TWI421568B - 主動陣列基板、液晶顯示面板及製造液晶顯示面板之方法 - Google Patents

Description

主動陣列基板、液晶顯示面板及製造液晶顯示面板之方法

本發明係關於一種主動陣列基板、液晶顯示面板及製造液晶顯示面板之方法。係特別關於一種應用於主動陣列基板之測試電路，可以提高測試能力以及減少測試時誤判的機率。

近年來因平面顯示器具有輕薄短小之優點，而廣為使用。一般而言，平面顯示器具有主動陣列基板，主動陣列基板包括複數主動元件呈現陣列排列，主動元件係與對應的資料線、掃描線及畫素電極電性連接。

欲顯示影像時，將資料訊號藉由資料線傳送至每一主動元件，然後藉由掃描線傳送致能訊號給主動元件藉以開啟主動元件將一列資料訊號傳送至一列畫素電極，接下來關閉該列主動元件，之後開啟主動元件下一列主動元件，重複此過程至所有列均定址為止。

然而，若有某些或某一列主動元件因線路瑕疵或元件不穩定之問題而未致能，便會導致訊號傳送有問題，導致無法正常顯像，是故，藉由在平面顯示器製造過程中測試或修理瑕疵線路或元件便可獲得產量之增加以及縮短整體製程時間。

鑑於前述，本發明的目的是提供一種主動陣列基板，可提高測試能力，減少測試時的誤判機率。

本發明所提供之主動陣列基板可以測試主動陣列基板之顯示區內線路之短路與斷路。

本發明所提供之液晶顯示面板具有上述主動陣列基板，可以測試主動陣列基板之顯示區內線路之短路與斷路。

本發明所提供之製造液晶顯示面板之方法，該方法包括提供一陣列母板，該母板具有彼此獨立之內測試電路以及外測試電路，可以在形成液晶層之步驟之前以及之後分別第一以及第二測試程序，達到獨立且完整之測試目的，以確認液晶顯示面板是否有顯示區內線路之短路與斷路之問題。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

第1圖為本發明之陣列母板。第2A－2D圖為本發明之製造液晶顯示面板之方法。

如第1圖所示，陣列母板10包括基底100、畫素陣列101、第一測試模組T1以及第二測試模組T2。畫素陣列101設置於該基底100上，畫素陣列101包括複數導線以及複數畫素單元11。該些導線包括複數掃描線12以及複數資料線13，畫素單元11包括主動元件15以及畫素電極 14，每一主動元件15係與對應的掃描線12、資料線13以及畫素電極14電性連接。

第一測試模組T1係與該些掃描線12電性連接，第一測試模組T1包括內測試電路130以及外測試電路140，須特別注意的是，外測試電路140係跟內測試電路130獨立設置而藉由外測試分支線141與掃描線12直接連接。基底100在位於內測試電路130以及外測試電路140之間的位置具有切割線L，係用以後續形成主動陣列基板之切割用。

第二測試模組T2係與該些資料線13電性連接，第二測試模組T2包括內測試電路110以及外測試電路120，須特別注意的是，外測試電路120係跟內測試電路110獨立設置而藉由外測試分支線121與資料線13直接連接。基底100在位於內測試電路110以及外測試電路120之間的位置具有切割線L，係用以後續形成主動陣列基板之切割用。

請參照第2A圖至第2D圖，係用以說明本發明之製造液晶顯示面板之方法。

如第2A圖所示，提供一陣列母板10，陣列母板10之構造如上述說明。藉由外測試電路120及/或外測試電路140傳送至少一外測試訊號給該畫素陣列101以執行一第一測試程序，第一測試程序之作業將於之後詳細說明。

接下來，如第2B圖所示，切割該陣列母板10以將該外測試電路120、140之至少一部分脫離該畫素陣列101以形成主動陣列基板10’。其中該陣列母板10具有一切割線L位於該內測試電路110(130)以及該外測試電路 120(140)之間，其中該切割該陣列母板10以將該外測試電路120(140)之至少一部分脫離該畫素陣列101之步驟係包括沿該切割線L切割該陣列母板10。主動陣列基板10，包括基底100、畫素陣列101、內測試電路130、110以及外測試分支線141、121。畫素陣列101設置於該基底100上，畫素陣列包括複數導線以及複數畫素單元11。該些導線包括複數掃描線12以及複數資料線13，畫素單元11包括主動元件15以及畫素電極14，每一主動元件15係與對應的掃描線12、資料線13以及畫素電極14電性連接。內測試電路110、130係分別與該複數資料線13以及複數掃描線12電性連接。外測試分支線141、121係分別與該複數掃描線12以及該複數資料線13直接連接。須特別注意的是，外測試分支線141、121係與內測試電路110、130獨立設置而分別與對應的導線連接，所以在執行第一測試程序或是之後的第二測試程序時，內測試電路110、130與外測試電路120、140並不會互相影響而獨立運作，是故，便降低測試時誤判的機率。

然後，如第2C圖所示，形成液晶層30於該主動陣列基板10’以及一對向基板20之間，其中，會有至少一部分之內測試電路130被暴露出來。

最後，藉由該內測試電路130傳送至少一內測試訊號給該畫素陣列101以執行一第二測試程序，第二測試程序之作業將於之後詳細說明。如此一來，如第2D圖所示，便完成液晶顯示面板1。

第3A圖為本發明之第一測試模組之第一實施例。第3B圖以及第3C圖分別為本發明之第一測試模組沿剖面線A－A’所繪製之第一例以及第二例剖面圖。

第一測試模組T1包括內測試電路130以及外測試電路140。

外測試電路140包括至少一外測試訊號線142以及外測試訊號模組1401。外測試訊號線142係藉由外測試分支線141與該複數掃描線12中之該部分直接連接，外測試訊號模組1401係與該至少一外測試訊號線142電性連接。在經過切割該陣列母板10之步驟後，外測試分支線141會保留於主動陣列基板10’內。

在進行第一測試程序時，外測試訊號係依序經由外測試訊號模組1401、外測試訊號線142以及外測試分支線141傳送至掃描線12，以測試畫素陣列101中之各元件是否正常運作。因為外測試電路140係與內測試電路130獨立設置，故在進行第一測試程序時，並不會受到內測試電路130的影響，也就是說，若內測試電路130內有瑕疵或是元件故障時，也不會影響到第一測試程序之運作。

內測試電路130包括內測試閘極線131、內測試閘極訊號模組1301、複數測試開關135、複數內測試訊號線132以及內測試訊號模組1302。內測試閘極訊號模組1301與該內測試閘極線131連接。測試開關135舉例而言係為N型薄膜電晶體或是P型薄膜電晶體。測試開關135具有閘 極135a、源極135b以及汲極135c，測試開關135之閘極135a係與該內測試閘極線131電性連接，該些測試開關135之汲極135c係分別與該掃描線12對應連接，內測試訊號線132藉由內測試分支線133分別與該些測試開關135之源極135b對應連接。內測試閘極訊號模組1301包括閘極訊號墊1301a以及關閉訊號墊1301b。內測試訊號線132係與內測試訊號模組1302連接。然而，也可依設計者需求，將內測試訊號模組1302以及外測試訊號模組1401整合為單一訊號源，也就是說，內測試訊號線132以及外測試訊號線142係連接至相同的訊號源，換句話說，內測試電路130與外測試分支線141並聯。

在進行第二測試程序時，藉由該閘極訊號墊1301a傳送一開啟訊號給該些測試開關135，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏，然後或同時藉由該內測試訊號模組1302、內測試訊號線132、內測試分支線133以及測試開關135將內測試訊號傳送至掃描線12，以測試畫素陣列101中之各元件是否正常運作。然後，藉由該關閉訊號墊1301b傳送一關閉訊號給該些測試開關135，該關閉訊號之電壓約為－5伏至－10伏。

經由形成液晶層之步驟前後分別藉由第一以及第二測試程序，可更加確保畫素陣列101中之各元件以及線路之運作是否正常。

請參考第3B圖，第3B圖為本發明之第一測試模組T1沿第3A圖之剖面線A－A’所繪製之第一例。外測試訊號 線142以及內測試閘極線131可同時以相同導電材料形成在基底100上，絕緣層151係形成於外測試訊號線142、內測試閘極線131以及基底100上，之後，可選擇性同時以相同導電材料將內測試訊號線132以及外測試分支線141形成於絕緣層151上，然後，全面形成保護層152，接下來，去除部份保護層152以及部分絕緣層151以形成接觸洞h1、h2分別暴露出外測試訊號線142以及外測試分支線141，最後，形成導電層150於保護層152上以及接觸洞h1、h2內用以電性連接外測試訊號線142以及外測試分支線141。導電層150之材料舉例係為氧化銦或氧化鋅等透明導電材料，但並不侷限。

請參考第3C圖，第3C圖為本發明之第一測試模組T1沿第3A圖之剖面線A－A’所繪製之第二例。外測試訊號線142以及內測試閘極線131可同時以相同導電材料形成在基底100上，絕緣層151係形成於外測試訊號線142、內測試閘極線131以及基底100上，之後，去除部份絕緣層151以形成接觸洞h3暴露出部分外測試訊號線142，然後，可選擇性同時形成內測試訊號線132以及外測試分支線141於絕緣層151上，其中外測試分支線141係藉由接觸洞h3與外測試訊號線142電性連接，而內測試訊號線132係不與外測試分支線141和外測試訊號線142連接，最後，全面形成保護層152。

第4圖為本發明之第一測試模組之第二實施例。與第一測試模組之第一實施例不同的是，內測試訊號線以及外 測試訊號線均被分成奇偶兩組。

外測試電路140包括外測試奇訊號線143、外測試偶訊號線144、以及外測試奇訊號墊1402以及外測試偶訊號墊1403。

在進行第一測試程序時，外測試訊號係包括外測試奇訊號以及外測試偶訊號。外測試奇訊號係依序經由外測試奇訊號墊1402、外測試奇訊號線143以及外測試奇分支線141a傳送至掃描線12a，以測試畫素陣列101中之各元件是否正常運作。外測試偶訊號係依序經由外測試偶訊號墊1403、外測試偶訊號線144以及外測試偶分支線141b傳送至掃描線12b，以測試畫素陣列101中之各元件是否正常運作。

因為外測試電路140係與內測試電路130獨立設置，故在進行第一測試程序時，並不會受到內測試電路130的影響，也就是說，若內測試電路130內有瑕疵或是元件故障時，也不會影響到第一測試程序之運作。

內測試電路130包括內測試閘極線131、內測試閘極訊號模組1301、複數測試開關135、複數內測試訊號線以及內測試訊號模組。內測試閘極訊號模組1301與該內測試閘極線131連接，測試開關135具有閘極135a、源極135b以及汲極135c，測試開關135之閘極135a係與該內測試閘極線131電性連接，該些測試開關135之汲極135c係分別與該掃描線12a、12b對應連接。內測試訊號線包括內測試奇訊號線134以及內測試偶訊號線136，分別藉由內測 試奇分支線133a、內測試偶分支線133b與該些測試開關135之源極135b對應連接。內測試閘極訊號模組1301包括閘極訊號墊1301a以及關閉訊號墊1301b。內測試訊號線132係與內測試訊號模組連接。內測試訊號模組包括內測試奇訊號墊1303以及內測試偶訊號墊1304。內測試奇訊號墊1303與該內測試奇訊號線134連接，內測試偶訊號墊1304與該內測試偶訊號線136連接，其中該內測試奇分支線133a以及內測試偶分支線133b係為交錯排列。

在進行第二測試程序時，藉由該閘極訊號墊1301a傳送一開啟訊號給該些測試開關135，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏，然後或同時藉由該內測試奇訊號墊1303、內測試奇訊號線134、內測試奇分支線133a以及測試開關135將內測試奇訊號傳送至掃描線12a，以測試畫素陣列101中之對應各奇數列之各元件是否正常運作。然後，藉由該關閉訊號墊1301b傳送一關閉訊號給該些測試開關135，該關閉訊號之電壓約為－5伏至－10伏。接下來，藉由該閘極訊號墊1301a傳送一開啟訊號給該些測試開關135，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏，然後或同時藉由該內測試偶訊號墊1304、內測試偶訊號線136、內測試偶分支線133b以及測試開關135將內測試偶訊號傳送至掃描線12b，以測試畫素陣列101中之對應各偶數列之各元件是否正常運作。然後，藉由該關閉訊號墊1301b傳送一關閉訊號給該些測試開關135，該關閉訊號之電壓約為－5伏至－10伏。

經由形成液晶層之步驟前後分別藉由第一以及第二測試程序，可更加確保畫素陣列101中之各元件以及線路之運作是否正常。

本發明之第二測試模組之構造可仿照本發明之第一測試模組之第一實施例，其相異處僅第二測試模組係連接至資料線13，其餘運作原理及測試方式與本發明之第一測試模組之第一實施例相似，在此不贅述。

第5圖為本發明之第二測試模組之另一例。如第5圖所示第二測試模組T2包括內測試電路110以及外測試電路120。

外測試電路120包括外測試紅色訊號線124、外測試綠色訊號線126、外測試藍色訊號線128、外測試訊號模組、外測試紅色分支線122R、外測試綠色分支線122G以及外測試藍色分支線122B。外測試訊號模組包括外測試紅色訊號墊1201R、外測試綠色訊號墊1201G以及外測試藍色訊號墊1201B，外測試紅色訊號墊1201R與該外測試紅色訊號線124連接，外測試綠色訊號墊1201G與該外測試綠色訊號線126連接，外測試藍色訊號墊1201B與該外測試藍色訊號線128連接，其中分別與該外測試紅色訊號線124、該外測試綠色訊號線126以及與該外測試藍色訊號線128連接之該些資料線13R、13G、13B係為依序排列。

在進行另一第一測試程序時，外測試訊號係包括外測試紅色訊號、外測試綠色訊號以及外測試藍色訊號。外測試紅色訊號係依序經由外測試紅色訊號墊1201R、外測試 紅色訊號線124以及外測試紅色分支線122R傳送至資料線13R，以測試畫素陣列101中對應紅色之行之各元件是否正常運作。外測試綠色訊號係依序經由外測試綠色訊號墊1201G、外測試綠色訊號線126以及外測試綠色分支線122G傳送至資料線13G，以測試畫素陣列101中對應綠色之行之各元件是否正常運作。外測試藍色訊號係依序經由外測試藍色訊號墊1201B、外測試藍色訊號線128以及外測試藍色分支線122B傳送至資料線13B，以測試畫素陣列101中對應綠色之行之各元件是否正常運作。

因為外測試電路120係與內測試電路110獨立設置，故在進行此另一第一測試程序時，並不會受到內測試電路110的影響，也就是說，若內測試電路110內有瑕疵或是元件故障時，也不會影響到此另一第一測試程序之運作。

內測試電路110包括內測試閘極線112、內測試閘極訊號模組1101、複數測試開關111、複數內測試訊號線以及內測試訊號模組。內測試閘極訊號模組1101與該內測試閘極線112連接，測試開關111具有閘極111a、源極111b以及汲極111c，測試開關111之閘極111a係與該內測試閘極線112電性連接，該些測試開關111之汲極111c係分別與該資料線13R、13G以及13B對應連接。內測試訊號線包括內測試紅色訊號線114、內測試綠色訊號線116以及內測試藍色訊號線118，分別藉由內測試紅色分支線133R、內測試綠色分支線133G以及內測試藍色分支線133B與該些測試開關111之源極111b對應連接。內測試 閘極訊號模組1101之構造以及運作原理與第一測試模組T1之內測試閘極訊號模組1301類似，在此不贅述。內測試訊號模組包括內測試紅色訊號墊1102R、內測試綠色訊號墊1102G以及內測試藍色訊號墊1102B。內測試紅色訊號墊1102R與該內測試紅色訊號線114連接，內測試綠色訊號墊1102G與該內測試綠色訊號線116連接，內測試藍色訊號墊1102B與該內測試藍色訊號線118連接，其中該內測試紅色分支線133R、內測試綠色分支線133G以及內測試藍色分支線133B係為依序交錯排列。

在進行另一第二測試程序時，藉由該內測試閘極訊號模組1101傳送一開啟訊號給該些測試開關111，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏，然後或同時藉由該內測試紅色訊號墊1102R、內測試紅色訊號線114、內測試紅色分支線133R以及測試開關111將內測試紅色訊號傳送至資料線13R，以測試畫素陣列101中之對應各紅色行之各元件是否正常運作。然後，藉由該內測試閘極訊號模組1101傳送一關閉訊號給該些測試開關111，該關閉訊號之電壓約為－5伏至－10伏。接下來，藉由該內測試閘極訊號模組1101傳送一開啟訊號給該些測試開關111，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏，然後或同時藉由該內測試綠色訊號墊1102G、內測試綠色訊號線116、內測試綠色分支線133G以及測試開關111將內測試綠色訊號傳送至資料線13G，以測試畫素陣列101中之對應各綠色行之各元件是否正常運作。然後，藉由該內測試閘極訊號模組1101傳送 一關閉訊號給該些測試開關111，該關閉訊號之電壓約為－5伏至－10伏。然後，同樣地，藉由該內測試閘極訊號模組1101傳送一開啟訊號給該些測試開關111，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏，然後或同時藉由該內測試藍色訊號墊1102B、內測試藍色訊號線118、內測試藍色分支線133B以及測試開關111將內測試藍色訊號傳送至資料線13B，以測試畫素陣列101中之對應各藍色行之各元件是否正常運作。然後，藉由該內測試閘極訊號模組1101傳送一關閉訊號給該些測試開關111，該關閉訊號之電壓約為－5伏至－10伏。

經由形成液晶層之步驟前後分別藉由此另一第一以及第二測試程序，可更加確保畫素陣列101中之對應紅色行、綠色行以及藍色行之各元件以及線路之運作是否正常。

上述開關元件舉例係為薄膜電晶體，各導線之材質舉例為金屬導電材料，對向基板舉例為彩色濾光片基板，此係熟悉該領域人士所能輕易了解。

因為本發明之內外測試電路係為單獨設置，故可提高測試能力，減少測試時誤判的機率且可以測試顯示區內的短路或斷路，且部分測試走線拉至切割線L之外，完成測試程序之後，外測試電路及其部分走線會切除。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為 準。

1‧‧‧液晶顯示面板

10‧‧‧陣列母板

10’‧‧‧主動陣列基板

100‧‧‧基底

101‧‧‧畫素陣列

11‧‧‧畫素單元

110‧‧‧內測試電路

1102R‧‧‧內測試紅色訊號墊

1102G‧‧‧內測試綠色訊號墊

1102B‧‧‧內測試藍色訊號墊

111‧‧‧測試開關

111a‧‧‧閘極

111b‧‧‧源極

111c‧‧‧汲極

112‧‧‧內測試閘極線

114‧‧‧內測試紅色訊號線

116‧‧‧內測試綠色訊號線

118‧‧‧內測試藍色訊號線

12、12a、12b‧‧‧掃描線

120‧‧‧外測試電路

1201R‧‧‧外測試紅色訊號墊

1201G‧‧‧外測試綠色訊號墊

1201B‧‧‧外測試藍色訊號墊

121‧‧‧外測試分支線

122R‧‧‧外測試紅色分支線

122G‧‧‧外測試綠色分支線

122B‧‧‧外測試藍色分支線

124‧‧‧外測試紅色訊號線

126‧‧‧外測試綠色訊號線

128‧‧‧外測試藍色訊號線

13、13R、13G、13B‧‧‧資料線

130‧‧‧內測試電路

1301‧‧‧內測試閘極訊號模組

1301a‧‧‧閘極訊號墊

1301b‧‧‧關閉訊號墊

1302‧‧‧內測試訊號模組

131‧‧‧內測試閘極線

132‧‧‧內測試訊號線

133‧‧‧內測試分支線

133a‧‧‧內測試奇分支線

133b‧‧‧內測試偶分支線

134‧‧‧內測試奇訊號線

135‧‧‧測試開關

135a‧‧‧閘極

135b‧‧‧源極

135c‧‧‧汲極

136‧‧‧內測試偶訊號線

14‧‧‧畫素電極

140‧‧‧外測試電路

1401‧‧‧外測試訊號模組

1402‧‧‧外測試奇訊號墊

1403‧‧‧外測試偶訊號墊

141‧‧‧外測試分支線

141a‧‧‧外測試奇分支線

141b‧‧‧外測試偶分支線

142‧‧‧外測試訊號線

143‧‧‧外測試奇訊號線

144‧‧‧外測試偶訊號線

15‧‧‧主動元件

150‧‧‧導電層

151‧‧‧絕緣層

152‧‧‧保護層

20‧‧‧對向基板

30‧‧‧液晶層

第1圖係為本發明之陣列母板；第2A－2D圖為本發明之製造液晶顯示面板之方法；第3A圖為本發明之第一測試模組之第一實施例；第3B圖以及第3C圖分別為本發明之第一測試模組沿剖面線A－A’所繪製之第一例以及第二例剖面圖；第4圖為本發明之第一測試模組之第二實施例；以及第5圖為本發明之第二測試模組之另一例。

10‧‧‧陣列母板

100‧‧‧基底

101‧‧‧畫素陣列

11‧‧‧畫素單元

110‧‧‧內測試電路

12‧‧‧掃描線

120‧‧‧外測試電路

121‧‧‧外測試分支線

13‧‧‧資料線

130‧‧‧內測試電路

14‧‧‧畫素電極

140‧‧‧外測試電路

141‧‧‧外測試分支線

Claims (16)

1. 一種主動陣列基板，包括：一基底；一畫素陣列，設置於該基底上，該畫素陣列包括複數導線；一內測試電路，與該複數導線中之一部分導線電性連接，該內測試電路包括：一內測試閘極線；一內測試閘極訊號模組，與該內測試閘極線連接；複數測試開關，與該內測試閘極線電性連接，該些測試開關之汲極係分別與該複數導線中之一部分導線對應連接；至少一內測試訊號線，與該些測試開關連接；以及一內測試訊號模組，與該內測試訊號線電性連接；以及複數外測試分支線，分別與該些測試開關之汲極直接連接；其中該內測試電路係與該外測試分支線並聯，其中該內測試電路之該複數測試開關之數量等於該複數外測試分支線之數量，該內測試電路之該複數測試開關之一以及該複數外測試分支線之一連接至相同之導線。
2. 如申請專利範圍第1項所述之主動陣列基板，其中該些導線包括複數掃描線以及複數資料線，該內測試電路係與該些掃描線電性連接。
3. 如申請專利範圍第2項所述之主動陣列基板，其中該內測試訊號線包括一內測試奇訊號線以及一內測試偶訊號線，該內測試訊號模組包括：一內測試奇訊號墊，與該內測試奇訊號線連接；以及一內測試偶訊號墊，與該內測試偶訊號線連接。
4. 如申請專利範圍第1項所述之主動陣列基板，其中該些導線包括複數掃描線以及複數資料線，該內測試電路係與該些資料線電性連接。
5. 如申請專利範圍第4項所述之主動陣列基板，其中該些內測試訊號線包括一內測試紅色訊號線、一內測試綠色訊號線以及一內測試藍色訊號線，該內測試訊號模組包括：一內測試紅色訊號墊，與該內測試紅色訊號線連接；一內測試綠色訊號墊，與該內測試綠色訊號線連 接；以及一內測試藍色訊號墊，與該內測試藍色訊號線連接，其中分別與該內測試紅色訊號線、該內測試綠色訊號線以及與該內測試藍色訊號線連接之該些測試開關係為依序排列。
6. 如申請專利範圍第1項所述之主動陣列基板，更包括：一另一內測試電路，設置於該基底上，與該複數導線中之另一部分導線電性連接；以及一另一外測試分支線，與該複數導線中之該另一部分導線直接連接。
7. 如申請專利範圍第6項所述之主動陣列基板，其中該另一內測試電路係與該另一外測試分支線並聯。
8. 一種液晶顯示面板，包括：如申請專利範圍第1項至第7項中任一項所述之主動陣列基板；一對向基板；以及一液晶層，設置於該主動陣列基板以及該對向基板之間。
9. 一種製造液晶顯示面板之方法，包括： 提供一陣列母板，該陣列母板包括：一基底；一畫素陣列，設置於該基底上，該畫素陣列包括複數導線；以及一第一測試模組，設置於該基底上，與該畫素陣列電性連接，該第一測試模組包括：一內測試電路，與該複數導線中之一部分電性連接，該內測試電路包括：一內測試閘極線；一內測試閘極訊號模組，與該內測試閘極線連接；複數測試開關，與該內測試閘極線電性連接，該些測試開關係之汲極分別與該複數導線中之一部分導線對應連接；複數內測試訊號線，分別與該些測試開關對應連接；以及一內測試訊號模組，與該些內測試訊號線電性連接；藉由該內測試閘極訊號模組傳送至少一關閉訊號給該些測試開關；以及一外測試電路，包含複數外測試分支線，分別與該些測試開關之汲極直接連接；其中該內測試電路係與該外測試分支線並聯，其中該內測試電路之該複數測試開關之數量 等於該複數外測試分支線之數量，該內測試電路之該複數測試開關之一以及該複數外測試分支線之一連接至相同之導線；藉由該外測試電路傳送至少一外測試訊號給該畫素陣列以執行一第一測試程序；切割該陣列母板以將該外測試電路之至少一部分脫離該畫素陣列以形成一主動陣列基板；形成一液晶層於該主動陣列基板以及一對向基板之間；以及藉由該內測試電路傳送至少一內測試訊號給該畫素陣列以執行一第二測試程序。
10. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該陣列母板具有一切割線位於該內測試電路以及該外測試電路之間，其中該切割該陣列母板以將該外測試電路之至少一部分脫離該畫素陣列之步驟係包括沿該切割線切割該陣列母板。
11. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該內測試閘極訊號模組包括一閘極訊號墊以及一關閉訊號墊，該至少一關閉訊號係藉由該關閉訊號墊傳送給該些測試開關，該關閉訊號之電壓約為-5伏至-10伏。
12. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該內測 試閘極訊號模組包括一閘極訊號墊，該方法更包括藉由該閘極訊號墊傳送一開啟訊號給該些測試開關，該開啟訊號之電壓約為20伏至30伏。
13. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該些導線包括複數掃描線以及複數資料線，該內測試電路係與該些掃描線電性連接，該些內測試訊號線包括一內測試奇訊號線以及一內測試偶訊號線，該內測試訊號模組包括：一內測試奇訊號墊，與該內測試奇訊號線連接；以及一偶測試奇訊號墊，與該內測試偶訊號線連接；其中該至少一內測試訊號包括至少一內測試奇訊號以及至少一內測試偶訊號，該至少一內測試奇訊號係藉由該內測試奇訊號線傳送至該畫素陣列，該至少一內測試偶訊號係藉由該內測試偶訊號線傳送至該畫素陣列。
14. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該些導線包括複數掃描線以及複數資料線，該內測試電路係與該些資料線電性連接，其中該些內測試訊號線包括一內測試紅色訊號線、一內測試綠色訊號線以及一內測試藍色訊號線，該內測試訊號模組包括：一內測試紅色訊號墊，與該內測試紅色訊號線連 接；一內測試綠色訊號墊，與該內測試綠色訊號線連接；以及一內測試藍色訊號墊，與該內測試藍色訊號線連接；其中該至少一內測試訊號包括至少一內測試紅色訊號、至少一內測試綠色訊號以及至少一內測試藍色訊號，該至少一內測試紅色訊號係藉由該內測試紅色訊號線傳送至該畫素陣列，該至少一內測試綠色訊號係藉由該內測試綠色訊號線傳送至該畫素陣列，該至少一內測試藍色訊號係藉由該內測試藍色訊號線傳送至該畫素陣列。
15. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該外測試電路包括：至少一外測試訊號線，與該複數導線中之該部分直接連接；以及一外測試訊號模組，與該至少一外測試訊號線電性連接；其中該些導線包括複數掃描線以及複數資料線，該外測試電路係與該些掃描線電性連接，該至少一外測試訊號線包括一外測試奇訊號線以及一外測試偶訊號線，該外測試訊號模組包括：一外測試奇訊號墊，與該外測試奇訊號線連接； 以及一外測試偶訊號墊，與該外測試偶訊號線連接，其中該至少一外測試訊號包括至少一外測試奇訊號以及至少一外測試偶訊號，該至少一外測試奇訊號係藉由該外測試奇訊號線傳送至該畫素陣列，該至少一外測試偶訊號係藉由該外測試偶訊號線傳送至該畫素陣列。
16. 如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該外測試電路包括：至少一外測試訊號線，與該些測試開關連接；以及一外測試訊號模組，與該至少一外測試訊號線電性連接；其中該些導線包括複數掃描線以及複數資料線，該外測試電路係與該些資料線電性連接，其中該些外測試訊號線包括一外測試紅色訊號線、一外測試綠色訊號線以及一外測試藍色訊號線，該外測試訊號模組包括：一外測試紅色訊號墊，與該外測試紅色訊號線連接；一外測試綠色訊號墊，與該外測試綠色訊號線連接；以及一外測試藍色訊號墊，與該外測試藍色訊號線連 接；其中該至少一外測試訊號包括至少一外測試紅色訊號、至少一外測試綠色訊號以及至少一外測試藍色訊號，該至少一外測試紅色訊號係藉由該外測試紅色訊號線傳送至該畫素陣列，該至少一外測試綠色訊號係藉由該外測試綠色訊號線傳送至該畫素陣列，該至少一外測試藍色訊號係藉由該外測試藍色訊號線傳送至該畫素陣列。