TWI426366B - 測試點自動查找與優化系統及方法 - Google Patents
測試點自動查找與優化系統及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI426366B TWI426366B TW100101572A TW100101572A TWI426366B TW I426366 B TWI426366 B TW I426366B TW 100101572 A TW100101572 A TW 100101572A TW 100101572 A TW100101572 A TW 100101572A TW I426366 B TWI426366 B TW I426366B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- point
- test
- distance
- test point
- line
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Position Fixing By Use Of Radio Waves (AREA)
Description
本發明涉及一種測試系統及方法,尤其涉及一種測試點自動查找與優化系統及方法。
在執行自動化測試時,機械手臂得到了廣泛的應用。目前,控制機械手臂測試待測物需提前選擇一個標準定位點,以該定位點為基準位置,尋找測試點,以測試物體。然而,在實際工作中,由於長時間的操作、長距離的移動機械手臂,使得機械手臂累積了許多誤差,這些誤差常會造成機械手臂的誤操作,輕則影響生產效率,重則危害操作人員的生命安全。
鑒於以上內容,有必要提供一種測試點自動查找與優化系統及方法,其無需自行計算線路的長度,可避免許多無法細算及小數點進位的問題,提升了測試的準確度,及排除了由於測不准而破壞探針的問題。
一種測試點自動查找與優化系統,包括:設置模組,用於在電路板的電路圖上建立空間座標系,並在該空間座標系內設置至少一個定位點,及設置定位點到測試點的最大距離;導入模組,用於導入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點及各測試點的座標值,並將該導入的線路名稱、測試點及各測試點的座標值存入一個列表中;計算模組,用於接收用戶於所述列表中選取的線路名稱,載入該線路上的測試點,計算各測試點到各定位點的距離,以查找到距離各測試點最近的定位點;比對模組,用於比對上述各測試點與距離各測試點最近的定位點間的距離值,找出一個最小距離值;優化排序模組,用於以構成所述最小距離值的定位點為基準點,依據各測試點與該基準點間的距離遠近對上述各測試點進行優化排序;及記錄模組,用於將所述優化排序後的測試點存入該基準點的待測線路列表中。
一種測試點自動查找與優化方法,包括以下步驟:在電路板的電路圖上建立空間座標系,並在該空間座標系內設置至少一個定位點,及設置定位點到測試點的最大距離;導入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點及各測試點的座標值,並將該導入的線路名稱、測試點及各測試點的座標值存入一個列表中;接收用戶於所述列表中選取的線路名稱,載入該線路上的測試點,計算各測試點到各定位點的距離,以查找到距離各測試點最近的定位點;比對上述各測試點與距離各測試點最近的定位點間的距離值,找出一個最小距離值;以構成該最小距離值的定位點為基準點,依據各測試點與該基準點間的距離遠近對上述各測試點進行優化排序;及將優化排序後的測試點存入該基準點的待測線路列表中。
相較於習知技術,所述測試點自動查找與優化系統及方法,其可對測試點進行查找與優化排序,並按照該優化排序控制機械手臂上的探針自動地查找各測試點,以完成精確測試電路板的目的,避免了機械手臂由於長時間長距離的移動所造成的誤差,及排除了由於測不准而破壞探針的問題。
如圖1所示,係本發明測試點自動查找與優化系統較佳實施例之運行環境示意圖。該測試點自動查找與優化系統10運行於主機1中,該主機1與機械手臂2相連,用於控制機械手臂2移動,該機械手臂2的末端可安裝一根探針(圖中未示出),實現對電路板5的測試點上的待測物體進行測試。本實施例中,該電路板5為印刷電路板,所述測試點上的待測物體如印刷電路板上某條線路上的端點或元器件。
另外,所述主機1還連接於一輸入裝置3和一輸出裝置4。該輸入裝置3可以為手柄或者滑鼠,鍵盤等,控制機械手臂2移動到指定的位置。該輸出裝置4可以為顯示器,用於顯示參數設置介面及測試線路類型選擇介面。該測試線路類型包括電路板5的縮印電路(Coupon)和電路板5的實際線路(Trace)。其中,Coupon為電路板5的縮小版電路。
在所述主機1內還存在一個資料庫12、一個儲存設備14和至少一個處理器16。所述資料庫12用於儲存與Coupon和Trace相關的所有檔案。檔案中記載了電路板5上的各線路名稱、各線路上的測試點、各測試點的座標值、測試面、線路長和測試引腳等資訊。
如圖2所示的測試點自動查找與優化系統10包含一個或多個軟體模組,該一個或多個軟體模組是具有特定功能的軟體程式段,儲存在所述儲存設備14中,並由所述至少一個處理器16來執行。
所述測試點自動查找與優化系統10包括設置模組100、導入模組102、計算模組104、比對模組106、優化排序模組108、記錄模組110和控制模組112。
設置模組100用於在電路板5的電路圖內建立空間座標系,並在該空間座標系內設置至少一個定位點,及設置定位點到測試點的最大距離。本實施例中,每個定位點包括一個待測線路列表和一個超出範圍列表。
導入模組102用於根據選擇的測試線路類型從資料庫12中打開相應的檔案,導入檔案內記載的電路板5上的各線路名稱、各線路上的測試點及各測試點的座標值,並將該導入的線路名稱、測試點及各測試點的座標值存入一個列表中。所述測試線路類型包括Coupon和Trace。例如,資料庫12中記載的Coupon的檔案包括NetSinglePinNoPin.txt和EachLengthByTrace.htm,Trace的檔案包括EachLengthByPinPare.htm和EachLengthByNet.htm,其中,NetSinglePinNoPin.txt中記錄了每條線路上的所有端點的位置,EachLengthByTrace.htm中記錄了每條線路上的所有端點的長度,EachLengthByPinPare.htm中記錄了每條線路上所有端點位置及長度,EachLengthByNet.htm中記錄了每條線路總長度。
計算模組104用於接收用戶於所述列表中選取的線路名稱,載入該線路上的測試點,並計算各測試點到各定位點的距離,以查找到距離各測試點最近的定位點。
比對模組106比對上述各測試點與距離各測試點最近的定位點間的距離值,找出一個最小距離值。例如,已知上述計算模組104計算出距離測試點a最近的定位點為定位點A,其距離為5釐米;距離測試點b最近的定位點為定位點B,其距離為3釐米;距離測試點c最近的定位點為定位點C,其距離為6釐米;距離測試點d最近的定位點為定位點B,其距離為4釐米,則比對模組106所找到的最小距離值為3釐米,即測試點b與定位點B間的距離最小。
優化排序模組108以構成該最小距離值的定位點為基準點,依據各測試點與該基準點間的距離遠近對上述各測試點進行優化排序。本實施例中,所述優化排序模組108是依據與基準點間的距離由小到大或由大到小的順序對上述各測試點進行的優化排序。例如,由上述例子可以得到測試點b與定位點B間的距離最小,優化排序模組108以定位點B為基準點,以與該基準點間的距離由小到大的順序對上述各測試點進行優化排序。假設計算模組104計算出兩個相等的距離值且該兩個相等值均為最小距離值,如測試點b與定位點B間的距離為3釐米,測試點c與定位點C間的距離也為3釐米,則優化排序模組108以最先與測試點進行比對的定位點為基準點,如以定位點B為基準點。
記錄模組110將所述優化排序後的測試點存入該定位點(如定位點B)的待測線路列表中。在此步驟中,若上述各測試點與基準點間的距離超過所設置的最大距離時,記錄模組110會發出超範圍警報,並將該測試點的座標值存入該基準點(即上述定位點B)的超出範圍列表中。
控制模組112用控制所述機械手臂2移動至各定位點,根據各定位點的待測線路列表中記錄的測試點的優化排序,依次測試各測試點上的待測物體。具體而言,計算模組104計算出每個定位點的待測線路列表中各個測試點之間的距離,控制模組112控制機械手臂2移動,使得該機械手臂2上的探針測試該待測線路列表中第一個測試點上的待測物體,然後,根據所述第一個測試點的位置、所述優化排序及上述計算出的測試點間的距離確定下一個測試點的相對位置,並測試該測試點上的待測物體,直到控制模組112控制機械手臂2上的探針測試完該待測線路列表中所有測試點上的待測物體。
如圖3所示,係本發明測試點自動查找與優化方法較佳實施例之作業流程圖。
步驟S01,設置模組100在電路板5的電路圖上建立空間座標系,並在該空間座標系內設置至少一個定位點,及設置定位點到測試點的最大距離。
步驟S02,導入模組102根據選擇的測試線路類型從資料庫12中打開相應的檔案,導入檔案內記載的電路板5上的各線路名稱、各線路上的測試點及各測試點的座標值,並將該導入的線路名稱、測試點及各測試點的座標值存入一個列表中。
步驟S03,計算模組104接收用戶於所述列表中選取的線路名稱,載入該線路上的測試點。
步驟S04,計算模組104計算各測試點到各定位點的距離,以查找到距離各測試點最近的定位點。例如,計算模組104計算測試點a、b、c、d與定位點A和B間的距離,根據計算出的距離值識別出距離各測試點最近的定位點,例如,計算模組104計算出距離測試點a最近的定位點A,距離測試點b最近的定位點B,距離測試點c最近的定位點C,距離測試點d最近的定位點B。
步驟S05,比對模組106比對上述各測試點與距離各測試點最近的定位點間的距離值,找出一個最小距離值。例如,已知上述計算模組104所計算出的測試點a與定位點A間的距離為5釐米,測試點b與定位點B間的距離為3釐米,測試點c與定位點C間的距離為6釐米,測試點d與定位點B間的距離為4釐米,則比對模組106所找到的最小距離值為3釐米,即測試點b與定位點B間的距離最小。
步驟S06,優化排序模組108以構成該最小距離值的定位點為基準點,依據各測試點與該基準點間的距離遠近對上述各測試點進行優化排序。本實施例中,所述優化排序模組108是依據與基準點間的距離由小到大或由大到小的順序對上述各測試點進行的優化排序。例如,由步驟S05中的例子可以得到測試點b與定位點B間的距離最小,優化排序模組108以定位點B為基準點,以與該基準點間的距離由小到大的順序對上述各測試點進行優化排序。
在此步驟中,假設計算模組104計算出兩個相等的距離值且該兩個相等距離值均為最小距離值,如測試點b與定位點B間的距離為3釐米,測試點c與定位點C間的距離也為3釐米,則優化排序模組108以最先與測試點進行比對的定位點為基準點,如以定位點B為基準點。
步驟S07,記錄模組110將所述優化排序後的測試點存入該定位點(如定位點B)的待測線路列表中。在此步驟中,若上述各測試點與基準點間的距離超過所設置的最大距離時,記錄模組110會發出超範圍警報,並將該測試點的座標值存入該基準點(即上述定位點B)的超出範圍列表中。
步驟S08,控制模組112控制機械手臂2移動至各定位點,根據各定位點的待測線路列表中記錄的測試點的順序,測試各測試點上的待測物體。具體而言,該步驟S08可包括如下步驟:(a)計算模組104計算上述各個測試點之間的距離;(b)控制模組112控制機械手臂2測試所述待測線路列表中第一個測試點上的待測物體;(c)根據第一個測試點的位置、所述優化排序及上述計算出的測試點間的距離確定下一個測試點的相對位置,並測試該下一個測試點上的待測物體,直到測試完上述各測試點上的待測物體。
最後所應說明的是,以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制,儘管參照以上較佳實施例對本發明進行了詳細說明,本領域的普通技術人員應當理解,可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換,而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。
1‧‧‧主機
2‧‧‧機械手臂
3‧‧‧輸入裝置
4‧‧‧輸出裝置
5‧‧‧電路板
10‧‧‧測試點自動查找與優化系統
12‧‧‧資料庫
14‧‧‧儲存設備
16‧‧‧處理器
100‧‧‧設置模組
102‧‧‧導入模組
104‧‧‧計算模組
106‧‧‧比對模組
108‧‧‧優化排序模組
110‧‧‧記錄模組
112‧‧‧控制模組
圖1係本發明測試點自動查找與優化系統較佳實施例之運行環境示意圖。
圖2係圖1中測試點自動查找與優化系統之功能模組圖。
圖3係本發明測試點自動查找與優化方法較佳實施例之作業流程圖。
1‧‧‧主機
10‧‧‧測試點自動查找與優化系統
12‧‧‧資料庫
14‧‧‧儲存設備
16‧‧‧處理器
100‧‧‧設置模組
102‧‧‧導入模組
104‧‧‧計算模組
106‧‧‧比對模組
108‧‧‧優化排序模組
110‧‧‧記錄模組
112‧‧‧控制模組
Claims (9)
- 一種測試點自動查找與優化系統,該系統包括:
設置模組,用於在電路板的電路圖上建立空間座標系,並在該空間座標系內設置至少一個定位點,及設置定位點到測試點的最大距離;
導入模組,用於導入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點及各測試點的座標值,並將該導入的線路名稱、測試點及各測試點的座標值存入一個列表中;
計算模組,用於接收用戶於所述列表中選取的線路名稱,載入該線路上的測試點,計算各測試點到各定位點的距離,以查找到距離各測試點最近的定位點;
比對模組,用於比對上述各測試點與距離各測試點最近的定位點間的距離值,找出一個最小距離值;
優化排序模組,用於以構成所述最小距離值的定位點為基準點,依據各測試點與該基準點間的距離遠近對上述各測試點進行優化排序;及
記錄模組,用於將所述優化排序後的測試點存入該基準點的待測線路列表中。 - 如申請專利範圍第1項所述之測試點自動查找與優化系統,其中所述計算模組還用於計算上述各個測試點之間的距離。
- 如申請專利範圍第2項所述之測試點自動查找與優化系統,還包括控制模組,用於控制機械手臂測試上述待測線路列表中第一個測試點上的待測物體,根據第一個測試點的位置、所述優化排序及上述計算出的測試點間的距離確定下一個測試點的相對位置,並測試該下一個測試點上的待測物體,直到測試完上述待測線路列表中所有測試點上的待測物體。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試點自動查找與優化系統,其中所述優化排序模組是依據各測試點與基準點間的距離由小到大或由大到小的順序對上述各測試點進行優化排序。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試點自動查找與優化系統,其中所述記錄模組還用於當上述各測試點與基準點間的距離超過所設置的最大距離時,發出超範圍警報,並將該測試點的座標值存入該基準點的超出範圍列表中。
- 一種測試點自動查找與優化方法,該方法包括如下步驟:
在電路板的電路圖上建立空間座標系,並在該空間座標系內設置至少一個定位點,及設置定位點到測試點的最大距離;
導入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點及各測試點的座標值,並將該導入的線路名稱、測試點及各測試點的座標值存入一個列表中;
接收用戶於所述列表中選取的線路名稱,載入該線路上的測試點,計算各測試點到各定位點的距離,以查找到距離各測試點最近的定位點;
比對上述各測試點與距離各測試點最近的定位點間的距離值,找出一個最小距離值;
以構成該最小距離值的定位點為基準點,依據各測試點與該基準點間的距離遠近對上述各測試點進行優化排序;及
將優化排序後的測試點存入該基準點的待測線路列表中。 - 如申請專利範圍第6項所述之測試點自動查找與優化方法,該方法還包括:
當上述各測試點與基準點間的距離超過所設置的最大距離時,發出超範圍警報;及
將該測試點的座標值存入該基準點的超出範圍列表中。 - 如申請專利範圍第6項所述之測試點自動查找與優化方法,其中所述優化排序是指依據各測試點與基準點間的距離由小到大或由大到小的順序對上述各測試點進行優化排序。
- 如申請專利範圍第6或8項所述之測試點自動查找與優化方法,該方法還包括:
(a)計算上述各個測試點之間的距離;
(b)控制機械手臂測試所述待測線路列表中第一個測試點上的待測物體;
(c)根據第一個測試點的位置、所述優化排序及上述計算出的測試點間的距離確定下一個測試點的相對位置,並測試該下一個測試點上的待測物體,直到測試完上述待測線路列表中各測試點上的待測物體。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100101572A TWI426366B (zh) | 2011-01-17 | 2011-01-17 | 測試點自動查找與優化系統及方法 |
US13/221,858 US8823538B2 (en) | 2011-01-17 | 2011-08-30 | Electronic device and method for optimizing order of testing points of circuit boards |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100101572A TWI426366B (zh) | 2011-01-17 | 2011-01-17 | 測試點自動查找與優化系統及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201232210A TW201232210A (en) | 2012-08-01 |
TWI426366B true TWI426366B (zh) | 2014-02-11 |
Family
ID=46490353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW100101572A TWI426366B (zh) | 2011-01-17 | 2011-01-17 | 測試點自動查找與優化系統及方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8823538B2 (zh) |
TW (1) | TWI426366B (zh) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW201500747A (zh) * | 2013-06-25 | 2015-01-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 自動化測量系統及方法 |
US10404700B1 (en) * | 2015-08-27 | 2019-09-03 | Cadence Design Systems, Inc. | Concurrent design process |
CN109490319B (zh) * | 2018-12-29 | 2024-02-20 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种测试设备的检测装置和检测方法 |
CN109676610B (zh) * | 2019-01-25 | 2021-07-06 | 温州大学 | 一种断路器装配机器人及其实现工作轨迹优化的方法 |
CN113933750B (zh) * | 2021-10-18 | 2023-08-04 | 广东电网有限责任公司东莞供电局 | 配电网高阻接地故障的检测方法、装置、设备和存储介质 |
US12044728B2 (en) * | 2022-08-05 | 2024-07-23 | Dish Network L.L.C. | Methods and systems for remote access hardware testing |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5631856A (en) * | 1995-01-17 | 1997-05-20 | International Business Machines Corporation | Test sequence optimization process for a circuit tester |
US6759853B2 (en) * | 1999-12-15 | 2004-07-06 | Brian D. Butler | Automated domain reflectometry testing system |
TWI223098B (en) * | 2002-06-24 | 2004-11-01 | Capital Formation Inc | Method for producing a captive wired test fixture and fixture therefor |
TW200808146A (en) * | 2006-07-31 | 2008-02-01 | Wintec Ind Inc | Apparatus and method for predetermined component placement to a target platform |
CN101840202A (zh) * | 2010-05-25 | 2010-09-22 | 重庆邮电大学 | 一种控制***建模中的功能块智能布线方法 |
US20100295552A1 (en) * | 2009-05-25 | 2010-11-25 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Signal testing system and method of a printed circuit board |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2592901C (en) * | 2007-07-13 | 2012-03-27 | Martin Blouin | Semi-generic in-circuit test fixture |
CN101667219B (zh) | 2009-09-29 | 2011-07-06 | 重庆大学 | 印制电路板测试路径优化方法 |
US8648616B2 (en) * | 2009-12-22 | 2014-02-11 | Ltx-Credence Corporation | Loaded printed circuit board test fixture and method for manufacturing the same |
-
2011
- 2011-01-17 TW TW100101572A patent/TWI426366B/zh not_active IP Right Cessation
- 2011-08-30 US US13/221,858 patent/US8823538B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5631856A (en) * | 1995-01-17 | 1997-05-20 | International Business Machines Corporation | Test sequence optimization process for a circuit tester |
US6759853B2 (en) * | 1999-12-15 | 2004-07-06 | Brian D. Butler | Automated domain reflectometry testing system |
TWI223098B (en) * | 2002-06-24 | 2004-11-01 | Capital Formation Inc | Method for producing a captive wired test fixture and fixture therefor |
TW200808146A (en) * | 2006-07-31 | 2008-02-01 | Wintec Ind Inc | Apparatus and method for predetermined component placement to a target platform |
US20100295552A1 (en) * | 2009-05-25 | 2010-11-25 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Signal testing system and method of a printed circuit board |
CN101840202A (zh) * | 2010-05-25 | 2010-09-22 | 重庆邮电大学 | 一种控制***建模中的功能块智能布线方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201232210A (en) | 2012-08-01 |
US8823538B2 (en) | 2014-09-02 |
US20120182154A1 (en) | 2012-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI426366B (zh) | 測試點自動查找與優化系統及方法 | |
CN101876674B (zh) | 特性阻抗测试***及方法 | |
US8242798B2 (en) | Signal testing system and method of a printed circuit board | |
TWI416141B (zh) | 電路板測試系統及方法 | |
CN101898317A (zh) | 一种虚拟式数控机床在线检测***和方法 | |
TWI592798B (zh) | 透過日誌檔調整診斷程式中測試項目順序的檢測系統及其方法 | |
CN102607491B (zh) | 测试点自动查找与优化***及方法 | |
TWI550373B (zh) | 自動更換測針系統及方法 | |
CN112782606A (zh) | 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和*** | |
CN111957589A (zh) | 一种工件尺寸检测方法、***及工件尺寸检测控制装置 | |
CN102338624B (zh) | 应用机械手臂测试物体的***及方法 | |
TWI478796B (zh) | 利用機械手臂測試物體的系統及方法 | |
CN112414340B (zh) | 一种工件的三坐标测量方法、装置、设备及存储介质 | |
TWI719571B (zh) | 測試觸控式行動裝置之測試裝置、測試系統及其電腦程式產品 | |
CN102166747A (zh) | 利用机械手臂测试物体的***及方法 | |
TWI445967B (zh) | 電子元器件的物理應力自動測量系統及方法 | |
CN112880555B (zh) | 一种坐标系的标定方法与*** | |
US8301405B2 (en) | System and method for measuring pin voltages of electronic components | |
CN114280450A (zh) | 一种对接检测装置及方法 | |
TWI412754B (zh) | 特性阻抗測試系統及方法 | |
TWI441018B (zh) | 主機板測試系統及方法 | |
US8508719B2 (en) | Method for measuring the heights of components based on laser ranging | |
TWI735511B (zh) | 代碼提交方法和設備 | |
KR101284851B1 (ko) | 객체 측정 방법 및 이를 위한 프로그램을 기록한 매체 | |
CN110749812A (zh) | 一种硬件电路的自动化测试方法、***及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |