TWI465992B - 觸控面板觸控點之檢測方法 - Google Patents

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Description

觸控面板觸控點之檢測方法
本發明涉及一種觸控面板觸控點之檢測方法，尤其涉及一種基於表面電容式觸控面板觸控點之檢測方法。
近年來，伴隨著移動電話與觸控導航系統等各種電子設備的高性能化和多樣化的發展，在液晶等顯示設備的前面安裝透光性的觸控面板的電子設備逐步增加。這樣的電子設備的使用者通過觸控面板，一邊對位於觸控面板背面的顯示設備的顯示內容進行視覺確認，一邊利用手指或筆等方式按壓觸控面板來進行操作。由此，可以操作電子設備的各種功能。
按照觸控面板的工作原理和傳輸介質的不同，先前的觸控面板分為四種類型，分別為電阻式、電容式、紅外線式以及表面聲波式。其中電容式觸控面板因敏感度較高、所需觸碰力度較小而應用較為廣泛。
在先前的電容式觸控面板中，在觸控面板的阻抗各向異性的導電膜相對的兩個側邊設置複數電極。然後採用驅動電路先逐一掃描一個側邊的複數電極，再逐一掃描另一側邊的複數電極的方法，計算觸控面板上觸控點的位置。然而所述方法必須要逐一掃描所有的電極，從而使得感測觸控點的時間較長，使得觸控面板的響應速度較慢。另外，由於觸控點與電極之間的電阻較大，從而使 得觸控的精度還需要提高。
有鑒於此，提供一種具有較快響應速度以及較高觸控精度的觸控 面板觸控點之檢測方法實為必要。
一種觸控面板觸控點之檢測方法，該觸控面板包括有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向D和一高阻抗方向H的導電膜，沿所述低阻抗方向D設置有複數驅動電極對，每個驅動電極對包括一第一驅動電極和一第二驅動電極，該第一驅動電極和第二驅動電極相對設置於所述導電膜的兩個側邊，所述兩個側邊中，設置有第一驅動電極的側邊為第一側邊，設置有第二驅動電極的側邊為第二側邊，該檢測方法包括以下步驟：沿高阻抗方向H掃描所述複數驅動電極對，獲得複數驅動電極對電壓訊號Vp，通過所述複數驅動電極對電壓訊號Vp確定觸控點在高阻抗方向H的座標X；選取複數與所述高阻抗方向H的座標X距離最小的驅動電極對，將所述選取的複數驅動電極對的複數驅動電極對電壓訊號Vp直接相加或換算為電量訊號QP後相加，獲得一電極對訊號數值Psum；掃描所述選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號VM，將該複數第一電壓訊號VM直接相加或換算為電量訊號QM後相加，獲得一第一電訊號數值Msum；掃描所述選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極，獲得複數第二電壓訊號VN，將該複數第二電壓訊號VN直接相加或換算為電量訊號(QN)後相加，獲得一第二電訊號數值Nsum；以及通過所述電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum及第二電訊號數值Nsum判斷所述觸控點在所述導電膜的低阻抗方向D的座標Y的方法為：當Psum≦ abs(Nsum-Msum)且Nsum≧Msum，輸出低阻抗方向D的座標Y=y；當Psum≦abs(Nsum-Msum)且Nsum<Msum，輸出低阻抗方向D的座標Y=0；當Psum>abs(Nsum-Msum)且Nsum≧Msum，輸出低阻抗方向D的座標；以及當Psum>abs(Nsum-Msum)且Nsum<Msum，輸出低阻抗方向D的座標，其中，abs表示絕對值運算，y表示從第一側邊沿低阻抗方向D到達第二側邊的距離。
一種觸控面板觸控點之檢測方法，該觸控面板包括有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向D和一高阻抗方向H的導電膜，沿所述低阻抗方向D設置有複數驅動電極對，每個驅動電極對包括一第一驅動電極和一第二驅動電極，該第一驅動電極和第二驅動電極相對設置於所述導電膜的兩個側邊，檢測方法包括以下步驟：沿高阻抗方向H掃描所述驅動電極對，獲得複數驅動電極對電壓訊號(Vp)，通過所述複數驅動電極對電壓訊號Vp確定觸控點在高阻抗方向H的座標X；選取複數與所述高阻抗方向H的座標X距離最小的驅動電極對，根據所述選取的複數驅動電極對的複數驅動電極對電壓訊號，並將該複數驅動電極對電壓訊號直接相加或換算為電量訊號Qp後相加，獲得一電極對訊號數值Psum；掃描所述選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號VM，將該複數第二電壓訊號VM直接相加或換算為電量訊號QM後相加，獲得一第一電訊號數值Msum；掃描所述選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極，獲得複數第二電壓訊號VN ，將該複數第二電壓訊號VN直接相加或換算為電量訊號QN後相加，獲得一第二電訊號數值Nsum；以及通過所述電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum及第二電訊號數值Nsum判斷所述觸控點在所述導電膜的低阻抗方向D的座標Y。
與先前技術比較，本發明的觸控面板觸控點之檢測方法採用的導電膜具有阻抗異向性，且所述複數第一驅動電極和複數第二驅動電極設置於所述導電膜沿低阻抗方向的兩側形成複數驅動電極對，從而使得在檢測觸控點時，可以成對檢測觸控點與每個驅動電極對之間的訊號，由於採用電極對的掃描方式，使得掃描的次數減少，從而提高了觸控面板的響應速度。此外，在判斷低阻抗方向的座標Y時，本發明通過所述電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum及第二電訊號數值Nsum，就可以獲得精確的低阻抗方向的座標Y，從而提高了檢測觸控點在低阻抗方向的座標Y的精確度。
10‧‧‧觸控面板
102‧‧‧基板
104‧‧‧導電膜
106‧‧‧第一驅動電極
108‧‧‧第二驅動電極
100‧‧‧驅動電極對
110‧‧‧透明保護膜
111‧‧‧第一側邊
112‧‧‧第二側邊
114‧‧‧耦合電容
120‧‧‧驅動電路
122‧‧‧充電電路
124‧‧‧第一開關
130‧‧‧感測電路
1320‧‧‧存儲電路
134‧‧‧讀取電路
136‧‧‧第二開關
310，320，330，340，350，360‧‧‧電訊號曲線
D‧‧‧低阻抗方向
H‧‧‧高阻抗方向
M1，M2，M3，M4，M5，M6‧‧‧第一驅動電極編號
N1，N2，N3，N4，N5，N6‧‧‧第二驅動電極編號
T，I，II，III，IV，V，VI，VII‧‧‧觸控點
A，B‧‧‧波谷
RM1，RM2，RM3，RN1‧‧‧電阻
圖1為本發明實施例提供的觸控面板的結構示意圖。
圖2為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路感測一個驅動電極對時的示意圖。
圖3為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路感測一個驅動電極對時的等效電路圖。
圖4為本發明實施例提供的觸控面板的觸控點的檢測方法的流程圖。
圖5為本發明實施例中脈衝訊號輸入所述觸控面板時，觸控點處形成的耦合電容的電壓變化波形圖。
圖6為本發明實施例在分別檢測觸控面板上觸控點I~III時，所模擬出的用於計算X軸座標的三個觸控點I~III的RC曲線示。
圖7為本發明實施例在檢測觸控面板上觸控點IV時，所模擬出的用於計算X軸座標的觸控點IV的RC曲線。
圖8為本發明實施例在檢測觸控面板上的觸控點V時，所模擬出的用於計算X軸座標的觸控點V的RC曲線。
圖9為本發明實施例在檢測觸控面板上的兩個觸控點VI和VII時，所模擬出的用於計算X軸座標的兩個觸控點VI和VII的RC曲線。
圖10為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路同時感測複數驅動電極對中的第一驅動電極的示意圖。
圖11為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路同時感測複數驅動電極對中的第一驅動電極的等效電路圖。
圖12為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路分別感測複數驅動電極對中的第一驅動電極的示意圖。
圖13為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路分別感測複數驅動電極對中的第一驅動電極的等效電路圖。
圖14為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路分別感測複數驅動電極對中兩個相鄰的第一驅動電極的示意圖。
圖15為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路分別感測複數驅動電極對中兩個相鄰的第一驅動電極的等效電路圖。
圖16為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路同時感測複數驅動電極對中的第二驅動電極的示意圖。
圖17為本發明實施例提供的觸控面板的驅動電路與感測電路同時感測複數驅動電極對中的第二驅動電極的等效電路圖。
圖18為本發明實施例提供的觸控面板在計算該觸控面板上觸控點的Y軸座標的流程圖。
以下將結合附圖詳細說明本發明實施例的觸控面板觸控點位置的檢測方法。
本發明實施例提供一種用於檢測觸控面板上的觸控點位置的檢測方法。請參閱圖1，其中，該觸控面板10包括一基板102；設置於該基板102上的一具有阻抗異向性的導電膜104，該導電膜104沿其表面具有根據阻抗異向性定義出相互垂直的一低阻抗方向D和一高阻抗方向H；沿該導電膜104的低阻抗方向D相對的兩側邊分別為第一側邊111和第二側邊112；以及沿該第一側邊111設置的複數相互間隔的第一驅動電極106，沿該第二側邊112設置的複數相互間隔的第二驅動電極108，該複數第一驅動電極106和複數第二驅動電極108分別與該導電膜104電連接。所述一個第一驅動電極106和一個相對的第二驅動電極108形成一個驅動電極對100，進而形成複數驅動電極對100於所述導電膜104相對的第一側邊111和第二側邊112。沿著所述低阻抗方向D和高阻抗方向H建立一個座標系，定義沿高阻抗方向H為X軸，沿低阻抗方向D為Y軸。
請一併參閱圖2，所述觸控面板10進一步包括一驅動電路120和一感測電路130。所述驅動電路120與所述第一驅動電極106和第二驅動電極108電連接，所述感測電路130與所述第一驅動電極106和第二驅動電極108電連接。所述驅動電路120和感測電路130可 以通過開關實現與所述複數第一驅動電極106和複數第二驅動電極108的電導通，或者電斷開，用於檢測觸控面板10的導電膜104上觸控點T的位置。
所述驅動電路120包括一充電電路122及一第一開關124。所述充電電路122可以通過所述第一開關124與所述第一驅動電極106及第二驅動電極108斷開或導通。所述充電電路122可連接至一電壓源(圖未示)。所述感測電路130包括一存儲電路1320、一讀取電路134及一第二開關136。所述存儲電路1320與所述讀取電路134並聯，該存儲電路1320與讀取電路134可以通過所述第二開關136與所述第一驅動電極106及第二驅動電極108斷開或導通。所述存儲電路1320可進一步串聯一電阻(圖未示)，該存儲電路1320通過該電阻接地。
請一併參閱圖2及圖3，當該觸控面板10在被一導體觸碰時，該觸控面板10的觸控點T在導電膜104的對應位置與該導體形成電容值為C的耦合電容114(如圖3所示)。該觸控點T在導電膜104的對應位置與所述各個第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻值分別為R11，R12，…R1n(n=1，2，3…)；該觸控點T在導電膜104的對應位置與所述各個第二驅動電極108之間的導電膜104的電阻值分別為R21，R22，…R2n(n=1，2，3…)；該觸控點T在導電膜104的對應位置與所述驅動電極對100的電阻值分別為R1，R2，…Rn(n=1，2，3…)；其中Rn與R1n，R2n的關係可以通過公式1/R1n+1/R2n=1/Rn表示，上面公式中的n代表電極的數目。
請參閱圖3，當所述導體觸碰所述觸控面板10時，所述耦合電容114與所述觸控點T在導電膜104的對應位置到達一第一驅動電極 106及一第二驅動電極108之間的導電膜104便組成了一電路。由於所述導電膜104具有阻抗異向性，因此所述觸控點T在導電膜104的對應位置與各個第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻值R1n不同。同理，所述各個第二驅動電極108與所述觸控點T在導電膜104的對應位置之間的導電膜104的電阻值R2n也不同。該觸控點T在導電膜104的對應位置與距離該觸控點T最近的第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻值R1n小於該觸控點T在導電膜104的對應位置與其他第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻值R1n。同理，該觸控點T在導電膜104的對應位置與距離該觸控點T最近的第二驅動電極108的電阻值R2n小於該觸控點T在導電膜104的對應位置與其他第二驅動電極108之間的導電膜104的電阻值R2n。
所述基板102由透明材料組成，該透明材料可為聚乙烯、聚碳酸酯、聚對苯二甲酸二乙酯、聚甲基丙烯酸甲酯、玻璃、石英或金剛石等。
該導電膜104為導電異向性膜。具體地，該導電膜104沿所述低阻抗方向D的電導率遠大於其他方向的電導率，在高阻抗方向H的電導率遠小於其他方向的電導率，該低阻抗方向D與高阻抗方向H垂直。本實施例中，所述導電膜104由至少一層奈米碳管膜組成，該奈米碳管膜通過拉取一奈米碳管陣列直接獲得。該奈米碳管膜中的大部分奈米碳管首尾相連地沿同一個方向擇優取向延伸，且為一自支撐結構，所述自支撐指奈米碳管膜不需要大面積的載體支撐，而只要相對兩邊提供支撐力即能整體上懸空而保持自身膜狀狀態。所述自支撐主要通過奈米碳管膜中存在連續的通過凡得瓦力首尾相連延伸排列的奈米碳管而實現。由於奈米碳管沿其軸 向具有好的導電性，且所述奈米碳管膜中的大部分奈米碳管沿同一方向擇優取向延伸，因此，該奈米碳管膜整體具有阻抗異向性，本實施例中，奈米碳管膜中沿奈米碳管延伸的方向為低阻抗方向D，而垂直於該奈米碳管延伸的方向為高阻抗方向H。此外，所述奈米碳管膜中基本朝同一方向延伸的大多數奈米碳管中每一奈米碳管與在延伸方向上相鄰的奈米碳管通過凡得瓦力首尾相連，且所述奈米碳管膜中也存在少數隨機排列的奈米碳管，這些隨機排列的奈米碳管會與相鄰的其他奈米碳管相互接觸，從而使得該奈米碳管膜在高阻抗方向H仍具有導電性，相較於其他方向，該奈米碳管膜在該高阻抗方向H的電阻較大，電導率較低。
該奈米碳管拉膜的製備方法請參見范守善等人於民國96年2月12日申請的，於民國97年8月16日公開的第96105016號台灣公開專利申請“奈米碳管膜結構及其製備方法”，申請人：鴻海精密工業股份有限公司。為節省篇幅，僅引用於此，所述申請所有技術揭露也應視為本發明申請技術揭露的一部分。
所述驅動電極對100的第一驅動電極106與其相對的第二驅動電極108的連線可以與所述低阻抗方向D平行。本實施例中，所述複數第一驅動電極106與所述複數第二驅動電極108一一正對設置，並且每個驅動電極對100中，第一驅動電極106與其正對的第二驅動電極108的連線與所述低阻抗方向D平行。
所述複數第一驅動電極106或複數第二驅動電極108均由導電材料形成，可選擇為金屬、導電聚合物、導電漿料、導電膠、金屬性奈米碳管、銦錫氧化物等。該第一驅動電極106或第二驅動電極108的形狀和結構不限，可選擇為層狀、條狀、塊狀、棒狀或其 他形狀。本實施例中，該第一驅動電極106和第二驅動電極108均為條狀印刷銀電極。該相鄰兩個第一驅動電極106或相鄰兩個第二驅動電極108的間距應適中，該間距優選為3毫米~5毫米。該每個第一驅動電極106或第二驅動電極108的長度方向可為平行於所述導電膜104的高阻抗方向H，該長度不能太長，太長也容易使檢測所述觸控點的位置時不精確，優選為1毫米~5毫米。該第一驅動電極106和第二驅動電極108的數量不限，依據所述導電膜104的面積大小確定。本實施例中，該第一驅動電極106和第二驅動電極108的數量均為6個，每個第一驅動電極106、第二驅動電極108的長度約為1毫米，且該相鄰兩個第一驅動電極106、相鄰兩個第二驅動電極108的間距約為3毫米。
進一步地，所述觸控面板10的導電膜104上可設置一透明保護膜110，該透明保護膜110可由氮化矽、氧化矽、苯丙環丁烯(BCB)、聚酯或丙烯酸樹脂等材料形成。該透明保護膜110也可採用一層表面硬化處理、光滑防刮的塑膠層，如聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)膜，用於保護導電膜104，提高耐用性。該透明保護膜110還可用於提供一些其他的附加功能，如可以減少眩光或降低反射。
進一步地，為使所述導電膜104與所述基板102和所述透明保護膜110貼合的更加牢固，所述導電膜104和所述基板102之間，及所述導電膜104和所述透明保護膜110之間可設置一黏膠層(圖未示)，該黏膠層的材料可以為OCA光學膠或UV膠等。
請結合圖2、3，並參見圖4，觸控面板10的觸控點T位置的檢測方法包括以下步驟： 步驟S1：沿高阻抗方向H掃描所述驅動電極對100，獲得複數電訊號，通過所述複數電訊號確定觸控點T在高阻抗方向H的座標X；步驟S2：在高阻抗方向的座標X附近選取複數驅動電極對100，根據所述選取的複數驅動電極對100的複數電訊號，並通過該複數電訊號獲得一電極對訊號數值Psum，步驟S3：掃描所述選取的複數驅動電極對100中的複數第一驅動電極106，獲得一第一電訊號數值Msum；步驟S4：掃描所述選取的複數驅動電極對100中的複數第二驅動電極108，獲得一第二電訊號數值Nsum；以及步驟S5：通過所述電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum及第二電訊號數值Nsum判斷所述觸控點在所述導電膜的低阻抗方向D的座標Y。
步驟S1中，所述掃描驅動電極對100的方法可以由所述驅動電路120以及感測電路130實現，其具體包括：步驟S11：通過所述驅動電路120及感測電路130向所述每個驅動電極對100輸入一脈衝訊號；步驟S12：通過所述感測電路130分別讀取通過驅動電極對100所檢測到的電壓V輸出，即可換算出耦合電容114處於暫態時電阻值Rn和電容值C的乘積，即RnC值，從而類比出由該複數RnC值所構成的RnC曲線；以及步驟S13：通過該RnC曲線判斷所述觸控點T在所述導電膜104高阻抗方向H上的座標X。
類比出由複數RnC值所構成的電訊號曲線的過程可逐一通過所述複數驅動電極對100檢測的方法實現，或同時通過所述複數驅動電極對100檢測的方法實現，即所述脈衝訊號可逐一輸入或同時輸入所述複數驅動電極對100。當脈衝訊號逐一輸入所述複數驅動電極對100時，其他未輸入脈衝訊號的驅動電極對100接地(Vss)，或者浮置(floating)，還可以接器件內部的工作電壓(Vdd)。
步驟S11中，所述脈衝訊號的輸入通過控制第一開關124和第二開關136而實現。具體地，該第一開關124和第二開關136會交替地一者閉合，而另一者斷開，從而形成該脈衝訊號。
請參見圖5，圖中V代表驅動電路120輸入所述導電膜104的電壓，VC代表所述耦合電容114的電壓。其中，在時間T1中，第一開關124閉合，而第二開關136斷開，在時間T2中，第一開關124斷開，而第二開關136閉合。進一步地，時間T1可大於或等於時間T2，優選為時間T1大於時間T2。
所述第一開關124和第二開關136交替地閉合或斷開，使該耦合電容114處於充電狀態或放電狀態，即在所述時間T1中，充電電路122會通過所述驅動電極對100向所述導電膜104輸入一具體的電壓VO，即V=VO，以對該耦合電容114進行充電，而在所述時間T2中，該耦合電容114便開始放電至所述存儲電路1320，相應地，該存儲電路1320的電壓也會發生變化。
在所述時間T1中，所述耦合電容114先經過t1時間的暫態之後才逐漸被充滿，從而進入穩態。即在t1時間內，所述耦合電容114的電壓VC逐漸上升，而經過t1時間之後，其電壓VC趨於恒定，即，此時VC=VO。同理，在T2時間中，所述耦合電容114也會先經過t2 時間的暫態之後才逐漸被放電完畢。在所述耦合電容114於充電或放電時處於暫態的過程中，所述存儲電路1320中的電阻的電壓也會相應發生改變。
在步驟S12中，所述暫態t2時間內的某個時間點，所述讀取電路134通過檢測所述存儲電路1320的電壓V輸出，即可換算出耦合電容114處於暫態時的RnC值，其中，C為耦合電容114的電容值，該換算過程所採用的公式具體為：。因此，當脈衝訊號分別輸入每個驅動電極對100時，與每個第一驅動電極106相連的讀取電路134均能讀出存儲電路1320的電壓V輸出，然後即可計算出所述耦合電容114放電過程中暫態時的一個RnC值，從而可類比出所述電訊號曲線，即RnC值的變化曲線，通過該RnC值的變化曲線便可檢測出該觸控點在導電膜104高阻抗方向H上的座標X。
請參見圖3，感測時，所述第一驅動電極106和與其相對的第二驅動電極108電連接後，再連接驅動電路120和感測電路130。相應的等效電路為一個第一驅動電極106和與其相對的第二驅動電極108並聯後再與驅動電路120和感測電路130電連接，該觸控點T在導電膜104的對應位置與所述驅動電極對100的電阻值為Rn。根據並聯電阻的公式1/R1n+1/R2n=1/Rn，兩個電阻並聯後的電阻小於其中的任何一個電阻，即，Rn的值一定小於R1n及R2n值。由於，即，當電阻減小時，通過所述讀取電 路134讀取所述存儲電路1320的電壓V輸出增大。故，當通過逐一順次感測複數驅動電極對100時，可通過所述讀取電路134讀取所述存儲電路1320的一較大的電壓V輸出，該較大的電壓V輸出可以被所述讀取電路134精確的讀取，進而換算出精確的RnC。故，通過逐一順次感測複數驅動電極對100沿高阻抗方向H上的座標X值的方法將更精確。
另外，可以理解的係，本實施例中的驅動電極對100，並不局限於由一個第一驅動電極106和一個第二驅動電極108組成，還可以由一個第一驅動電極106和兩個第二驅動電極108組成，或者由兩個第一驅動電極106和兩個第二驅動電極108組成。換句話說，可以這樣來定義本案中的驅動電極對100，從所述導電膜104的第一側邊111取至少一個第一驅動電極106，從所述導電膜104的第二側邊112取至少一個第二驅動電極108，從而組成一個驅動電極對100。檢測時，通過逐一感測複數驅動電極對100與觸控點T之間的電訊號，並利用內插法求所述觸控點T沿高阻抗方向H上的座標X值。
以下將分別介紹該觸控面板10僅有一處或多處被觸控時，即單點觸控或多點觸控時，各觸控點的座標X的具體檢測過程。
單點觸控檢測
請參閱6至圖8，以下將詳細介紹當觸控面板10被單點觸控時，通過電訊號曲線，即RnC值的變化曲線檢測在導電膜104的高阻抗方向H上的座標值的過程。
以便於描述，可將所述複數第一驅動電極106依次編號為M1、M2、 M3、M4、M5、M6，該複數第二驅動電極108依次編號為N1，N2，N3，N4，N5，N6。其中，M1、M2、M3、M4、M5、M6與N1，N2，N3，N4，N5，N6分別組成驅動電極對M1-N1、M2-N2、M3-N3、M4-N4、M5-N5及M6-N6。該複數第一驅動電極106在高阻抗方向H的座標依次為X1、X2、X3、X4、X5、X6，且由於所述複數第二驅動電極108與所述複數第一驅動電極106一一正對，因此，該彼此正對的第二驅動電極108與第一驅動電極106在高阻抗方向H的座標也相同，即該複數第二驅動電極108在高阻抗方向H的座標也為X1、X2、X3、X4、X5、X6。可以理解，由於每一個驅動電極對100由一個第一驅動電極106和與其正對的一個第二驅動電極108組成，所以複數驅動電極對M1-N1、M2-N2、M3-N3、M4-N4、M5-N5及M6-N6在高阻抗方向H的座標也為X1、X2、X3、X4、X5、X6。以下在描述各個第一驅動電極106或各個第二驅動電極108，或驅動電極對100時，將分別用其各自的編號替代。且以下RnC值中的n=1，2…6，且R1C值通過所述驅動電極對M1-N1檢測出，R2C值通過所述驅動電極對M2-N2檢測出，R3C值通過所述驅動電極對M3-N3檢測出，R4C值通過所述驅動電極對M4-N4檢測出，R5C值通過所述驅動電極對M5-N5檢測出，R6C值通過所述驅動電極對M6-N6檢測出。
圖6、圖7以及圖8中的電訊號曲線310、320、330、340及350表示當觸控點I~IV分別被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所讀取出的RnC值變化曲線。
(1)對觸控點I~III的檢測
圖6的電訊號曲線310為當觸控點I被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出來的RnC值變化曲 線。從圖6中可以看出，所述驅動電極對M4-N4所檢測到的R4C值最小，處於整個曲線310的波谷處；而與驅動電極對M4-N4相鄰的驅動電極對M5-N5和M3-N3所檢測到的兩個R5C、R3C值基本相等且大於R4C值；而其他離觸控點I的距離越遠的驅動電極對100所檢測的RnC值越大，且隨著距離的增大，波動幅度減小。同時，整個RnC值變化曲線的波形相對於波谷所在的沿低阻抗方向D的直線對稱。這主要係因為觸控點I正對M4，因此，具有最小的電阻R4及R4C值，且，觸控點I相對所述驅動電極對M3-N3及M5-N5的電阻R3及R5基本相等且大於R4，故，R3C=R5C>R4C。依此類推，R2C=R6C>R3C=R5C>R4C。故，據此波型可直接判斷出該觸控點I在高阻抗方向H的座標為X4。
另外，該觸控點I在高阻抗方向H的座標，也可經過內插法計算，具體公式如下： ，或 ，優選為採用公式計算。
所述各公式中的△RnC=RkC-RnC，其中n=1，2，…6，RkC指所述驅動電極對100極檢測出的最大RnC值，從圖6可以看出，當觸控點I 被觸控時，RkC值為R1C。
圖6中的電訊號曲線320為當觸控點II被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出的RnC值變化曲線。所述電訊號曲線320的變化趨勢與所述電訊號曲線310的變化趨勢相似，惟，相同的驅動電極對100所檢測出的RnC值略大於觸控點I被觸控時所讀取出的RnC值。這係因為觸控點II與各個驅動電極對100之間的導電膜104的電阻值Rn大於觸控點I與各個驅動電極對100之間的導電膜104的電阻值Rn。故，據此波型也可直接判斷出該觸控點I在高阻抗方向H的座標為X4，並且可以判斷該觸控點II比所述觸控點I更靠近所述導電膜104沿低阻抗方向D的中點。該觸控點II在高阻抗方向H的座標也可通過所述公式計算。
圖6中的電訊號曲線330為當觸控點III被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出的RnC值變化曲線。所述電訊號曲線330與所述電訊號曲線310基本重合。這係因為觸控點III與各個驅動電極對100之間的導電膜104的電阻值Rn與觸控點I與各個驅動電極對100之間的導電膜104的電阻值Rn相等。故，據此波型也可直接判斷出該觸控點III在高阻抗方向H的座標為X4，並且可以判斷該觸控點III與所述觸控點I關於所述導電膜104沿低阻抗方向D的中點對稱。該觸控點III在高阻抗方向H的座標也可通過所述公式計算。
故，根據觸控點被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出的RnC值變化曲線，可直接判斷出該觸控點在高阻抗方向H的座標X。即，當其中有兩個RnC值相同，且該兩個相等的RnC值所對應的兩個驅動電極對100相對於另一個 驅動電極對100對稱，則該觸控點在高阻抗方向H的座標X即等於該另一個驅動電極對100在高阻抗方向H的座標，該座標可直接讀出，也可通過內插法計算獲得。
(2)對觸控點IV的檢測
圖7中的電訊號曲線340為當觸控點IV被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出的RnC值變化曲線。從圖7中可以看出，所述驅動電極對M4-N4所檢測到的R4C值最小，處於整個電訊號曲線340的波谷處，而驅動電極對M5-N5及M3-N3所檢測到R5C及值R3C滿足以下關系：R3C>R5C>R4C。進一步地，其他驅動電極對100所檢測到的RnC值大於該M3-N3、M4-N4及M5-N5所檢測到的RnC(n=3，4，5)值，且變化幅度減小。故，通過該RnC值變化曲線可推測該觸控點IV位於驅動電極對M4-N4與M5-N5所在沿低阻抗方向D的兩直線之間，且靠近驅動電極對M4-N4。為更進一步判斷觸控點IV在導電膜104高阻抗方向H的座標，可至少將檢測到的R4C和R5C值與M4-N4及M5-N5所對應的在高阻抗方向H的座標X4和X5以內插法計算獲得觸控點IV在高阻抗方向H的座標XIV。具體的計算公式可為： ，此外，由於所述M1-N1、M2-N2所檢測的R1C值、R2C值，與M6-N6所檢測出的R6C值均大於其他驅動電極對100(Mn-Nn)所檢測出的RnC值，且變化幅度很小，因此也可通過下列公式計算觸控點IV在高阻抗方向H的座標： ，或 優選為採用公式計算。
所述各公式中的△RnC=RkC-RnC，其中n=1，2，．‥6，RkC指所述驅動電極對100檢測出的最大RnC值，從圖7可以看出，當觸控點IV被觸控時，RkC值為R1C。
(3)對觸控點V的檢測
圖8中的電訊號曲線350為當觸控點V被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出的RnC值變化曲線。從圖8中可以看出，所述驅動電極對M4-N4所檢測到的R4C值與驅動電極對M5-N5所檢測到的R4C值基本相等，且，R3C=R6C>R4C=R5C。故，通過該RnC值變化曲線可判斷出所述觸控點V位於M4與M5連線的中軸線上，從而可定位出觸控點V在高阻抗方向H的座標X。另外，也可通過公式計算如下： 或 。
所述各公式中的△RnC=RkC-RnC，其中n=1，2，…6。RkC指所述第一驅動電極檢測出的最大RnC值，從圖9可以看出，當觸控點V被觸控時，RkC值最大為R1C。
通過所述對觸控點~V的檢測分析可知，判斷單點觸控時，若無法通過電訊號曲線直接判斷出所述觸控點在高阻抗方向H的座標X，可通過所述驅動電極對100在高阻抗方向H的座標與該RnC值通過內插法計算獲得所述觸控點在高阻抗方向H的座標。
多點觸控檢測方法
圖9中的電訊號曲線360為當觸控點VI和VII同時被觸控時，與所述複數驅動電極對100電連接的讀取電路134所換算並模擬出的RnC值變化曲線。從圖9中可以看出，該電訊號曲線360不同於所述單點觸控時所計算出的RnC值變化曲線，該電訊號曲線360中出現兩個波谷A、B，即兩個最小RAC及RBC值。而除了該兩個最小RAC及RBC值之外，其他驅動電極對100所檢測出的RnC值均大於RAC及RBC，且變化幅度減小。因此，故，可以分別檢測該RAC值及RBC值所對應的相鄰兩個驅動電極對100所檢測到的R(A+1)C值、R(A-1)C值、R(B+1)C值及R(B-1)C值。如圖9中波谷A所對應的驅動電極對M1-N1、M2-N2以及M3-N3所檢測出的R1C值、R2C值和R3C值，波谷B所對應的驅動電極對M4-N4、M5-N5以及M6-N6所檢測出的R4C值、R5C值和R6C值，之後再將該每個波谷處所對應的三個最小的RnC值與檢測 出該三個最小的RnC值的三個驅動電極對100在高阻抗方向H上的座標通過內插法計算出該觸控點VI和VII在高阻抗方向H上的具體座標，該具體的公式與所述檢測單點觸控時的方法相同，在此不再贅述。
通過所述對觸控點VI和VII的檢測分析可知，判斷多點觸控時多個觸控點在導電膜104的高阻抗方向H的座標，一般包括以下次步驟：第一，檢測電訊號模擬出所述電訊號曲線，即通過不同驅動電極對100所檢測出的RnC值變化曲線；第二，找到該電訊號曲線中的複數波谷位置，至少檢測出該複數波谷位置的RnC值(最小Rx1C，Rx2C，…RxmC值)及與該複數最小Rx1C，Rx2C，…RxmC值相鄰的次小Ry1C，Ry2C，…RymC值，分別將RxmC值與RymC值所對應的兩個複數驅動電極對100在高阻抗方向H的座標與該RxmC值與RymC值通過內插法計算獲得所述複數觸控點在高阻抗方向H的座標。
由於所述導電膜104具有阻抗異向性，且所述複數驅動電極對100的第一驅動電極106和第二驅動電極108分別設置於所述導電膜104沿低阻抗方向D的兩側，從而使得在檢測觸控點時，該觸控點與其最近的驅動電極對100之間的導電膜104的電阻值Rn遠小於該觸控點與其他驅動電極對100之間的導電膜104的電阻值Rn，從而使相鄰兩個驅動電極對100所檢測出的RnC值大小也相差很大，這一特點不僅提高了判斷各觸控點的準確度，也使得當該觸控面板10被多點觸控時，該複數觸控點互相之間的檢測干擾很小，易於定位。
通過步驟S1確定了觸控點T沿高阻抗方向H上的座標X值後可以進行步驟S2。步驟S2中，在座標X附近取複數驅動電極對100，並根據所述複數驅動電極對100的電訊號，獲得一電極對訊號數值。
首先，可以根據所述觸控點T的座標X，在所述座標X附近選取複數驅動電極對100，該複數驅動電極對100為最接近所述觸控點T座標X的驅動電極對100，該複數驅動電極對100的數量可以根據實際需要選取，優選的，在所述座標X附近選取3對最接近該座標X的驅動電極對100。其次，檢測所述3對最接近所述座標X的驅動電極對100的電訊號。該3對最接近所述座標X的驅動電極對100的電訊號可以通過步驟S1檢測獲得，該3對驅動電極對100的電訊號分別為Vn-1，Vn以及Vn+1。最後，將所述3對最接近所述座標X的驅動電極對100的電訊號分別換算得到所述存儲電路1320的三個電量訊號Pn-1，Pn以及Pn+1，其中，P n =C 1320×V n ，C1320為所述存儲電路1320的電容值，即，在所述電容114的放電過程中，所述存儲電路1320所存儲的電量等複於該存儲電路1320的電容值與所述電容114輸出的電壓值的乘積；再將所述三個電量訊號Pn-1，Pn以及Pn+1相加即得到一電極對訊號數值Psum，其中，Psum=Pn-1+Pn+Pn+1。
步驟S3中，所述掃描複數驅動電極對100中的複數第一驅動電極106，獲得一第一電訊號數值的步驟具體包括：步驟S31：由所述驅動電路120及感測電路130向所述複數驅動電極對100中的複數第一驅動電極106同時或分別輸入一脈衝訊號VO；以及 步驟S32：通過所述感測電路130讀取所述複數第一驅動電極106所檢測到的電訊號，獲得一第一電訊號數值Msum。
請參照圖10，本實施例中，優選地，在步驟S31中，將三個驅動電極對100中的三個第一驅動電極106電連接後直接與所述驅動電路120和感測電路130電連接，然後通過所述驅動電路120及感測電路130向所述三個第一驅動電極106輸入一脈衝訊號VO。該三個第一驅動電極106與觸控點T之間的等效電路如圖11所示。觸控點T與三個第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻為RM1，滿足以下關係1/RM1=1/R1n-1+1/R1n+1/R1n+1，其中，R1n、R1n-1、R1n+1分別對應所述三個第一驅動電極106與觸控點T之間的導電膜104的電阻。在步驟S32中，可以通過所述感測電路130感測出該三個第一驅動電極106的一電訊號VM1，並根據電訊號VM1值換算得到一電量訊號M1=C1320VM1，該電量訊號M1可作為該第一電訊號數值Msum，即，Msum=M1。
此外，請參照圖12，在步驟S31中，也可以將所述三個驅動電極對100中的三個第一驅動電極106分別與一驅動電路120及一感測電路130電連接，然後通過每一個驅動電路120及感測電路130分別向每一第一驅動電極106輸入一脈衝訊號VO。該三個第一驅動電極106與觸控點T之間的等效電路如圖13所示。觸控點T與三個第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻分別為R1n-1、R1n以及R1n+1。在步驟S32中，可通過所述每一感測電路130分別感測出該三個第一驅動電極106的三個電訊號VM2、VM3以及VM4的值，並根據VM2、VM3以及VM4的值換算得到三個電量訊號M2、M3以及M4，並將所述三個電量訊號M2、M3以及M4相加作為該第一電訊號數值Msum， 即，Msum=M2+M3+M4。
另外，請參照圖14，在步驟S31中，還可以先將所述三個第一驅動電極106中的每兩個相鄰的第一驅動電極106電連接後直接與一驅動電路120和一感測電路130電連接，然後通過每一個驅動電路120及感測電路130分別向所述每兩個相鄰的第一驅動電極106輸入一脈衝訊號VO。該第一驅動電極106與觸控點T之間的等效電路如圖15所示。觸控點T與三個第一驅動電極106之間的導電膜104的電阻為RM2及RM3；其中，1/RM2=1/R1n-1+1/R1n；1/RM3=1/R1n+1/R1n+1。在步驟S32中，可以通過每一感測電路130分別感測出每兩個相鄰的第一驅動電極106的兩個電訊號VM5及VM6，並根據電訊號VM5及VM6換算得到兩個電量訊號M5以及M6，並將所述兩個電量訊號M5及M6相加作為該第一電訊號數值Msum，即，Msum=M5+M6。
請參閱圖16及圖17，步驟S4中，所述掃描複數驅動電極對100中的複數第二驅動電極108，獲得一第二電訊號數值Nsum的步驟包括：步驟S41：由所述驅動電路120及感測電路130向所述複數驅動電極對100中的複數第二驅動電極108同時或分別輸入一脈衝訊號VO；以及步驟S42：通過所述感測電路130讀取通過所述複數第二驅動電極108所檢測到的電訊號，獲得一第二電訊號數值Nsum。
本實施例中，所述步驟S4與所述步驟S3基本相同，具體地，將三個驅動電極對100中的三個第二驅動電極108電連接後直接與所述驅動電路120和感測電路130電連接，然後通過所述驅動電路120 及感測電路130向所述三個第二驅動電極108輸入一脈衝訊號VO。該三個第二驅動電極108與觸控點T之間的等效電路如圖17所示。觸控點T與三個第二驅動電極108之間的導電膜104的電阻為RN1，滿足以下關係1/RN1=1/R2n-1+1/R2n+1/R2n+1，其中，R2n、R2n-1、R2n+1分別對應所述三個第二驅動電極108與觸控點T之間的導電膜104的電阻。在步驟S42中，通過所述感測電路130感測出該三個第二驅動電極108的一電訊號VN1。並根據該電訊號VN1的值換算得到一電量訊號N1=C1320VN1，該模擬訊號N1可作為所述第二電訊號數值Nsum，即，Nsum=N1。
所述掃描複數電極對100中的複數第二驅動電極108，獲得一第二電訊號數值Nsum的方法，與所述掃描複數驅動電極對100中的複數第一驅動電極106獲得一第一電訊號數值Msum的方法必須一致。即，當選擇將三個驅動電極對100中的三個第一驅動電極106電連接後直接與所述驅動電路120和感測電路130電連接，然後通過所述驅動電路120及感測電路130同時向所述三個第一驅動電極106輸入一脈衝訊號的方式獲得所述第一電訊號數值Msum時，也要選擇將三個驅動電極對100中的三個第二驅動電極108電連接後直接與所述驅動電路120和感測電路130電連接，然後通過所述驅動電路120及感測電路130同時向所述三個第二驅動電極108輸入一脈衝訊號的方式獲得所述第二電訊號數值Nsum。
可以理解，所述掃描複數電極對100中的複數第二驅動電極108，獲得一第二電訊號數值Nsum的方法也可以選自與所述步驟S3相同的其他方法。
請參照圖18，步驟S5在步驟S2、S3以及S4的基礎上，可以通過所 述電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum及第二電訊號數值Nsum判斷所述觸控點T在所述導電膜的低阻抗方向D上的座標Y，其具體包括以下步驟：步驟S51：判斷Psum≦abs(Nsum-Msum)是否成立，是，進入步驟S52；否，進入步驟S53，其中，abs表示絕對值運算；步驟S52：判斷Nsum≧Msum是否成立，是，輸出座標值Y=y；否，輸出座標值Y=0，其中，y表示從第一側邊111沿低阻抗方向D到達第二側邊112的距離；步驟S53：判斷Nsum≧Msum是否成立，是，輸出座標值；否，輸出座標值
具體地，當Psum≦abs(Nsum-Msum)時，可以判斷出所述觸控點T按壓在所述導電膜104的第一側邊111或第二側邊112的附近；進一步地，可以比較Nsum及Msum數值的大小，當Nsum≧Msum，可以判斷所述觸控點T按壓在導電膜104的第二側邊112的附近，並輸出座標Y，且，Y=y；當Nsum<Msum，可以判斷所述觸控點T按壓在導電膜104的第一側邊111的附近，並輸出座標Y，且，Y=0。當Psum>abs(Nsum-Msum)時，可以判斷出所述觸控點T沒有按壓在所述導電膜104的第一側邊111或第二側邊112的附近，即，該觸控點T在所述導電膜104內；進一步地，可以比較Nsum及Msum數值的大小，當Nsum≧Msum，可以根據公式 計算出觸控點T的座標Y；當Nsum<Msum，可以根據公式計算出觸控點T的座標Y。
可以理解，在步驟S2到步驟S5中，由於各存儲電路1320的電容值均為C1320，故，可以直接將在步驟S2到步驟S5中檢測到的電壓值作為電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum以及第二電訊號數值Nsum，或者將在步驟S2到步驟S5中檢測到的電壓值簡單相加後作為電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum以及第二電訊號數值Nsum，從而可以簡化計算步驟。例如：在步驟S2中，將所述3對最接近所述座標X的驅動電極對100的三個電壓訊號Vn-1，Vn以及Vn+1直接相加，從而獲得到所述電極對訊號數值Psum；在步驟S3中，通過所述感測電路130感測出該三個第一驅動電極106的一電壓訊號VM1，並將該電壓訊號VM1直接作為該第一電訊號數值Msum；在步驟S4中，通過所述感測電路130感測出該三個第二驅動電極108的一電壓訊號VN1，並將該電壓訊號VN1直接作為該第一電訊號數值Nsum；以及，通過所述電極對訊號數值Psum、第一電訊號數值Msum及第二電訊號數值Nsum判斷所述觸控點在所述導電膜的低阻抗方向D的座標Y。當然，所述獲得一第二電訊號數值Nsum的方法，與所述獲得一第一電訊號數值Msum的方法也必須一致。
相對於先前逐一掃描全部第一驅動電極後，再逐一掃描全部第二驅動電極，從而獲得兩個曲線，再判斷低阻抗方向D的座標的方法，本發明的方法更進一步節省了時間，提高了感測效率。另外，在判斷低阻抗方向D的座標Y時，本發明通過選取高阻抗方向H的座標X附近的複數第一驅動電極以及複數第二驅動電極，然後 再感測觸控點與複數第一驅動電極之間的導電膜的訊號，以及與複數第二驅動電極之間的導電膜的訊號，並根據先前讀取的高阻抗方向H的座標X附近的複數驅動電極對的訊號，就可以精確的獲得觸控點T在低阻抗方向D的座標Y。此外，本發明還可以根據比較高阻抗方向H的座標X附近的複數驅動電極對的訊號、複數第一驅動電極的訊號以及複數第二驅動電極的訊號，還可以精確的獲得所述觸控面板的邊緣訊號，從而解決邊緣訊號較小導致使用內插法計算出來的結果誤差太大的問題。
本發明中採用感測觸控點與第一驅動電極，或者第二驅動電極，或者驅動電極對之間的RC值，並根據所述RC值模擬並計算觸控點的座標Y，可以理解，本發明提供的方法不限於感測RC值，更不局限於本發明的電路。當採用其他電路，感測其他電訊號時，如電壓，只要採用本發明提供的掃描方式及計算方法，都應該在本發明的保護範圍之內。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
106‧‧‧第一驅動電極
108‧‧‧第二驅動電極
100‧‧‧驅動電極對
D‧‧‧低阻抗方向
H‧‧‧高阻抗方向
T‧‧‧觸控點

Claims (15)

  1. 一種觸控面板觸控點之檢測方法，該觸控面板包括有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向(D)和一高阻抗方向(H)的導電膜，沿所述低阻抗方向(D)設置有複數驅動電極對，每個驅動電極對包括一第一驅動電極和一第二驅動電極，該第一驅動電極和第二驅動電極相對設置於所述導電膜的兩個側邊，所述兩個側邊中，設置有第一驅動電極的側邊為第一側邊，設置有第二驅動電極的側邊為第二側邊，該檢測方法包括以下步驟：沿高阻抗方向(H)同時或分別向所述複數驅動電極對輸入一脈衝訊號(VO)，獲得複數驅動電極對電壓訊號(Vp)，通過所述複數驅動電極對電壓訊號(Vp)確定觸控點在高阻抗方向(H)的座標(X)；選取複數與所述高阻抗方向(H)的座標(X)距離最小的驅動電極對，將所述選取的複數驅動電極對的複數驅動電極對電壓訊號(Vp)直接相加或換算為電量訊號(Qp)後相加，獲得一電極對訊號數值(Psum)；同時或分別向所述選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極輸入一脈衝訊號(VO)，獲得複數第一電壓訊號(VM)，將該複數第一電壓訊號(VM)直接相加或換算為電量訊號(QM)後相加，獲得一第一電訊號數值(Msum)；同時或分別向所述選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極輸入一脈衝訊號(VO)，獲得複數第二電壓訊號(VN)，將該複數第二電壓訊號(VN)直接相加或換算為電量訊號(QN)後相加，獲得一第二電訊號數值(Nsum)；以及通過所述電極對訊號數值(Psum)、第一電訊號數值(Msum)及第二電訊 號數值(Nsum)判斷所述觸控點在所述導電膜的低阻抗方向(D)的座標(Y)的方法為：當Psum≦abs(Nsum-Msum)且Nsum≧Msum，輸出低阻抗方向(D)的座標Y=y；當Psum≦abs(Nsum-Msum)且Nsum<Msum，輸出低阻抗方向(D)的座標Y=0；當Psum>abs(Nsum-Msum)且Nsum≧Msum，輸出低阻抗方向(D)的座標；以及當Psum>abs(Nsum-Msum)且Nsum<Msum，輸出低阻抗方向(D)的座標，其中，abs表示絕對值運算，y表示從第一側邊沿低阻抗方向(D)到達第二側邊的距離，Y係為低阻抗方向(D)的座標，Psum係為一電極對訊號數值，Msum係為一第一電訊號數值，Nsum係為一第二電訊號數值。
  2. 如請求項第1項所述的觸摸屏觸摸點之檢測方法，其中，所述通過複數電壓訊號(Vp)確定觸摸點在高阻抗方向(H)的座標(X)的步驟包括以下步驟：通過一驅動電路向所述每一個驅動電極對輸入一脈衝訊號(VO)；通過一感測電路分別讀取每個驅動電極對所檢測到的複數電壓訊號(Vp)，將所述複數電壓訊號(Vp)分別換算為複數RC值；將所述複數RC值類比出由該複數RC值所構成的RC值曲線；以及通過所述RC值曲線直接判斷出該觸摸點在高阻抗方向(H)的座標(X)或通過內插法計算獲得該觸摸點在高阻抗方向(H)的座標(X)。
  3. 將複數驅動電極對電壓訊號(Vp)分別換算為複數RC值。
  4. 如請求項第2項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述通過內插法計算獲得該觸控點在高阻抗方向(H)的座標(X)的方法為：通過每個驅動電極對的RC值以及該每個驅動電極對所對應的座標通過內插法計算獲得該觸控點在高阻抗方向(H)的座標(X)。
  5. 如請求項第2項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述根據選取的複數驅動電極對的複數驅動電極對電壓訊號(Vp)獲得一電極對訊號數值(Psum)的方法為：將所選取的複數驅動電極對中的複數驅動電極對電壓訊號(Vp)根據公式Qp=C' Vp換算為複數驅動電極對電量訊號(Qp)，並將所述複數驅動電極對電量訊號(Qp)相加獲得所述電極對訊號數值(Psum)，其中，C'為感測電路的電容值，Vp為驅動電極對電壓訊號，Qp為驅動電極對電量訊號。
  6. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述根據選取的複數驅動電極對的複數驅動電極對電壓訊號(Vp)獲得一電極對訊號數值(Psum)的方法為：將所選取的複數驅動電極對中的複數驅動電極對電壓訊號(Vp)相加從而獲得所述電極對訊號數值(Psum)。
  7. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述複數與所述高阻抗方向(H)的座標(X)距離最小的驅動電極對中所述驅動電極對的個數為3。
  8. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號(VM)，通過該複數第一電壓訊號(VM)獲得一第一電訊號數值(Msum)的步 驟包括以下步驟：由一驅動電路向所述選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極同時或分別輸入一脈衝訊號(VO)；以及通過一感測電路讀取所述複數驅動第一驅動電極所檢測到的複數第一電壓訊號(VM)；以及將所述複數第一電壓訊號(VM)相加獲得所述電極對訊號數值(Msum)。
  9. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號(VM)，通過該複數第一電壓訊號(VM)獲得一第一電訊號數值(Msum)的步驟包括以下步驟：由一驅動電路向所述選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極同時或分別輸入一脈衝訊號(VO)；以及通過一感測電路讀取所述複數驅動第一驅動電極所檢測到的複數第一電壓訊號(VM)，將所述複數第一電壓訊號(VM)根據公式QM=C'VM換算為複數電量訊號(QM)；以及將所述複數電量訊號(QM)相加獲得所述電極對訊號數值(Msum)，其中，C'為感測電路的電容值，VM為第一電壓訊號，QM為第一電量訊號。
  10. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號(VM)，通過該複數第一電壓訊號(VM)獲得一第一電訊號數值(Msum)的步驟包括以下步驟：將選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極電連接後直接與一驅動電路和一感測電路電連接；通過所述驅動電路向所述複數第一驅動電極同時輸入一脈衝訊號(VO)； 通過所述感測電路感測出一第一電壓訊號(VM)，並將所述第一電壓訊號(VM)根據公式QM=C'VM換算出一電量訊號(QM)；以及將所述電量訊號(QM)作為所述第一電訊號數值(Msum)，其中，C'為感測電路的電容值，VM為第一電壓訊號，QM為第一電量訊號。
  11. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號(VM)，通過該複數第一電壓訊號(VM)獲得一第一電訊號數值(Msum)的步驟包括以下步驟：將選取的複數驅動電極對中的每一第一驅動電極分別與一驅動電路和一感測電路電連接；通過每一驅動電路向每一第一驅動電極分別輸入一脈衝訊號(VO)；通過每一感測電路感測出複數第一電壓訊號(VM)，並將所述複數第一電壓訊號(VM)根據公式QM=C'VM換算出複數電量訊號(QM)；以及將所述複數電量訊號(QM)相加得到所述第一電訊號數值(Msum)，其中，C'為感測電路的電容值，VM為第一電壓訊號，QM為第一電量訊號。
  12. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極，獲得複數第一電壓訊號(VM)，通過該複數第一電壓訊號(VM)獲得一第一電訊號數值(Msum)的步驟包括以下步驟：將選取的複數驅動電極對中每兩個相鄰的第一驅動電極分別與一驅動電路和一感測電路電連接；通過每一驅動電路向每兩個相鄰的第一驅動電極分別輸入一脈衝訊號(VO)；通過每一感測電路感測出複數第一電壓訊號(VM)，並將所述複數第一電壓訊號(VM)根據公式QM=C'VM換算出複數電量訊號(QM)；以及 將所述複數電量訊號(QM)相加得到所述第一電訊號數值(Msum)，其中，C'為感測電路的電容值，VM為第一電壓訊號，QM為第一電量訊號。
  13. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極，獲得複數第二電壓訊號(VN)，通過該複數第二電壓訊號(VN)獲得一第二電訊號數值(Nsum)的步驟包括以下步驟：由一驅動電路向所述選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極同時或分別輸入一脈衝訊號(VO)；以及通過一感測電路讀取所述複數驅動第二驅動電極所檢測到的複數第二電壓訊號(VN)；以及將所述複數第二電壓訊號(VN)相加獲得所述電極對訊號數值(Nsum)。
  14. 如請求項第1項所述的觸控面板觸控點之檢測方法，其中，所述掃描選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極，獲得複數第二電壓訊號(VN)，通過該複數第二電壓訊號(VN)獲得一第二電訊號數值(Nsum)的步驟包括以下步驟：由一驅動電路向所述選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極同時或分別輸入一脈衝訊號(VO)；以及通過一感測電路讀取所述複數驅動第二驅動電極所檢測到的複數第二電壓訊號(VN)，將所述複數第二電壓訊號(VN)根據公式QN=C'VN換算為複數電量訊號(QN)；以及將所述複數電量訊號(QN)相加獲得所述電極對訊號數值(Nsum)，其中，C'為感測電路的電容值，VN為第二電壓訊號，QN為第二電量訊號。
  15. 一種觸控面板觸控點之檢測方法，該觸控面板包括有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向(D)和一高阻抗方向(H)的導電膜，沿所述低阻抗方向(D)設置有複數驅動電極對，每個驅動電極對包括一第一 驅動電極和一第二驅動電極，該第一驅動電極和第二驅動電極相對設置於所述導電膜的兩個側邊，檢測方法包括以下步驟：沿高阻抗方向(H)同時或分別向所述驅動電極對輸入一脈衝訊號(VO)，獲得複數驅動電極對電壓訊號(Vp)，通過所述複數驅動電極對電壓訊號(Vp)確定觸控點在高阻抗方向(H)的座標(X)；選取複數與所述高阻抗方向(H)的座標(X)距離最小的驅動電極對，根據所述選取的複數驅動電極對的複數驅動電極對電壓訊號，並將該複數驅動電極對電壓訊號直接相加或換算為電量訊號(Qp)後相加，獲得一電極對訊號數值(Psum)；同時或分別向所述選取的複數驅動電極對中的複數第一驅動電極輸入一脈衝訊號(VO)，獲得複數第一電壓訊號(VM)，將該複數第二電壓訊號(VM)直接相加或換算為電量訊號(QM)後相加，獲得一第一電訊號數值(Msum)；同時或分別向所述選取的複數驅動電極對中的複數第二驅動電極輸入一脈衝訊號(VO)，獲得複數第二電壓訊號(VN)，將該複數第二電壓訊號(VN)直接相加或換算為電量訊號(QN)後相加，獲得一第二電訊號數值(Nsum)；以及通過所述電極對訊號數值(Psum)、第一電訊號數值(Msum)及第二電訊號數值(Nsum)判斷所述觸控點在所述導電膜的低阻抗方向(D)的座標(Y)。
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