TWI406241B - 一種檢測電路及顯示器 - Google Patents

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Description

一種檢測電路及顯示器
本發明係有關於一種液晶顯示器之檢測電路，更明確地說，係有關於一種將短路開關分別設置於像素區之不同側以降低干擾與耦合效應之檢測電路。
請參考第1圖。第1圖係為一先前技術之液晶顯示器100(2G3D)於測試階段之示意圖。如第1圖所示，在測試階段中，液晶顯示器100包含一檢測電路140及一像素區(顯示區)110。
檢測電路140用來檢測像素區110內是否有壞掉的像素。檢測電路140包含二閘極線短路線(shorting bar)GSLA 、GSLB 、三資料線短路線DSLC 、DSLD 、DSLE ，以及五導體墊(pad)GA、GB、C、D以及E。導體墊GA、GB、C、D以及E分別電性連接於閘極線短路線GSLA 、閘極線短路線GSLB 、資料線短路線DSLC 、資料線短路線DSLD 以及資料線短路線DSLE 。
像素區110包含N條閘極線(訊號線)GL1 ~GLN 、M條資料線(訊號線)DL1 ~DLM 以及閘極線與資料線交錯所形成的像素。閘極線GL1 ~GLN 可分成兩群：奇數閘極線(如GL1 、GL3 、GL5 ...等)與偶數閘極線(如GL2 、GL4 、GL6 ...等)。資料線DL1 ~DLM 亦可再分成三群：紅色資料線(DL1 、DL4 、DL7 、DL10 ...等)、綠色資料線(DL2 、 DL5 、DL8 、DL11 ...等)以及藍色資料線(DL3 、DL6 、DL9 、DL12 ...等)。每個閘極線皆具有一第一端1及一第二端2。舉例來說，閘極線GL1 具有一第一端1及一第二端2。每個資料線皆具有一第一端1及一第二端2。舉例來說，資料線DL1 具有一第一端1及一第二端2。
於像素區110中，一像素包含三個子像素(紅色子像素、綠色子像素及藍色子像素)。如第1圖所示，一紅色子像素PX11 係經由一像素開關SWP11 電性連接對應的閘極線與紅色資料線，以接收對應的閘極驅動訊號與資料訊號來驅動紅色子像素PX11 (意即顯示紅色)。更明確地說，像素開關SWP11 之一第一端1電性連接於紅色資料線DL1 、像素開關SWP11 之一第二端2電性連接於像素PX11 、像素開關SWP11 之一控制端C電性連接於閘極線GL1 。液晶顯示器100於測試階段中，會先利用檢測電路140，將像素區110所有的閘極線GL1 ~GLN ，分別與兩條閘極線短路線GSLA 及GSLB 短路、以及像素區110所有的資料線DL1 ~DLM ，分別與三條資料線短路線DSLC 、DSLD 及DSLE 短路，並且於導體墊GA、GB、C、D、E分別輸入測試訊號，以測試像素區110內是否有壞掉的像素。
當測試階段完成後，進行雷射切割(如圖式中虛線表示)。之後，再將閘極驅動電路(訊號驅動電路)120與資料驅動電路(訊號驅動電路)130分別電性連接至對應的導體墊PG1 ~PGN 與PD1 ~PDM ，以將 閘極驅動電路120之輸出端透過導體墊PG1 ~PGN 分別電性連接於閘極線GL1 ~GLN 之第一端1，以及將資料驅動電路130之輸出端透過導體墊PD1 ~PDM 分別電性連接於資料線DL1 ~DLM 之第一端1。如此，便可完成液晶顯示器100之製造。
然而由於先前技術的測試方式，需要再以雷射切割手續將短路的部分(意即檢測電路140)切除，成本較高，造成使用者的不便。
本發明提供一種檢測電路。該檢測電路用來檢測一顯示區所包含之複數條訊號線。每一訊號線皆包含一第一端與一第二端。每一訊號線之該第一端用來電性連接一訊號驅動電路。該檢測電路包含一第一訊號線短路開關以及一第二訊號線短路開關。該第一訊號線短路開關包含一第一端，電性連接於一第一訊號線之該第一端、一第二端，以及一第三端，用來接收一第一控制訊號。該第一訊號線短路開關根據該第一控制訊號，控制該第一訊號線短路開關之該第一端與該第一訊號線短路開關之該第二端之電性連接。該第二訊號線短路開關包含一第一端，電性連接於該第一訊號線之該第二端、一第二端，電性連接於一第二訊號線之該第二端，以及一第三端，用來接收一第二控制訊號。該第二訊號線短路開關根據該第二控制訊號，控制該第二訊號線短路開關之該第一端與該第二訊號線短路開關之該第二端之電性連接。
本發明更提供一種檢測電路。該檢測電路用來檢測一顯示區所包含之複數條訊號線。每一訊號線皆包含一第一端與一第二端。每一訊號線之該第一端皆設置於該顯示區之一第一側，用來電性連接一訊號驅動電路。每一訊號線之該第二端皆設置於相異於該顯示區之該第一側之一第二側。該檢測電路包含一短路線、複數個第一訊號線短路開關以及複數個第二訊號線短路開關。該短路線設置於該顯示區之該第一側，用來接收一測試訊號以檢測該複數條訊號線。該複數個第一訊號線短路開關，設置於該顯示區之該第一側。每個第一訊號線短路開關皆包含一第一端，電性連接於一對應之訊號線之該第一端、一第二端，電性連接於該短路線，以及一第三端，用來接收一第一控制訊號。該第一訊號線短路開關根據該第一控制訊號，控制該第一訊號線短路開關之該第一端與該第一訊號線短路開關之該第二端之電性連接。該複數個第二訊號線短路開關，設置於該顯示區之該第二側。每個第二訊號線短路開關皆對應於一第一訊號線短路開關。每個第二訊號線短路開關皆包含一第一端，電性連接於對應之一訊號線短路開關所電性連接的訊號線之該第二端、一第二端，電性連接於對應之一訊號線之該第二端，該訊號線係相異於該第二訊號線短路開關之該第一端所電性連接之訊號線，以及一第三端，用來接收一第二控制訊號。該第二訊號線短路開關根據該第二控制訊號，控制該第二訊號線短路開關之該第一端與該第二訊號線短路開關之該第二端之電性連接。
本發明更提供一種顯示器。該顯示器包含一顯示區以及一檢測電路。顯示區包含複數個像素、複數個像素開關，用來驅動該複數個像素，以及複數條訊號線，用來傳送訊號至該複數個像素開關。每一訊號線皆包含一第一端以及一第二端。每一訊號線之該第一端皆設置於該顯示區之一第一側。每一訊號線之該第二端皆設置於相異於該顯示區之該第一側之一第二側。該檢測電路，包含一短路線，設置於該顯示區之該第一側，用來接收一測試訊號以檢測該複數條訊號線、複數個第一訊號線短路開關以及複數個第二訊號線短路開關。該複數個第一訊號線短路開關設置於該顯示區之該第一側。每個第一訊號線短路開關皆電性連接於該短路線與一對應之訊號線之該第一端之間。該複數個第二訊號線短路開關設置於該顯示區之該第二側。每個第二訊號線短路開關皆對應於一第一訊號線短路開關。每個第二訊號線短路開關皆電性連接於該第二訊號線短路開關所對應的該第一訊號線短路開關所電性連接之訊號線之該第二端與該第二訊號線短路開關所對應之一訊號線之該第二端之間。其中每一該第二訊號線短路開關係電性連接於相異之訊號線之間。
在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，製造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區別元件的方式，而是以元件在功 能上的差異來作為區別的基準。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。此外，「電性連接」一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述一第一裝置電性連接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地連接至該第二裝置。
請參考第2圖。第2圖係為根據本發明之第一實施例之液晶顯示器200(2G3D)於測試階段之示意圖。如第2圖所示，液晶顯示器200包含一檢測電路240及一像素區(顯示區)210。
像素區210包含N條閘極線(訊號線)GL1 ~GLN 、M條資料線(訊號線)DL1 ~DLM 以及閘極線與資料線交錯所形成的像素。閘極線GL1 ~GLN 可分成兩群：奇數閘極線(如GL1 、GL3 、GL5 ...等)與偶數閘極線(如GL2 、GL4 、GL6 ...等)。資料線DL1 ~DLM 亦可再分成三群：紅色資料線(DL1 、DL4 、DL7 、DL10 ...等)、綠色資料線(DL2 、DL5 、DL8 、DL11 ...等)以及藍色資料線(DL3 、DL6 、DL9 、DL12 ...等)。每個閘極線皆具有一第一端1及一第二端2。舉例來說，閘極線GL1 具有一第一端1及一第二端2。每個資料線皆具有一第一端1及一第二端2。舉例來說，資料線DL1 具有一第一端1及一第二端2。於像素區210中，一像素包含三個子像素(紅色子像素、綠色子像素及藍色子像素)。如第2圖所示，一紅色子像素PX11 係經由一像素開關SWP11 電性連接對應的閘極線與紅色資料線， 以接收對應的閘極驅動訊號與資料訊號來驅動紅色子像素PX11 (意即顯示紅色)。更明確地說，像素開關SWP11 之一第一端1電性連接於紅色資料線DL1 、像素開關SWP11 之一第二端2電性連接於像素PX11 、像素開關SWP11 之一控制端C電性連接於閘極線GL1 。
檢測電路240包含二條閘極線短路線GSLA 與GSLB 、三條資料線短路線DSLC 、DSLD 與DSLE 、五導體墊GA、GB、C、D以及E以及N個閘極線短路開關(訊號線短路開關)SWG1 ~SWGN 與M個資料線短路開關(訊號線短路開關)SWD1 ~SWDM 。閘極線短路線GSLA 與GSLB ，如第2圖所示，設置於像素區210之左側；資料線短路線DSLC 、DSLD 與DSLE ，如第2圖所示，設置於像素區210之下側。導體墊GA、GB、C、D以及E分別電性連接於閘極線短路線GSLA 、閘極線短路線GSLB 、資料線短路線DSLC 、資料線短路線DSLD 以及資料線短路線DSLE 。
另外，導體墊PG1 ~PGN 係設置於像素區210之左側，用來於測試階段完成後，將閘極驅動電路(訊號驅動電路)220電性連接於閘極線GL1 ~GLN 。更明確地說，在測試階段完成後，閘極驅動電路220會電性連接至對應的導體墊PG1 ~PGN ，以將閘極驅動電路220之輸出端透過導體墊PG1 ~PGN 電性連接於閘極線GL1 ~GLN 之第一端1。導體墊PD1 ~PDM 係設置於像素區210之下側，用來於測試階段完成後，將資料驅動電路230(訊號驅動電路)電性連接於資料線 DL1 ~DLM 。更明確地說，在測試階段完成後，資料驅動電路230會電性連接至對應的導體墊PD1 ~PDM ，以將資料驅動電路230之輸出端透過導體墊PD1 ~PDM 電性連接於資料線DL1 ~DLM 之第一端1。
閘極線短路開關SWG1 ~SWGN 與資料線短路開關SWD1 ~SWDM 皆具有相同之結構。舉例來說，閘極線短路開關SWG1 包含一第一端1、一第二端2以及一控制端C；閘極線短路開關SWG1 並且會依據其控制端C上所接收到的控制訊號SCG1 控制其第一端1電性連接於其第二端2(如控制訊號SCG1 控制閘極線短路開關SWG1 開啟時，閘極線短路開關SWG1 之該第一端1會短路至閘極線短路開關SWG1 之該第二端2；反之，控制訊號SCG1 控制閘極線短路開關SWG1 關閉時，閘極線短路開關SWG1 之該第一端1會與閘極線短路開關SWG1 之該第二端2之電性連接會斷開形成斷路。資料線短路開關SWD1 包含一第一端1、一第二端2以及一控制端C；資料線短路開關SWD1 並且會依據其控制端C上所接收到的控制訊號SCD1 控制其第一端1電性連接於其第二端2(如控制訊號SCD1 控制資料線短路開關SWD1 開啟時，資料線短路開關SWG1 之該第一端1會短路至資料線短路開關SWD1 之該第二端2；反之，控制訊號SCD1 控制資料線短路開關SWD1 關閉時，資料線短路開關SWG1 之該第一端1會與資料線短路開關SWD1 之該第二端2之電性連接會斷開形成斷路。
閘極線短路開關SWG1 ~SWGN 分別設置於像素區210的左右兩 側，以增加閘極線短路開關SWG1 ~SWGN 在佈局時的餘裕度，意即將閘極線短路開關SWG1 ~SWGN 分別設置於像素區210的左右兩側，如此相鄰的閘極線短路開關便可具有更寬的距離，以減少彼此互相干擾(cross－talk)及耦合(coupling)的影響。
資料線短路開關SWD1 ~SWDM 分別設置於像素區210的上下兩側，以增加資料線短路開關SWD1 ~SWDM 在佈局時的餘裕度，意即將資料線短路開關SWD1 ~SWDM 分別設置於像素區210的上下兩側，如此相鄰的資料線短路開關便可具有更寬的距離，以減少彼此互相干擾及耦合的影響。
在檢測電路240之閘極線短路開關SWG1 ~SWGN 中，可分成兩群：奇數閘極線短路開關(如SWG1 、SWG3 、SWG5 ...等)以及偶數閘極線短路開關(如SWG2 、SWG4 、SWG6 ...等)。同一群中相鄰的二閘極線(下稱第一閘極線與第二閘極線)，對應於第一閘極線的閘極線短路開關(下稱第一閘極線短路開關)設置於像素區210的左側；對應於第二閘極線的閘極線短路開關(下稱第二閘極線短路開關)設置於像素區210的右側。更明確地說，第一閘極線短路開關之該第一端1電性連接於該第一閘極線之該第一端1；第一閘極線短路開關之該第二端2電性連接於對應的奇/偶數短路線；第二閘極線短路開關之該第一端1電性連接於該第一閘極線之該第二端2；第二閘極線短路開關之該第二端2電性連接於該第二閘極線之該第二端2。舉例來說，在奇數閘極線短路開關中，對應於相鄰的奇數 閘極線GL1 及GL3 的閘極線短路開關係為閘極線短路開關SWG1 及SWG3 ；閘極線短路開關SWG1 之該第一端1電性連接於閘極線GL1 之該第一端1；閘極線短路開關SWG1 之該第二端2電性連接於閘極線短路線GSLA ；閘極線短路開關SWG3 之該第一端1電性連接於閘極線GL1 之該第二端2；閘極線短路開關SWG3 之該第二端2電性連接於奇數閘極線GL3 之該第二端2。其餘奇數閘極線短路開關之連接方式依此類推。而偶數閘極線短路開關之連接方式亦依此類推。
在檢測電路240之資料線短路開關SWD1 ~SWDM 中，可分成三群：紅色資料線短路開關(如SWD1 、SWD4 、SWD7 ...等)、綠色資料線短路開關(如SWD2 、SWD5 、SWD8 ...等)、以及藍色資料線短路開關(如SWD3 、SWD6 、SWD9 ...等)。同一群中相鄰的二資料線(下稱第一資料線與第二資料線)，對應於第一資料線的資料線短路開關(下稱第一資料線短路開關)設置於像素區210的下側；對應於第二資料線的資料線短路開關(下稱第二資料線短路開關)設置於像素區210的上側。更明確地說，第一資料線短路開關之該第一端1電性連接於該第一資料線之該第一端1；第一資料線短路開關之該第二端2電性連接於對應的資料線短路線DSLC 、DSLD 或DSLE ；第二資料線短路開關之該第一端1電性連接於該第一資料線之該第二端2；第二資料線短路開關之該第二端2電性連接於該第二資料線之該第二端2。舉例來說，在紅色資料線短路開關中，對應於相鄰的紅色資料線DL1 及DL4 的資料線短路開關係為資料線短路 開關SWD1 及SWD4 ；資料線短路開關SWD1 之該第一端1電性連接於紅色資料線DL1 之該第一端1；資料線短路開關SWD1 之該第二端2電性連接於資料線短路線DSLA ；資料線短路開關SWD4 之該第一端1電性連接於紅色資料線DL1 之該第二端2；資料線短路開關SWD4 之該第二端2電性連接於紅色資料線DL4 之該第二端2。其餘紅色資料線短路開關之連接方式依此類推。而綠/藍色資料線短路開關之連接方式亦依此類推。
請參考第3圖。第3圖係為說明在測試階段時，閘極線短路行為之示意圖。如第3圖所示，在測試階段時，透過檢測電路240，所有閘極線短路開關SWG1 ~SWGN 皆會開啟以導通，而形成如第3圖般的短路情況，以提供使用者在導體墊GO及GE輸入測試訊號來測試所有的閘極線GL1 ~GLN 。
請參考第4圖。第4圖係為說明在測試階段時，資料線短路行為之示意圖。如第4圖所示，在測試階段時，透過檢測電路240，所有資料線短路開關SWD1 ~SWDM 皆會開啟以導通，而形成如第4圖般的短路情況，以提供使用者在導體墊R、G及B輸入測試訊號來測試所有的資料線DL1 ~DLM 。
另外，每個短路開關SWG1 ~SWGN 、SWD1 ~SWDM 之控制端C，可全數電性連接在一起，或者部份電性連接在一起，端看使用者需求而設計。然而需確定的是，在測試階段，所有的短路開關 SWG1 ~SWGN 、SWD1 ~SWDM 需要全數開啟；而當測試階段結束後，將閘極驅動電路220與資料驅動電路230分別電性連接至導體墊PG1 ~PGN 、PD1 ~PDM 後，所有的短路開關SWG1 ~SWGN 、SWD1 ~SWDM 需全數關閉，以避免影響液晶顯示器200之正常運作。
請參考第5圖。第5圖係為根據本發明之第二實施例之液晶顯示器500(2G2D)於測試階段之示意圖。如第5圖所示，液晶顯示器500包含一檢測電路540及一像素區(顯示區)510。於液晶顯示器500中，檢測電路540與像素區510類似於液晶顯示器200中的檢測電路240與像素區210，其差異僅在於檢測電路540包含二條閘極線短路線GSLA 與GSLB 、二條資料線短路線DSLC 、DSLD 、四導體墊GA、GB、C以及D。相較於檢測電路240，檢測電路540僅以兩條資料線短路線來進行短路功能。而像素區510則根據檢測電路540之短路線的設計據以分群。相關功能性描述如同前述，於此不再贅述。
綜上述，本發明所提供之檢測電路，利用在像素區的不同側設置短路開關，以增進佈局時的餘裕度，同時降低相臨短路開關之間的干擾與耦合效應，更能提供使用者更大的便利性。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
1‧‧‧第一端
2‧‧‧第二端
100、200、500‧‧‧液晶顯示器
110、210、510‧‧‧像素區
120、220、520‧‧‧閘極驅動電路
130、230、530‧‧‧資料驅動電路
140、240、540‧‧‧檢測電路
C‧‧‧控制端
DL1 ~DLM ‧‧‧資料線
DSLC 、DSLD 、DSLE ‧‧‧資料線短路線
GL1 ~GLN ‧‧‧閘極線
GSLA 、GSLB ‧‧‧閘極線短路線
PG1 ~PGN 、PD1 ~PDM 、GA、GB、 C、D、E‧‧‧ 導體墊
PX11 ‧‧‧子像素
SCG1 ~SCGN 、SCD1 ~SCDM ‧‧‧控制訊號
SWP11 ‧‧‧像素開關
SWG1 ~SWGN ‧‧‧閘極線短路開關
SWD1 ~SWDM ‧‧‧資料線短路開關
第1圖係為一先前技術之液晶顯示器於測試階段之示意圖。
第2圖係為根據本發明之第一實施例液晶顯示器於測試階段之示意圖。
第3圖係為說明在測試階段時，閘極線短路行為之示意圖。
第4圖係為說明在測試階段時，資料線短路行為之示意圖。
第5圖係為根據本發明之第二實施例液晶顯示器於測試階段之示意圖。
1‧‧‧第一端
2‧‧‧第二端
200‧‧‧液晶顯示器
210‧‧‧像素區
220‧‧‧閘極驅動電路
230‧‧‧資料驅動電路
240‧‧‧檢測電路
C‧‧‧控制端
DL1 ~DLM ‧‧‧資料線
DSLC 、DSLD 、DSLE ‧‧‧資料線短路線
GL1 ~GLN ‧‧‧閘極線
GSLA 、GSLB ‧‧‧閘極線短路線
PG1 ~PGN 、PD1 ~PDM 、GA、GB、C、D、E‧‧‧ 導體墊
Px11 ‧‧‧子像素
SCG1 ~SCGN 、SCD1 ~SCDM ‧‧‧控制訊號
SWP11 ‧‧‧像素開關
SWG1 ~SWGN ‧‧‧閘極線短路開關
SWD1 ~SWDM ‧‧‧資料線短路開關

Claims (12)

  1. 一種檢測電路，用來檢測一顯示區所包含之複數條訊號線，每一訊號線皆包含一第一端與一第二端，每一訊號線之該第一端用來電性連接一訊號驅動電路，該檢測電路包含：一第一訊號線短路開關，包含：一第一端，電性連接於一第一訊號線之該第一端；一第二端；以及一第三端，用來接收一第一控制訊號，該第一訊號線短路開關根據該第一控制訊號，控制該第一訊號線短路開關之該第一端與該第一訊號線短路開關之該第二端之電性連接；一第二訊號線短路開關，包含：一第一端，電性連接於該第一訊號線之該第二端；一第二端，電性連接於一第二訊號線之該第二端；以及一第三端，用來接收一第二控制訊號，該第二訊號線短路開關根據該第二控制訊號，控制該第二訊號線短路開關之該第一端與該第二訊號線短路開關之該第二端之電性連接；以及一第一短路線，用來接收一第一測試訊號，該第一短路線電性連接於該第一訊號線短路開關之該第二端。
  2. 如請求項1所述之檢測電路，其中當該第一短路線接收該第一測試訊號時，該第一、第二控制訊號控制該第一、第二訊號線 短路開關開啟。
  3. 如請求項1所述之檢測電路，另包含：一第三訊號線短路開關，包含：一第一端，電性連接於一第三訊號線之該第一端；一第二端；以及一第三端，用來接收一第三控制訊號，該第三訊號線短路開關根據該第三控制訊號，控制該第三訊號線短路開關之該第一端與該第三訊號線短路開關之該第二端之電性連接；一第四訊號線短路開關，包含：一第一端，電性連接於該第三訊號線之該第二端；一第二端，電性連接於一第四訊號線之該第二端；以及一第三端，用來接收一第四控制訊號，該第四訊號線短路開關根據該第四控制訊號，控制該第四訊號線短路開關之該第一端與該第四訊號線短路開關之該第二端之電性連接；以及一第二短路線，用來接收一第二測試訊號，該第二短路線電性連接於該第三訊號線短路開關之該第二端；其中該第三訊號線與該第四訊號線係相異於該第一訊號線及該第二訊號線。
  4. 如請求項3所述之檢測電路，其中當該第二短路線接收該第二 測試訊號時，該第三、第四控制訊號控制該第三、第四訊號線短路開關開啟。
  5. 如請求項1所述之檢測電路，其中該複數條訊號線係為複數條閘極線；該訊號驅動電路係為閘極驅動電路。
  6. 如請求項1所述之檢測電路，其中該複數條訊號線係為複數條資料線；該訊號驅動電路係為資料驅動電路。
  7. 一種檢測電路，用來檢測一顯示區所包含之複數條訊號線，每一訊號線皆包含一第一端與一第二端，每一訊號線之該第一端皆設置於該顯示區之一第一側，用來電性連接一訊號驅動電路，每一訊號線之該第二端皆設置於相異於該顯示區之該第一側之一第二側，該檢測電路包含：一短路線，設置於該顯示區之該第一側，用來接收一測試訊號以檢測該複數條訊號線；複數個第一訊號線短路開關，設置於該顯示區之該第一側，每個第一訊號線短路開關皆包含：一第一端，電性連接於一對應之訊號線之該第一端；一第二端，電性連接於該短路線；以及一第三端，用來接收一第一控制訊號，該第一訊號線短路開關根據該第一控制訊號，控制該第一訊號線短路開關之該第一端與該第一訊號線短路開關之該第二端之 電性連接；以及複數個第二訊號線短路開關，設置於該顯示區之該第二側，每個第二訊號線短路開關皆對應於一第一訊號線短路開關，每個第二訊號線短路開關皆包含：一第一端，電性連接於對應之一訊號線短路開關所電性連接的訊號線之該第二端；一第二端，電性連接於對應之一訊號線之該第二端，該訊號線係相異於該第二訊號線短路開關之該第一端所電性連接之訊號線；以及一第三端，用來接收一第二控制訊號，該第二訊號線短路開關根據該第二控制訊號，控制該第二訊號線短路開關之該第一端與該第二訊號線短路開關之該第二端之電性連接。
  8. 如請求項7所述之檢測電路，其中當該短路線接收該測試訊號時，該複數個第一、第二訊號線短路開關皆為開啟狀態。
  9. 如請求項7所述之檢測電路，其中該複數條訊號線係為複數條閘極線；該訊號驅動電路係為閘極驅動電路。
  10. 如請求項7所述之檢測電路，其中該複數條訊號線係為複數條資料線；該訊號驅動電路係為資料驅動電路。
  11. 一種顯示器，包含：一顯示區，包含：複數個像素；複數個像素開關，用來驅動該複數個像素；以及複數條訊號線，用來傳送訊號至該複數個像素開關，每一訊號線皆包含一第一端以及一第二端，每一訊號線之該第一端皆設置於該顯示區之一第一側，每一訊號線之該第二端皆設置於相異於該顯示區之該第一側之一第二側；一檢測電路，包含：一短路線，設置於該顯示區之該第一側，用來接收一測試訊號以檢測該複數條訊號線；複數個第一訊號線短路開關，設置於該顯示區之該第一側，每個第一訊號線短路開關皆電性連接於該短路線與一對應之訊號線之該第一端之間；以及複數個第二訊號線短路開關，設置於該顯示區之該第二側，每個第二訊號線短路開關皆對應於一第一訊號線短路開關，每個第二訊號線短路開關皆電性連接於該第二訊號線短路開關所對應的該第一訊號線短路開關所電性連接之訊號線之該第二端與該第二訊號線短路開關所對應之一訊號線之該第二端之間；其中每一該第二訊號線短路開關係電性連接於相異之訊號線之間。
  12. 如請求項11所述之顯示器，其中當該短路線接收該測試訊號時，該複數個第一、第二訊號線短路開關皆為開啟狀態。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101113340B1 (ko) * 2010-05-13 2012-02-29 삼성모바일디스플레이주식회사 액정 표시장치 및 그의 검사방법
CN203895097U (zh) * 2014-05-29 2014-10-22 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种消除关机残影电路和显示装置
CN104218042B (zh) * 2014-09-02 2017-06-09 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种阵列基板及其制备方法、显示装置
CN104360504B (zh) 2014-11-14 2017-04-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种阵列基板及其检测方法
CN104464587B (zh) * 2014-12-31 2017-04-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种阵列基板及其检测电路
CN107248387A (zh) * 2017-07-19 2017-10-13 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板的测试电路及显示装置
TWI647682B (zh) * 2017-09-07 2019-01-11 友達光電股份有限公司 檢測方法及顯示面板
CN109300440B (zh) * 2018-10-15 2020-05-22 深圳市华星光电技术有限公司 显示装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW594655B (en) * 2003-07-11 2004-06-21 Toppoly Optoelectronics Corp Testing circuit and method thereof for a flat panel display
TWI276037B (en) * 2004-08-13 2007-03-11 Chunghwa Picture Tubes Ltd Combined inspection circuit and method for inspecting TFT liquid crystal display panels
TW200727058A (en) * 2006-01-05 2007-07-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd Active device array substrate, liquid crystal display panel and examining methods thereof
US20080007504A1 (en) * 2006-06-13 2008-01-10 Hideaki Kawaura Liquid crystal display apparatus and testing method for liquid crystal display apparatus
TWI299849B (en) * 2004-07-07 2008-08-11 Chi Mei Optoelectronics Corp Circuit architecture with a testing function for use in a display panel and method of making the same

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4023485B2 (ja) 2004-11-29 2007-12-19 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板，液晶装置および電子機器
JP4302121B2 (ja) 2006-05-18 2009-07-22 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 表示素子およびその検査方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW594655B (en) * 2003-07-11 2004-06-21 Toppoly Optoelectronics Corp Testing circuit and method thereof for a flat panel display
TWI299849B (en) * 2004-07-07 2008-08-11 Chi Mei Optoelectronics Corp Circuit architecture with a testing function for use in a display panel and method of making the same
TWI276037B (en) * 2004-08-13 2007-03-11 Chunghwa Picture Tubes Ltd Combined inspection circuit and method for inspecting TFT liquid crystal display panels
TW200727058A (en) * 2006-01-05 2007-07-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd Active device array substrate, liquid crystal display panel and examining methods thereof
US20080007504A1 (en) * 2006-06-13 2008-01-10 Hideaki Kawaura Liquid crystal display apparatus and testing method for liquid crystal display apparatus

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