TWI487972B - 顯示裝置 - Google Patents
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Description
本發明係關於一種具有在由2條影像信號線及2條掃描信號線包圍之區域內形成2個像素之2個像素電極的顯示裝置。
先前,顯示裝置有因影像信號線之條數多而難以實現小型化之問題。因此,有人提出一種能夠用較少之影像信號線驅動各像素之顯示裝置(例如,參照日本特開2000-35589號公報)。該日本特開2000-35589號公報所記載之顯示裝置係含有在由2條影像信號線及2條掃描信號線包圍之區域內形成2個像素之2個像素電極。
但,影像信號線與像素電極之間存在寄生電容Cds,因該寄生電容Dds像素電極之電位會受到影像信號線之電位的影響。寄生電容Cds之值越大,像素電極之電位越容易受影像信號線之電位的影響。由於寄生電容Cds之值係隨像素電極與影像信號線之距離靠近而增大,故像素電極與影像信號線之距離越近,像素電極之電位越容易受影像信號線之電位的影響。因此,例如實施在像素電極與影像信號線之間設定距離,以防止影像信號線之電位對像素電極之電位造成影響之對策。
然而,日本特開2000-35589號公報之顯示裝置,如圖6A及圖6B所示,根據圖案化之際所產生之偏差,使形成2個像素D1、D2之2個像素電極Px1、Px2相對影像信號線DL向X方向偏離時,2個像素電極Px1、Px2與鄰接之影像信號線DL之距離會產生差(參照圖6B),因此來自影像信號線DL之電位的影響會產生差,結果導致像素亮度不均之問題。於此,圖6A及圖6B中之箭頭之粗細係顯示像素電極Px1、Px2之電位受到影像信號線DL之電位的影響之程度,箭頭越粗表示影響越大。
本發明係鑒於上述情況而完成者,其目的係提供一種可減低像素亮度不均之顯示裝置。
為解決上述課題,並達成上述之目的,本發明之顯示裝置係包含在由2條影像信號線及2條掃描信號線包圍之區域內形成2個像素之2個像素電極者,其特徵為包含:與上述2條影像信號線中之1條影像信號線連接之第1虛設配線;及與上述2條影像信號線中不同於上述第1虛設配線的另一條影像信號線連接之第2虛設配線;且,上述第1虛設配線及上述第2虛設配線沿上述區域之外形延伸至上述2個像素電極之間之位置,且進而延伸至使其各自之端部在上述2個像素電極之間相鄰而對向。
又,本發明之顯示裝置亦可具備如下特徵:上述中,上述第1虛設配線及上述第2虛設配線之各者係延伸至上述影像信號線之延伸方向之上述2個像素電極之大致中心位置。
又,本發明之顯示裝置亦可具備如下特徵:上述中,上述第1虛設配線及上述第2虛設配線係以使上述第1虛設配線之端部與上述第2虛設配線之端部在摩擦處理方向上重疊之方式形成。
又,本發明之顯示裝置亦可具備如下特徵:上述中,上述第1虛設配線之端部與第2虛設配線之端部係以相互同等之傾斜角度傾斜而形成;上述第1虛設配線及第2虛設配線係使端部之傾斜部份相向而配置。
又,本發明之顯示裝置亦可具備如下特徵:上述中,上述第1虛設配線及上述第2虛設配線與上述影像信號線之寬度相同。
本發明之顯示裝置,係藉由使像素電極相對影像信號線偏離,在像素電極與鄰接之影像信號線分離時,使像素電極接近於第1虛設配線及第2虛設配線;在像素電極接近鄰接之影像信號線時,使像素電極與第1虛設配線及第2虛設配線分離,因此,可將像素電極之電位受到影像信號線DL之電位的影響平均化,結果可減低像素亮度之不均。
以下,茲參照圖面對本發明之顯示裝置之適宜實施形態進行詳細說明。另,本發明並非局限於該等實施形態。
圖1係顯示本發明之實施形態之液晶顯示裝置1之構成的模式圖。圖2係用以詳細說明圖1所示之液晶顯示面板10之構成之圖。圖3係顯示圖2所示之液晶顯示面板10之F1-F2線的概略剖面圖。液晶顯示裝置1係採用被稱作IPS(In-Plane Switching:平面轉換)方式之橫驅動方式,如圖1及圖2所示,具有液晶顯示面板10、資料驅動器11、掃描驅動器12、背光13及控制部14。
液晶顯示面板10如圖2所示,具有朝Y方向延伸之複數條影像信號線DL(DL1
,...,DLi,...,DLn:其中i,n係自然數)、及朝X方向延伸之複數條掃描信號線GL(GL1
,...,GLj,...,GLm:其中j、m係自然數)。又,液晶顯示面板10係使複數條掃描信號線GL相互平行地排列而形成,複數條影像信號線DL係形成Z字形。即,像素D(像素D1與D2)係按三角形配置而配置。液晶顯示面板10,係將於掃描信號線GL之延伸方向(X方向)排列而鄰接之2個像素D1、D2作為一組,影像信號線DL係相對其一組之像素D1、D2各配置1條。液晶顯示面板10係適用於影像信號線DL之延伸方向(Y方向)鄰接之2個像素之間配置2條掃描信號線GL之2倍掃描線方式。
資料驅動器11係生成向複數條影像信號線DL各者輸入之影像信號(灰階電壓)者。
掃描驅動器12係向複數條掃描信號線GL依序輸入掃描信號者。資料驅動器11及掃描驅動器12係以連接於液晶顯示面板10之外周部之未圖示之可撓性基板等為介隔,而與液晶顯示面板10電性連接。
背光13係藉由發光二極體等實現,係自液晶顯示面板10之背面側照射光者。
控制部14係藉由CPU等實現,係電性連接於包含資料驅動器11、掃描驅動器12及背光13之液晶顯示裝置1之各部,控制液晶顯示裝置1整體之動作者。又,控制部14具有未圖示之可將由外部系統輸入之影像資料予以暫時保存之記憶體等。
於此,用圖2及圖3對液晶顯示面板10進行詳細說明。如圖3所示,液晶顯示面板10係在TFT基板20與對向基板30之間封入有液晶材料40。TFT基板20中,於玻璃基板等之絕緣基板SUB1上設置有掃描信號線GL。掃描信號線GL係例如蝕刻鋁等之導體膜而形成。
掃描信號線GL之上介隔第1絕緣層PAS1設置有半導體層SC、影像信號線DL(汲極電極SD1)、源極電極SD2及虛設配線L(虛設配線L1、L2)。
半導體層SC係例如將非晶矽膜蝕刻之後,對汲極區域及源極區域注入雜質而成形。汲極電極SD1係電性連接於影像信號線DL,例如使影像信號線DL之一部分分支形成。汲極電極SD1係如圖2所示,例示有平面形狀為U字型者,但並非局限於此,例如亦可為直線形狀。
於影像信號線DL等上,介隔第2絕緣層PAS2而設置有像素電極Px。像素電極Px係將ITO等之光透過率高之導體膜蝕刻而形成,並經由通孔TH連接於源極電極SD2。且,從平面看,像素電極Px係在與對向電極CT重合之區域形成平面狀。於像素電極Px上,介隔第3絕緣層PAS3設置有對向電極CT。
對向電極CT係將ITO等之光透過率高之導體膜蝕刻而形成。從平面看,對向電極CT係在與像素電極Px重合之區域形成具有複數個隙縫SL之梳齒狀。於對向電極CT之上設置有配向膜ORI1。
對向基板30在玻璃基板等之絕緣基板SUB2之表面設置有稱作黑色矩陣之遮光膜BM及彩色濾光器CF。遮光膜BM係例如將光透過率幾乎為0之導體膜或絕緣膜蝕刻,而形成將各像素D分離之格狀之圖案。彩色濾光器CF係例如將絕緣膜蝕刻或曝光、顯影而形成,使負責R(紅色)之顯示之濾光器、負責G(綠色)之顯示之濾光器及負責B(藍色)之顯示之濾光器在遮光膜之開口區域以週期排列的方式形成。又,於遮光膜BM及彩色濾光器CF上,例如介隔保護層OC而設置有配光膜ORI2。
此處,如圖2所示,液晶顯示面板10具有在由2條影像信號線DLi+1
、DLi+2
及2條掃描信號線GLj+1
、GLj+2
包圍之區域A內形成有2個像素D1、D2之2個像素電極Px1、Px2。又,液晶顯示面板10含有虛設配線L1、L2。
虛設配線L1係作為第1虛設配線而連接於2條影像信號線DLi+1
、DLi+2
中之1條影像信號線DLi+1
。虛設配線L2係作為第2虛設配線而連接於2條影像信號線DLi+1
、DLi+2
中不同於虛設配線L1之另一影像信號線DLi+2
。虛設配線L1、L2係沿區域A之外形(沿掃描信號線GL)延伸至兩個像素電極Px1、Px2之間之位置,且延伸至使各端部E1、E2在2個像素電極Px1、Px2之間相鄰而對向之位置。該虛設配線L1、L2係自沿區域A之外形向X方向延伸之部分彎曲,並於2個像素電極Px1、Px2之間延伸,使端部E1、E2相互對向;端部E1、E2係相對於虛設配線L1、L2之延伸方向成直角截斷之形狀。且,虛設配線L1、L2之各者係在2個像素電極Px1、Px2之間延伸至2個像素電極Px1、Px2之Y方向之大致中心位置,即影像信號線DL之延伸方向上之2個像素電極Px1、Px2之大致中心位置。再者,虛設配線L1、L2係以與影像信號線DL之寬度大致相等之寬度形成。
若如此設置虛設配線L1、L2,如圖4所示,即使像素D因圖案化時之偏差而相對影像信號線DL朝X方向偏離,在像素電極Px1、Px2與鄰接之影像信號線DL遠離之情形下,會靠近虛設配線L1及虛設配線L2;在靠近鄰接之影像信號線DL之情形下,會與虛設線路L1及虛設線路L2遠離。因此,影像信號線DL及虛設配線L1、L2之電位對於像素電極Px1、Px2之電位的影響被平均化。即,藉由設置虛設配線L1、L2,影像信號線DL之電位對於像素電極Px1、Px2之電位的影響被平均化。
本實施形態中,液晶顯示裝置1係藉由使像素電極Px1、Px2相對於影像信號線DL偏離,在像素電極Px1、Px2與鄰接之影像信號線DL遠離之情形時,使像素電極Px1、Px2靠近虛設配線L1及虛設配線L2;在像素電極Px1、Px2與鄰接之影像信號線DL之距離靠近之情形時,使像素電極Px1、Px2與虛設配線L1及虛設配線L2遠離,因此,可將像素電極Px1、Px2之電位所受到之來自影像信號線DL之電位的影響平均化,結果可減低像素D之亮度之不均。
又,本發明之實施形態中,虛設配線L1、L2之各者係延伸至影像信號線DL之延伸方向上之2個像素電極Px1、Px2之大致中心位置,故即使在鄰接之影像信號線DL之電壓相異之情形下,仍可將像素電極Px之電位所受到之來自影像信號線DL之電位的影響平均化。
又,本實施形態中,虛設配線L1、L2之寬度與影像信號線DL之寬度大致相等,故像素電極Px與影像信號線DL之電位的影響同等地受到虛設配線L1、L2之電位的影響。藉此,可將像素電極Px之電位所受到之來自影像信號線DL之電位的影響進一步平均化。
以下,用圖5A及圖5B對上述實施形態之變形例進行說明。圖5A係用以說明上述實施形態之虛設配線之端部之狀態的圖,圖5B係顯示上述實施形態之變形例的圖。上述之實施形態係例示使虛設配線L1、L2之端部成為相對於虛設配線L1、L2之延伸方向成直角截斷之形狀者(參照圖5A),而該變形例係將虛設配線L1、L2之端部以相互同等之傾斜角度傾斜形成,使端部之前端形成尖狀。且,虛設配線L1及虛設配線L2相互之端部E3、E4重疊,存在包含端部E3及端部E4雙方之相對虛設配線L1、L2之延伸方向(Y方向)為直角方向(X方向)之剖面(參照圖5B)。
更具體而言,虛設配線L1及虛設配線L2係使端部之傾斜部份相向而配置,虛設配線L1係超出虛設配線L2之端部E4之前端之位置延伸至更遠處,端部E3之前端係形成於比端部E4之前端更靠近沿虛設配線L2之區域A之外形延伸之部份之位置。且,藉此,使虛設配線L1與虛設配線L2之端部E3、E4在根據摩擦滾筒R之摩擦處理方向C重疊。具體而言,於摩擦處理方向C之特定位置之剖面包含端部E3及端部E4雙方,端部E3,E4以相對虛設配線L1、L2之延伸方向成直角之方向(X方向)為基準,以向摩擦滾筒R之方向(相對摩擦處理方向C成直角之方向)之側傾斜之方式設定傾斜角度。該情形下,可降低因設置虛設配線L1、L2而形成之隙縫S之影響,產生與無隙縫之影像信號線DL所產生之漏光B相同之漏光B。因此,使得漏光B之狀態一律,結果可抑制亮度不均。
另,上述實施形態或其變形例均例示虛設配線L1、L2之寬度與影像信號線DL之寬度大致相等者,但並非限定於此。例如,亦可令虛設配線L1、L2之寬度細於影像信號線DL之寬度。
又,上述實施形態或其變形例均例示液晶顯示裝置1為IPS方式,但並不局限於此。即,亦可為具有在由鄰接之2條影像信號線DL及鄰接之2條掃描信號線GL包圍之區域A內形成2個像素D1、D2之2個像素電極Px1、Px2之顯示裝置。例如,可為縱電場方式之液晶顯示裝置,亦可為有機EL顯示裝置。
雖然已描述當前被視為本發明之特定實施例之內容,但是應瞭解可對其作出多種修改,且希望隨附申請專利範圍涵蓋所有此等修改,如同此等修改落在本發明之真實精神及範疇內一般。
1...液晶顯示裝置
10...液晶顯示面板
11...資料驅動器
12...掃描驅動器
13...背光
14...控制部
20...TFT基板
30...對向基板
40...液晶材料
A...區域
BM...遮光膜
CF...彩色濾光器
CT...對向電極
D...像素
D1...像素
D2...像素
DL...影像信號線
DLi...影像信號線
DLi+1
...影像信號線
DLi+2
...影像信號線
DLi+3
...影像信號線
DLi+4
...影像信號線
E1...端部
E2...端部
F1...液晶顯示面板10之線
F2...液晶顯示面板10之線
GL...掃描信號線
GLi...掃描信號線
GLj+1
...掃描信號線
GLj+2
...掃描信號線
GLj+3
...掃描信號線
GLj+4
...掃描信號線
GLj+5
...掃描信號線
L1...虛設配線
L2...虛設配線
OC...保護層
OR11...配向膜
OR12...配向膜
PAS1...第1絕緣層
PAS2...第2絕緣層
PAS3...第3絕緣層
Px...像素電極
Px1...像素電極
Px2...像素電極
SC...半導體層
SD1...汲極電極
SD2...源極電極
SUB1...絕緣基板
SUB2...絕緣基板
圖1係顯示本發明之實施形態之液晶顯示裝置之構成的模式圖。
圖2係用以詳細說明圖1所示之液晶顯示面板之構成之圖。
圖3係圖2所示之液晶顯示面板之F1-F2線的剖面概略圖。
圖4係顯示像素電極相對影像信號線偏離之狀態的圖。
圖5A係用以說明圖2所示之實施形態之虛設配線之端部之狀態之圖。
圖5B係顯示本發明之實施形態之變形例的虛設配線之端部之狀態的圖。
圖6A係用以說明像素電極之電位受到影像信號線之電位的影響的圖。
圖6B係用以說明像素電極之電位受到影像信號線之電位的影響的圖,亦係顯示圖案化之際像素電極相對影像信號線產生偏差之狀態的圖。
10...液晶顯示面板
11...資料驅動器
12...掃描驅動器
13...背光
14...控制部
A...區域
D1...像素
D2...像素
DL...影像信號線
DLi...影像信號線
DLi+1
...影像信號線
DLi+2
...影像信號線
DLi+3
...影像信號線
DLi+4
...影像信號線
E1...端部
E2...端部
F1...液晶顯示面板10之線
F2...液晶顯示面板10之線
GL...掃描信號線
GLi...掃描信號線
GLj+1
...掃描信號線
GLj+2
...掃描信號線
GLj+3
...掃描信號線
GLj+4
...掃描信號線
GLj+5
...掃描信號線
L1...虛設配線
L2...虛設配線
Px1...像素電極
Px2...像素電極
SD1...汲極電極
SD2...源極電極
Claims (7)
- 一種顯示裝置,其係包含:在由彼此相鄰之2條影像信號線與彼此相鄰之2條掃描信號線包圍之區域內形成2個像素之2個像素電極;與上述2條影像信號線中之1條影像信號線連接之第1虛設配線;及與上述2條影像信號線中不同於上述第1虛設配線所連接之該1條影像信號線的另一條影像信號線連接之第2虛設配線;其中上述2個像素電極係於上述2條影像信號線之間,於上述2條掃描信號線所延伸之方向並排配置;上述第1虛設配線係沿著上述2條掃描信號線之一方,延伸至上述2個像素電極之間的區域相鄰之第1位置,上述第2虛設配線係沿著上述2條掃描信號線之另一方,延伸至上述2個像素電極之間的上述區域相鄰之第2位置;且上述第1虛設配線包含自上述第1位置伸入上述2個像素電極之間之上述區域的第1延伸部分,上述第2虛設配線係包含自上述第2位置伸入上述2個像素電極之間之上述區域的第2延伸部分,且其中上述第1及第2延伸部分之各自之端部係在上述2個像素電極之間之上述區域中彼此對向。
- 如請求項1之顯示裝置,其中上述第1延伸部分及上述第2延伸部分之各者係延伸至上述2條影像信號線之延伸方向上之上述2個像素電極之間之上述區域的大致中心位 置。
- 如請求項1之顯示裝置,其中上述第1虛設配線及上述第2虛設配線係以使上述第1延伸部分之端部與上述第2延伸部分之端部在對上述像素電極施加之摩擦處理方向上彼此重疊之方式形成。
- 如請求項3之顯示裝置,其中上述第1延伸部分之端部及上述第2延伸部分之端部係以相同之傾斜角度傾斜而形成;上述第1延伸部分及上述第2延伸部分係以於上述掃描信號線之延伸方向觀察時,端部之傾斜部份彼此對向之方式配置。
- 如請求項1之顯示裝置,其中上述第1虛設配線及上述第2虛設配線各具有與上述2條影像信號線之各者之寬度相等之寬度。
- 如請求項1之顯示裝置,其中於上述第1延伸部分之端部與上述第2延伸部分之端部之間形成有縫隙,該縫隙係形成為參照上述2條掃描信號線所延伸之方向而傾斜之形狀;且上述第1虛設配線及上述第2虛設配線之端部係以使該等端部之前端形成尖狀之方式形成。
- 如請求項6之顯示裝置,其中上述第1延伸部分之端部之前端係延伸至較上述第2延伸部分之端部之前端更靠近上述2條掃描信號線之上述另一方之位置;且 上述第2延伸部分之端部之前端係延伸至較上述第1延伸部分之端部之前端更靠近上述2條掃描信號線之上述一方之位置。
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