TWI387756B - 自動測試系統、儀控裝置及其運作方法 - Google Patents

Description

自動測試系統、儀控裝置及其運作方法

本發明係與自動測試有關，並且特別地，關於一種能夠提供人性化操作介面以簡化測試命令集之編寫難度的自動測試系統、儀控裝置及其運作方法。

近年來，隨著科技不斷地發展，各種電子裝置在研發階段或已製造成產品要出廠之前，均需要進行相關的測試程序，以確保電子產品能夠符合安全規範及產品規格之要求。

一般而言，於目前市面上常見的自動測試系統中，其編寫測試命令集之人機介面的設計方式不外乎有下列兩種方式。第一種方式是：該自動測試系統的人機介面將所有的測試命令如同打字般逐行地書寫下來，如圖一所示。此種方式之最大缺點是：操作人員必須熟記每一道測試命令的名稱，並且需要遵守該自動測試系統自行定義的書寫格式，因此，此種方式不但執行的難度較高，需要相當專業且熟練的操作人員才能夠勝任，而且花費的時間也非常長。

至於另一種方式則是：該自動測試系統的人機介面先將所有的測試命令加以列表，甚至可以透過樹狀結構將所有的測試命令加以分類，如圖二所示，當使用者點選編輯視窗上方的樹狀結構中之測試命令「SetAllLOAD_InputState」時，編輯視窗下方的測試命令編輯列即會自動列出此一測試

命令。藉由此種方式，當使用者在操作該自動測試系統的人機介面時，可以採用「點選」的方式來取代傳統的「逐行打字」之方式以完成測試命令集之編寫，的確可以降低操作人員實際執行時之難度，也可縮短部分的操作時間。

然而，隨著電子產品所具備的功能愈來愈繁複，其需要測試的功能項目愈來愈多，以交換式電源自動測試系統為例，光是某單一項功能測試項目所對應之控制命令長度往往高達數百行甚至上千行之多，至於整個交換式電源測試所需的控制命令集之內容更是龐大，即使透過「點選」的方式亦相當曠日廢時，嚴重影響各種電子設備研發測試以及產品上市之時程。

因此，本發明之主要範疇在於提供一種能夠提供人性化操作介面之自動測試系統、儀控裝置及其運作方法，以解決上述問題。

本發明之一範疇在於提供一種自動測試系統。根據一具體實施例，該自動測試系統包含複數個儀器及一儀控裝置。於此實施例中，該儀控裝置係用以控制該複數個儀器分別對一待測物進行測試。實際上，該複數個儀器可以是各種不同的測試儀器，但不以此為限。

於此實施例中，該儀控裝置將會顯示包含複數個操作單元之一操作畫面，其中，該複數個操作單元係分別對應於該複數個儀器之不同功能或操作狀態。於一特定時間間隔內，該儀控裝置將會記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。實際上，該特定時間間隔係從一開始記錄時間至一結束記錄時間為止，並且該開始記錄時間及該結束記錄時間係由使用者所決定。

本發明之另一範疇在提供一種儀控裝置。根據一具體實施例，本發明之儀控裝置係應用於一自動測試系統中，並且該自動測試系統包含有複數個儀器，用以分別對一待測物進行測試。

於此實施例中，該儀控裝置包含一顯示模組及一記錄模組。其中，該顯示模組係用以顯示包含複數個操作單元之一操作畫面。該複數個操作單元係分別對應於該複數個儀器之不同功能或操作狀態。該記錄模組係用以於一特定時間間隔內，記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。

本發明之再一範疇係提供一種運作一自動測試系統之方法。該自動測試系統包含複數個儀器及一儀控裝置，其中，該儀控裝置係用以控制該複數個儀器分別對一待測物進行測試。根據一具體實施例，本發明之自動測試系統運作方法包含下列步驟：(a)該儀控裝置顯示包含複數個操作單元之一操作畫面，其中該複數個操作單元係分別對應於該複數個儀器之不同功能或操作狀態；以及(b)於一特定時間間隔內，該儀控裝置記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。

相較於先前技術，根據本發明之自動測試系統、儀控裝置及其運作方法能夠提供一種較為人性化的操作介面，透過此一操作介面，使用者不需熟記所有測試命令的名稱及參數內容，只需實際操作各種測試的流程步驟，儀控裝置即會同時將使用者於操作期間內操作所有測試儀器之功能或按鈕的操作歷程加以記錄下來，並自動轉化成自動測試系統執行所需之測試命令集，故可大幅減少原先操作人員編寫測試命令集所耗費的大量時間與精神，亦有效縮短各種電子設備研發測試以及產品上市之時程。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

根據本發明之第一具體實施例為一種自動測試系統。請參照圖三，圖三係繪示該自動測試系統之功能方塊圖。如圖三所示，自動測試系統1包含儀控裝置10、第一儀器11、第二儀器12及第三儀器13。其中，第一儀器11、第二儀器12及第三儀器13均耦接至儀控裝置10。於實際應用中，第一儀器11~第三儀器13可以為任何種類的測試儀器，譬如：負載模組(Load Module)、電源供應器(Power Source)等，但不以此為限。此外，自動測試系統1所包含之儀器的數量可視實際測試時之需求而定，並不以此例的三個為限。

於此實施例中，自動測試系統1之儀控裝置10之主要功能在於控制第一儀器11、第二儀器12及第三儀器13分別對一待測物進行測試。如圖三所示，儀控裝置10包含有設定模組100、顯示模組102、記錄模組104及編輯模組106。其中，顯示模組102耦接至設定模組100及記錄模組104；記錄模組104耦接至設定模組100及編輯模組106。接下來，將分別就儀控裝置10所包含之各模組及其具備之功能進行詳細之介紹。

首先，在實際對一待測物進行測試之前，使用者需先透過設定模組100自行設定於顯示模組102所顯示之操作畫面中的複數個操作單元之種類、數目及排列情形，以及該複數個操作單元與第一儀器11至第三儀器13之不同功能或操作狀態之間的對應關係。實際上，該操作畫面可透過電腦圖形化儀控軟體實現之，但不以此為限；該複數個操作單元可以旋鈕、按鈕、調整捲軸及/或輸入框之型式顯示於操作畫面，但不以此為限。

請參照圖四，圖四係繪示於操作畫面中所顯示的操作單元之一範例。如圖四所示，操作畫面2包含負載操作單元(CC、CV及CP)21~23、負載(loading)數值調整旋鈕24、關閉按鈕25、示波器畫面26、取得波形按鈕27、電壓(voltage)數值調整旋鈕28、頻率(frequency)數值調整旋鈕29、取得電壓值(V)顯示框30以及取得電流值(I)顯示框31等操作單元。

值得注意的是，上述顯示於操作畫面2的這些操作單元21~31的種類、數目及排列情形均可由使用者依實際需要事先透過設定模組100自行設定。當使用者透過設定模組100於操作畫面2新增一操作單元時，亦須選定該操作單元所對應的測試儀器及測試命令，並且這些資訊將會被儲存於一對照表中。之後每次使用者啟動儀控裝置10時，儀控裝置10即會根據儲存於對照表中之資料內容依序建立顯示於操作畫面2之各個操作單元，而每個操作單元亦均對應於一道儀器控制命令。

舉例而言，假設對照表中記錄有：負載操作單元(CC)21之種類為「按鈕」，其位置為(10,60)，所對應的控制命令為「SetLoad_Mode,0」。當使用者啟動儀控裝置10時，儀控裝置10即會根據對照表的內容在操作畫面2的X=10,Y=60之位置上設置一CC按鈕，當此CC按鈕被使用者點選時，儀控裝置10即會對相對應的負載儀器送出「SetLoad_Mode」的控制命令，且參數值為0。

接著，當使用者已透過設定模組100完成所有設定工作後，即可開始透過操作畫面2所顯示各個操作單元執行至少一操作步驟。於此實施例中，儀控裝置10的記錄模組104即用以於一特定時間間隔內，記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。實際上，該特定時間間隔係從一開始記錄時間至一結束記錄時間為止，並且該開始記錄時間及該結束記錄時間可以由使用者所決定。此外，該至少一操作步驟可包含輸入數值或指令、以滑鼠點選/控制操作單元及/或以觸控方式點選/控制操作單元等動作，但並不以此為限。

也就是說，當使用者擬定好測試計畫後，即可啟動錄製的功能，在開始錄製至停止錄製的這段期間內，使用者透過滑鼠或觸控方式點選操作單元之順序、間隔及數值，以及透過鍵盤輸入的數值，還有傳送給測試儀器的測試命令名稱，均會被儀控裝置10的記錄模組104記錄下來。接下來，將以圖四所示之操作畫面2為例進行說明。

假設使用者啟動錄製功能後，間隔了500ms的時間後才透過滑鼠左鍵將電壓數值調整旋鈕28旋轉至110後放開，又間隔了400ms的時間後，使用者再用滑鼠左鍵將頻率數值調整旋鈕29旋轉至60後放開，再間隔了600ms的時間後，使用者透過滑鼠左鍵將負載數值調整旋鈕24旋轉至1後放開。此時，記錄模組104即會根據使用者於此段時間內的操作歷程產生記錄檔，圖五即繪示記錄模組104根據上述操作歷程所產生之記錄檔的一範例。

由於該記錄檔已記錄有使用者於該特定時間間隔內操作複數個操作單元之一操作歷程，並且該操作歷程包含有操作順序、測試命令、數值以及每一操作步驟間的時間間隔，因此，使用者即可透過編輯模組106適當地編輯該記錄檔以產生一自動測試系統控制命令集。

綜上所述，此實施例所揭露之自動測試系統可提供一種較為人性化的操作介面，使得使用者不需熟記所有測試命令的名稱及參數內容，儀控裝置即會在使用者實際操作各種測試的流程步驟的同時將使用者所有的操作歷程加以記錄下來，並自動轉化成自動測試系統執行所需之測試命令集。

根據本發明之第二具體實施例為一種應用於一自動測試系統之儀控裝置。於此實施例中，該自動測試系統包含複數個儀器，用以分別對一待測物進行測試。該儀控裝置包含設定模組、顯示模組、記錄模組及編輯模組。其中，顯示模組係耦接至設定模組及記錄模組；記錄模組係耦接至設定模組及編輯模組。

於此實施例中，設定模組係用以供使用者設定複數個操作單元於該操作畫面之種類、數目與排列情形，以及該複數個操作單元與該複數個儀器之不同功能或操作狀態之間的對應關係。顯示模組係用以顯示包含該複數個操作單元之操作畫面。於一特定時間間隔內，該記錄模組記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。編輯模組則用以供使用者編輯該記錄檔以產生一自動測試系統控制命令集。至於該儀控裝置之詳細情形請參照第一具體實施例中之儀控裝置及其圖示，在此不另行贅述。

根據本發明之第三具體實施例為一種運作一自動測試系統之方法。該自動測試系統包含複數個儀器及一儀控裝置，其中，該儀控裝置係用以控制該複數個儀器分別對一待測物進行測試。請參照圖六，圖六係繪示該自動測試系統運作方法的流程圖。如圖六所示，該自動測試系統運作方法首先執行步驟S10及S11，分別設定複數個操作單元顯示於操作畫面之種類、數目及排列情形，以及設定複數個操作單元與複數個儀器之不同功能或操作狀態之間的對應關係。實際上，步驟S10及S11之執行順序並無一定之限制。

接著，該自動測試系統運作方法執行步驟S12，令該儀控裝置顯示包含該複數個操作單元之操作畫面。實際上，該操作畫面可透過電腦圖形化儀控軟體實現之，但不以此為限；該複數個操作單元可以一旋鈕、一按鈕、一調整軸或一輸入框之型式顯示於該操作畫面。之後，該自動測試系統運作方法執行步驟S13，令該儀控裝置於一特定時間間隔內，記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。實際上，該特定時間間隔係從一開始記錄時間至一結束記錄時間為止，該開始記錄時間及該結束記錄時間係由使用者所決定。

此外，該記錄檔可記錄有使用者於該特定時間間隔內操作該複數個操作單元之一操作歷程，該操作歷程包含操作順序、測試命令、數值以及每一操作步驟間的時間間隔。至於該至少一操作步驟則可包含輸入數值或指令、以滑鼠點選/控制操作單元及/或以觸控方式點選/控制操作單元。

由於該記錄檔已記錄有使用者於該特定時間間隔內操作複數個操作單元之一操作歷程，並且該操作歷程包含有操作順序、測試命令、數值以及每一操作步驟間的時間間隔，因此，該自動測試系統運作方法可再進一步執行步驟S14，編輯該記錄檔以產生一自動測試系統控制命令集。

相較於先前技術，根據本發明之自動測試系統、儀控裝置及其運作方法能夠提供一種較為人性化的操作介面，透過此一操作介面，使用者不需熟記所有測試命令的名稱及參數內容，只需實際操作各種測試的流程步驟，儀控裝置即會同時將使用者於操作期間內操作所有測試儀器之功能或按鈕的操作歷程加以記錄下來，並自動轉化成自動測試系統執行所需之測試命令集，故可大幅減少原先操作人員編寫測試命令集所耗費的大量時間與精神，亦有效縮短各種電子設備研發測試以及產品上市之時程。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

S10~S14．．．流程步驟

1．．．自動測試系統

10．．．儀控裝置

11．．．第一儀器

12．．．第二儀器

13．．．第三儀器

100．．．設定模組

102．．．顯示模組

104．．．記錄模組

106．．．編輯模組

2．．．操作畫面

21~23．．．負載操作單元

24．．．負載數值調整旋鈕

25．．．關閉按鈕

26．．．示波器畫面

27．．．取得波形按鈕

28．．．電壓數值調整旋鈕

29．．．頻率數值調整旋鈕

30．．．取得電壓值顯示框

31．．．取得電流值顯示框

圖一及圖二係分別繪示傳統上兩種不同的測試命令集編寫方式之示意圖。

圖三係繪示根據本發明之第一具體實施例之自動測試系統的功能方塊圖。

圖四係繪示於操作畫面中所顯示的操作單元之一範例。

圖五係繪示記錄模組根據上述操作歷程所產生之記錄檔的一範例。

圖六係繪示根據本發明之第三具體實施例之自動測試系統運作方法的流程圖。

1．．．自動測試系統

10．．．儀控裝置

11．．．第一儀器

12．．．第二儀器

13．．．第三儀器

100．．．設定模組

102．．．顯示模組

104．．．記錄模組

106．．．編輯模組

Claims (24)

1. 一種自動測試系統，包含：複數個儀器；以及一儀控裝置，耦接至該複數個儀器，用以控制該複數個儀器分別對一待測物進行測試，該儀控裝置顯示包含複數個操作單元之一操作畫面，該複數個操作單元係分別對應於該複數個儀器之不同功能或操作狀態，於一特定時間間隔內，該儀控裝置記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。
2. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該特定時間間隔係從一開始記錄時間至一結束記錄時間為止，該開始記錄時間及該結束記錄時間係由使用者所決定。
3. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該記錄檔係記錄有使用者於該特定時間間隔內操作該複數個操作單元之一操作歷程，該操作歷程包含操作順序、測試命令、數值以及每一操作步驟間的時間間隔。
4. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該記錄檔能夠被編輯而成為一自動測試系統控制命令集。
5. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該至少一操作步驟包含輸入數值或指令、以滑鼠點選/控制操作單元及/或以觸控方式點選/控制操作單元。
6. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該複數個操作單元顯示於該操作畫面之種類、數目及排列情形係由使用者設定。
7. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該複數個操作單元係以一旋鈕、一按鈕、一調整捲軸及/或一輸入框之型式顯示於該操作畫面。
8. 如申請專利範圍第1項所述之自動測試系統，其中該複數個操作單元與該複數個儀器之不同功能或操作狀態之間的對應關係係由使用者所設定。
9. 一種儀控裝置，應用於一自動測試系統中，該自動測試系統包含複數個儀器，用以分別對一待測物進行測試，該儀控裝置包含：一顯示模組，用以顯示包含複數個操作單元之一操作畫面，其中該複數個操作單元係分別對應於該複數個儀器之不同功能或操作狀態；以及一記錄模組，耦接至該顯示模組，該記錄模組於一特定時間間隔內，記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。
10. 如申請專利範圍第9項所述之儀控裝置，其中該特定時間間隔係從一開始記錄時間至一結束記錄時間為止，該開始記錄時間及該結束記錄時間係由使用者所決定。
11. 如申請專利範圍第9項所述之儀控裝置，其中該記錄檔係記錄有使用者於該特定時間間隔內操作該複數個操作單元之一操作歷程，該操作歷程包含操作順序、測試命令、數值以及每一操作步驟間的時間間隔。
12. 如申請專利範圍第9項所述之儀控裝置，進一步包含：一編輯模組，耦接至該記錄模組，用以編輯該記錄檔以產生一自動測試系統控制命令集。
13. 如申請專利範圍第9項所述之儀控裝置，其中該至少一操作步驟包含輸入數值或指令、以滑鼠點選/控制操作單元及/或以觸控方式點選/控制操作單元。
14. 如申請專利範圍第9項所述之儀控裝置，進一步包含：一設定模組，耦接至該顯示模組，用以供使用者設定該複數個操作單元於該操作畫面之種類、數目及排列情形。
15. 如申請專利範圍第14項所述之儀控裝置，其中使用者亦能透過該設定模組設定該複數個操作單元與該複數個儀器之不同功能或操作狀態之間的對應關係。
16. 如申請專利範圍第9項所述之儀控裝置，其中該複數個操作單元係以一旋鈕、一按鈕、一調整捲軸及/或一輸入框之型式顯示於該操作畫面。
17. 一種運作一自動測試系統之方法，該自動測試系統包含複數個儀器及一儀控裝置，該儀控裝置係用以控制該複數個儀器分別對一待測物進行測試，該方法包含下列步驟：該儀控裝置顯示包含複數個操作單元之一操作畫面，其中該複數個操作單元係分別對應於該複數個儀器之不同功能或操作狀態；以及於一特定時間間隔內，該儀控裝置記錄使用者於該操作畫面上所執行之至少一操作步驟並據以產生一記錄檔。
18. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其中該特定時間間隔係從一開始記錄時間至一結束記錄時間為止，該開始記錄時間及該結束記錄時間係由使用者所決定。
19. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其中該記錄檔係記錄有使用者於該特定時間間隔內操作該複數個操作單元之一操作歷程，該操作歷程包含操作順序、測試命令、數值以及每一操作步驟間的時間間隔。
20. 如申請專利範圍第17項所述之方法，進一步包含下列步驟：編輯該記錄檔以產生一自動測試系統控制命令集。
21. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其中該至少一操作步驟包含輸入數值或指令、以滑鼠點選/控制操作單元及/或以觸控方式點選/控制操作單元。
22. 如申請專利範圍第17項所述之方法，進一步包含下列步驟：設定該複數個操作單元顯示於該操作畫面之種類、數目及排列情形。
23. 如申請專利範圍第17項所述之方法，進一步包含下列步驟：設定該複數個操作單元與該複數個儀器之不同功能或操作狀態之間的對應關係。
24. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其中該複數個操作單元係以一旋鈕、一按鈕、一調整軸或一輸入框之型式顯示於該操作畫面。