TWI453405B - 跌落測試裝置 - Google Patents

Description

跌落測試裝置

本發明涉及一種跌落測試裝置。

手機、數碼相機、MP3播放器、個人數位助理器(Personal Digital Assistant, 簡稱PDA)等小型消費性電子產品一般需進行跌落測試，以對該等電子產品進行剛強度檢測。為了提高測試效率，通常採用跌落測試裝置進行測試。

一種跌落測試裝置，其包括底座、支架、跌落台及定向夾具。支架基本垂直地固定於底座上。跌落台活動地裝設於該支架上，且其為框體結構。定向夾具固定於跌落台上。對檢測件進行跌落實驗時，首先根據需要調節跌落台之高度，然後，採用定向夾具夾持檢測件，最後，鬆開夾具，使檢測件從跌落台上跌落下來。

惟，上述跌落測試裝置於每次檢測後，需要再次將檢測件重新夾持於該定向夾具內，其難以進行連續之複數測試。

鑒於上述狀況，有必要提供一種可連續之複數測試之跌落測試裝置。

一種跌落測試裝置，其用於對檢測件進行跌落測試，跌落測試裝置包括底座、固定於底座上之固定支架、固定於固定支架上之第一驅動件及與第一驅動件固定連接之滑動支架，滑動支架上設有抬起臂，底座上設置有定位件，第一驅動件驅動滑動支架，使滑動支架相對於固定支架可滑動，從而使檢測件之一端被抬起，另一端與定位件相抵持。

上述跌落測試裝置之滑動支架設有抬起臂，底座上設置有定位件，使檢測件之一端被抬起臂抬起，跌落後仍處於原始位置，從而使跌落測試裝置對檢測件進行連續之複數測試。

下面結合附圖及實施方式對本發明之跌落測試裝置作進一步詳細說明。

請參閱圖1及圖2，本發明較佳實施方式之跌落測試裝置100包括一底座20、一固定支架30、一升降機構40、一第一控制件50、二復位機構60、一第二控制件70及一操作平台80。

固定支架30基本垂直地固定於底座20上。升降機構40固定於固定支架30上。二復位機構60設於底座20之相對兩側。第一控制件50及第二控制件70分別固定於底座20之同一側兩端上。操作平台80固定於底座20之另一相對側。第一控制件50用於控制升降機構40，第二控制件70用於控制復位機構60。操作平台80用於控制第一控制件50及第二控制件70。

請參閱圖3，底座20包括一基板21、一承載板23及複數定位件25。基板21之一端開設有連相互平行之收容槽213。承載板23固定於基板21上，其一端開設有相互平行之二限位缺口231。限位缺口231與基板21之收容槽213相對應。定位件25固定於基板21上，且靠近承載板23之周緣。具體於本實施方式中，定位件25為靠近承載板23之邊緣設置之定位柱，其數量為六。

請參閱圖4，固定支架30包括一支撐件31、二第一限位件32、一導向件34、二第二限位件35、一連接件36及二緩衝件37。

支撐件31基本垂直地固定於底座20之基板21上。支撐件31呈板體，其開設有二間隔設置之滑槽312。每一滑槽312從支撐件31與底座20之基板21相連之一端延伸至支撐件31之中部，以形成二第一連接部313及一位於該二第一連接部313中間位置之第二連接部315。

二第一限位件32分別與支撐件31之二第一連接部313固定連接。導向件34固定於支撐件31之第二連接部315上。導向件34為長條狀，其形成有沿其長度方向延伸之燕尾型之導軌341。二第二限位件35固定於支撐件31之第二連接部315上，且分別位於導向件34之兩端。

連接件36固定於支撐件31遠離滑槽312之一端。連接件36包括第一固定部361及與該第一固定部361之一端垂直相連之第二固定部363。第一固定部361固定於支撐件31上。第二固定部363遠離第一固定部361之一端延伸有相互間隔之二突起3631。

每一緩衝件37包括固定柱371及套設於固定柱371一端之緩衝墊373。固定柱371遠離緩衝墊373之一端穿設連接件36之突起3631。

請參閱圖5，升降機構40包括第一驅動件41、滑動支架43、滑動件44及行程調節件45。

本實施方式中，第一驅動件41為伸縮氣缸，其具有伸縮桿412。

滑動支架43包括一本體431、二抬起臂432、二轉軸434、二滾輪435。二抬起臂432從本體431之一端朝向本體同一側彎折延伸。每一轉軸434固定於抬起臂432之自由端。每一滾輪435可轉動地套設於轉軸434上。本實施方式中，滾輪435為橡膠滾輪。

滑動件44固定於滑動支架43之本體431靠近抬起臂432之一側。滑動件44上開設有滑槽441。本實施方式中，滑槽441為燕尾型之滑槽。

行程調節件45包括固定柱451及固定於固定柱451一端之套筒452。固定柱451固定於底座20之基板21上。第一驅動件41之伸縮桿412收容於套筒452內。

請參閱圖6，復位機構60包括固定件61、連接件63、第二驅動件65及抵持件66。連接件63之兩端分別固定連接固定件61及第二驅動件65。本實施方式中，第二驅動件65為驅動氣缸，其具有驅動軸651。抵持件66上開設有收容第二驅動件65端部之收容槽661。驅動軸651固定於收容槽661之底部。

本實例方式中，第一控制件50及第二控制件70均為電磁閥，操作平台80為具有顯示幕的控制器。

請一併參閱圖1至圖6，組裝跌落測試裝置100時，首先，將固定支架30之支撐件31基本垂直地固定於底座20之基板21一端。然後，升降機構40之第一驅動件41固定於固定支架30之支撐件31遠離底座20之一端。固定支架30之導向件34之導軌341收容於升降機構40之滑動件44之滑槽441內。升降機構40之行程調節件45之固定柱451固定於底座20之基板21上，第一驅動件41之伸縮桿412收容於行程調節件45之套筒452內。滑動支架43之本體431於固定支架30之二第一限位件32之間滑動。滑動支架43之抬起臂432可收容於底座20之基板21之收容槽213及承載板之限位缺口231內。接著，將第一控制件50固定於底座20之基板21上，並與升降機構40之第一驅動件41電連接。接著，將第二控制件70固定於底座20之基板21上，並與復位機構60之第二驅動件65電連接。最後，將操作平台80固定於底座20之基板21上，並與第一控制件50及第二控制件70電連接。

對檢測件10進行跌落測試時，首先，將檢測件10之一端放置於底座20之承載板23上，且與定位件25相抵持，另一端放置於升降機構40之滑動支架43之抬起臂432上。然後，於操作平台80上設置好測試之控制參數，例如測試之次數、頻率等。

本發明之跌落測試裝置100之滑動支架43設有抬起臂432，底座20上設置有定位件25，使檢測件10之一端被抬起臂432抬起，跌落後仍處於原始位置，從而使跌落測試裝置100對檢測件10進行連續之複數測試。

固定支架30上設置有緩衝件37，使滑動支架43滑動時，可與緩衝件37相抵持，從而使滑動支架43平穩之往返滑動。滑動支架43之抬起臂432上設置有滾輪435，使抬起臂432與檢測件10之間之滑動摩擦轉換為滾動摩擦，減小摩擦力，以免磨損檢測件10。行程調節件45可根據測試之高度之不同，調節滑動支架43運動之行程。復位機構60可進一步地對檢測件10進行定位，從而提高測試精度。

可理解，第一控制件50及第二控制件70均可省略，此時，由操作平台80控制升降機構40之第一驅動件41及復位機構60之第二驅動件65。滑動支架43之抬起臂432之個數可以為一或二以上。

綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

10‧‧‧檢測件

20‧‧‧底座

21‧‧‧基板

213‧‧‧收容槽

23‧‧‧承載板

231‧‧‧限位缺口

25‧‧‧定位件

30‧‧‧固定支架

31‧‧‧支撐件

312‧‧‧滑槽

313‧‧‧第一連接部

315‧‧‧第二連接部

32‧‧‧第一限位件

34‧‧‧導向件

341‧‧‧導軌

35‧‧‧第二限位件

36‧‧‧連接件

361‧‧‧第一固定部

363‧‧‧第二固定部

3631‧‧‧突起

37‧‧‧緩衝件

371‧‧‧固定柱

373‧‧‧緩衝墊

40‧‧‧升降機構

41‧‧‧第一驅動件

412‧‧‧伸縮桿

43‧‧‧滑動支架

431‧‧‧本體

432‧‧‧抬起臂

434‧‧‧轉軸

435‧‧‧滾輪

44‧‧‧滑動件

441‧‧‧滑槽

45‧‧‧行程調節件

451‧‧‧固定柱

452‧‧‧套筒

50‧‧‧第一控制件

60‧‧‧復位機構

61‧‧‧固定件

63‧‧‧連接件

65‧‧‧第二驅動件

651‧‧‧驅動軸

66‧‧‧抵持件

661‧‧‧收容槽

70‧‧‧第二控制件

80‧‧‧操作平台

100‧‧‧跌落測試裝置

圖1係本發明之跌落測試裝置之立體圖，該跌落測試裝置包括底座、固定支架、升降機構及復位機構。

圖2係圖1所示之跌落測試裝置之局部分解圖。

圖3係圖1所示之跌落測試裝置之底座之放大分解立體圖。

圖4係圖1所示之跌落測試裝置之固定支架之放大分解立體圖。

圖5係圖1所示之跌落測試裝置之升降機構之放大分解立體圖。

圖6係圖1所示之跌落測試裝置之重定機構之放大分解立體圖。

10‧‧‧檢測件

20‧‧‧底座

30‧‧‧固定支架

40‧‧‧升降機構

50‧‧‧第一控制件

60‧‧‧復位機構

70‧‧‧第二控制件

80‧‧‧操作平台

100‧‧‧跌落測試裝置

Claims (10)

1. 一種跌落測試裝置，其用於對檢測件進行跌落測試，該跌落測試裝置包括底座及固定於該底座上之固定支架，其改良在於：該跌落測試裝置還包括固定於該固定支架上之第一驅動件及與該第一驅動件固定連接之滑動支架，該滑動支架上設有抬起臂，該底座上設置有定位件，該第一驅動件驅動該滑動支架，使該滑動支架相對於該固定支架可滑動，從而使該檢測件之一端被抬起，另一端與該定位件相抵持。
2. 如申請專利範圍第1項所述之跌落測試裝置，其中該抬起臂之自由端設有滾輪。
3. 如申請專利範圍第1項所述之跌落測試裝置，其中該底座包括基板及固定於該基板上之承載板，該定位件固定該基板上且靠近該承載板邊緣。
4. 如申請專利範圍第3項所述之跌落測試裝置，其中該基板上開設有收容該抬起臂之收容槽，該承載板上開設有收容該抬起臂之限位缺口。
5. 如申請專利範圍第3項所述之跌落測試裝置，其中該定位件為靠近該承載板之邊緣設置之定位柱。
6. 如申請專利範圍第3項所述之跌落測試裝置，其中該固定支架包括基本垂直地固定於該基板上之支撐件及固定於該支撐件上之導向件，該滑動支架設有相對於該導向件滑動之滑動件。
7. 如申請專利範圍第6項所述之跌落測試裝置，其中該固定支架上還包括固定於該支撐件上且與該滑動支架相抵持之緩衝件。
8. 如申請專利範圍第6項所述之跌落測試裝置，其中該滑動件上開設有滑槽，該導向件上設有沿其長度方向延伸且與該滑槽相配合之導軌。
9. 如申請專利範圍第3項所述之跌落測試裝置，其中該跌落測試裝置還包括固定於該基板上且位於該承載板之相對兩側之二復位機構。
10. 如申請專利範圍第9項所述之跌落測試裝置，其中每一復位機構包括抵持件及驅使該抵持件運動之第二驅動件。