TWI280538B - Image processing apparatus and method of same - Google Patents
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Description
!28〇538 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本Is明係關於有機EL(Electroluminescence :場致發光) 顯不器等對輸入圖像實施特定之處理而將其顯示於顯示部 内之圖像處理裝置及其方法。 【先前技術】 圖像顯不裝置例如液晶顯示器等,係按矩陣狀排列多個 像素,藉由對應所要顯示之圖像資訊逐一控制各像素的光 強度而顯示圖像。 此原理於有機EL顯示器等中亦同,但是,有機EL顯示器 :各像素電路中具有發光元件,即所謂自發光型之顯示 器,與液晶顯示器相比,其具有圖像之視認性高、不需要 背光、響應速度快等優點。 不而要 又,各發光元件之亮度受其内部流通之電流值的控制, 即發光元件為所謂的電流控制型,此點上與液晶顯示器等 有很大不同。 片有機EL顯示器舆液晶顯示器相同,其可能的驅動 間單矩陣方式和主動矩陣方式,但是, 。 存在有難以實現大型且古少银 於、、、口構間早, 、兄大i且冋‘細之顯示器等問題。因 動矩陣方式之開發廣為盛行,該 於像素内部之主動元件η” 利用設置 動兀件(一般來說係TFT ·· Τ
Trans.薄膜電晶體)來控制流通於各像 ⑽
件之電流。 1 < ^先7G 圖9係顯^動矩陣型有機EL顯示器内之像素電路之第1 94637.doc 1280538 結構例之電路圖(例如請參見專利文獻1、2)。 圖9之像素電路1〇具有p通道之薄膜場效應電晶體(以下 稱為TFT)11以及n通道TFT 12、電容器C11、作為發光元件 之有機EL元件(〇LED)13。此外在圖9中,DTL表示資料線, W S L表不掃描線。 由於有機EL元件在多數情形下具有整流性,因此,有時 將其稱為 OLED (Organic Light Emitting Diode ··有機發光二 極體)。在圖9的其他部分中,使用二極體之標記作為發光 元件,但疋在以下說明中,OLED不一定要求須具有整流性。 圖9中,TFT 11之源極連接於電源電位vcc,發光元件13 之陰極連接於接地電位GND。圖9之像素電路1〇之動作如 下。 設掃描線WSL為選擇狀態(此處為高位準),當對資料線 DTL施加寫入電位Vdata時,TFT 12導通,電容器C11充電 或放電,TFT 11之閘極電位變為VDATA。 若將知描線设為非選擇狀態(此處為低位準),則資料線 DTL和TFT 11電性分離,然而TFT丨丨之閘極電位會藉由電 谷裔C11而保持在穩定狀態。
於TFT 11和發光元件13内流通之電流,變為與TFT 閘極-源極間電壓Vgs相對應的值,發光元件13以與其電流 值相對應之亮度持續發光。 以下,將如上所述的、選擇掃描線WSL而將提供給資料 線之亮度資訊傳送到像素内部之操作稱為「寫入」。 右如上所述,於圖4之像素電路1〇中執行一次VDATA之寫 94637.doc 1280538 入,則在到下一次覆寫之前的期間,發光元件13會以一定 之亮度持續發光。 圖10顯示主動矩陣型有機EL顯示器之像素電路之第2結 構例之電路圖。 圖10之像素電路20具有p通道TFT 2卜TFT 22、η通道TFT 23、TFT 24、電容器C21、作為發光元件之有機元件OLED 25。此外,在圖10中,DTL表示資料線,WSL表示掃描線, ESL表示刪除線。 以下將參照圖11所示之時序圖,對像素電路20之動作進 行說明。 首先,在狀態(期間)<1>中,如圖11(C)、(D)所示,將施 加於掃描線WSL之掃描訊號WS和施加於刪除線ESL之刪除 訊號ES設定為高位準。由此,TFT 24、TFT 23變為導通狀 態,TFT 22變為斷路狀態,於電容器C21内將與來自資料線 DTL之資料VDATA量相對應之電荷充電。 在狀態(期間)<2〉中,如圖11(C)、(D)所示,將提供給掃 描線WSL之掃描訊號WS和提供給刪除線ESL之刪除訊號 ES設定為低位準。由此,TFT 24、TFT 23變為斷路狀態, TFT 22變為導通狀態,使與電容器C21内充電之電荷相對應 之電流經由TFT 21流向EL發光元件25。該電流會持續到對 刪除線ESL施加的訊號ES成為高位準為止。 在狀態(期間)<3>中,如圖11(D)所示,將提供給刪除線 ESL之刪除訊號ES設定為高位準。由此,由於TFT 23、TFT 22變為導通狀態,所以於電容器C2 1内充電之電荷會經由 94637.doc 1280538 TFT 23、TFT 22放電,EL發光元件25之發光於是熄滅。 如此,在圖10之電路中,各像素藉由使用一條刪除線 ESL,專門控制發光元件25之發光週期(DUTY)。 但疋’習知有機EL顯示器中之發光元件,具有其發光量 與時間成正比劣化之特性,因此,發光元件之特性有待提 升0 另一方面,顯示器之顯示畫面通常不 此即局部發光元件劣化之 内之發光元件之劣化也不一樣 主要原因。 特別是,在鐘錶顯示等中,由於僅僅其中一部分極端劣 化而使亮度低下,因此,一般稱為「暗斑」。(以下將局部 像素劣化標記為「暗斑」) 此外’於使用多種發光元件之情形下、或於單一的發光 兀件之情形下亦具有多個發光波長分量之情形中,大多會 出現彼此劣化特性不一致之情況。 〆“下’方化之像素部分中,會出現白平衡偏差 色之情形。 對於起因於顯示元件之發光時間而產生劣化之晝面的暗 =較佳係藉由改良顯示元件材料之發光壽命時 1入抑制晝面之暗斑。 在改良材料以外,沐^ 的保持電 4了防止暗斑,使用具有將像素 必要之之電路(例如參見專利文獻3)來抑制不 要之备先時間,從而防止暗斑。 亦有人提出將螢幕保護程式的使用方法加以改良以 94637.doc 1280538 緩和暗斑之裝置(例如,請參見專利文獻4)。 專利文獻1 美國專利第5,684,365號 專利文獻2 曰本專利特開平8_234683號公報 專利文獻3 曰本專利特開平2002-169509號公報 專利文獻4 曰本專利特開平2002-207475號公報 【發明内容】 但疋,即便藉由改良顯示元件材料之發光壽命時間,而 使自發光型顯示器中顯示元件材料之發光壽命得以延長, 疋原里上也不可此元全排除暗斑。此外,顯示裝置内映 現之影像訊號在用料上㈣也有單獨輸人容易引起暗斑 之影像訊號之情況。換言之,僅進行先前材料之壽命改良, 不能防止暗斑。 此外’只要不延長材料壽命就不能改良晝面之暗斑,晝 面暗斑之改良就只能依賴於材料開發之速度、成本等領域 =由專利文獻3内記載之將圖像之保持電容積極放電之 电路,或者係專利文獻4内記载 e, ^ ^ ^ ^路,尚不足以將暗斑、 即伴Ik像素之劣化而引起的菸 堪為-田6一 丨(的《先免度之劣化補償、緩解至 堪為S用的地步。 本發明係基於以上問題而作 出其目的在於提供一種圖 94637.doc 1280538 像處理裝置及其方法,能夠對每個像素校正伴隨著伴隨著 時間而發生而來的特性劣化所導致之像素發光元件之劣化 度,即便當圖像發光元件之劣化程度隨著伴隨著時間而發 生之特性劣化而加劇,也能夠補償劣化之亮度。 為了達成上述目的,本發明之第一觀點係具有:劣化度 貧訊取得手段,將輸入之圖像訊號多值化,並基於多值化 資訊取得亮度劣化度資訊;圖像變換指定手段,基於藉由 上述劣化度貧訊取得手段而得到之亮度劣化度資訊,選擇 並指定最佳之圖像變換方法;以及,圖像處理手段,基於 藉由上述圖像處理指定手段指定之最佳圖像變換方法,對 輸入之圖像執行變換處理。 ,較佳為’具有保存由上述劣化度資訊手段所取得之亮度 劣化度資訊之記憶手段;上述圖像變換指定手段係基於: :於上述圮憶手段内之亮度劣化度資訊,選擇最佳之圖像 又換方法,並將其指定於上述圖像處理手段。 較佳為,上述劣化資訊取得手段,係以點為單位將多值 化之圖像與前一圖框内多值化之圖像相加,並將每個像素 之累加資料保存於上述記憶手段内。 ' 立較佳為,上述圖像變換指定手段,係參照保存於上述記 ^手&内之免度劣化度資訊之累加資料計算出劣化度,於 :^小之像素和劣化度大之像素之亮度差大於預先設定 之基準值之情形下,選擇使該亮度差變小之變換方法,並 將其指定於上述圖像處理手段。 較么為’上述圖像變換指定手段,係參照保存於上述記 94637.doc -10- 1280538 fe手段内之亮度劣化声咨 ^ ,、 力化度貝讯之累加貧料計算出劣化度,於 劣化度取j、之像素和劣化度最大之像素之亮度差大於預先 設定之基準值之情形下,選擇使該亮度差變小之變換方 法,並將其指定於上述圖像處理手段。 較佳為,上述變換方法為γ變換法,上述圖像變換指定手 •a將帽換表貧訊提供給上述圖像處理部,上述圖像處理部 基於γ變換表對每個圖像執行用於使亮度差減小之谁正。 較佳為,上述亮度劣化資訊取得手段係對圖像之灰階資 訊執行多值化處理,在初始狀態中,使用於多值化之臨限 值在低灰階側其解析度變大。 又上述冗度劣化資訊取得手段係根據像素之亮度劣化 之加劇,使用於多值化之臨限值之解析度在高灰階側變大。 —本發明之第2觀點包含:第一步驟’對輪入之圖像訊號執 仃夕值化;第二步驟,基於多值化資訊,取得顯示時之亮 度劣化度資訊;第3步驟,保存所得到之上述亮度劣化資 訊;第4步驟,監視上述保存之亮度劣化度資訊,並選擇並 指定與亮度劣化度相對應之最佳圖像變換方法;以及,第5 步驟,基於上述指定之最佳圖像變換方法,執行對輸入圖 像之變換處理。 根據本發明,例如在亮度劣化資訊取得手段中,基於特 定之臨限值將輸入之圖像訊號多值化,而基於多值化資訊 取得顯示時的亮度劣化度資訊。 然後,將在亮度劣化資訊取得手段内得到之亮度劣化資 訊保存於記憶手段内。 94637.doc 1280538 保存於g憶手段内之亮度劣化資訊受到圖像變換指定手 段之監視。在圖像變換指定手段内,選擇與監視結果、亮 度劣化度相對應之最佳圖像變換方法,並將其指定於圖像 處理手段。 在圖像處理手段中,基於所指定之最佳圖像變換方法, 對輸入之圖像執行變換處理。 [發明之效果] 根據本發明,能夠對每個像素校正伴隨著伴隨著時間而 叙生之特性劣化而引起的圖像之發光元件的劣化度,即便 當像素之發光元件的劣化度隨著特性伴隨著時間而發生劣 化而加劇,也能夠校正劣化之亮度。 藉由限定執行7變換之情形,能夠實現極度抑制引起畫 質視感不佳之暗斑。 【貫施方式】 以下’將參照附圖詳細說明本發明之實施形態。 圖1係顯示本發明之圖像處理裝置之一實施形態之方塊 結構圖。 圖像處理裝置30,如圖1所示,具有圖像輸入部31、作為 冗度劣化資訊取得手段之圖像資訊取出部3 2、記憶體3 3、 作為圖像變換指定手段之CPU 34、圖像處理部35、以及輸 出部36。 圖像輸入部3 1將輸入圖像IM輸入到圖像資訊取出部32、 以及圖像處理部3 5。 圖像資訊取出部32,根據由CPU 34指定之臨限值vth,將 94637.doc 12 1280538 由圖像輸入部31輸入之圖像4值化。 圖像資成取出部3 2以位元為早位將4值化的圖像血在前 一圖框内予以4值化之圖像相加,並將其輸出至記憶體33。 圖2係顯示本實施形態之圖像資訊取出部的具體結構例 之方塊圖。 如圖2所示,該圖像資訊取出部32包含4值化部32卜計算 部3 2 2以及記憶體3 2 3。 以下’將參照附圖3(A)和(Β)來說明各部分的詳細處理内 容。 如圖3(A)所示,4值化部321,基於由CPU 34指定的3個臨 限值Vth 1 - Vth3 ’將由圖像輸入部31輸入的圖像之灰階,分 割為A、B、C以及D區域。 然後如圖3(B)所示,4值化部321將分割後的各個區域 (A)-(D)4值化為〇、1、2和3。 如此,4值化部321將輸入圖像按每個點進行4值化,並將 該4值化資訊輸出至計算部322。 計算部322接收於4值化部321内按每個點進行4值化的4 值化資訊,並以圖框為單位進行累加,將每個像素之計算 值儲存於記憶體323内,將4值化之每圖框内累加後之資料 圖像輸出至記憶體33,以保存按每個點進行累加後之圖像。 記憶體33例如由即便電源斯電也可保持數值之非揮發性 記憶體構成’其係保存在圖像資訊取出部3 2中予以4值化且 依每個圖框進行累加後之圖像資料(按每個點執行累加後 之累加資料),由CPU 34根據需要對其存取而取出資料。 94637.doc -13- 1280538 5己fe體33保存有由CPU 34依每個像素執行何種γ處理之 資訊。 CPU 34 ;出5己彳思體33内儲存之圖像資料,監視每個像素 之劣化度,如果暗斑變得很明顯,則對圖像處理部35輸出 可對每個像素執行適當之γ校正之γ變換表資訊(選擇並指 疋換表)。CPU 34通常僅監視劣化程度(劣化度)。 具體而言,CPU 34參照保存於記憶體33内之累加資料, 計算出相對於預先設定之數值之劣化程度,藉由比較判斷 劣化最輕之像素與劣化最劇的像素之差是否大於設定值, 從而監視劣化度。如果在劣化度上產生超過一定程度之 差’則CPU 34會對圖像處理部35之γ變換部設定用於減小其 差之處理。 圖像處理部35基於由CPU 34命令之γ變換表,對各色執行 γ校正裨使每個像素之劣化減小。 輸出部3 6按照與輸入訊號之格式相同之時序,輸出從圖 像處理部35輸入之圖像。 以下,針對如上構成之圖1之圖像處理裝置之動作進行說 明。 首先’藉由圖像輸入部31,將輸入圖像ΙΜ輸入至圖像資 訊取出部32以及圖像處理部35。 在圖像資訊取出部32中,按照由CPU 34指定之臨限值, 將輸入之圖像4值化。具體而言,在4值化部32 1中,首先, 根據由CPU 34指定之臨限值,將圖3(A)所示之輸入灰階分 為(A)、(B)、(C)和(D)4個區域,再如圖3(B)所示,將每個 94637.doc -14- 1280538 區域4值化為〇、1、2和3。然後,按照每個點將輸入圖像4 值化’在計算部322中,以圖框為單位執行累加。將每個像 素之計算值儲存於記憶體333内。 將4值化圖像與在前一圖框内予以*值化之圖像以位元為 單位執行累加,然後輸出至記憶體33。 在5己憶體3 3中,保存執行4值化並依每個點執行累加後之 圖像資料。 在CPU 34中,讀出儲存於記憶體33内之圖像資料,並監 視每個像素之劣化度。如果監視結果發現暗斑情形顯著, 則CPU 34對圖像處理部35輸出γ變換表裨便對每個像素執 行適當之γ校正。 在圖像處理部35中,為每個像素選擇γ變換表,並基於此 對各色執行γ校正裨便減小每個像素之劣化。 以下,參照圖4、圖5(A)、(Β)、以及圖6(A)-(C),說明圖 像處理部35中之γ校正之校正原理。 圖4係用於說明本實施形態之圖像處理部的初始階段之γ 值之說明圖。在圖4中,橫軸表示輸入灰階,縱軸表示輸出 灰階。在此例中,輸入灰階和輸出灰階均為8位元之 256(0-255)灰階。 圖5(A)、(Β)係用於說明γ校正之具體例之圖。在圖5(α)、 (Β)中,橫軸表示輸入灰階(8位元)、縱軸表示輪出亮度。 圖6(A)-(C)係用於說明基於亮度劣化資訊之校正方法的 具體例之圖。圖6(A)-(C)中所示數值表示每個像素之劣化程 度。 $ 94637.doc -15- 1280538 、在初期階段中,如圖4所示,先將圖像處理部35之γ變換 減為小於後段輸出部36之驅動器輸出之7。 每個像素持續劣化,如圖5(Α)所示,設未劣化之像素 PXL2之輸出亮度為1〇〇,最劣化之像素pxLi之輸出亮度為 97 〇 匕守如圖5(B)所示,執行伽馬變換使未劣化之像素 之輸出亮度從1GG下降到99,使劣化最劇之像素pxu之輸 出π度從97上升為98,以使2個像素之亮度差變小之方式進 y亍仂馬校正。對母個像素執行此種7變換,從而校正劣化。 例如,如果设定在3%之劣化時執行校正,則如圖6(Α)所 示,當亮度劣化之最大與最小差達3%時執行校正,則如圖 6(B)所不,各像素之差變為1%,變得幾乎看不出亮度差。 此處,在圖6(C)中顯示校正後之係數,若按3%誤差執行 才父正,變換表會有2種類型,其中於利用FPGA執行之情形 下,能夠以相當簡單之電路規模來實現此種功能。因此, Ρ牛低夕少百分比來執行劣化校正,左右著系統以及電路規 模之大小。 附帶一提,作為預先保存像素之劣化資料所必需之記憶 體容量’如圖像為XGA解析度之情形,為17029440000=3(4 值化)χ6〇(1 圖框)Χ60(1 分鐘)X6〇(l 小時)Χ24(1 日)χ365(1 年)χ 3(年)’由於17029440000係34位元寬,因此,記憶體容量為 4.25位元組χι〇24χ768= 3·3百萬位元組。 此種6形’母個早色只要預備3·3Μ位元組(byte)之圖框記 憶體即可,因此,能夠以相當小之記憶體容量、且能夠使 94637.doc 16 1280538 用當前主流之32位元寬之記憶體’實現現實可行性極高之 校正手段。 以下,說明CPU 34内之亮度劣化度之計算方法、更進一 步具體之4值化方法、以及更有效之r變換方法。 首先’就CPU 34内之亮度劣化度之計算方法進行說明。 此處說明2種方法。 <第1亮度劣化度計算方法> 在該CPU 34中,例如併入有時鐘,計測於未圖示之面板 内顯示影像資料之時間,每隔某個時間間隔就從記憶體中 頃出依母個像素執行累加後之資料,並執行計算。 根據計測值執行校正之時間間隔,能夠根據每丨日、每i 週、母1年專使用者使用面板之頻率來改變。 壳度劣化程度之計算係使用所顯示之時間以及依每圖框 執行累加之資料來執行。對於數值的合計值之劣化程度係 根據有機EL裝置材料之劣化曲線(特性曲線)預先計算出, 並基於該資料而推導出劣化程度。 例士對1 000小日守下焭度減為一半之裝置進行校正之情 形下,某一個像素之最大合計值為864〇〇〇〇〇〇。此時,就某 個像素之累加合計值在發亮經過8〇〇小時後導 164000000之情形進行探討。 … 女果800小日守中的4值化之判斷全都判斷為3,貝w值化之 1值為691200000,因此,上述情形相對於全都判斷為3 之 f月形,僅劣化了 {(8〇〇χ164〇〇〇〇〇〇 + 2)/(8〇〇χ69ΐ2〇⑻㈧ -f-2}xi〇〇 = 23.7 [%] 〇 94637.doc 1280538 當吾人得知該有機EL裝置在800小時中所有的判斷都為〗 時劣化的程度為40%’則此種情形下,能夠以4〇 χ (23 7/1〇〇) = 9·48 [%]簡單計算出劣化度之程度。 <第2亮度劣化度計算方法> 以下顯示即便於每天執行校正之情形下,也可根據本發 明簡單地利用CPU 34執行計算而計算出像素之亮度劣化程 度之方法。 在某位置(第丨次)所做之校正係使用上述第丨方法之計算 方法計算出,其係以在上述實施形態之方法進行依每個像 素改變r之處理,但是,在第2次以後之校正中,則是以如 下方法計算出劣化度。 。例如於執仃圖5(A)、(B)的校正之情形下,劣化度為1、 2% ’設此時之計數數值和發光時間為2()小時,說明以下之 計算方法。 若20小時下所有的資料均為3,則合計的計數數值為 1296〇_。由㈣小時之亮度劣化為!%,因此,儘管各像 素^冲數數值各不相同,但是,由於校正後劣化度收敛於 卜2/。内’因此’能夠將校正後之各像素之計數數值設定為 相同’此處’將其設定為1296_χ() 985 = ι㈣_。 …匕由於即便在任何時刻執行校正’都能夠於每次執 將各像素之劣化度調整為相同’故能夠統一適用 於下-次校正之計數數值’因此’能夠簡便執行更規格化 之亮度校正。 <4值化方法〉 94637,doc •18- 1280538 ^據本發明所制之手法,如㈣有效進行 :出部執行4值化之方法,將成為以下計算劣化度之重要因 =以下說明如何根據本發明獲得用來求取更精確之劣化 一貝料的資訊之4值化方法。 :本實施形態中,是在初始狀態時,於灰階尚且充分之 狀態下使用輸入和輸出灰階之7變換,而隨著時間經過,直 r曲線之傾斜度會不斷變化,因^要計算精確的亮度劣 化必須要什异執行4值化時之適當的臨限值。例如,以下 說明執行如圖5之校正計算之情形。 、初始狀&下’在各像素中’由於未使用最大灰 階,因此將臨限值在低灰階側之解析度增大。 例如’將㈤之臨限值設定為9〇階,將Η〇2之臨限值設 定為150階,將2和3之臨限值設定為23〇階。實際上 人 有機EL之裝置特性來決定詳細值。 口 S像素劣化持績加劇,使γ曲線之傾斜度變大時,表示明 亮發光之像素變多,或者明亮發光之時間增長,因此將臨 限值之在高灰階側之解析度增大。藉由如此調整,能夠更 精確地貫現4值化。 <γ變換方法〉 以下說明利用本發明所使用之方法下更有效之7變換方 法0 先前所述的γ變換由於輸入是8位元、輸出也是8位元,因 此’為了貫現其功能,必須要犧牲影像訊號之灰階,但是 如圖7所示,若藉由設定為輸入8位元、輸出1〇位元(使用與 94637.doc -19- 1280538 如述所舉之你I 4曰π ^ 同之权正值),即無須削減輸入訊號之灰階 而能夠實現該功能。 又作為具際上能夠實現之一例,舉出圖8所示之方塊圖。 一圖之例係藉由於一般之LCD或有機肛顯示器等平板顯 Z所使用之日^序產生器4()内,添加本實施形態之圖像處 衣置30之功%作為亮度校正區塊,能夠於外觀上保持不 ’而提高功能及性能。 <劣化資訊之其他取得方法> 接下來,就利用本發明中使用之手法更有效取得劣化資 訊進行說明。 目鈾為止,已經說明了在圖像資訊取出部3 1中,僅僅藉 由4值化就能容易求出亮度劣化資訊且容易進行計算之i 理’而將其4值化任意增加為8、16、32、64、126、256等 月b夠得到更精確之資訊。但是,由於增加臨限值會 使所需之記憶體容量增加,故不宜設為過大。 例如,對於XGA解析度之影像輸入訊號只進行丨28值化, 記憶容量即變為72〇91296()_ = 31⑽值化)χ6〇(ι圖 框)Χ6〇(1 分)Χ60(小時)χ24(1 日)χ365(1 年)χ3(年),由於 曰12960000為40位几寬,因此,每多加—色,記憶體容 量要增大5位元組χ1〇24χ 768 = 3·9Μ位元組。 而且,由於相當於1個像素之資料寬度為4〇位元,因此, 於使用當冑主流記憶體之情形了,需I進行 速度高速化等之處理。 但是,將來,當64位元寬之記憶體為主流時,上述手法 94637.doc -20- 1280538 無論在成本上或是在電路規模上都是現實可行之手、去 如以上說明所述,根據本實施形態,具有:圖像資訊取 出部32,按照由CPU 34指定之臨限值vth,將藉由圖像輸入 部31輸入之圖像4值化,並將4值化之圖像與在前一圖框已4 值化之圖像以點為單位相加;記憶體33,保存已於圖像資 訊取出部32内已4值化且依每個圖框執行累加之圖像資料 (按每個點進行累加之累加㈣),並由咖34根據需要對 其存取而取出資料;CPU 34,讀出儲存於記憶體Μ内之圖 像資料並監視每個像素之劣化度,當暗斑情形變得顯著 時,則對圖像處理部35輸出用以對每個像素執行適當的俄 正之7變換表資訊(選擇並指定γ變換表);卩及圖像處理部 35 ’基於由CPU 34下達之γ變換表,對各色執行懷正,裨 減小每個像素之劣化。由此,本實施形態可得到以下之效 果。 ^ "亦即’僅搭載小規模之記憶體,可於歷經3年以上之自由 範圍之時點,於丨圖框内依像素逐一校正每個像素之真 化。 〜人士 再者,即便用於個人電腦(PC)或電視(τν)等任何用途, 也不會出現固定顯示部分之亮度劣化明顯的情形。’、 此外,僅預備2個r表,就能夠抑制全體亮度劣化之參差 二見其二果,只要藉由添加既有之1C之小規模電路就能 夠η現,各易實用化0 無須改變輸入和輸出之了表,就能夠使固定顯示部分之劣 化變得不明顯。 κ 94637.doc l28〇538 ,以彺為了要計算各像素之劣化量,需使用較多算 :和.己憶體’但是根據本實施形態,由於校正計算量非; 少,因此不需要採用執行圖像處理之高速cpu : 簡單易行。 運昇極其 时:者’於基板上安裝此功能之時,11由安裝於時序產生 器等IC的一部分上,就可以不需要特殊之周邊電路,不會 對既有之顯#器結構造成影響而實現本功能。 此外’本發明亦能抑制個人電腦(pc)或遊戲等固定圖像 多之情形下所發生的局部像素劣化。 此外藉由以1圖框為單位儲存劣化資訊,能夠依每個像 素執行高精度之校正計算。 更且,藉由限制執行γ變換之情形,能夠實現極度抑制引 起畫質視感不佳之暗斑之校正。 [產業上利用之可能性] 由於能_制電視畫面等内顯示之時鐘等較顯示所引 (之局#像素劣化,因此,能夠應用於有機el顯示器和液 晶顯示器等平板顯示器内使用之時序產生器。 【圖式簡單說明】 圖!係顯示本發明之圖像處理裝置之一實施形態之方塊 結構圖。 圖2係具體顯示本實施形態之圖像資訊取出部之結構例 之方塊圖。 圖3係用於說明取出本實施形態的取出圖像資訊取出部 之劣化資訊之4值化方法之圖。 94637.doc -21- 1280538 圖4係說明本實施形態之圖像處理部之初始階段中的r 值之說明圖。 圖5係用於說明r校正方法之具體例之圖。 圖6係用於說明基於亮度劣化資訊之校正方法之具體例 之圖。 圖7係用於說明輸入8位元、輸出1 〇位元之情形下之^變 換方法之圖。 圖8係顯示輸入8位元、輸出10位元之情形下之應用例之” 圖9係顯示主動矩陣型有機El顯示哭中夕你主 ° 像素電路之笫1 結構例之電路圖。 圖10係顯示主動矩陣型有機EL顯示哭 2結構例之電路圖。 4之像素電路之第 圖11係用於說明圖1 〇之電路動作之時序β 【主要元件符號說明】 圖° 30 圖像處理裝置 31 圖像輸入部 32 圖像資訊取出部 321 4值化電路 322 計算部 323 記憶體 33 記憶體 34 CPU 35 圖像處理部 36 輸出部 94637.doc -23-
Claims (1)
1280538 十、申請專利範圍: 1 · 一種圖像處理襞置,其包含: 劣化度資訊取得手段,將輸入之圖像訊號多值化,並 基於多值化資訊取得亮度劣化度資訊; 圖像變換指定手段,基於藉由上述劣化度資訊取得手 段所得到之亮度劣化度資訊,選擇並指定最佳之圖像變 換方法;以及 圖像處理手段,基於藉由上述圖像處理指定手段指定 之最佳圖像變換方法,對輸入之圖像執行變換處理。 2·如請求項丨之圖像處理裝置,其中包含記憶手段,用於保 存以上述劣化度資訊手段所取得之亮度劣化度資訊; 上述圖像變換指定手段係基於記憶在上述記憶手段内 之亮度劣化度t訊,選擇最佳n變換方法,並將其 指定於上述圖像處理手段。 3·如請求項2之圖像處理裝置,#中上述劣^匕資訊取得手段 係以點為單位將多值化之圖像與在前一圖框已多值化之 圖像累加,並將每個像素之累加資料保存於上述記憶手 段内。 4.如凊求項3之圖像處理裝置,其中上述圖像變換指定手段 係參照保存於上述記憶手段内之亮度劣化度#訊之累加 資料而計算出劣化度,於劣化度小之像素與劣化度大之 像素之亮度差大於預先設定之基準值之情形下,選擇使 該亮度差變小之變換方法,並將其指定於上述圖像處理 手段。 94637.doc 1280538 5. 如:求項3之圖像處理裝置,其中上述圖像變換指定手^ 係參照保存於上述記憶手段内之亮度劣化度資訊之累: 貧料而計算出劣化度’於劣化度最小之像素與劣化度最 大之像素之亮度差大於預先設定之基準值之情形下,選 擇使該亮度差變小之變換方法,並將其指定於上述 處理手段。 6.如請求項4之圖像處理裝置,其中上述變換方法係y變換 法’上述圖像變換指定手段係將讀換表資訊提供給上述 圖像處理部; 〜上述圖像處理部基於γ變換表,對各像素執行用於縮小 壳度差之γ校正。 如請求項5之圖像處理裝置,其中上述變換方法係慢換 法上述圖像變換指定手段係將γ變換表資訊提供給上述 圖像處理部; 上述圖像處理部基於γ變換表,對各像素執行用於縮小 亮度差之γ校正。 &如請求項7之圖像處理裝置,其中上述亮度劣化資訊取得 手段係對圖像之灰階資訊執行多值化處理,於初始狀態 下,將用於多值化之臨限值在低灰階側之解析度增大。 9·如咕求項8之圖像處理裝置,其中上述亮度劣化資訊取得 手奴,隨著像素之亮度劣化加劇,而將用於多值化之臨 限值在高灰階側之解析度增大。 1 〇· —種圖像處理方法,其包含以下步驟: 第一步驟,將輸入之圖像訊號多值化; 94637.doc 1280538 第二步驟,基於多值化資訊而得到顯示時之亮度劣化 度資訊; 第三步驟,保存所得到之上述亮度劣化資訊; 第四步驟,監視上述保存之亮度劣化度資訊,並選擇、 指定與亮度劣化度相對應之最佳圖像變換方法;以及 第五步驟,基於上述指定之最佳圖像變換方法,對輸 入之圖像執行變換處理。 94637.doc
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