TW432039B - 4-sulfonylbenzoylguanidine derivatives, process for preparing the same, process for the production of pharmaceutical preparations comprising the same and pharmaceutical compositions comprising the same - Google Patents

Description

五、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本創作是有關於一種檢測用的機構，且特別是有 一種探針機構。 ； 【先前技術】 任何的電子產品在製作完成之後都需要進行電 試以筛檢產品的良劣。以平面顯示面板而言，在製作完= 之後’通¥都會進行點亮峨或是其他的電性測試來 = = .’、、頁不面板疋否有缺陷存在。—但發現缺陷，可以 後續的修補作業修補之。 用 ㈣Π之’要檢測平面1 歸面板或是其他電子產品時， s 檢測設備巾的導德針於平面顯示面板或 伴墓當f品上的測試接點。在這樣的檢測^1程中，為 子測試接點的接觸，平面顯示面板或是電

ί電探針與職接點可㈣為這樣_力而受到損壞A 恢;被導電探針到傷而導電探針可能產生叙; 丨犬设的形姣。所以，要如何 .、'、电 持檢測設備與檢測物的品質是-二重 【新型内容】 電接觸件(即探針) 本創作提供一種探針機構，可避免導 M432039 在檢測過程中受到損壞並且確保檢測作業的進行 本創作提出-種探針機構，適用於接觸―:件 物件之檢測。探針機構包括-底座、多個導 ^進行 電路板以及-緩衝件。底座具有多個容納孔⑦接觸，、一 係貫穿底座。導電接觸件分別設置於容 且，容納孔 具有一第-端部、-彈性部以及-第二端1 位於第1部與第二端部之間，且第1部㈣ ^出於底座之外。電路板設置於底座上，並接觸且電= ，於各導電細件的第-端部。緩衝件設置於電路板與底 座之間’使電路板與底座之間相隔一距離。 =本創作之—實施例，上述導電接觸件係透過第二 螭邛接觸於物件。第二端部接觸於物件時，彈性部例如具 性㈣4 ’而此彈性變形量小於彈性部的最大彈性 ，形垔。另外，彈性變形量與距離的總和可以不小於彈性 邠的最大彈性變形量。 ，據本創作之-實施例，上述探針機構更包括一鎖固 _縣魏板、_件以及底座鎖 鎖固件包括一螺絲。 /、τ 緩衝ί據*本創作之—實施例，上述探針機構更包括一辅助 ，/、没置於電路板遠離底座的一側。於一實施例中， 件的材質包括—彈性材料。另外，探針機構選擇 鎖固括—鎖111件。鎖111件將電路板、緩衝件以及底座 起’其中_件具有嵌人於底座的—第一部以及 貝穿電路板與該緩衝件的—第二部，且第-部的表面具ί 5 M432039 至少-鎖固紋路而第二部的表實 少一鎖岐路包括螺紋。 買上為千滑的。上述至 根據本創作之一實施例，上述 包括一彈簧。 义合等电接觸件的彈性部 墊 片例乍二實：士，衝件包括-墊片。— Γ的第一端部凸伸於開…接觸並電性連 ，於上述，本創作在既有的 於電路板與底座之間，使且右㈣㈣°又置緩衝件 圍增加而有利於檢，_;= 3導電接觸件可工作範 檢測過程中對檢測物件二ί細探針機構有助於降低 兴奋Λ為彳讓本創作之上述特徵和優點能更明顯祕，下文特 举只靶例，並配合所附圖式作詳細說明如下。 【實施方式】 圖1繪示為本創作一實施例的探針機構之上視示意 圖2為圖1的探針機構沿剖線14,的剖面示意圖。 叫同時參照圖1與圖2,探針機構1〇〇包括一底座11〇、多 =電接觸件12G、-電路板13G以及—緩衝件14〇。底座 具有多個容納孔112，且各容納孔112係貫穿底座 H導電接觸件12〇分別設置於容納孔112中其中圖2 僅曰示個導電接觸件12〇以及一個容納孔出以方便說 M32039 月。電路板130設置於底座lio上，並接觸且電性連接於 各導電接觸件120。缓衝件140設置於電路板13〇與底座 之間，使電路板130與底座11〇之間相隔—距離d。另 外，探針機構1〇〇可以更包括一鎖固件150。鎖固件15〇 用以將電路板130、緩衝件HO以及底座11〇鎖固在—起，

其中鎖固件150可以是螺絲、鉚釘或是其他可用來將上 構件固定住的元件。 " 具體來說，本實施例的各導電接觸件12〇為針狀結構 物，其具有一第一端部122、一彈性部124以及一第二端 部126,其中彈性部124位於第一端部122與第二端部^ 3。換言之’導電接觸件120可以是具有彈性的探針， ^中上^彈性部124包括一彈簧，但本創作不以 ^另外，導電接觸件120的第一端部 2出於底座U0之外。電路板130則是接觸第且= 於各接觸件120的第一端部122。 連接

在本實施例巾，緩衝件140可以是一塾片，复 ::開口142。開σ 142暴露出導電接觸件12〇，使：導電 t觸件120的第一端部122凸伸於開口 Η2中以接觸$ =於電路請。如此一來’電路板13〇上所傳二 =件120傳送出去一備中 狀態;===針機_檢測時的 ^ 100 7 M432039 接觸件120接近並且抵頂於導電接觸件12〇。此時，物件 10會對導電接觸件120施加應力而使彈性部124的長度l 由原始長度X0被壓縮為XI。亦即，導電接觸件12〇的彈 性部124會具有一彈性變形量(X1減去χ〇)。為了避免彈 性部124的損壞，上述彈性變形量pci減去χ〇)需小於彈 性部124的最大彈性變形量，所以本實施例在底座u〇與 電路板130之間設置有緩衝件140。 詳吕之，本實施例的缓衝件140使得電路板13〇與底 座110之間相隔一距離d，因此彈性部124在長度L·的方 向上的可伸展長度可以相對地增加。物件1〇抵頂導電探針 120使其產生的彈性變形量不容易超過彈性部124自身特 性所能承受的最大彈性變形量。所以，探針機構1〇〇應用 於物件10的量測時不易造成不可回復之形變而具有良好 的信賴性。 另外，物件10抵頂於導電接觸件12〇時，彈性部124 並未處於最大彈性變形狀態，彈性部124仍有可壓縮的空 間。所以，彈性部124在此可以提供緩衝作用使得第二端 部126施加於物件1〇的應力減緩而可以避免物件1〇之表 面被第二端部126刮傷。 圖4繪示為本創作一比較例的探針機構的示意圖。請 參照圖4,探針機構10〇a與前述之探針機構1〇〇實質上相 同’其中相同的元件符號表示為相同的構件。不過，探針 機構100A的電路板13〇係直接接觸於底座HQ。也就是 說，探針機構100A並無前述之緩衝件14〇的設計。 M432039 剌^表示為本創作一實施例與比較例之探針機構在檢 “良私中，探針機構所承受之壓力與探針 的關係。請_參_、圖4與圖5， 檢測過程中可確實使物件接觸於探針機』= 就1檢測過程中探針機構承受到物件所施加 之應力乾圍。另外，趨勢線cl〇〇為 機構100的特性，而趨勢線c驅為圖 =針 機構100A的特性。 Μ乂例之⑽ 由圖5可知，在相同範圍R的應力狀態下 J00之壓縮距離的變化區間S1較大，而· f =離嫩區間S2較小。也就是說，探針機構1〇之〇 ^則過財’相對具有較A的可卫作制，而於 : = = :亦即，本創作一實施例的緩衝件;4。 2有利於檢測作業的進行以及延長探針機構刚的使用 為本創作另—實施_探針機構的剖面示意 ΐ右:i!圖6，探針機構200除了上述探針機構⑽所 :、有個構件外’更包括-輔助緩衝件21〇。並且，本實施 例=探針機構200中，鎖固件220包減入於底座u 以及貫穿電路板13〇與緩衝件刚的一第二 ，本實施例中，辅助緩衝件加例如設置於電路板⑽ 座li〇的一側’且辅助緩衝件210的材質包括-彈 性材料。因此，探針機構細麵行檢測時，辅助緩衝= 9 M432039 而减低導電接觸件⑶損壞的可能性。 具有二 =:丨=2°中’第-部222的表面 貝因双路222A而第二部224的本品每所l迕 平滑的，其中鎖固紋路22A 的表面，、貝上為 盥底座110 m ~ / 匕括累次以利於將電路板130 味ίΓ=:起。此時’第二部224之平滑表面意 Γ面沒有簡的紋路，所以辅助緩衝件 離以可以沿第二部224略微滑移-距 :」成=:接觸件120中彈性部124的壓縮應力。整體 二二緩=可以一 p ，本創作在底座與電路板之間設置—_件 使：底，魏板相隔一距離。因此，設置於底座之 2的導電接觸件向外凸伸上述距離之長度後才接觸於電 路板。這樣的探針機構顧在進行檢_過財 觸件具有較長的可壓縮距_不易使導電接觸件因為過， 壓縮而發生無法回復的形變。換言之，導觸件在檢ς 過程中不易被壓縮至極限，這可以避免待檢測之物件因為 被壓縮至極_導電觀件而承錄大的應力造成物: 損壞。 雖然本創作已以實施例揭露如上，然其並非用以限〜 本創作，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不 本創作之精神和範圍内，當可作些許之更動與潤飾，故 創作之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 10 M432039 【圖式簡單說明】 圖圖1繪示為本創作—實施例的探針機構之上視示音、 圖2為圖1的探針機構沿剖線ΙΓ，的剖面示音。 圖3繪示為圖2雜針機構進行檢測時m音、 圖0 〜 圖4繪不為本創作—比較例的探針機構的示音圖。 # ffi 5表示為本創作—實施例與比較例之探針^在 測過程中，探針機構所承受之壓力與探針機構 = 的關係。 i拖此離 圖6綠示為本創作另一實施例的探針機構的剖面示意 【主要元件符號說明】 10 :物件 100、10OA、200 :探針機構 110 :底座 112 :容納孔 120 :導電接觸件 122 :第一端部 124 :彈性部 126 :第二端部 130 ·電路板 140 :緩衝件 11 M432039 142 :開口 150、220 :鎖固件 210 :輔助緩衝件 222 :第一部 224 :第二部 C100、C100A :趨勢線 d :距離 Ι-Γ :剖線 L :長度 R :範圍 SI、S2 :變化區間 12

Claims (1)

1. M432039 六、申請專利範圍： 1.-種探針機構，義於接觸—物件 檢測’該探針韻包括： 逼㈣物件之 一底座，具有多個容納孔，各該容納孔係 多個導電接觸件，分別設置於該些容納孔中，^极 觸件具有-第-端部、一彈性部以及一第 = ，，一端部與該第二端部之間，且該=端= 弟一知部皆凸出於該底座之外； 一電路板’設置魏総±，並闕 該導電接觸件的該第—端部；以及 紐連接於各 一緩衝件，設置_電路板触底座 板與該底座之間相隔—距離。 使忒電路 ㈣f如中凊專利範圍第1項所述之探針機構，其中μ 電接觸件係透過該第二端部接觸於該物件。 一山3.如申料概圍第2項所述之探針機構， 4部接觸於該物件時，該彈性部具 该彈性變形量小於轉性部的最大彈性變p 7里’而 4. 一如申請專利範圍第3項所述之探針機i中 开^形董與碰離_和不小於娜性部的該最大彈性/變 5·如申請專利範圍第！項所述之探針機構，更包括— 在^=。’ _固件將該電路板 '該緩衝件以及該底座鎖固 6.如申請專利範圍第5項所述之探針機構，其令該鎖 13 固件包括-螺絲。 輔助i=!請專利範園第1項所述之探針機構，更包括-;衝件，③置於該電路板雜該底座的-側。 助缓中請專利範®第7項所述之探針機構，|中μ k街件的材質包括〜彈歸料。 ，、中该辅 鎖固i如申請專利範園第8項所述之探針機構，更包括 ’該鎖固件將錄電路板、該緩衝件以 _該雷L中Ϊ鎖固件具有嵌入於該底座的-第二部以Ϊ 貝牙》广路板^、該緩衝件的一第二部，且該第— 具有^少—鎖固纹路岭第二部的表面實質上騎=面 •如申請專利範園 所述 :、。 至少一鎖固紋路包括螺故。 m構’其中該 如申請專利範圍第i項所述之探針 該導電接觸件的該彈性部包括一彈簧。 ”中各 缓衝利範圍第1項所述之探針機構，其中該 該導電接觸件的該第；:==== 連接於該電路板。 τ以接觸並電性