TWI452277B - 鏡頭模組測試系統 - Google Patents
鏡頭模組測試系統 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI452277B TWI452277B TW100145151A TW100145151A TWI452277B TW I452277 B TWI452277 B TW I452277B TW 100145151 A TW100145151 A TW 100145151A TW 100145151 A TW100145151 A TW 100145151A TW I452277 B TWI452277 B TW I452277B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- lens module
- test
- lens
- component
- moving component
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/70591—Testing optical components
- G03F7/706—Aberration measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0207—Details of measuring devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
- G01M11/0264—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested by using targets or reference patterns
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
- G01M11/0235—Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Geometry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Description
本發明涉及一種測試系統,尤其係涉及一種鏡頭模組之測試系統。
鏡頭模組一般包括至少二鏡頭,鏡頭模組在出廠前需測試每一鏡頭之成像性能以確定鏡頭模組之品質。習知之鏡頭模組測試系統在測試鏡頭時,需要人工從指定位置移取待測試鏡頭並放置在測試平台之測試位置,然後藉由改變待成像物體與待測試鏡頭之距離及相應調整圖像感測器與待測試鏡頭之距離,並抓取圖像以判斷鏡頭之品質。待前一鏡頭測試完畢後,人工旋轉鏡頭模組以便測試另一鏡頭,待整鏡頭模組測試完畢,人工移走已完成測試之鏡頭模組並放回到初始之指定位置,然後再重新移取一待測試之鏡頭模組並放置在測試位置,依次迴圈。由於整測試過程中,需要人工不斷取放鏡頭模組,尤其係鏡頭需準確放置在測試位置才能保證測試結果準確,測試效率低下。另,在人工取放鏡頭之過程中,鏡頭易造成污染而影響鏡頭之性能。
有鑒於此,有必要提供一種測試效率高、污染少之鏡頭模組測試系統。
一種鏡頭模組測試系統,其用於測試鏡頭模組之鏡頭之成像品質
,該鏡頭模組測試系統包括測試裝置。該鏡頭模組測試系統還包括移載裝置,該移載裝置包括抓取組件、支撐組件、裝設於該支撐組件上之移動組件及用於控制該抓取組件及移動組件之控制器,該抓取組件用於抓取該鏡頭模組並放置於該移動組件上,該移動組件用於移動該鏡頭模組至測試位置,以便該測試裝置檢測該鏡頭模組。
所述鏡頭模組測試系統包括移載裝置,該移載裝置包括抓取組件及移動組件,該抓取組件用於移取鏡頭模組,該移動組件移動該鏡頭模組之鏡頭至測試位置,從而實現了鏡頭模組測試之自動化作業,提高了測試效率,同時,避免了因人工取放鏡頭模組造成之污染。
100‧‧‧鏡頭模組測試系統
10‧‧‧鏡頭模組
12‧‧‧基板
14‧‧‧鏡頭
30‧‧‧測試裝置
31‧‧‧箱體
312‧‧‧底板
314‧‧‧頂板
316‧‧‧側壁
318‧‧‧開口
32‧‧‧光源
34‧‧‧擴散板
35‧‧‧位置感測器
36‧‧‧測試板
362‧‧‧圖案
38‧‧‧圖像感測器
39‧‧‧位置感測器
50‧‧‧移載裝置
502‧‧‧抓取組件
5022‧‧‧機器人臂部件
5024‧‧‧手爪
503‧‧‧支撐組件
504‧‧‧移動組件
5042‧‧‧滑軌
5044‧‧‧滑動件
5046‧‧‧旋轉軸
5048‧‧‧安裝部
506‧‧‧控制器
70‧‧‧測試盤
圖1係本發明實施例一之鏡頭模組測試系統示意圖。
圖2係本發明實施例二之鏡頭模組測試系統裝有鏡頭模組之測試盤之示意圖。
下面以具體實施方式並結合附圖對本發明實施方式提供之鏡頭模組測試系統作進一步詳細說明。
請參閱圖1,本發明之鏡頭模組10包括基板12及二鏡頭14。二鏡頭14固定於基板12之相對二端,且二鏡頭14固定於基板12之同一面上。
本發明實施例一之鏡頭模組測試系統100用於檢測鏡頭模組10之鏡頭14之成像品質。鏡頭模組測試系統100包括測試裝置30及用
於配合測試裝置30測試鏡頭模組10之移載裝置50。
測試裝置30包括一“ㄈ”形箱體31、依次層疊裝設於箱體31內之光源32、擴散板34、測試板36及圖像感測器38。箱體31包括底板312、與底板312相對且相互平行設置之頂板314、設置於底板312與頂板314之間之側壁316,側壁316靠近移載裝置50之一側形成有開口318,以便於移載裝置50取放、移動鏡頭模組10。
光源32固定於箱體31之底板312上,光源32上方設置有擴散板34,擴散板34上方設置有測試板36。測試板36上繪製有圖案362,擴散板34為由透明有機玻璃製成之導光板,光源32發出之光經擴散板34擴散後變成均勻之面光源,並照射在測試板36之圖案362上。圖像感測器38位於圖案362之正上方,本實施例中,圖像感測器38固定於箱體31之頂板314之內表面上,圖像感測器38用於感測測試板36上之圖案362經過鏡頭14所成之像。本實施例中,利用鏡頭成像原理,藉由調整圖案362與鏡頭14之距離及圖像感測器38與鏡頭14之距離,藉由分析鏡頭14之調製傳遞函數(Modulation Transfer Function,MTF)以判斷鏡頭14之品質。
測試裝置30還包括位置感測器39,其固定於箱體31之側壁316之內表面上。位置感測器39為鐳射感測器,其用於感測鏡頭14有無準確放置在測試位置,本實施例中,位置感測器39與測試位置大致在同一高度。
移載裝置50包括抓取組件502、支撐組件503、裝設於支撐組件503上之移動組件504及用於控制抓取組件502及移動組件504工作之控制器506。本實例之移載裝置50為具有抓取功能之機械臂之機器人。
抓取組件502用於抓取鏡頭模組10並放置於移動組件504上。移動組件504用於移動鏡頭模組10至測試位置或將鏡頭模組10移出測試裝置30。
抓取組件502包括與控制器506電性相連之機器人臂部件5022及固定于機器人臂部件5022末端之手爪5024。控制器506能夠控制機器人臂部件5022之水準及升降移動,並控制手爪5024抓取或釋放鏡頭模組10。本實施例中,手爪5024由聚醚醚酮(Polyether Ether Ketone,PEEK)樹脂製成,聚醚醚酮樹脂具有耐高溫、機械性能優異、耐磨性好等優點,特別係聚醚醚酮樹脂製成之手爪5024軟硬適中,可以準確抓取鏡頭模組10之同時,又可避免夾傷鏡頭模組10。
移動組件504包括滑軌5042、滑動件5044及旋轉軸5046。滑軌5042固定於支撐組件503上,且滑軌5042與控制器506電性連接,滑動件5044滑動地設置於滑軌5042上,旋轉軸5046轉動地裝設於滑動件5044靠近測試裝置30之一端。旋轉軸5046之末端設置有用於裝設鏡頭模組10之安裝部5048。控制器506能夠控制滑動件5044水準、升降移動,控制滑動件5044沿滑軌5042滑動及控制旋轉軸5046旋轉。
鏡頭模組測試系統100工作時,移動組件504滑動至滑軌5042靠近抓取組件502之一端,機器人臂部件5022帶動手爪5024移動至待測試鏡頭模組10之上方,手爪5024抓取一鏡頭模組10並放置於旋轉軸5046之安裝部5048,本實施例中,當鏡頭模組10放置於旋轉軸5046末端時,鏡頭模組10之二鏡頭14以旋轉軸5046為對稱軸對稱分佈。然後,移動組件504滑動至滑軌5042遠離抓取組件502之
一端,此時,遠離滑軌之鏡頭14位於測試裝置30之測試位置,位置感測器39感測到鏡頭14在準確位置時,測試裝置30即開始測試,待其中一鏡頭14測試完畢後,旋轉軸5046旋轉180度,二鏡頭14互換位置,測試裝置30可以測試另一鏡頭14。二鏡頭14均測試完畢後,移動組件504重新滑動至滑軌靠近抓取組件502之一端,抓取組件502移動該鏡頭模組10至初始位置,然後重新抓取一待測試鏡頭模組10並放置於旋轉軸5046之末端,如此循環往復,以實現鏡頭模組10之自動化測試。
請同時參閱圖2,本發明實施例二之鏡頭模組測試系統100與實施例一之鏡頭模組測試系統100大體相同,其不同在於:實施例二還包括一測試盤70,鏡頭模組10放置於測試盤70內。測試時,裝有鏡頭模組10之測試盤70裝設於旋轉軸5046之安裝部5048上,控制器506藉由控制旋轉軸5046之水準移動以連續測試鏡頭14,從而進一步提高鏡頭14之測試效率。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,本發明之範圍並不以上述實施方式為限,舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧鏡頭模組測試系統
10‧‧‧鏡頭模組
12‧‧‧基板
14‧‧‧鏡頭
30‧‧‧測試裝置
31‧‧‧箱體
312‧‧‧底板
314‧‧‧頂板
316‧‧‧側壁
318‧‧‧開口
32‧‧‧光源
34‧‧‧擴散板
35‧‧‧位置感測器
36‧‧‧測試板
362‧‧‧圖案
38‧‧‧圖像感測器
39‧‧‧位置感測器
50‧‧‧移載裝置
502‧‧‧抓取組件
5022‧‧‧機器人臂部件
5024‧‧‧手爪
503‧‧‧支撐組件
504‧‧‧移動組件
5042‧‧‧滑軌
5044‧‧‧滑動件
5046‧‧‧旋轉軸
5048‧‧‧安裝部
506‧‧‧控制器
Claims (6)
- 一種鏡頭模組測試系統,其用於測試鏡頭模組之鏡頭之成像品質,該鏡頭模組測試系統包括測試裝置,其改良在於:該測試裝置包括箱體、依次層疊設置於該箱體內之光源、設置於該光源上方的擴散板、設置於該擴散板上方的測試板及設置於該測試板正上方的圖像感測器,該擴散板用於擴散該光源發出之光,該測試板上繪製有圖案,該圖像感測器用於感測該圖案經該鏡頭所成之像;該鏡頭模組測試系統還包括移載裝置,該移載裝置包括抓取組件、支撐組件、裝設於該支撐組件上之移動組件及用於控制該抓取組件及移動組件之控制器,該抓取組件用於抓取該鏡頭模組並放置於該移動組件上,放置於該移動組件上之鏡頭模組位於該圖像感測器與該測試板之間,該移動組件用於移動該鏡頭模組至測試位置,以便該測試裝置檢測該鏡頭模組,該移動組件還用於調整該測試板與該鏡頭模組之距離及該圖像感測器與該鏡頭模組之距離;該鏡頭模組測試系統還包括測試盤,該鏡頭模組裝設於該測試盤內,該測試盤載於該移動組件上。
- 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組測試系統,其中該測試裝置還包括固定於該箱體之側壁上之位置感測器,且該位置感測器與該測試位置在同一高度,該感測器用於感測該鏡頭模組之鏡頭之位置。
- 如申請專利範圍第2項所述之鏡頭模組測試系統,其中該位置感測器為鐳射感測器。
- 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組測試系統,其中該抓取組件包括機器人臂部件及固定于該機器人臂部件末端之手爪。
- 如申請專利範圍第4項所述之鏡頭模組測試系統,其中該手爪由聚醚醚酮 樹脂製成。
- 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組測試系統,其中該移動組件包括滑軌、滑動設置於該滑軌上之滑動件及裝設於該滑動件靠近該測試裝置一端之旋轉軸,該旋轉軸之末端設置有安裝部。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100145151A TWI452277B (zh) | 2011-12-07 | 2011-12-07 | 鏡頭模組測試系統 |
US13/663,580 US8780341B2 (en) | 2011-12-07 | 2012-10-30 | Inspecting system for lens module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100145151A TWI452277B (zh) | 2011-12-07 | 2011-12-07 | 鏡頭模組測試系統 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201323846A TW201323846A (zh) | 2013-06-16 |
TWI452277B true TWI452277B (zh) | 2014-09-11 |
Family
ID=48571708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW100145151A TWI452277B (zh) | 2011-12-07 | 2011-12-07 | 鏡頭模組測試系統 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8780341B2 (zh) |
TW (1) | TWI452277B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104608076A (zh) * | 2015-02-11 | 2015-05-13 | 李忠炎 | 路灯测试配光曲线专用夹具 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5726750A (en) * | 1995-06-29 | 1998-03-10 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive taste characteristics measuring apparatus and tray used in the apparatus |
JP2000097671A (ja) * | 1998-09-28 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | プリント基板の外観検査装置及び外観検査方法 |
TW200721356A (en) * | 2005-09-02 | 2007-06-01 | Axcelis Tech Inc | Workpiece transfer device |
TW200801476A (en) * | 2006-06-02 | 2008-01-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Device and method for testing lens module |
TW200823445A (en) * | 2006-11-27 | 2008-06-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Optic lens tester |
TW201009412A (en) * | 2008-08-29 | 2010-03-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Apparatus for testing lens module |
TWM387994U (en) * | 2010-04-30 | 2010-09-01 | Nat Applied Res Laboratories | Fixture device with automatic testing lens replacement feature |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2679186B2 (ja) * | 1988-12-05 | 1997-11-19 | 株式会社ニコン | 露光装置 |
AU2003257309A1 (en) * | 2002-08-13 | 2004-02-25 | Microbotics Corporation | Microsurgical robot system |
CN100592201C (zh) * | 2006-06-02 | 2010-02-24 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光学镜头测试装置及测试方法 |
CN101191995A (zh) * | 2006-11-27 | 2008-06-04 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光学镜头测试装置 |
CN101650258B (zh) * | 2008-08-14 | 2012-03-14 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头模组检测装置 |
-
2011
- 2011-12-07 TW TW100145151A patent/TWI452277B/zh not_active IP Right Cessation
-
2012
- 2012-10-30 US US13/663,580 patent/US8780341B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5726750A (en) * | 1995-06-29 | 1998-03-10 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Non-destructive taste characteristics measuring apparatus and tray used in the apparatus |
JP2000097671A (ja) * | 1998-09-28 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | プリント基板の外観検査装置及び外観検査方法 |
TW200721356A (en) * | 2005-09-02 | 2007-06-01 | Axcelis Tech Inc | Workpiece transfer device |
TW200801476A (en) * | 2006-06-02 | 2008-01-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Device and method for testing lens module |
TW200823445A (en) * | 2006-11-27 | 2008-06-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Optic lens tester |
TW201009412A (en) * | 2008-08-29 | 2010-03-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Apparatus for testing lens module |
TWM387994U (en) * | 2010-04-30 | 2010-09-01 | Nat Applied Res Laboratories | Fixture device with automatic testing lens replacement feature |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201323846A (zh) | 2013-06-16 |
US8780341B2 (en) | 2014-07-15 |
US20130148110A1 (en) | 2013-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7723709B2 (en) | Substrate holding apparatus, and inspection or processing apparatus | |
KR101346048B1 (ko) | 기판 검사 장치 | |
TWI452277B (zh) | 鏡頭模組測試系統 | |
CN211669102U (zh) | 基板检查装置 | |
JPS6146971B2 (zh) | ||
CN213121641U (zh) | 一种表面检测视觉装置及检测*** | |
JP2010286342A (ja) | 基板保持装置、欠陥検査装置及び欠陥修正装置 | |
JP2006142243A (ja) | 部品振分装置 | |
KR20180092771A (ko) | 검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법 | |
CN212780558U (zh) | Ccd视频检测装置 | |
CN210720128U (zh) | 用于检测面板的设备 | |
CN113751363A (zh) | 一种智能穿戴设备电路板生产用自动上料装置 | |
JP3791698B2 (ja) | ウエハ検査装置 | |
CN112326659B (zh) | 样本检测*** | |
CN114268708A (zh) | 调焦点胶一体机及摄像模组的调焦点胶的方法 | |
JP2008215976A (ja) | 基板検査装置 | |
CN219532954U (zh) | 一种aoi检测设备 | |
CN219891076U (zh) | 用于自动光学检测的载台压框装置及包含其的自动光学检测*** | |
CN113399377B (zh) | 除尘头、粘性除尘装置、灰尘清除装置及方法 | |
CN213121642U (zh) | 一种表面检测视觉装置及检测*** | |
CN211263146U (zh) | 一种面板旋转检测装置 | |
JP2013156204A (ja) | 光学部品検査装置 | |
CN118169038A (zh) | 一种光学检测设备 | |
CN116165215A (zh) | 一种晶圆承载盘和晶圆缺陷检测装置 | |
WO2012157466A1 (ja) | X線検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |