TWI432733B - 具備探針之電性測試裝置 - Google Patents

Description

具備探針之電性測試裝置

本發明是有關於一種測試裝置，且特別是有關於一種用於電性測試的測試裝置。

圖1是習知一種測試裝置的示意圖。請參照圖1，習知測試裝置100包括基板110以及探針板120，其中探針板120係透過樞軸130而樞接於基板110。探針板120可掀起或蓋上，圖1係繪示探針板120處於蓋上的狀態。此外，基板110具有用以承載液晶顯示面板50的承載部112。探針板120具有用以測試液晶顯示面板50的探針122，以及暴露出液晶顯示面板50的開口124。

習知測試裝置100的測試方法是先掀起探針板120，以將液晶顯示面板50放置於承載部112。之後，再蓋上探針板120，以使探針板120的探針122接觸液晶顯示面板50的測試線路52，進而對液晶顯示面板50進行電性測試。此外，除了對液晶顯示面板50進行電性測試外，測試人員也會對液晶顯示面板50進行目視檢測。

然而，習知技術是用轉動探針板120的方式將探針板120蓋上，以使探針122接觸測試線路52。由於此方式容易導致探針122刮到測試線路52，所以測試線路52容易受損，並因此而影響測試結果。而且，由於探針122較長，所以此方式容易導致探針122被折斷。此外，有些探針122雖未被折斷，但卻會被折彎而與相鄰的探針122接觸，如此將產生短路的現象，導致用於測試的電路板損壞。

另外，雖然探針板120的開口124可供測試人員對液晶顯示面板50進行目視檢測，但在某些檢測角度下，探針板120 會擋住測試人員的視線，導致液晶顯示面板50的部分缺陷不易被檢測出。

本發明提供一種具備探針之電性測試裝置，以避免探針及待測物在測試時受損。

為達上述優點，本發明提出一種具備探針之電性測試裝置，其包括承載板、移動基座、探針板、至少一彈性件、蓋板以及推動件。承載板具有至少一定位孔，移動基座配置於承載板的承載面上，且移動基座適於移動於原始位置與測試位置之間。探針板具有固定於移動基座的第一部分以及從第一部分延伸至移動基座外的第二部分。第一部分具有朝下方延伸並穿過移動基座的至少一定位銷，而第二部分具有朝下方延伸的至少一探針。彈性件抵靠於探針板的第一部分與移動基座之間，而蓋板固定於移動基座上，且位於探針板之第一部分上方。推動件可移動地配置於探針板的第一部分與蓋板之間。推動件具有至少一抵靠部，而此抵靠部適於抵靠於探針板之至少一抵靠壁。推動件適於透過抵靠部推動探針板，以將移動基座推動至測試位置。當推動件受推力推動而將移動基座推動至測試位置後，定位銷伸入定位孔中，而繼續施加的推力更推使推動件之抵靠部沿探針板之抵靠壁移動至抵靠壁上方，以將探針板下壓一段距離。

在本發明之一實施例中，上述之具備探針之電性測試裝置更包括施力件，其可移動地配置於蓋板上。蓋板具有滑槽，而施力件具有穿過滑槽並連接至推動件的連接部。當移動基座位於原始位置時，施力件的連接部位於滑槽的第一端，而當移動基座位於測試位置且探針板被推動件下壓時，施力件的連接部 位於滑槽的第二端，且第一端與第二端相對。

在本發明之一實施例中，上述之移動基座具有至少一固定銷，其穿過探針板之第一部分，而蓋板係固定於固定銷。

在本發明之一實施例中，上述之彈性件包括至少一彈簧，其套設於固定銷及定位銷兩者至少其中之一。

在本發明之一實施例中，上述之移動基座更具有至少一支撐柱，其位於探針板之第一部分旁，而蓋板更承靠於支撐柱。

在本發明之一實施例中，上述之具備探針之電性測試裝置更包括二導軌件，其配置於承載板上，且位於移動基座之相對兩側，而移動基座適於沿導軌件的導軌移動。

在本發明之一實施例中，上述之移動基座具有向上延伸的側壁，且當移動基座位於測試位置時，移動基座之側壁抵靠於導軌件。

在本發明之一實施例中，上述之承載板的承載面設有二第一磁鐵，而移動基座之底面設有第二磁鐵。移動基座之底面與承載板的承載面相對，而第一磁鐵的磁性與第二磁鐵的磁性相反。當移動基座位於原始位置時，第二磁鐵與第一磁鐵其中之一相吸。當移動基座位於測試位置時，第二磁鐵與第一磁鐵其中另一相吸。

在本發明之一實施例中，上述之探針板之抵靠壁是第一部分之背對第二部分的側壁，而推動件之抵靠部是朝下方延伸至探針板之抵靠壁旁。

在本發明之一實施例中，上述之探針板之第一部分與第二部分的連接處具有凸出部，而探針板之抵靠壁是凸出部之面對推動件的側壁，而推動件之鄰近凸出部的一端為推動件之抵靠部。

在本發明之一實施例中，上述之探針板之第一部分與第二部分的連接處具有凸出部，推動件之抵靠部及探針板之抵靠壁的數量分別為二，探針板之抵靠壁分別為第一部分之背對第二部分的側壁以及凸出部之面對推動件的側壁。推動件的抵靠部其中之一朝下方延伸至第一部分之抵靠壁旁，推動件的抵靠部其中另一為推動件之鄰近凸出部的一端。

在本發明之一實施例中，上述之推動件之抵靠部設有導角。

在本發明之一實施例中，上述之探針板之抵靠壁設有導角。

在本發明之一實施例中，上述之第一部分與承載板之間的距離大於第二部分與承載板之間的距離。

由於本發明之具備探針之電性測試裝置是先藉由推動件將移動基座推動至測試位置後，再藉由推動件將位於移動基座上的探針板下壓一段距離，使探針板的探針接觸待測物的測試線路，所以可避免探針及待測物在測試時受損。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

圖2是本發明一實施例之一種具備探針之電性測試裝置的側視示意圖，圖3A是圖2之具備探針之電性測試裝置的***圖，而圖3B是圖2之具備探針之電性測試裝置的局部***圖，圖3C是圖2之探針板的探針伸入承載板之定位孔中的剖面示意圖。請參照圖2、圖3A至圖3C，本實施例之具備探針之電性測試裝置200適於對待測物進行電性測試，其中待測物可為顯示面板，但不以此為限。此具備探針之電性測試裝置 200包括承載板210、移動基座220、探針板230、至少一彈性件240(在本實施例中是以多個彈性件240為例)、蓋板250以及推動件260。承載板210具有至少一定位孔212，移動基座220配置於承載板210的承載面214上。探針板230具有固定於移動基座220的第一部分232以及從第一部分232延伸至移動基座220外的第二部分234。第一部分232具有朝下方延伸並穿過移動基座220的至少一定位銷233(在本實施例中是以一個定位銷233為例)，而第二部分234具有朝下方延伸的至少一探針235(在本實施例中是以多個探針235為例)。彈性件240抵靠於探針板230的第一部分232與移動基座220之間，而蓋板250固定於移動基座220上，且位於探針板230之第一部分232上方。

推動件260可移動地配置於探針板230的第一部分232與蓋板250之間。推動件260具有至少一抵靠部，而此抵靠部適於抵靠於探針板230之至少一抵靠壁。在本實施例中是以兩個抵靠部262、264及兩個抵靠壁237、238為例，其中抵靠部262適於抵靠於抵靠壁237，而抵靠部264適於抵靠於抵靠壁238。

上述之具備探針之電性測試裝置200中，移動基座220例如具有至少一固定銷222，而在本實施例中是以兩個固定銷222為例。固定銷222穿過探針板230之第一部分232，而蓋板250係固定於固定銷222。本實施例例如是藉由螺絲或其他鎖固件將蓋板250鎖固於固定銷222上。然而，本發明並不限定蓋板250固定於固定銷222的方式。此外，移動基座220可更具有至少一支撐柱224，而在本實施例中是以兩個支撐柱224為例。支撐柱224位於探針板230之第一部分232旁，而 蓋板250更承靠於支撐柱224。在本實施例中，亦可藉由螺絲鎖固或其他固定方式將蓋板250固定於支撐柱224。另外，移動基座220具有至少一貫孔226，而上述之定位銷233是經由貫孔226而穿過移動基座220。

上述之彈性件240例如是彈簧，其例如是套設於固定銷222及定位銷233兩者至少其中之一。在本實施例中，彈性件240是分別套設於固定銷222與定位銷233。

上述之探針板230的第一部分232與承載板210之間的距離例如是大於第二部分234與承載板210之間的距離。亦即，第一部分232相對於承載板210的高度大於第二部分234相對於承載板210的高度。此外，探針板230之第一部分232與第二部分234的連接處例如具有凸出部239。上述之探針板230的抵靠壁237為第一部分232之背對第二部分234的側壁，而抵靠壁238為凸出部239之面對推動件260的側壁。另外，推動件260的抵靠部262朝下方延伸至第一部分232之抵靠壁237旁，推動件260的抵靠部238為推動件260之鄰近凸出部239的一端。

在本實施例中，上述之具備探針之電性測試裝置200可更包括施力件270，其可移動地配置於蓋板250上。具體而言，蓋板250具有滑槽252，而施力件270具有穿過滑槽252並連接至推動件260的連接部272。此連接部272例如是透過鎖固或其他固定方式而固定於推動件260。此外，滑槽252具有相對的第一端253與第二端255。

上述之具備探針之電性測試裝置200可更包括二導軌件280，其配置於承載板210上，且位於移動基座220之相對兩側。移動基座220適於沿導軌件280的導軌282移動。

圖4A與圖4B是圖2之具備探針之電性測試裝置的探針板移動至不同位置的示意圖。請先參照圖2、圖3A與圖4A，本實施例之具備探針之電性測試裝置200的移動基座220適於移動於原始位置(如圖2所示)與測試位置(如圖4A所示)之間。而且，當移動基座220位於原始位置時，施力件270的連接部272例如位於滑槽252的第一端253。

當欲進行測試時，可施加推力F1至施力件270以推動施力件270。由於施力件270固定於推動件260，所以推動件260會隨著施力件270移動，而推動件260適於透過抵靠部262、264推動探針板230，以將移動基座220推動至測試位置(如圖4A所示)。此外，當推動件260受推力F1推動而將移動基座220推動至測試位置後，定位銷233伸入定位孔212中(如圖3C所示)。此時，施力件270的連接部272是位於滑槽252的第一端253與第二端255之間，且施力件270的連接部272並未抵靠於滑槽252的第二端255。因此，繼續施加的推力F1可推使施力件270繼續移動。此時，由於探針板230的定位銷233已伸入承載板210的定位孔212中，所以探針板230與移動基座220的位置已被限制而不會移動。然而，繼續移動的施力件270會使推動件260隨之移動，而推動件260之抵靠部262、264會沿探針板230之抵靠壁237、238移動至抵靠壁237、238上方，以將探針板230下壓一段距離(如圖3B所示)，進而使探針235接觸到待測物(圖未示)的測試線路。

在本實施例中，當移動基座220位於測試位置且探針板230被推動件260下壓時，施力件270的連接部272例如是位於滑槽250的第二端255。此外，移動基座220可具有向上延伸的側壁228，且當移動基座220位於測試位置(如圖4A所 示)時，移動基座220之側壁228是抵靠於導軌件280。換言之，當移動基座220位於測試位置時，除了可藉由定位銷233來限制移動基座220的位置外，亦可藉由導軌件280來限制移動基座220的位置。另外，推動件260之抵靠部262、264可設有導角，而探針板230之抵靠壁237、238可設有導角，以使抵靠部262、264較容易沿探針板230之抵靠壁237、238移動至抵靠壁237、238上方。

請參照圖3A與圖4B，當測試完成後，可施加推力F2至施力件270以將抵靠壁237、238上方的抵靠部262、264移動至抵靠壁237、238旁，此時被壓縮的彈性件240之彈性恢復力會使探針板230向上移動至圖4A所示的位置。之後，繼續施加的推力F2會使移動基座220移動至圖2所示之原始位置。

圖5是圖2之具備探針之電性測試裝置用於測試待測物的示意圖。請參照圖5，本實施例之具備探針之電性測試裝置200可放置於基板60上，而基板60具有用以承載待測物70的承載部62。當藉由推動件下壓探針板230，使探針板230的探針235接觸待測物的測試線路72時，因為探針235在基板60上方時僅垂直作動(如圖4A以及圖4B所示)，故探針235不會刮到待測物70的測試線路72。如此，不僅可避免待測物70的測試線路72受損，以提升測試的準確性，還可避免探針235被折斷。此外，本實施例所使用的探針235較短，所以可進一步避免相鄰的探針235彼此接觸而發生短路現象，進而防止損壞用於測試的電路板。另外，在待測物70為顯示面板的實施例中，當測試人員欲對待測物70進行目視檢測時，本實施例之具備探針之電性測試裝置200較不會擋住測試人員的視線，所以能提高目視檢測的準確性。

需注意的是，在圖2所示的實施例中是以兩個抵靠壁237、238以及兩個抵靠部262、264為例，但在其他實施例中，抵靠壁及抵靠部的數量可分別為一個。舉例來說，在其他實施例中可僅有抵靠壁237與抵靠部262，或是僅有抵靠壁238與抵靠部264。

圖6是本發明另一實施例之具備探針之電性測試裝置的承載板及移動基座的示意圖。請參照圖6，本實施例之承載板210’的承載面214設有二第一磁鐵216、218，而移動基座220’之底面221設有第二磁鐵223。移動基座220’之底面221設置的位置是與承載板210’的承載面214相對，且第一磁鐵216、218的磁性與第二磁鐵223的磁性相反。此承載板210’及移動基座220’可用於圖2之具備探針之電性測試裝置200。當具備探針之電性測試裝置的移動基座220’位於原始位置時，第二磁鐵223與第一磁鐵218相吸。當移動基座220’位於測試位置時，第二磁鐵223與第一磁鐵216相吸。

由於承載板210’的承載面214設有第一磁鐵216、218，而移動基座220’之底面221設有第二磁鐵223，在施力將移動基座220’從原始位置推動至測試位置的過程中，當第二磁鐵223靠近第一磁鐵216時，第一磁鐵216與第二磁鐵223之間的吸引力會自動將移動基座220’移動至測試位置。反之，在施力將移動基座220’從測試位置推動至原始位置的過程中，當第二磁鐵223靠近第一磁鐵218時，第一磁鐵218與第二磁鐵223之間的吸引力會自動將移動基座220’移動至原始位置。

綜上所述，本發明之具備探針之電性測試裝置至少具有下列優點：

1.本發明之具備探針之電性測試裝置是先藉由推動件將 移動基座推動至測試位置後，再藉由推動件將位於移動基座上的探針板下壓一段距離，使探針板的探針接觸待測物的測試線路，如此可避免探針及待測物在測試時受損。

2.當測試人員欲對待測物進行目測檢視時，本發明之具備探針之電性測試裝置不易擋住到測試人員的視線，所以可提升目視檢測的準確性。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

50‧‧‧液晶顯示面板

52、72‧‧‧測試線路

60、110‧‧‧基板

62、112‧‧‧承載部

70‧‧‧待測物

100‧‧‧測試裝置

200‧‧‧具備探針之電性測試裝置

120‧‧‧探針板

122‧‧‧探針

124‧‧‧開口

130‧‧‧樞軸

210、210’‧‧‧承載板

212‧‧‧定位孔

214‧‧‧承載面

216、218‧‧‧第一磁鐵

220、220’‧‧‧移動基座

221‧‧‧背面

222‧‧‧固定銷

223‧‧‧第二磁鐵

224‧‧‧支撐柱

226‧‧‧貫孔

228‧‧‧側壁

230‧‧‧探針板

232‧‧‧第一部分

233‧‧‧定位銷

234‧‧‧第二部分

235‧‧‧探針

237、238‧‧‧抵靠壁

239‧‧‧凸出部

240‧‧‧彈性件

250‧‧‧蓋板

252‧‧‧滑槽

253‧‧‧第一端

255‧‧‧第二端

260‧‧‧推動件

262、264‧‧‧抵靠部

270‧‧‧施力件

272‧‧‧連接部

280‧‧‧導軌件

282‧‧‧導軌

F1、F2‧‧‧推力

圖1是習知一種測試裝置的示意圖。

圖2是本發明一實施例之一種具備探針之電性測試裝置的側視示意圖。

圖3A是圖2之具備探針之電性測試裝置的***圖。

圖3B是圖2之具備探針之電性測試裝置的局部***圖。

圖3C是圖2中探針板、彈性件及移動基座的局部剖面示意圖。

圖4A與圖4B是圖2之具備探針之電性測試裝置的探針板移動至不同位置的示意圖。

圖5是圖2之具備探針之電性測試裝置用於測試待測物的示意圖。

圖6是本發明另一實施例之具備探針之電性測試裝置的承載板及移動基座的示意圖。

200‧‧‧具備探針之電性測試裝置

210‧‧‧承載板

214‧‧‧承載面

220‧‧‧移動基座

222‧‧‧固定銷

224‧‧‧支撐柱

230‧‧‧探針板

232‧‧‧第一部分

234‧‧‧第二部分

235‧‧‧探針

237、238‧‧‧抵靠壁

239‧‧‧凸出部

240‧‧‧彈性件

250‧‧‧蓋板

260‧‧‧推動件

262、264‧‧‧抵靠部

270‧‧‧施力件

280‧‧‧導軌件

F1‧‧‧推力

Claims (14)

1. 一種具備探針之電性測試裝置，包括：一承載板，具有至少一定位孔；一移動基座，配置於該承載板的一承載面上，且該移動基座適於移動於一原始位置與一測試位置之間；一探針板，具有固定於該移動基座的一第一部分以及從該第一部分延伸至該移動基座外的一第二部分，該第一部分具有朝下方延伸並穿過該移動基座的至少一定位銷，而該第二部分具有朝下方延伸的至少一探針；至少一彈性件，抵靠於該探針板的該第一部分與該移動基座之間；一蓋板，固定於該移動基座上，且位於該探針板之該第一部分上方；以及一推動件，可移動地配置於該探針板的該第一部分與該蓋板之間，該推動件具有至少一抵靠部，適於抵靠於該探針板之至少一抵靠壁，該推動件適於透過該抵靠部推動該探針板，以將該移動基座推動至該測試位置，當該推動件受一推力推動而將該移動基座推動至該測試位置後，該定位銷伸入該定位孔中，而繼續施加的該推力更推使該推動件之該抵靠部沿該探針板之該抵靠壁移動至該抵靠壁上方，以將該探針板下壓一距離。
2. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，更包括一施力件，可移動地配置於該蓋板上，該蓋板具有一滑槽，而該施力件具有穿過該滑槽並連接至該推動件的一連接部，其中當該移動基座位於該原始位置時，該施力件的該連接部位於該滑槽的一第一端，而當該移動基座位於該測試位置且該探針板被該推動件下壓時，該施力件的該連接部位於該滑 槽的一第二端，且第一端與第二端相對。
3. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該移動基座具有至少一固定銷，穿過該探針板之該第一部分，而該蓋板係固定於該固定銷。
4. 如申請專利範圍第3項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該彈性件包括至少一彈簧，套設於該固定銷及該定位銷兩者至少其中之一。
5. 如申請專利範圍第3項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該移動基座更具有至少一支撐柱，位於該探針板之該第一部分旁，而該蓋板更承靠於該支撐柱。
6. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，更包括二導軌件，配置於該承載板上，且位於該移動基座之相對兩側，而該移動基座適於沿該些導軌件的導軌移動。
7. 如申請專利範圍第6項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該移動基座具有向上延伸的一側壁，且當該移動基座位於該測試位置時，該移動基座之該側壁抵靠於該些導軌件。
8. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該承載板的該承載面設有二第一磁鐵，而該移動基座之一底面設有一第二磁鐵，該移動基座之該底面與該承載板的該承載面相對，該些第一磁鐵的磁性與該第二磁鐵的磁性相反，且當該移動基座位於該原始位置時，該第二磁鐵與該些第一磁鐵其中之一相吸，當該移動基座位於該測試位置時，該第二磁鐵與該些第一磁鐵其中另一相吸。
9. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該探針板之該抵靠壁是該第一部分之背對該第二部分的一側壁，而該推動件之該抵靠部是朝下方延伸至該探針板之 該抵靠壁旁。
10. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該探針板之該第一部分與該第二部分的連接處具有一凸出部，而該探針板之該抵靠壁是該凸出部之面對該推動件的一側壁，而該推動件之鄰近該凸出部的一端為該推動件之該抵靠部。
11. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該探針板之該第一部分與該第二部分的連接處具有一凸出部，該推動件之該抵靠部及該探針板之該抵靠壁的數量分別為二，該探針板之該些抵靠壁分別為該第一部分之背對該第二部分的一側壁以及該凸出部之面對該推動件的一側壁，而該推動件的該些抵靠部其中之一朝下方延伸至該第一部分之該抵靠壁旁，該推動件的該些抵靠部其中另一為該推動件之鄰近該凸出部的一端。
12. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該推動件之該抵靠部設有導角。
13. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該探針板之該抵靠壁設有導角。
14. 如申請專利範圍第1項所述之具備探針之電性測試裝置，其中該第一部分與該承載板之間的距離大於該第二部分與該承載板之間的距離。