触碰位置的方法。 

图8绘示依照本发明实施例的触碰位置测定模块。 

[标号说明] 

1：共平面触碰面板              2：覆盖层 

4、14：子层                    6：基材层 

8：感测层                      10、10a、10b、10c、10d、10e：感测器 

12、12’、12’’：参考电极层   13：使用者接口元件 

16：显示层                     18：感测元件 

20：第一估计值                 21：真实触碰位置 

60、61：曲线图                 62、63：数值 

90：触碰位置测定模块           91：估计单元 

92：处理器                     93、94：测绘单元 

95：转换单元                   100：电子装置 

A：触碰点尺寸                  E_cor、E_err：函数 

S₁、S₂…S_n:感测值              x,y,u,v：坐标 

[u_cor,v_cor]：校正向量            [u_err,v_err]：误差值 

[u_i,v_i]：整数部分                [u_f,v_f]：小数部分 

[u,v]_est：第一估计值(坐标)       [u,v]_true：真实触碰位置 

[u,v]_cor：校正后的[u,v]坐标值    [x,y]_cor：校正后的[x,y]坐标值 

具体实施方式

首先，将针对共平面触碰面板作更加详细的描述。图1绘示电子装置100的俯视图，电子装置100包括一共平面触碰面板1及使用者接口元件13。电子装置可被应用于例如是移动电话、平板计算机以及其它携带型电子装置。此外，也可应用于非显示(输入)装置，例如是鼠标垫(mouse pads)与图形输入板(graphics tablets)。电子装置100的共平面触碰面板1的表面可利用手指触碰或笔尖触碰。 

共平面触碰面板1表面被区分为多个感应器10。在图1的实施例中，该些感测器10分别形成一钻石图案，但也可形成其它图案(见图5b至图5e的实施例)。每一感测器10包括一触碰感测元件18(未绘示于图1中)，可独立地被位置测定模块90所读取。 

共平面触碰面板的表面常被一玻璃盖层所保护。对于具有显示层16的电子装置，显示层常位于共平面触碰面板表面之下，然而，也存在显示层与共平面触碰面板各层混杂或共享的不同实施例。关于触碰面板各层的细节将参照后方图2a-2c做描述。 

图2a绘示一所谓的「离散式」共平面触碰面板的剖面结构，图2b绘示一「外嵌式(on-cell)」共平面触碰面板的剖面结构，图2c绘示一「窗口整合式(window integrated)」共平面触碰面板的剖面结构。 

在图2a中，顶层为透明的覆盖层2。此覆盖层2用以保护下方各层结构免于损坏，假使共平面触碰面板1应用于一显示层16上，覆盖层2通常由玻璃或其它坚硬且透明的材料所组成。若没有显示层16(例如是一鼠标垫)，则可使用非透明的覆盖层2。在某些实施例中，覆盖层2也可省略，例如是为了节省成本。在一实施例中，可以偏光层作为覆盖层2以及作为手指或笔尖所触碰的表面。因此，覆盖层2不需要代表一玻璃顶面。 

覆盖层2下方为一子层4。子层4可例如包括一防碎(anti-splinter)层，用以防止当覆盖层2损坏时碎裂成尖锐的碎片。子层4也可为一偏光层，例如 和显示层16一起操作。子层4也可为一种光学胶(optical clear adhesive)或仅为一空气间隙(air gap)(在感测器边缘具有双侧黏着剂的所围绕形成的空间)。 

子层4下方为感测层8。感测层8包括多个分离的触碰感测元件18。感测元件18位于一基材层6上。在基材层6底下可为一参考电极层12。参考电极层12可提供一参考电压。触碰感测元件18可包括氧化铟锡(ITO)，适用于透明感测器与轨迹。 

感测层8与参考电极层12附着的基材层6的下方为另一子层14。子层14同样可为空气间隙、偏光层、黏着层等。 

子层14之下为显示层16。此显示层举例来说可为一液晶显示器(liquid crystal display,LCD)或有机发光二极管(organic light-emitting diode,OLED)显示器。 

除了将参考电极层12设置于基材层6下方之外，参考电极层12也可设置于堆栈结构中的其它地方，举例来说参考电极层12’位于显示层16之上，或参考电极层12’’位于显示层16的堆栈内部。参考电极层12、12’、12’’的功能将参考图2a-2c做说明。参考电极层12、12’、12’’也可以氧化铟锡为材料所制成。 

如上所述，以具有参考电极层12的基材层6、感测层8与覆盖层2所形成的共平面触碰面板装置的实施例中，可不具有显示层16，举例来说可应用于鼠标垫或图形输入板。 

图2b绘示代替上述「离散式」共平面触碰面板实施例的「外嵌式」共平面触碰面板的变化实施例。与前述实施例主要不同之处，是在于具有触碰感测元件18的感测层8并非位于分离的基材层6上，而是位于显示层16之上。这样的设置节省了一额外的层，且降低了触碰显示器的尺寸与制造成本。在本实施例中，参考电极层12’’位于显示层16的堆栈中。 

图2c绘示另一「窗口整合式」共平面触碰面板的变化实施例。可参照美国专利公开号2010/0097344A1，当中详述了此变化实施例的多种实施态样。同样地，此实施例中不具有分离的基材层6，感测层8位于子层4与14其中之一。也可以不需要子层4，将感测层8的感测元件18直接设置于覆盖层2上(见图2c的实施例)。参考电极层12’与12’’分别位于显示层16的堆栈上与显示层16的堆栈中。 

要注意的是，上述实施例的共平面触碰面板包括电容触碰感测器，但并 不限定于此。任何局部表面积算感测器(local surface-integrating sensor)，例如是光感触碰感测器，皆可应用于本发明。 

图3绘示基本的质心法，引起图4a与图4b中的摆动问题已于前面介绍。接着，依据本发明的概念所揭露的方法将绘示于图5a中。 

图5a绘示一触碰面板的一部分，此触碰面板包括具有多个具有钻石形状的感测器10a。绘示的x轴与y轴分别对齐触碰面板模块的侧边。也就是说，位置[x,y]=[0,0]对应于左下角。图中同样绘示坐标轴u与v，形成[u,v]坐标系。u轴与v轴对齐感测器10a的侧边。此外，坐标轴已正规化(normalized)，使得感测器10a的边界对应于u与v为整数的直线(参见绘示的直线u=0、u=1、v=0等)。 

利用质心法或任何其它的估计法可测定触碰位置的第一估计值20。若利用质心法，第一估计值20可以在[x,y]坐标系被计算出(如公式(1))，接着通过仿射转换(affine transformation)将其转换为对应的[u,v]坐标，其中仿射转换是由网格中的感测器10a的预定配置所决定。在另一实施例中，质心法也可通过直接将感测器中心位置P_i以[u,v]坐标表示，计算第一估计值20为[u,v]坐标。 

接着，将第一估计值20分为一整数部分[u_i,v_i]与一小数部分[u_f,v_f]。由于[u,v]坐标已被正规化且对齐网格，整数部分[u_i,v_i]将对准第一估计值20所在的感测单元的一角。小数部分[u_f,v_f]将由第一估计值20所在的感测单元的一角所指明。 

真实的触碰位置将以点21标示(为了更清楚地显示摆动效应，点20与21之间的距离有稍微夸张化)。在点20与21之间可画出一校正向量(correction vector)[u_cor,v_cor]，也就是说[u,v]_true(真实触碰位置)=[u,v]_est(第一估计值)+[u_cor,v_cor]。 

估计值中的误差值[u_err,v_err]=-[u_cor,v_cor]，此误差值是取决于真实位置21与感测器10a的中心的相对位置。换句话说，存在一函数E_err(u_f,v_f)，当给定一特定的[u_f,v_f]_true坐标，将可得到估计误差值[u_err,v_err]。接着，可通过[u_cor,v_cor]=-[u_err,v_err]得到反函数E_cor(u_f,v_f)，用以测绘(map)一特定估计值[u_f,v_f]_est。 

虽然函数E_cor(u_f,v_f)能以第一原理(first principle)做衍生性分析，但其可更有效地利用例如是机器人以实验的方式测定此函数，此实验是有***地在一预定的「真实」位置碰触一面板，并分析其产生的估计位置。在这样的方式 下，可形成一二维查询表(lookup table,LUT)，用以提供将[u_f,v_f]_est转换为[u_cor,v_cor]所需的测绘。 

以[u,v]坐标系来施行计算在本发明实施例中并非必要条件，也可施行计算并产生于[x,y]坐标系或其它坐标系的二维测绘。 

[u,v]坐标系或其它坐标轴等可对齐感测器10a至10e的侧边的优点，在于具有高度准确性。也就是说，在u方向所需的校正量u_cor只取决于u_f，在v方向所需的校正量v_cor只取决于v_f。除了利用二维测绘，也可使用两分开的一维测绘，即u_cor=E_cor,u(u_f)且v_cor=E_cor,v(v_f)。 

若感测器的侧边皆等长(例如是图5a至图5c中的感测器10a、10b与10c)且触碰感测元件18与其它底下的电路不会造成感测器10a、10b与10c内部不对称，则一单一的一维测绘可用于u_cor与v_cor，即E_cor,u(x)=E_cor,v(x)，其中x为介于0到1之间的任意数。 

图5b-5e绘示可结合应用于上述方法的其它感测器配置。图5b绘示平行四边形感测器10b的配置，其中[u,v]坐标系并非垂直。上述方法也可应用于感测器10b。图5c绘示具有正方形感测器10c的网格，图5d与图5e绘示矩形感测器10d、10e，上述方法皆可应用于此些感测器。 

图6a与图6b绘示函数E_cor,u(u_f)与E_cor,v(v_f)测绘分别具有值62与63的实施例曲线图60与61。x轴为索引，也就是在图6a中，当x=0时对应于u_f=0，当x=64时对应于u_f=1。y轴提供所需的校正值u_cor(曲线图60)与v_cor(曲线图61)。在角落点的中心位置，校正值为0，而在中间区域，误差值(的绝对值)达到极值。 

本领域技术人员可有许多方式执行一估计元件，无论是[u,v]坐标系、[x,y]坐标系或任何其它坐标系，用以估计图6a与图6b中所绘示的一维测绘或上述讨论的二维测绘。其中估计元件可为处理器、集成电路，可编程逻辑集成电路等，在一阵列(LUT)中编程或排列执行索引操作，用以估计合适的函数，例如是多项式或傅里叶级数，此函数符合预定的校正数据。要注意的是，预定校正数据是根据输入的估计值被再制。 

感测器的对称性(如图5a至图5e绘示的感测器以及图6a与图6b绘示的测绘)使其可交迭(folding)并更简单地执行一估计元件，用以估计测绘E_cor,u(u_f)与E_cor,v(v_f)。也就是说，估计元件可利用例如是查询表(LUT)、预程序化符合函数(pre-programmed fit function)、多项式估计电路或任何合适的估计元件， 估计出当u_f=[0,…,0.5]时的测绘E_cor,u(u_f)，使得图6a中的数据点0至32可被大约估计。接着，当u_f=[0.5,…,1]时的测绘可利用对称法估计，即当u_f=[0.5,…,1]时，E_cor,u(u_f)=E_cor,u(1-u_f)。 

所需的校正值一般来说取决于触碰对象与触碰面板接触的尺寸A的部分(后方即称为触碰点尺寸A)。因此提供多个不同的预定点尺寸A_i的E_cor,i测绘是有益的。举例来说，若以点尺寸i=1、4与9mm²进行E_cor测绘，而触碰面板被以一具有点尺寸6mm²的对象所触碰，则可使用(最接近的)i=4的查询表或利用E_cor,Ai=4与E_cor,Ai=9的结果的内插值。 

图7a绘示依据本发明实施例的方法70的步骤。首先，在步骤71中测定估计值[u,v]_est，估计值[u,v]_est在步骤72中分离为一整数部分[u_i,v_i]与一小数部分[u_f,v_f]。在步骤73中，测定点尺寸A来测定测绘E_cor(u_f,v_f)，点尺寸举例来说可由所有的感测器的测量来估计，也就是

在步骤74中，估计一二维测绘E_cor(u_f,v_f)，用以取得校正向量[u_cor,v_cor]。接着在步骤75中，以u=u_i+u_f+u_cor与v=v_i+v_f+v_cor计算校正后的触碰位置[u,v]_cor。最后，将各[u,v]值转换为屏幕(触碰面板模块)的[x,y]坐标系。举例来说，[x,y]坐标系的坐标轴可对齐触碰面板模块的边界且[x,y]坐标系也正规化使其对应于一像素增加量(increment)而具有一增加量。 

图7b绘示依据本发明实施例的方法80的步骤。步骤81、82对应于图7a中的步骤71、72。在步骤83中，是根据检测点尺寸A选择一维估计函数E_cor,u与E_cor,v。由于感测器的对称性，仅需选择u_f与v_f的单一函数E_cor。在步骤84a与84b中，u_cor与v_cor通过估计E_cor,u与E_cor,v而测定。步骤85与86同样对应于图7a的步骤75与76。 

图8绘示装于一触碰面板1的一校正后触碰位置测定模块90。校正后触碰位置测定模块90与触碰面板1可形成一触碰面板装置。第n感测器的感测值S₁、S₂…S_n输入位置估计单元91中。位置估计单元91依据感测值，利用例如是质心法产生一第一估计值[u,v]_est。一处理器92从估计单元91接收第一估计值[u,v]_est。估计单元91也可提供一触碰点尺寸的估计值至处理器92。 

处理器92接着分别传送u_f与v_f值至测绘单元93与94。测绘单元93用以计算测绘值E_cor,u(u_f)。处理器92也可传送点尺寸至测绘单元93，使测绘单元93可选择上述之一合适的测绘。在另一实施例中，处理器92可执行一校 正，例如是依据由测绘单元93所得到的一个或多个计算的测绘结果，执行如上述的内插法。同样地，测绘单元94用以计算E_cor,v(v_f)。最后，处理器92计算校正后的[u,v]坐标值[u,v]_cor，并通过转换单元95将校正后的[u,v]值转换为[x,y]坐标系，即为校正后的[x,y]坐标值[x,y]_cor。 

在上述说明中可以观察到，在许多位置的指称为「测绘单元」或「处理器」。可以理解的是此些测绘单元/处理器可以任何要求的技术进行设计，例如仿真、数字或两者的混合。一种合适的实施方式为软件控制处理器，软件储存于触碰面板装置的一合适的存储器中并连接处理器/控制器。存储器以任何已知合适的随机存取存储器(random access memory,RAM)或只读存储器(read only memory,ROM)的形式排列，只读存储器可为任何可抹除的ROM形式，例如是电子可抹拭只读存储器(electrically erasable ROM,EEPROM)。部分软件可为内建。部分软件可被储存为例如是可更新(updatable)，比方通过一服务器控制，定期地通过空气无线传输更新。 

依据本发明的计算机产品可包括一可携式计算机媒体，例如是光盘、磁盘、固态存储器、硬盘等。此计算机产品可包括或为一服务器的一部分，服务器分配软件(应用程序)执行本发明实施例的各部分于具有一合适的触碰面板的装置，用以执行上述装置的处理器。 

可以理解的是，本发明的范围仅受到上述权利要求范围与其相等的技术所限制。在本说明书与权利要求范围中，「包括」以及类似的词汇并未具有限制的性质，相对地，除了位于此词汇后方的项目包括其中以外，也不排除没有特别提到的项目。此外，关于元件使用不定词「一」，也不排除此元件具有多于一个的可能性，除非说明内容清楚地需要一个且只有一个此元件。因此不定词「一」通常具有「至少一」的意思。、 

综上所述，虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明。本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。 

Claims (17)

1.一种测定一触碰面板上的一校正后触碰位置的方法，该触碰面板具有多个感测器，且该方法包括：

取得一触碰位置的一第一估计值，该触碰位置定义为在该触碰面板上，感测到一物体所触碰的位置；

通过提供至少一预定测绘来测定一校正向量，该预定测绘是使用该第一估计值为该预定测绘的输入值；

结合该第一估计值与该校正向量，用以取得该校正后触碰位置。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

根据一触碰点尺寸，自多个预定测绘中选择至少一预定测绘。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

将该校正后触碰位置转换为该触碰面板的坐标。

4.根据权利要求1所述的方法，其中该第一估计值是通过计算多个感测位置的一加权平均而取得，该权重是以该感测器的感测值决定。

5.根据权利要求1所述的方法，还包括：

分离该触碰位置的该第一估计值为一整数部分与一小数部分，且使用该小数部分为该预定测绘的输入值。

6.根据权利要求1所述的方法，其中该预定测绘为二维查询表。

7.根据权利要求1所述的方法，其中该校正向量是利用两个一维测绘所测定，一第一一维测绘使用一第一估计分量为输入值，用以取得一第一校正向量分量，一第二一维测绘使用一第二估计分量为输入值，用以取得一第二校正向量分量。

8.根据权利要求5所述的方法，其中该校正向量是利用两个一维查询表，分别取得一第一校正向量分量与一第二校正向量分量，该两个一维查询表分别以该小数部分的一第一分量与该小数部分的一第二分量为索引。

9.一种用于一触碰面板的一校正后触碰位置测定模块，包括：

一估计单元，用以取得一触碰位置的一第一估计值；

一测绘单元，利用至少一预定测绘，测定一校正向量，该预定测绘是使用该第一估计值为该预定测绘的输入值；以及

一处理器，混合该第一估计值与该校正向量，用以取得该校正后触碰位置。

10.根据权利要求9所述的模块，其中该测绘单元根据一触碰点尺寸，自多个预定测绘中选择至少一预定测绘。

11.根据权利要求9所述的模块，还包括一转换单元，用以将该校正后触碰位置转换为该触碰面板的坐标。

12.根据权利要求9所述的模块，其中该处理器用以分离该触碰位置的该第一估计值为一整数部分与一小数部分。

13.根据权利要求12所述的模块，其中该测绘单元以一二维查询表实施，该二维查询表是以该小数部分的坐标为索引，用以取得该校正向量。

14.根据权利要求12所述的模块，其中该测绘单元以一第一一维查询表与一第二一维查询表实施，该第一一维测绘使用一第一估计分量为输入值，用以取得一第一校正向量分量，该第二一维测绘使用一第二估计分量为输入值，用以取得一第二校正向量分量。

15.根据权利要求14所述的模块，其中该第一与该第二一维测绘分别以各自的测绘单元为一维查询表实施，通过该小数部分的一第一分量与该小数部分的一第二分量为索引，分别取得一第一校正向量分量与一第二校正向量分量。

16.一种触碰感测***包括一触碰面板以及一如权利要求9所述的触碰位置测定模块，该触碰感测板具有多个感测器，该触碰位置测定模块用以自该触碰感测板接收触碰感测测量值。

17.一种储存有一计算机程序的计算机产品，该计算机程序用以执行如权利要求1所述的方法。

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