TWM485398U - 尺寸測試裝置 - Google Patents

Description

尺寸測試裝置

本新型涉及一種測試裝置，尤其涉及一種測試工件尺寸之尺寸測試裝置。

先前技術對工件尺寸進行測試時，需要對工件之尺寸進行測試，然後根據測試結果與預設範圍進行對比，判斷工件為良品或不良品。現有工件尺寸測試方法中，通常由工人用千分錶測試工件之尺寸，使得測試花費時間長，且測試效率較低。

鑒於以上內容，有必要提供一種能夠提高測試效率之尺寸測試裝置。

一種尺寸測試裝置，用以自動測試工件之尺寸，該尺寸測試裝置包括測試台、傳送帶、限位機構、測試機構、吸取機構及控制器，該控制器與該測試機構及該吸取機構電性連接。該傳送帶活動地安裝於該測試台上，該限位機構與該測試台固定連接，並位於該傳送帶上方，以將工件限位於該測試機構下方。該測試機構及該吸取機構均安裝於該測試台上，該測試機構能夠測試工件之尺寸，並將測試資料傳輸至該控制器；該控制器將該測試機構傳輸之資料與預設範圍進行對比，以判斷該工件之尺寸是否合格，並對應控制該吸取機構吸取不合格之工件。

尺寸測試裝置採用之限位機構將工件限位於測試機構之下方，測試機構測試工件之厚度，並將測試資料傳輸至控制器上，控制器根據測試資料，並與預設尺寸範圍進行對比，以判斷工件之尺寸是否合格，當工件之尺寸不合格時，控制器控制吸取機構從傳送帶上吸取不良之工件，從而節省測試時間，進而提高了測試效率。

下面將結合附圖及具體實施方式對本新型之尺寸測試裝作進一步詳細說明。

請參閱圖1及圖2，本新型之尺寸測試裝置100，用以自動測試工件200之厚度。本實施方式中，尺寸測試裝置100用於測試工件200之厚度是否滿足預定之尺寸範圍。尺寸測試裝置100包括測試台10、傳送帶30、限位機構50、測試機構70、吸取機構90及控制器（圖未示）。傳送帶30活動地安裝於測試台10上，限位機構50與測試台10固定連接，並位於傳送帶30上方，以將工件200限位於測試機構70下方。測試機構70及吸取機構90均安裝於測試台10上，測試機構70能夠測試工件200之尺寸，並將測試資料傳輸至控制器。控制器與測試機構70及吸取機構90電性連接，控制器將測試機構70傳輸之資料與預設範圍進行對比，以判斷工件200之尺寸是否合格，並對應控制吸取機構吸取不合格之工件200。

測試台10包括支架11、第一固定架13及第二固定架15。支架11設有支撐部112。第一固定架13固定安裝於支撐部112上，第二固定架15橫跨於支撐部112二側，並與第一固定架13平行設置。第二固定架15靠近第一固定架13之一側上設有回收部151。

傳送帶30活動地安裝於支架11之支撐部112上，並位於第一固定架13及第二固定架15之下方，以傳輸工件200。

請一併參閱圖3，限位機構50包括二導向桿51及複數限位組件53。二導向桿51平行間隔安裝於第一固定架13及第二固定架15上，並位於傳送帶30之上方，工件200沿二導向桿51之間傳輸至複數限位組件53處。複數限位組件53二二相對安裝於二導向桿51上，每一限位組件53包括一固定件531、二轉軸532及二轉輪533。固定件531固定安裝於導向桿51之內側面上，二轉軸532分別穿設於固定件531之二端部。二轉輪533分別轉動地安裝於對應之二轉軸532上，並位於導向桿51和固定件531之間，工件200之頂面與轉輪533相抵持，從而防止工件200上下晃動。

測試機構70固定安裝於第一固定架13上，其包括測試件71及測試控制器73。測試件71安裝於第一固定架13上，並位於傳送帶30上方。測試控制器73安裝於第一固定架13上，並與測試件71相連接，以使在測試控制器73之控制下，測試件71朝向工件200之表面射出鐳射，使得測試控制器73獲得測試資料，並將測試資料傳輸至控制器。本實施方式中，測試機構70為鐳射檢測器。

請一併參閱圖4及圖5，吸取機構90固定安裝於第二固定架15上，其包括導向件91、第一驅動件93、滑動件95、二第二驅動件97、支撐板98、及複數吸取件99。導向件91固定安裝於第二固定架15上。導向件91包括二固定部912及與二固定部912相連接之三滑動桿913。二固定部912分別相對固定安裝於第二固定架15上，三滑動桿913平行間隔設置。第一驅動件93固定安裝於其中一固定部912上，第一驅動件93包括驅動本體931及與驅動本體931相連接之驅動部933。驅動本體931固定安裝於其中一固定部912上，驅動部933突出於固定部912外。本實施方式中，第一驅動件93為伸縮氣缸。滑動件95滑動地安裝於三滑動桿913上，並與驅動部933相連接，以使在第一驅動件93之驅動下，滑動件95沿三滑動桿913滑動。二第二驅動件97分別安裝於滑動件95相對之二側上。支撐板98與二第二驅動件97相連接，並位於傳送帶30之上方，以使在第二驅動件97之驅動下，支撐板98朝向傳送帶30移動。複數吸取件99分別間隔安裝於支撐板98上，並與工件200之表面相抵持，以驅動吸取件99吸取工件200。

控制器裝設於鄰近測試台10之位置處，並分別與測試機構70之測試控制器73、第一驅動件93及第二驅動件97電性連接。本實施方式中，控制器中設有測試點之預設尺寸範圍，預設尺寸範圍為符合要求之工件200之尺寸範圍。當測試件71向工件200發射鐳射，使得測試控制器73測試出測試資料，並將測試資料傳輸至控制器，控制器根據測試資料，並與預設厚度範圍進行對比。當工件200之厚度為不良時，第一驅動件93驅動滑動件95移動至不合格工件200上方，第二驅動件97驅動吸取件99朝向不合格工件200移動，並與工件200之表面相抵持，以使複數吸取件99吸取工件200之表面，第一驅動件93驅動滑動件95移動至回收部151處，從而將不合格之工件200傳輸至回收部151處。

請一併參閱圖2，組裝時，首先，第一固定架13固定安裝於支撐部112上，第二固定架15橫跨於支撐部112；然後，傳送帶30活動地安裝於支架11之支撐部112上；接著，二導向桿51平行安裝於第一固定架13及第二固定架15上，固定件531固定安裝於導向桿51之內側面上，二轉軸532分別轉動地穿設於固定件531之二端部，二轉輪533分別轉動地安裝於對應之二轉軸532上；再接著，測試機構70之測試件71安裝於第一固定架13上，測試控制器73安裝於第一固定架13上，並與測試件71相連接；吸取機構90之導向件91固定安裝於第二固定架15上，第一驅動件93固定安裝於其中一固定部912上，滑動件95滑動地安裝於三滑動桿913上，並驅動部933相連接 ，二第二驅動件97分別安裝於滑動件95相對之二側上，支撐板98與二第二驅動件97相連接，複數吸取件99分別間隔安裝於支撐板98上。

使用時，首先，工件200藉由傳送帶30傳輸至二導向桿51之間，工件200之頂部與限位機構50之轉輪533相抵持；然後，在測試控制器73之驅動下，測試件71朝向工件200射出鐳射，使得測試控制器73獲得測試資料，並將測試資料傳輸至控制器；接著，傳送帶30將工件200傳輸至吸取機構90處；同時，控制器根據測試資料，並與預設厚度範圍進行對比，以判斷工件200之厚度是否合格，當工件200之厚度不合格時，控制器控制第一驅動件93及第二驅動件97，以使第一驅動件93驅動滑動件95移動至不合格工件200上方，第二驅動件97驅動吸取件99朝向不合格工件200移動，並與工件200之表面相抵持，以使複數吸取件99吸取工件200之表面，第一驅動件93驅動滑動件95移動至回收部151處。

尺寸測試裝置100採用之限位機構50將工件200位於測試機構70之下方，測試機構70測試工件200之厚度，並將測試資料傳輸至控制器上，控制器根據測試資料，並與預設厚度範圍進行對比，以判斷工件200之厚度是否合格，當工件200之厚度不合格時，控制器控制第一驅動件93及第二驅動件97，以將不良之工件200傳輸至回收部151處，從而節省測試時間，進而提高了測試效率。

可理解，第二驅動件97及滑動桿913之數量不限於本實施方式中之數量，其數量可為一或任意複數。可理解，尺寸測試裝置100亦可測試工件200之寬度及長度，對應地，將測試件71對應地安裝於工件200側壁處即可。

綜上所述，本新型符合新型專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本新型之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本新型精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之如申請專利範圍內。

100‧‧‧尺寸測試裝置

200‧‧‧工件

10‧‧‧測試台

11‧‧‧支架

112‧‧‧支撐部

13‧‧‧第一固定架

15‧‧‧第二固定架

151‧‧‧回收部

30‧‧‧傳送帶

50‧‧‧限位機構

51‧‧‧導向桿

53‧‧‧限位組件

531‧‧‧固定件

532‧‧‧轉軸

533‧‧‧轉輪

70‧‧‧測試機構

71‧‧‧測試件

73‧‧‧測試控制器

90‧‧‧吸取機構

91‧‧‧導向件

912‧‧‧固定部

913‧‧‧滑動桿

93‧‧‧第一驅動件

931‧‧‧驅動本體

933‧‧‧驅動部

95‧‧‧滑動件

97‧‧‧第二驅動件

98‧‧‧支撐板

99‧‧‧吸取件

圖1係本新型實施方式之尺寸測試裝置之立體示意圖。

圖2係圖1所示尺寸測試裝置之另一視角之立體示意圖。

圖3係圖1中III處之放大示意圖。

圖4係圖1所示尺寸測試裝置之吸取機構之組裝示意圖。

圖5係圖4所示尺寸測試裝置之吸取機構之分解示意圖。

100‧‧‧尺寸測試裝置

200‧‧‧工件

10‧‧‧測試台

11‧‧‧支架

112‧‧‧支撐部

13‧‧‧第一固定架

15‧‧‧第二固定架

151‧‧‧回收部

30‧‧‧傳送帶

50‧‧‧限位機構

70‧‧‧測試機構

90‧‧‧吸取機構

Claims (9)

1. 一種尺寸測試裝置，用以自動測試工件之尺寸，其改良在於：該尺寸測試裝置包括測試台、傳送帶、限位機構、測試機構、吸取機構及控制器，該控制器與該測試機構及該吸取機構電性連接；該傳送帶活動地安裝於該測試台上，該限位機構與該測試台固定連接，並位於該傳送帶上方，以將工件限位於該測試機構下方；該測試機構及該吸取機構均安裝於該測試台上，該測試機構能夠測試工件之尺寸，並將測試資料傳輸至該控制器；該控制器將該測試機構傳輸之資料與預設範圍進行對比，以判斷該工件之尺寸是否合格，並對應控制該吸取機構吸取不合格之工件。
2. 如申請專利範圍第1項所述之尺寸測試裝置，其中該測試機構包括測試件及測試控制器，該測試件及測試控制器均安裝於該測試台上，該測試件與該測試控制器相連接，以使該測試件測試工件之尺寸，該測試控制器獲得測試資料，並將測試資料傳輸至該控制器。
3. 如申請專利範圍第1項所述之尺寸測試裝置，其中該測試台包括支架、第一固定架及第二固定架，該支架包括支撐部，該第一固定架固定安裝於該支撐部上，該第二固定架橫跨於該支撐部，並與該第一固定架平行設置，該傳送帶活動地安裝於該支撐部上，並位於該第一固定架及該第二固定架下方，該測試機構固定安裝於該第一固定架上，該吸取機構安裝於該第二固定架上。
4. 如申請專利範圍第3項所述之尺寸測試裝置，其中該第二固定架靠近該傳輸帶之一側上設有回收部，該吸取機構活動地安裝於該第二固定架上，以將不合格之工件搬運至該回收部上。
5. 如申請專利範圍第3項所述之尺寸測試裝置，其中該限位機構包括二導向桿及複數限位組件，該二導向桿平行安裝於該第一固定架之底部，並位於該傳送帶之上方，該複數限位組件二二相對安裝於該二導向桿上，以將工件限位於該測試機構下方。
6. 如申請專利範圍第5項所述之尺寸測試裝置，其中該每一限位組件均包括固定件、二轉軸及二轉輪，該固定件固定安裝於該導向桿之內側面上，該二轉軸分別穿設於該固定件之二端部，該二轉輪分別轉動地安裝於對應之該二轉軸上，並位於該導向桿和該固定件之間。
7. 如申請專利範圍第3項所述之尺寸測試裝置，其中該吸取機構包括導向件、第一驅動件、滑動件、至少一第二驅動件、支撐板及複數吸取件，該導向件固定安裝於該測試台之第二固定架上，該第一驅動件固定安裝於該導向件，該滑動件滑動地安裝於該導向件上，並該第一驅動件相連接，該至少一第二驅動件分別安裝於該滑動件相對之二側上，該支撐板與該二第二驅動件相連接，並位於該傳送帶之上方，該複數吸取件分別間隔安裝於該支撐板上。
8. 如申請專利範圍第7項所述之尺寸測試裝置，其中該導向件包括二固定部及與該二固定部相連接之至少一滑動桿，該二固定部分別相對固定安裝於該測試台上，該至少一滑動桿位於二該固定部之間。
9. 如申請專利範圍第7項所述之尺寸測試裝置，其中該第一驅動件包括驅動本體及與該驅動本體相連接驅動部，該驅動本體固定安裝於該導向件上，該驅動部突出於該導向件外，並與該滑動件相連接。