TWI384236B - 可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統及檢測方法 - Google Patents

Description

可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統及檢測方法

本案係關於一種機器檢測系統與檢測方法，尤指一種可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統及檢測方法。

隨著科技的進步與提昇，各式電子產品或機器遂而不斷的推陳出新，且其設計更趨於複雜且多功能化。然而為因應市場的快速變遷及大量需求，製造商莫不努力於以最高效率及最低的成本產製各式電子產品或機器以供市場需求。其中，對於電子產品或機器在出廠前的檢測更是各家製造商所努力改善的重點之一。一般而言，由於這類電子產品或機器之檢測系統相當複雜且需時常更換，因此在整個檢測作業的相關檢測程式之擴充與檢測程序之維護工作上，必需面對相當之困難度與不便性。產品製造商在進行檢測工作之擴充及維護時，往往需耗費極大之時間與人力。再者，加以無法預知各式電子產品或機器之檢測作業於未來可能之發展，遂而在進行檢測作業之系統架構及功能性模組之相關設計時，無法對該檢測作業之擴充性多加著墨考量。

然而現行電子產品或機器，例如多功能事務機、影印機、傳真機、列表機，之檢測作業為增加其便利性，已知有一種預先在製造工序中將檢測程式儲存於電子產品或機 器之微控器內裝ROM(可程式唯讀記憶體)或檢查用ROM內，而於電源開啟以及外部檢測系統輸入檢測命令時，即由電子產品或機器之中央處理單元(CPU)執行該檢測程式來檢測電子產品或機器各部元件或功能正常與否之方法。

第一圖A與B分別簡易地顯示使用於傳統機器檢測系統之待測機器以及內含於該待測機器之可執行程式之架構示意圖。如第一圖A與B所示，使用於傳統機器檢測系統之待測機器1(或稱待測機板1)係將可執行程式110儲存於待測機器1內之一非揮發性記憶體(ROM)11中。當待測機板1啟動電源且接收到外部之機器檢測系統所輸入的檢測命令後，可執行程式110可於該非揮發性記憶體11內直接執行，或者是透過中央處理單元12被搭載至隨機存取記憶體單元13中執行。其中該非揮發性記憶體11內之可執行程式110係由『一般目的程式碼』111與『檢測程式碼』112所共同編譯/組譯(compiler or assembler)與連結(Linker)而得。該可執行程式110在一般的使用環境下，係由『一般目的程式碼』111部份所構成之一般目的程式運作與執行；而在測試環境下，則係由『檢測程式碼』112部份所構成之檢測程式運作與執行。其中該檢測程式部份只有在生產測試時才會用到，其他階段，例如出貨到客戶或顧客端時，此檢測程式部份便永遠不會被執行且恆儲存於非揮發性記憶體11中，因此此種作法會造成非揮發性記憶體11與隨機存取記憶體單元13使用空間的浪費與負擔。

另一方面，當研發人員或檢測人員想要修改原先之檢測程式以檢測待測機器1的其他元件及功能時，必須重新燒錄更新後之可執行程式110再重新檢測，如此不只過程繁複且有損壞待測機器1之元件與功能的風險。況且當自動生產測試所需要的檢測程式與一般目的程式並存或同時包含於可執行程式110時，所有檢測程序所需的修改就必須重新釋出更新版本，如此將會增加再次產品驗證的成本。通常，電子產品或機器製造商多應客戶之要求而進行電子產品或機器之製造，然而對客戶而言，欲對其已承認或驗證的韌體(Firmware)進行修改的可能性是很低的。當電子產品或機器製造商在測試過程中發現檢測程式出現問題而需要修改時，必須取得客戶的同意，但通常客戶同意的機會不高，這是因為客戶多不願意承擔再次驗證及損壞機器元件與功能之風險，所以要修正檢測程式的機會是非常低的，而且，即使客戶同意修改，但往復的溝通、修改與驗證時間常常會造成產品出貨時程之延誤與成本的增加。更甚者，習知技術將一般目的程式與測試程式一起包含於可執行程式110的作法，不僅會增加機器韌體(Firmware)的大小，對於非揮發性記憶體11與隨機存取記憶體單元13的使用也會增加，進而造成資源上的浪費與負擔。

由此可知，傳統技藝預先在製造工序中將檢測程式儲存於電子產品或機器之微控器內裝ROM(可程式唯讀記憶體)或檢查用ROM內之檢測方法，由於該檢測程式已包含於機 器之韌體(Firmware)，當研發人員或檢測人員想要修改檢測程式來變更檢測待測機器之其他元件與功能時，必須對韌體(Firmware)內之可執行程式重新燒錄再重新檢測，過程繁複且有損壞機器元件與功能的風險。再則，欲客戶同意將其已承認的韌體(Firmware)再行修改，也常常會因客戶不願承擔再次認證及損壞機器元件與功能之風險而使同意修改的可能性降低，且可能造成出貨時程之延誤以及成本之增加。當然，在傳統技術上，將檢測程式結合一般目的程式而一起內含於機器韌體(Firmware)之作法，不僅會造成修改變更的困難性外，更會佔用機器韧體(Firmware)的容量，對於其內非揮發性記憶體與隨機存取記憶體單元的使用也會增加，進而造成資源上的負擔。

因此，如何發展一種可改善上述習知技術缺失之可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統及檢測方法，實為目前迫切需要解決之問題。

本案之主要目的在於提供一種可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統以及檢測方法，藉由將檢測程式儲存於機器檢測系統中以取代傳統技術將檢測程式包含於待測機器內之作法，俾增加修改以及管理檢測程式之靈活度以及便利性。

本案之另一目的在於提供一種可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統以及檢測方法，藉此當生產製造 商在生產檢測過程中發現檢測程式出現問題時，可逕自修改，毋須經過客戶同意，而且任何對於檢測程式之變更動作均無需重新燒錄待測機器內之執行程式或進行重新驗證之過程，且可避免這些重新燒錄與驗證的過程可能造成待測機器之元件與功能損壞的風險。

本案之另一目的在於提供一種可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統以及檢測方法，可利用機器檢測系統之檢測程式提供裝置，例如電腦、伺服器、外接式儲存裝置，將待測機器所需之檢測程式甚或其他執行程式，載入到待測機器的記憶體單元，且於執行檢測程式以及完成檢測後，檢測程式可隨待測機器之電源關閉而消除，不會永久保留於待測機器中，如此不只不會佔據儲存單元以及記憶體單元之可利用空間且不會造成負擔，甚至於可以使用相對較低容量之儲存單元或記憶體單元以降低成本。

為達上述目的，本案之一較廣義實施態樣為提供一種待測機器之檢測方法，其中待測機器包括中央處理單元、儲存單元、記憶體單元以及連接介面，該中央處理單元連接於儲存單元、記憶體單元以及連接介面，以及儲存單元儲存至少一個一般目的程式。本案之檢測方法至少包含步驟：(a)提供機器檢測系統，以及將待測機器與機器檢測系統連接，其中機器檢測系統包含檢測程式提供裝置以及檢測命令提供裝置，該檢測程式提供裝置儲存至少一個檢測程式；(b)啟動待測機器且待測機器接收機器檢測系統之檢測命令提供裝置所提供之檢測命令；(c)待測機器因應檢測 命令發出要求至機器檢測系統，該機器檢測系統之檢測程式提供裝置因應該要求提供待測機器所需之檢測程式且經由連接介面載入待測機器之記憶體單元；以及(d)待測機器執行一般目的程式以及檢測程式，以進行待測機器之檢測。

為達上述目的，本案之另一較廣義實施態樣為提供一種可重新載入檢測程式之待測機器，用於以機器檢測系統進行檢測，其中機器檢測系統包含檢測程式提供裝置以及檢測命令提供裝置，該檢測程式提供裝置儲存至少一個檢測程式，該檢測命令提供裝置提供檢測命令。本案之可重新載入檢測程式之待測機器至少包括：記憶體單元；儲存單元，儲存至少一個一般目的程式；連接介面，連接於機器檢測系統，且使待測機器與機器檢測系統彼此溝通；檢測命令接收介面，接收檢測命令；以及中央處理單元，連接記憶體單元、儲存單元、連接介面以及檢測命令接收介面，用以處理、控制與執行待測機器之運作，以及因應檢測命令接收介面所接收之檢測命令而提供要求至機器檢測系統，藉此以由機器檢測系統之檢測程式提供裝置將檢測程式載入至記憶體單元並執行檢測程式以及一般目的程式，俾進行待測機器之檢測。

為達上述目的，本案之又一較廣義實施態樣為提供一種機器檢測系統，用於檢測可重新載入檢測程式之待測機器，其中可重新載入檢測程式之待測機器包括中央處理單元、儲存單元、記憶體單元、連接介面以及檢測命令接收介面，該中央處理單元連接於儲存單元、記憶體單元、連 接介面以及檢測命令接收介面，以及儲存單元儲存至少一個一般目的程式。本案之機器檢測系統至少包括：檢測程式提供裝置，儲存至少一個檢測程式，用於與待測機器之連接介面連接，以因應待測機器之一要求而提供待測機器所需之檢測程式至待測機器之記憶體單元；以及檢測命令提供裝置，與待測機器之檢測命令接收介面連接，用以提供檢測命令，俾使待測機器之中央處理單元執行檢測程式以及一般目的程式。

體現本案特徵與優點的一些典型實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化，其皆不脫離本案的範圍，且其中的說明及圖示在本質上係當作說明之用，而非用以限制本案。

第二圖A係顯示本案較佳實施例之可重新載入檢測程式之待測機器以及機器檢測系統架構示意圖。第二圖B係顯示第二圖A所示架構中之檢測程式與一般目的程式之關係圖。如第二圖A與B所示，本案之待測機器2(或稱待測機板2)可為例如多功能事務機、影印機、傳真機、印表機，但不以此為限。本案之機器檢測系統3可提供待測機器2所需之檢測程式以及提供一檢測命令，用於快速地檢測待測機器2之元件與功能是否正常，並可提供檢測結果，俾利修復或更換。

於此實施例中，待測機器2包含記憶體單元21、儲存 單元22、連接介面23以及中央處理單元24。其中，記憶體單元21可為例如隨機存取記憶體單元，以用於暫時性地儲存程式與資料。儲存單元22可為例如非揮發性記憶體，以用於儲存一般目的程式220。連接介面23包含連接介面處理單元231以及連接器232，用以使待測機器2與機器檢測系統3相互連接與溝通。中央處理單元24則連接記憶體單元21、儲存單元22以及連接介面23，用以處理、控制與執行待測機器2之各元件的運作與功能以及因應一檢測命令而將檢測程式210由機器檢測系統3載入至記憶體單元21並執行該檢測程式210，俾進行待測機器2之元件與功能檢測程序。於此實施例中，機器檢測系統3包含檢測程式提供裝置31以及檢測命令提供裝置32，該檢測程式提供單元31可儲存一個或複數個版本之檢測程式210，用以因應待測機器2之要求將待測機器2所需之檢測程式210透過連接介面23載入記憶體單元21。

請參閱第二圖B，本案之一般目的程式220與檢測程式210均係為自各獨立之可執行程式，其中一般且的程式220僅係由一般目的程式碼2201所編譯/組譯(compiler or assembler)與連結(Linker)而得，且儲存於待測機板22之儲存單元22內；而檢測程式210則由檢測程式碼2101所編譯/組譯(compiler or assembler)與連結(Linker)而得，並儲存於機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31。

於一些實施例中，如第二圖A所示，待測機器2更具有一檢測命令接收介面25，該檢測命令接收介面25可於 待測機器2進行檢測程序時與機器檢測系統3之檢測命令提供裝置32連接，以接收該檢測命令提供裝置32所提供之檢測命令並提供至中央處理單元24，使中央處理單元24可於待測機器2電源開啟以及接收到檢測命令時，向機器檢測系統3發出一要求，以要求機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31提供待測機器2所需之檢測程式，並經由連接介面23載入記憶體單元21。於一些實施例中，該檢測命令接收介面25可為例如通用輸入輸出接腳(General Purpose Input/0utput Pin)或開關元件，但不以此為限。此外，於一些實施例中，待測機器2之連接介面處理單元231可為例如專用集成電路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)，而連接器232可為例如通用序列匯流排連接器(USB)或雙絞線網路接頭(RJ45)，但不以此為限。

於一些實施例中，機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31可為例如電腦311，該電腦311可儲存一個或多個版本之檢測程式210，並可藉由本身的連接介面與待測機器2之連接介面23連接與溝通。電腦311可於接收到待測機器2之要求後，判斷與提供待測機器2所需版本之待測程式210，且經由連接介面23載入記憶體單元21。當然，於一些實施例中，機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31亦可為具有FPT傳輸功能之伺服器，且不以此為限。此外，機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31更可包含一顯示裝置312，該顯示裝置312可提供待測機器2與機器檢測系統3 間的檢測狀態資訊以及提供待測機器2之檢測結果，俾利修復與更換。此外，於一些實施例中，機器檢測系統3之檢測命令提供裝置32可為具有一個或複數個頂針之檢測製具(未圖示)，藉由將待測機器2放置於該檢測製具時，檢測製具之頂針可與待測機器2之檢測命令接收介面25連接，因此待測機器2之檢測命令接收介面25便可接收檢測命令提供裝置32所提供之檢測命令。當然，於一些實施例中，機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31與檢測命令提供裝置32亦可整合為單一裝置或設備。

第三圖顯示使用第二圖A所示架構進行檢測程序之一示範性步驟流程圖。如第二圖A、第二圖B以及第三圖所示，首先，如步驟S30所示，將待測機器2與機器檢測系統3連接，其中待測機器2之連接介面23以及檢測命令接收介面25會分別與機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31與檢測命令提供裝置32連接。接著，如步驟S31所示，開啟待測機器2之電源，以啟動待測機器2，以及待測機器2等待與接收來自於機器檢測系統3之檢測命令提供裝置31所提供之檢測命令。接著，如步驟S32所示，待測機器2之中央處理單元24判斷是否接收到該檢測命令。然後，如步驟S33所示，若待測機器2之中央處理單元24接收到該檢測命令，則進入檢測模式。此外，如步驟S34所示，若待測機器2之中央處理單元24未接收到該檢測命令，則進入一般使用模式。

請參閱第四圖，其係為第三圖所示步驟中待測機器進 入檢測模式之步驟流程圖。如第四圖所示，當待測機器2進入檢測模式時，如步驟S331所示，待測機器2之中央處理單元24發出一要求至機器檢測系統3。接著，如步驟S332所示，機器檢測系統3因應中央處理單元24之要求，由檢測程式提供裝置31判斷與提供待測機器2所需之檢測程式，並藉由連接介面23載入待測機器2之記憶體單元21。之後，如步驟S333所示，待測機器2之中央處理單元24將儲存於儲存單元22之一般目的程式220載入記憶體單元21並執行，且中央處理單元24執行自機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31所載入於記憶體單元21之檢測程式210，以開始檢測待測機器2之各元件與功能正常與否。然後，如步驟S334所示，待測機器2之中央處理單元24將檢測結果傳送至機器檢測系統3，以藉由機器檢測系統3顯示檢測結果，俾利修復與更換。

請參閱第五圖，其係為第三圖所示步驟中待測機器進入一般使用模式之步驟流程圖。如第五圖所示，當待測機器2進入一般使用模式時，如步驟S341所示，待測機器2之中央處理單元24會自儲存單元22讀取一般目的程式220並載入記憶體單元21。之後，中央處理單元24執行該一般目的程式220，亦即使待測機器2進入一般使用狀態。

最後，於完成該待測機器2之檢測程序與取得檢測結果後，可關閉待測機器2之電源並將待測機器2與機器檢測系統3分離，此時，載入待測機器2之記憶體單元21中之檢測程式210會自動消除，之後，便可進行後續之修復、 更換或組裝程序。當然，於完成該待測機器2之檢測程序後，可繼續進行下一個待測機器2之檢測，藉此便可以快速地完成所有待測機器2之檢測與修復程序。

當然，不同待測機器2規格所需要的檢測程式版本亦會不同，由於機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31可儲存一個或多個版本之檢測程式，且可以由檢測人員自行修改與調整檢測程式或增刪檢測程式之版本數，因此，當待測機器2與機器檢測系統3連接後，機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31可依據不同待測機器2所傳送之要求，判斷與提供該待測機器2所需之檢測程式，俾利待測機器2檢測程序之進行。此外，由於待測機器2之檢測程式係由機器檢測系統3所管理與提供，因此，檢測程式可易於管理與修改，增加檢測程序的靈活性與便利性。更甚者，由於待測機器2之檢測程式並非永久包含於待測機器2之儲存單元22中，因此，不會佔據記憶體單元21以及儲存單元22之使用空間，而且當欲更改或修正檢測程式時，便無須如傳統技術般進行重新燒錄程式以及重新驗證等程序，可以節省許多成本與避免出貨時程的延宕。

第六圖係顯示本案另一較佳實施例之可重新載入檢測程式之待測機器以及機器檢測系統架構示意圖。如第六圖所示，待測機器2以及機器檢測系統3之架構、原理以及檢測方式與第二圖A所示架構相似，於此不再贅述，惟機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31可由一外接式儲存裝置313替代，該外接式儲存裝置313可為例如可攜式硬碟、 隨身碟等，且不以此為限。相似地，該外接式儲存裝置313可儲存一個或多個版本之檢測程式210，並可藉由本身的連接介面與待測機器2之連接介面23連接與溝通。外接式儲存裝置313可於接收到待測機器2之要求後，提供待測機器2所需版本之待測程式210，且經由連接介面23載入記憶體單元21。機器檢測系統3之檢測程式提供裝置31更可包含一顯示裝置314，該顯示裝置314可嵌設於外接式儲存裝置313或與外接式儲存裝置313分離，用以提供待測機器2與機器檢測系統3間的檢測狀態資訊以及提供待測機器2之檢測結果，俾利修復與更換。使用第六圖所示架構之檢測方式與第三圖、第四圖以及第五圖所示檢測流程相似，於此不再贅述。

綜上所述，本案係提供一種可重新載入檢測程式之待測機器、機器檢測系統以及檢測方法，藉由將檢測程式儲存於機器檢測系統中以取代傳統技術將檢測程式包含於待測機器內之作法，俾增加修改以及管理檢測程式之靈活度以及便利性。此外，當生產製造商在生產檢測過程中發現檢測程式出現問題時，可逕自修改，毋須經過客戶同意，而且任何對於檢測程式之變更動作均無需進行重新燒錄待測機器內之執行程式或重新驗證之過程，且可避免這些重新燒錄與驗證過程可能造成待測機器元件與功能損壞的風險。更甚者，本案可利用機器檢測系統之檢測程式提供裝置，例如電腦、伺服器、外接式儲存裝置，將待測機器所需之檢測程式甚或其他執行程式，載入到待測機器的記憶 體單元，且於執行檢測程式以及完成檢測後，檢測程式可隨待測機器之電源關閉而自動消除，不會永久保留於待測機器中，如此不只不會佔據儲存單元以及記憶體單元之可利用空間且不會造成負擔，甚至可以使用相對較低容量之儲存單元或記憶體單元以降低成本。

本案得由熟習此技術之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。

1‧‧‧待測機器

11‧‧‧非揮發性記憶體

110‧‧‧可執行程式

111‧‧‧一般目的程式碼

112‧‧‧檢測程式碼

12‧‧‧中央處理單元

13‧‧‧隨機存取記憶體單元

2‧‧‧待測機器

21‧‧‧記憶體單元

22‧‧‧儲存單元

23‧‧‧連接介面

24‧‧‧中央處理單元

25‧‧‧檢測命令接收介面

210‧‧‧檢測程式

2101‧‧‧檢測程式碼

220‧‧‧一般目的程式

2201‧‧‧一般目的程式碼

231‧‧‧連接介面處理單元

232‧‧‧連接器

31‧‧‧檢測程式提供裝置

32‧‧‧檢測命令提供裝置

311‧‧‧電腦

312‧‧‧顯示裝置

313‧‧‧外接式儲存裝置

314‧‧‧顯示裝置

S30~S34、S331~S334、S341~S342‧‧‧待測機器之檢測方法流程步驟

第一圖A：其係簡易地顯示使用於傳統機器檢測系統之待測機器之架構示意圖。

第一圖B：其係顯示第一圖A所示架構中內含於待測機器之可執行程式關係圖。

第二圖A：係顯示本案較佳實施例之可重新載入檢測程式之待測機器以及機器檢測系統架構示意圖。

第二圖B：係顯示第二圖A所示架構中之檢測程式與一般目的程式之關係圖。

第三圖：係顯示使用第二圖A所示架構進行檢測程序之一示範性步驟流程圖。

第四圖：其係為第三圖所示步驟中待測機器進入檢測模式之步驟流程圖。

第五圖：其係為第三圖所示步驟中待測機器進入一般使用模式之步驟流程圖。

第六圖：係顯示本案另一較佳實施例之可重新載入檢測程式之待測機器以及機器檢測系統架構示意圖。

2‧‧‧待測機器

21‧‧‧記憶體單元

22‧‧‧儲存單元

23‧‧‧連接介面

24‧‧‧中央處理單元

25‧‧‧檢測命令接收介面

210‧‧‧檢測程式

220‧‧‧一般目的程式

231‧‧‧連接介面處理單元

232‧‧‧連接器

31‧‧‧檢測程式提供裝置

32‧‧‧檢測命令提供裝置

311‧‧‧電腦

312‧‧‧顯示裝置

Claims (27)

1. 一種待測機器之檢測方法，其中該待測機器包括一中央處理單元、一儲存單元、一記憶體單元以及一連接介面，該中央處理單元連接於該儲存單元、該記憶體單元以及該連接介面，以及該儲存單元儲存至少一個一般目的程式，該檢測方法至少包含步驟：(a)提供一機器檢測系統，以及將該待測機器與該機器檢測系統連接，其中該機器檢測系統包含一檢測程式提供裝置以及一檢測命令提供裝置，該檢測程式提供裝置儲存至少一個檢測程式；(b)啟動該待測機器且該待測機器接收該機器檢測系統之該檢測命令提供裝置所提供之一檢測命令；(c)該待測機器因應該檢測命令發出一要求至該機器檢測系統，該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置因應該要求提供該待測機器所需之該檢測程式且經由該連接介面載入該待測機器之該記憶體單元；以及(d)該待測機器執行該一般目的程式以及該檢測程式，以進行該待測機器之檢測。
2. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中，於該步驟(d)之後，更包括步驟(e)該待測機器將一檢測結果傳送至該機器檢測系統顯示。
3. 如申請專利範圍第2項所述之待測機器之檢測方法，其中，於該步驟(e)之後，更包括步驟(f)關閉該待測機器之電源並將該待測機器與該機器檢測系統分離。
4. 如申請專利範圍第2項所述之待測機器之檢測方法，其中該機器檢測系統更包含一顯示裝置，該顯示裝置提供該待測機器與該機器檢測系統間的檢測狀態資訊以及提供該待測機器之該檢測結果。
5. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中該待測機器更具有一檢測命令接收介面，該檢測命令接收介面與該機器檢測系統之該檢測命令提供裝置連接，用以接收該檢測命令提供裝置所提供之該檢測命令並提供至該中央處理單元。
6. 如申請專利範圍第5項所述之待測機器之檢測方法，其中，於該步驟(a)中，該待測機器之該連接介面以及該檢測命令接收介面分別與該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置與該檢測命令提供裝置連接。
7. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中，於該步驟(b)中，更包括步驟：該待測機器之該中央處理單元判斷是否接收到該檢測命令，且於該待測機器之該中央處理單元判斷接收到該檢測命令時，使該待測機器進入一檢測模式。
8. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中，該步驟(d)更包括步驟：該待測機器之該中央處理單元將儲存於該儲存單元之該一般目的程式載入該記憶體單元並執行，且該中央處理單元執行自該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置所載入於該記憶體單元之該檢測程式。
9. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其 中該待測機器為選自多功能事務機、影印機、傳真機以及印表機所組成之群族其中之一。
10. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中該待測機器之該記憶體單元為隨機存取記憶體單元，以及該儲存單元為非揮發性記憶體。
11. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中該連接介面包含一連接介面處理單元以及一連接器，用以使該待測機器與該機器檢測系統相互連接與溝通。
12. 如申請專利範圍第1項所述之待測機器之檢測方法，其中該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置為選自電腦、伺服器以及外接式儲存裝置所組成之群族其中之一。
13. 一種可重新載入檢測程式之待測機器，用於以一機器檢測系統進行檢測，其中該機器檢測系統包含一檢測程式提供裝置以及一檢測命令提供裝置，該檢測程式提供裝置儲存至少一個檢測程式，該檢測命令提供裝置提供一檢測命令，該可重新載入檢測程式之待測機器至少包括：一記憶體單元；一儲存單元，儲存至少一個一般目的程式；一連接介面，連接於該機器檢測系統，且使該待測機器與該機器檢測系統彼此溝通；一檢測命令接收介面，接收該檢測命令；以及一中央處理單元，連接該記憶體單元、該儲存單元、該連接介面以及該檢測命令接收介面，用以處理、控制與執行該待測機器之運作，以及因應該檢測命令接收介面所 接收之該檢測命令而提供一要求至該機器檢測系統，藉此以由該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置將該待測機器所需之該檢測程式載入至該記憶體單元並執行該檢測程式以及該一般目的程式，俾進行該待測機器之檢測。
14. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該待測機器為選自多功能事務機、影印機、傳真機以及印表機所組成之群族其中之一。
15. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該待測機器之該記憶體單元為隨機存取記憶體單元，以及該儲存單元為非揮發性記憶體。
16. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該連接介面包含一連接介面處理單元以及一連接器。
17. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置為選自電腦、伺服器以及外接式儲存裝置所組成之群族其中之一。
18. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該機器檢測系統更包括一顯示裝置，且該待測機器之該中央處理單元將該待測機器之一檢測結果傳送至該機器檢測系統之該顯示裝置顯示。
19. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該待測機器之該連接介面以及該檢測命令接收介面分別與該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置與 該檢測命令提供裝置連接。
20. 如申請專利範圍第13項所述之可重新載入檢測程式之待測機器，其中該待測機器之該中央處理單元將儲存於該儲存單元之該一般目的程式載入該記憶體單元並執行，且該中央處理單元執行自該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置所載入於該記憶體單元之該檢測程式。
21. 一種機器檢測系統，用於檢測一可重新載入檢測程式之待測機器，其中該可重新載入檢測程式之待測機器包括一中央處理單元、一儲存單元、一記憶體單元、一連接介面以及一檢測命令接收介面，該中央處理單元連接於該儲存單元、該記憶體單元、該連接介面以及該檢測命令接收介面，以及該儲存單元儲存至少一個一般目的程式，該機器檢測系統至少包括：一檢測程式提供裝置，儲存至少一個檢測程式，用於與該待測機器之該連接介面連接，以因應該待測機器之一要求而提供該待測機器所需之該檢測程式至該待測機器之該記憶體單元；以及一檢測命令提供裝置，與該待測機器之該檢測命令接收介面連接，用以提供一檢測命令，俾使該待測機器之該中央處理單元執行該檢測程式以及該一般目的程式。
22. 如申請專利範圍第21項所述之機器檢測系統，其中該待測機器為選自多功能事務機、影印機、傳真機以及印表機所組成之群族其中之一。
23. 如申請專利範圍第21項所述之機器檢測系統，其中該 待測機器之該記憶體單元為隨機存取記憶體單元，以及該儲存單元為非揮發性記憶體。
24. 如申請專利範圍第21項所述之機器檢測系統，其中該連接介面包含一連接介面處理單元以及一連接器。
25. 如申請專利範圍第21項所述之機器檢測系統，其中該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置為選自電腦、伺服器以及外接式儲存裝置所組成之群族其中之一。
26. 如申請專利範圍第21項所述之機器檢測系統，更包括一顯示裝置，且該待測機器之該中央處理單元將該待測機器之一檢測結果傳送至該機器檢測系統之該顯示裝置顯示。
27. 如申請專利範圍第21項所述之機器檢測系統，其中該待測機器之該中央處理單元將儲存於該儲存單元之該一般目的程式載入該記憶體單元並執行，且該中央處理單元執行自該機器檢測系統之該檢測程式提供裝置所載入於該記憶體單元之該檢測程式。