TW293167B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW293167B
TW293167B TW84104789A TW84104789A TW293167B TW 293167 B TW293167 B TW 293167B TW 84104789 A TW84104789 A TW 84104789A TW 84104789 A TW84104789 A TW 84104789A TW 293167 B TW293167 B TW 293167B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
lead
frame
leads
lead frame
resin
Prior art date
Application number
TW84104789A
Other languages
English (en)
Inventor
Suzuki Hiromichi
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Application granted granted Critical
Publication of TW293167B publication Critical patent/TW293167B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49558Insulating layers on lead frames, e.g. bridging members
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49548Cross section geometry
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01087Francium [Fr]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

A7 B7 2ii〇i67 五、發明説明(!) 發明背景 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係關於用以生產引線框之技術和使用引線框以 形成半導镰裝置之技術,特別而言,本發明係關於一種技 術,其可有效的解決當使用阻塞構件以取代阻塞桿時,由 彎曲所引起之問題。 在習知技藝中,引線框包括阻塞桿,該阻塞桿和引線 框以相同的材料一起形成單塊結構。阻塞桿使密封樹脂免 於流向外引線側,在傅送模製處理時。由於阻塞桿和引線 框一 «成型,爲了達成阻塞桿之切除處理,必需使用金靥 模以進行切割處理。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 但是,近年來,由於半導雅裝置之容置之增加趨勢, 半導體裝置包封之腳之數目變大,其必需使引線框之精細 節距構造具有0 ·3mm至0.5mm之引線節距。如此 導致之技術問題爲其難以使用金屬模以進行阻塞桿之切割 處理。即使進行此種處理,產品成本亦將增加許多。因爲 此一問題,爲了省去以金靥模切割處理,已經揭示用以製 造阻塞桿之方法,其中,絕緣片和樹脂使用當成阻塞構件 以取代在單塊結構中形成阻塞桿。此種方法可參考日本專 利 JP-A-58-2884 1 , JP — A— 2 — 122660,JP — A— 310955 ,和 JP— A— 4 — 9 1 4 6 4。 依照上述之方法,阻塞桿可輕易的形成在多腳引線框 中,且在模製處理後,可使用有機溶劑在簡單的處理中移 去。此外,由於阻塞桿由絕緣材料製成,移去阻塞桿之處 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) Α7 Β7 五、發明説明(2 ) 理在某些例子中可省略。 發明概要 因此,本發明之目的乃在提供一種精細節距構造之引 線框,其可利用包括阻塞構件之阻塞桿以明顯的降低引線 框之《曲,和使用該引線框之半導體裝置。 本發明之另一目的乃在提供一種精細節距結構之引線 框,其可正確的逹成外引線模製處理,和使用此引線框之 半導體裝置。 依照J Ρ-Α— 5 8-2 8 8 4 1 ,阻塞桿由絕緣片 所製成;其中依照JP — Α-2-1 2 2 6 6 0, JP-A-310955 ,和 JP-A— 4-91464 而使用各種不同之樹脂。使用絕緣片或樹脂在引線框上製 造阻塞桿需要在髙溫下之加壓模製處理。由於絕緣片和樹 脂之線性膨脹係數通常大於引線框之材料(特別是,F e -4 2 N i ),當黏著劑或樹脂硬化在片之表面上時,整 個引線框會因爲線性膨脹係數之差異而有害的彎曲。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 圊2顯示依照J P — A-5 8 — 2 8 8 4 1之引線框 構造之習知例,其包括一阻塞桿3位在引線框1之外框和 相鄰之外引線2 b之間。當阻塞構件3硬化且收縮時,外 框1抽向和阻塞構件3連接之外引線2 b。由於外框1具 有高剛性,阻塞構件3之收縮無法由外框之內部形變所吸 收,如此導致整個引線框之彎曲。 圖3顯示依照JP— A— 4 — 9 1 4 6 4之引線框結 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^^〇1β7 a7 ____B7_ 五、發明説明(3 ) 構之另一習知例,其包括一阻塞構件3位於晶片墊支撑引 線5和相鄰之外引線2 b之間。由於具有兩支撑點之支撑 引線5之髙剛性,引線框經由如圖2之例所示相似之機構 而彎曲。在引線框中之彎曲會有害的引起模鍵結層之剝落 ,在配線結合處理後,引線之形變,和當在半導體製造處 理時,傅送引線框之阻礙。 依照本發明,於此提供一種引線框和使用該引線框之 半導髏裝置,其中由於阻塞桿和阻塞構件一起形成所會產 生之引線框之彎曲可受到相當明顯的抑制。 依照本發明,爲了達到上述之目的,當阻塞桿以絕緣 阻塞構件模製時,只有具有低刪性之外引線以阻塞構件互 相連接,亦即,具有高剛性之晶片墊支撑引線和引線框之 外框並未與阻塞構件耦合。此外,介於外框或支撑引線和 用以電俥導之電訊號引線間安排有虛擬引線至少僅包括一 外引線(亦即,不包括內引線)不需要電傅導,因此,虛 擬引線經由阻塞構件連接至電訊號引線。在樹脂模製處理 後,切除虛擬引線。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 簡言之,依照本發明之引線框之構造如下所構。在此 說明睿中, '阻塞構件'意即在樹脂模製中,金雇模之腔 在半導體製造處理中充塡以樹脂時,用以避免樹脂由引線 間之空間流出之構件。再者,*翼片|表示形成在引線框 表面之半導體晶片所安裝之部份,"內引線#表示在樹脂 中之引線部份(除了翼片外),而'^外引線#表示在樹脂 外之引線部份。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 __B7 五、發明説明(4 ) (1 ) 一種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含 « 一翼片,而半導髋晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撑引線,其連接至霣片: 多數之內引線與半導髅晶片電耦合: 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 一阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於外引線之 間以避免密封樹脂流出。 (2 ) —種用於塑膠密封半導髗裝置之引線框,包含 一翼片,而半導饅晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撑引線,其連接至翼片: 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構: 一框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 一阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設e於內引線和 外引線間之邊界,用以避免密封樹脂流出,阻塞構件在一 位置上連接至晶片墊支撑引線或框。 (3 )—種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含 一翼片,而半導髖晶片安裝在翼片上: 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -------------(I 裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 如 id7 A7 B7 五、發明説明(5 ) 晶片墊支撑引線,其連接至翼片: 多數之內引線與半導髏晶片電耦合: 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導體裝®組裝後,受到切斷;和 一阻塞構件,其由_緣材料製成,且,置於內引線和 外引線間之邊界,用以避免密封樹脂流出,該阻塞構件連 接至晶片墊支掸引線或框在兩個互相對角線之位®上。 (4 )—種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上: 晶片墊支撑引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單阻隔結構: 一框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷:和 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於內引線和 外引線間之邊界以避免密封樹脂流出,該阻塞構件連接至 晶片墊支撑引線和框,除了至少在一位置上。 (5 ) —種用於塑膠密封半導髏裝置之引線框,包含 ♦ 一翼片,而半導髓晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撑引線,其連接至霣片: 多數之內引線與半導體晶片電耦合: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) -8 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(6 ) 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導嫌裝e組裝後,受到切斷;和 虛擬引線,設置在電訊號引線間用以電傅導至半導體 晶片和晶片埜支撑引線,該虛擬引線並未電傳導至包括至 少只有外引線之半導體晶片;和 —阻塞構件,其由絕緣材料所製成,且以連縯方式設 置在電訊號引線和虛擬引線間用以避免密封樹脂流出。 (6 )在第(5 )項所述之引線框中,虛擬引線位在 相對於由金雇模所箝夾之箝夾外綠之內側。 (7 )在第(1 )項所述之引線框中,一絕緣片固定 在阻塞形成部份上,而後在高溫下箝夾,以形成一阻塞桿 0 (8 )在第(1 )項所述之引線框中,利用分配器將 樹脂施加在阻塞形成部份上,而後在髙溫下箝夾,以形成 一阻塞桿。 (9 )在第(1 )至(8 )項所述之引線框中,外引 線在阻塞構件置放位置具有較大的宽度。 (10)在第(1)至(8)項所述之引線框中,引 線安排成至少爲0.5mm之引線節距。 再者,本發明之半導髓裝置具有任一型態。 (1 1 ) 一種半導雠裝置,其藉由係半導體晶片安裝 在如第(1)至(1〇)項所述之引線框上,電連接半導 髖晶片至引線框,和以樹脂密封半導體晶片和引線框而構 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ------„----「裝-- (請先閲讀背面之注意事項#-填寫本頁)
*1T - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(7) 成0 (1 2 )—種使用引線框之半導镰裝置,其用以和塑 滕密封半導體裝置一起使用,包含 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撑引線,其連接至翼片; 多歡之內引線與半導嫌晶片電耦合: 外引線和內引線一起形成在單塊結構: —框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 —阻塞構件,其由絕綠材料製成,且設置於外引線之 間以避免密封樹脂流出,其中 阻塞構件位於外引線之週園,但是並非至少在晶片墊 支撑引線之週園之一個位置上,在切割處理時。 (1 3 )在第(1 2 )項所述之半導體裝置中,在配 線結合處理時之內引線之外緣之平坦性最多爲1 0 0 //m 0 (14)在第(8)項所述之使用引線框之半導髄裝 置,其中阻塞構件在半導髋裝置組裝後移去。 (1 5 ) —種使用引線框之半導體裝置,其用以和塑 膠密封半導體裝置一起使用,包含: 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撑引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. 、1T- 東_ 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 2USi〇7 A7 B7 五、發明説明(8) —框,其用以支撑晶片墊支撑引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷:和 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 一阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於外引線之 間以避免密封樹脂流出;其中 在配線結合處理下之內引線之外緣之平坦性至多爲 1 0 0 " m 〇 依照上述之機構,位在外引線間之絕緣阻塞構件當成 在單塊構造中和引線一起製造之習知阻塞桿之功能。再者 ,在引線框中,由於樹脂之阻塞構件並未延伸至外框,因 此可避免外部區域之形變,且因此,可明顯的減少由於阻 塞構件所生引線框之彎曲,藉此可解決相關於«曲所產生 之問題。 再者,本發明提供一種引線框和使用此引線框之半導 體裝置,其中利用和習知技藝所使用相同的模製夾具,而 可適當的進行外引線模製處理。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 亦即,本發明之另一目的可藉由使用外引線彎曲處理 而達成,其中彎曲之引線部份具有較窄的宽度和較小之厚 度。 依照本發明,本發明提供一種引線框以使用於塑膠密 封半導體裝e,其一般包含一矩形且平面形翼片以供半導 體晶片安裝在其上,一外框藉由晶片墊支撑引線由四個方 向支撑翼片,內引線群側向的分別相關於翼片之四綠而安 排且由接近緣之位B向外延伸,外引線群和內引線群連接 並向外延伸以耦合外框,和由樹脂製成之阻塞構件互相連 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 11 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _ B7_ 五、發明説明(9 ) · 接側向安排之外引線。當模製阻塞構件時,只有外引線以 阻塞構件互相耦合,亦即,具有高剛性之外框或晶片埜支 撑引線並未連接於此。結果,當樹脂硬化時,阻塞構件之 形變由具有低剛性之外引線所吸收以抑制整個引線框之形 變。 再者,當彎曲外引線時,彎曲部份之宽度和厚度縮小 以利於成形處理。其次,以下將詳細說明本發明。 爲了達成上述之目的,本發明之第一引線框爲一種引 線框以使用於塑膠密封半導髋裝置,其包括一短形且平面 形翼片以供半導髋晶片安裝在其上,晶片墊支撑引線分別 連接至翼片之四個角落且向外延伸,一外框和晶片墊支撑 引線之外端耦合以由四個方向支撑翼片,內引線群側向的 分別相關於翼片之四緣而安排且由接近緣之位置向外延伸 ,外引線群和內引線群連接並向外延伸以耦合外框,和絕 緣阻塞構件,其只對於介於內引線和外引線間之邊界附近 之每一引線群之外引線互相連接,藉此,以阻塞構件充塡 介於相鄰外引線間之間隙。再者,在安排阻塞構件之區域 中之每個外引線之部份具有減少引線宽度之窄部份。 再者,如同第一引線框,本發明之第二引線框爲一種 引線框以使用於塑膠密封半導體裝e,其包括之元件例如 ,翼片,晶片墊支撑引線,外框,內引線和外引線。於此 亦設置一絕綠阻塞構件,其只對介於內引線和外引線間之 邊界附近之引線群之外引線互相連接,藉以利用阻塞構件 充塡相鄰外引線間之間隙。再者,於此安排有一額外的阻 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210Χ2ξ>7公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· 12 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(10) 塞構件,其由連接兩相鄰之外引線群之阻塞構件延伸至存 在其間之晶片墊支撑引線。再者,在安排阻塞構件之區域 中每個外引線之部份具有減少引線宽度之窄部份。此額外 的阻塞構件安排在一至三個位置。 此外,如同第一引線框,本發明之第三 引線框包括 之元件例如一翼片,晶片墊支撑引線,一外框,內引線和 外引線。於此進一步設置虛擬引線在晶片墊支揮引線之兩 相鄰側並由外框向內延伸。於此亦設置有一絕緣阻塞構件 ,其在介於內引線和外引線間之邊界附近,連接兩虛擬引 線和由虛擬引線所包園之外引線群之一。介於相鄰虛擬引 線間和介於外引線間之間隙受充塡以絕緣阻塞構件。再者 ,安排阻塞構件之區域中之每個外引線之部份具有減少引 線寬度之窄部份。 此外,相對於本發明之第一至第三引線框,亦有許多 的變化。在阻塞構件所設置之區域中之每個外引線之部份 中,最好在窄部份之前和後設置具有如同在附近部份之較 大引線宽度之宽部份。此外,亦可設置具有相同引線宽度 和如同延伸在附近之部份之較小引線板厚度之薄部份以取 代窄部份。在此狀況下,薄部份最好設置成在外引線之上 表面形成凹陷。 因此,在第一至第三引線框和其變化例中,外框爲一 個在半導體晶片以配線連接至內引線以及半導體晶片和內 引線以樹脂模製後需切除之構件,因此,具有較小引線宽 度之窄部份位在外框受切除後,彎曲處理可有致執行之位 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公嫠) ------.----—「裝-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --° 泉 -13 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(n) 置。 爲了達成上述之目的,於此提供一種依照本發明之半 導髏裝置,其中半導體裝置安裝在依照本發明之任一引線 框上,且其中藉由配線而連接至半導體裝置之內引線由密 封樹脂所密封。再者,外框受切除且外引線在窄部份(薄 部份)彎曲。 依照一種引線框以使用於塑膠密封半導雅裝置,半導 髓裝置安裝在以配線連接至內引線之翼片上,而後翼片之 部份,半導體裝置,和內引線由金靥模所覆蓋。模之腔以 液態樹脂充塡以便密封此部份。爲了避免在此處理中樹脂 由腔中經由介於相鄰內引線間之間隙流出,一阻塞構件設 置在在外引線側介於內和外引線間之邊界上。經由配線欲 傅導至半導體裝置之引線包括內引線,其設置在密封樹脂 中,和安排在樹脂外之外引線。 在每個依照本發明之引線框中,設置於外引線之絕緣 阻塞構件當成習知與引線框以相同材料一起形成單塊結構 之阻塞桿相似之功能。再者,由於阻塞梅件並未延伸至具 有髙剛性之外框,在硬化時阻塞構件之形變由具有低剛性 之引線所吸收,以壓抑整個引線框之形變。由於因爲阻塞 權件而引起之引線框之《曲可明顯的降低,因此,可解決 例如配線連接部份之剝落和斷開。 依照此引線框,在密封處理後,切除外框,而外引線 在密封樹脂模附近彎曲。在本發明之引線框中,在外引線 設置之區域中,外引線彎曲位e之部份形成具有較小引線 本紙張尺度適用中國國家樣準(CNS ) A4規格(210X297公嫠) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. -訂 -14 - a7 B7 五、發明説明(12 ) 寬度之窄部份或薄部份以降低引線之剛性。結果,安排有 阻塞構件之外引線可以在如同習知引線框相同的位置輕易 的《曲,且因此,外引線可模製成和習知外引線相等之輪 廓。 亦即,依照本發明之引線框,在阻塞構件設置之區域 中,外引線彎曲位置部份形成具有減少引線寬度之窄部份 或薄部份以減少引線之剛性。結果,外引線可輕易的在相 關於習知引線框相同的位置彎曲,且因此,外引線可模製 成如同習知產品相同之形狀。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 依照本發明,當阻塞桿以包括絕緣片或樹脂之阻塞構 件形成時本發明可顯著的降低呈現在整個引線框之«曲。 再者,由於三維彎曲可藉由只在外引線間形成阻塞而避免 ,在內引線之外端只呈現二維形變。結果,內引線外端之 形變量可依照引線之輪廓和阻塞構件之特性而輕易的估計 ,藉此可有效的避免不充足的配線結合。再者,當以絕緣 片製造阻塞桿時,絕緣片必需形成依照圖3所示之習知技 藝之發明之框之輪廓。但是,依照本發明,並不薔要上述 之步驟,且因此可降低產品成本。依照本發明,外引線在 已定位置彎曲。依照本發明,可獲得具有0.2mm至 0 . 5 tn m之精細節距之節距型態。 附圖簡述: 本發明之上述和其它目的和優點藉由參考下述之說明 和伴隨之附圖會變的更加明顯,其中: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -15 - 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 Α7 _____Β7_ 五、發明説明(13 ) 圖1 Α爲本發明之第一實施例之引線框之平面圓: 圖1 B和1 C爲圖1 A之引線框之横截面部份之圖; 圖2爲使用習知阻塞構件之引線框之平面圓: 圖3爲使用習知阻塞構件之引線框之平面圖; 圓4爲本發明之第二實施例之引線框之平面圖: 圖5爲本發明之第三實施例之引線框之平面圖; 圖6爲本發明之第四實施例之引線框之平面圖: 圖7 A爲本發明之第五實施例之引線框之平面圚; 圖7 B爲圖7 A之引線框之横截面部份之放大圚; 圖8爲依照本發明之第八實施例之半導雔裝置之横截 面圖; 圖9爲依照本發明之第九實施例之半導酱裝置之頂表 面圖: 圖1 0爲習知例之半導體裝置之頂表面圖: 圖11爲依照本發明之第十實施例之半導體裝置之頂 表面圖; 圖1 2爲依照本發明之以樹脂形成阻塞構件之部份之 横截面圖: 圖13爲依照本發明之第六實施例之引線框之平面圖 之部份放大圊; 圖14爲外引線之基底部份之彎曲部份之放大立體圇 t 圚15爲依照本發明之第七實施例之引線框之平面圓 之部份放大圚; 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS > A4規格(210X297公釐) ------Ί — I--裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 丁 - -β -16 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 S{J〇167 A7 B7__ 五、發明説明() 圓1 6爲本發明之第八實施例之半導《裝置之部份平 面圖:和 圚17爲外引線之模製例之平面園。 較佳實施例之說明 圖1 A爲疼照本發明之第一實施例之引線框之平面圖 0 引線框包括一翼片4當成用以安裝半導體晶片之部份 ,晶片埜支撑引線5,內引線2a,和外引線2b連績的 連接內引線,一阻塞構件3形成在內引線2 a和外引線 2 b間之邊界,其中阻塞桿設β在單塊結構中,藉以由阻 塞構件3將外引線2 b互相連接。 阻塞梅件3相對於引線框之外框1或支撑引線5並未 形成連績的形式。亦即,阻塞構件3只設置以互相連接外 引線2 b,而與引線框之外框1或支撑引線5分離。但是 ,並不番要分離所有的連接部份,亦即,分離部份依照產 品所需而定。 在模製步驟中,樹脂流入圖1A之部份(毛邊〉。但 是,當支撑引線5切除或引線彎曲時,樹脂可輕易的移去 。由於只在外引線2 b間形成之阻塞構件3之硬化相之收 縮置由介於外引線2 b間之內部形變所吸收,因此,和習 知結構比較,引線框之彎曲可顯著的減少。 本發明中所使用之阻塞構件可選自包括絕綠環氧樹脂 ’ Β T樹脂’紛樹脂,聚酿亞胺樹脂,iSQmeran樹脂,砂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) " -17 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ]I裝· 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(15 ) 酮樹脂,任何具有多數上述樹脂之熱固性樹脂,或任何熱 塑性樹脂例如芳族聚醚醢胺,聚醚酮,聚碩,芳族聚醢亞 胺,聚酯,和聚醯胺之群。當使用絕緣片時,可利用上述 材料固定絕緣膜以在高溫下箝夾絕緣膜。 當形成阻塞構件3時,利用沖壓或蝕刻使引線框材料 形成已定圖樣,因此以分配器只將樹脂施加至阻塞桿習知 安排部份之外引線2 b間之空間。而後以箝夾使樹脂在壓 力下加熱和定型。由圖1 A之AA >線所截取之横截面可 知,阻塞部份包園外引線2 b。圚1 B和1 C分別顯示樹 脂分別施加至一表面和兩表面之情形。藉由澆入或沖壓可 將樹脂施加至表面。在此操作中,當具有高黏性之樹脂施 加至引線框之背表面時,可避冤樹脂流入前表面,且因此 可獲得一適當的加工產品。在本發明之圖1 A中,阻塞構 件3在四個位置斷開。但是,本發明之較佳效果只薔在阻 塞構件3之一個斷開部份上即可連成。 因此,阻塞構件設置在圖12所示之位置。亦即,引 線框檐件2 6安插在金屬模之上件2 2和下件2 3之間以 使樹脂2 5注入由金雇模所構成之腔2 4中。在上件2 2 和下件2 3接觸之中央部份上建立具有相當大宽度之樹脂 阻塞帶2 1。 圊4爲依照本發明之第二實施例之引線框之平面圚。 在電傅導之引線(內引線2 a和外引線2 b )和引線 框之外框1之間,具有不導電內引線,亦即,不提供電傳 導。於此製造虛擬外引線7 (以下視爲虛擬引線),其在 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) —1.----5------裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T at B7 五、發明説明(16 ) 樹脂模製處理後切除,因此,介於虛擬外引線7和相鄰內 引線2 a和外引線2 b間之邊界部份充填阻塞構件3以經 由阻塞構件3將元件互相耦合在上述之處理中。 虛擬外引線7可分別相關於引線框之外框1或任一端 而製造。虛擬外引線7吸收在收縮相之阻塞構件3之收鮪 以減少引線框之彎曲。 此外,在第一實施例中,當樹脂模製處理執行而未設 置虛擬引線7時,在角落中之電訊號引線由金屬模所箝夾 。和此不同的是,依照第二實施例,由於在角落中之虛擬 引線7可使用當成箝夾表面,因此可避冤由於電訊號引線 之箝夾而產生之缺點和形變。 爲了避免樹脂在模製處理中流出金雇模,在圓4和圊 1 A之部份6中,介於引線框之外框1和虛擬引線7間之 間隙需要位在相對於由金靥模所箝夾之外端部份之內部位 置上。 經濟部中央標準局員工消費合作社印装 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 圚5爲依照本發明之第三實施例之引線框之平面圖。 在引線框之外框中設有在外端具有開口之細縫8 (如圖所 示),以形成L型之虛擬引線7 a,其中引線之中介點以 —直角彎曲。如果虛擬引線7 a可形成在彎曲結構,細縫 8並不受限於此種形狀。介於虛擬引線7 a,內引線2 a 和外引線2 b間之邊界部份充塡阻塞構件3以在上述之模 製方法中使元件互相連接。 如同第一和第二實施例,此實施例窬要使細縫8位在 由箝夾所夾住之箝夾1 2之外端之內部位置。但是,由於 本紙張尺度逋用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) ' 19 - A 7 B7 五、發明説明(17) 虛擬引線7 a形成L形,在和第一和第二實施例比較下, 引線框之外框之箝夾區域可顯著的減少。結果,可有效的 避免由於箝夾而產生引線框之形變和彎曲° 圚6爲依照本發明之第四實施例之引線框之平面圖° 第一至第三實施例之引線安排在兩方向。在此例中,阻塞 構件3只設置在外引線2 b之間,且並不與引線框之外框 1接觸。 圓7爲依照本發明之第五實施例之引線框之平面圖。 外引線2 b之寬度只在阻塞構件3所設置之部份擴大,以 形成宽引線部份2 c,藉以便於阻塞構件3之應用處理。 圖1 4爲依照本發明之第六實施例之引線框之平面圊 之放大圊。 經濟部中央樣準局員工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 爲了使使用引線框之半導體裝置在以密封樹脂模製處 理後安裝在實際印刷電路板上,於此使用依照已定輪廓而 彎曲外引線之模製處理。圖1 7顯示外引線之模製處理之 例。外引線2 b之基底部份(在包封側表面1 4 a附近) 之下表面2 b 5由一刷動夾具1 5所保持,外引線2 b之 上表面由彎曲夾具1 6所推動,以使外引線2 b向下彎曲 在側表面1 a附近之彎曲位置2 b 2上。結果,外引線彎 曲如圊1 7之參考數字2 b >所示。 外引線2 b之彎曲部份2 b 2和包封側表面1 4 a分 開0 · lmm至0 . 3mm,位在阻塞構件所設置之部份 中。當外引線2 b之彎曲位置2 b 2位在阻塞構件所設置 之部份時,外引線之基底部份由於阻塞構件之存在而具有 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -20 - A7 B7 2^3167 五、發明説明(18 ) 較高之剛性。結果,外引線在阻塞構件之外端部份中在位 置3 a上彎曲如2 b"所示,其引起之問題是外引線無法 彎曲在原始所欲彎曲位置2 b 2。亦即,當引線框之外引 線(其中習知阻塞桿形成在單塊結構中)由引線槙製夾具 模製時,於此產生之問題是在模製處理後之外引線之輪廓 和習知引線框不同,且因此,外引線之平坦度無法保持, 而模製夾具和引線接觸,且板塗層由引線中剝離,模製夾 具磨穿。 在阻塞構件3設置之區域中之外引線2 b之部份中, 形成一引線部份2 b 1,其具有較窄之宽度如圔1 3之放 大圖所示。因此,安排有阻塞構件3之區域由破折線所示 。減少宽度部份2 b 1使用以將半導镫晶片安裝在引線框 上,且實質的在一彎曲位置2 b 2 ,其中由密封樹脂所處 理之外引線2 b在模製處理中彎曲。亦即,此位置相當於 圖1 7之位B2 b 2,其指示外引線2 b在已定位置彎曲 0 再者,由於在設置阻塞構件3之區域中,在外引線 2 b之部份中提供具有窄宽度之引線部份2 b 1 ,外引線 在彎曲部份具有較低之剛性。結果,在外引線2 b之彎曲 處理中,可彎曲外引線2 b在等於習知引線框之位置,其 中四個阻塞桿完全的互相耦合在單塊結構中。亦即,在鹫 曲處理後之引線形狀和習知產品相同。結果,在習知技藝 Φ所採用之模製夾具亦可使用:再者,亦可避免發生在模 製處理中之問題。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 -21 - 經濟部中央樣隼局員工消費合作社印装 A7 B7 五、發明说明(19 ) 此外,圈1 4顯示在外引線之基底部份中,彎曲部份 之另一例之放大立髏圓。在彎曲位鬣中,降低板厚度以降 低剛性。在包括安排有阻塞構件3之部份中之彎曲位置 2 b 2之外引線2 b之ffi域中,有一具有減少引線厚度之 薄部份2 b 3。由於提供如圖1 4所示之薄部份2 b 3, 在外引線2 b之彎曲部份2 b 2之剛性降低。結果,當形 成外引線2 b時,外引線2 b可與習知阻塞桿模製成單塊 結構之引線框在相同之位置彎曲,藉由設置凹陷在外引線 2 b之一或兩表面上,可模製薄部份2 b 3。凹陷最好設 置在當外引線2 曲時應力所作用之表面上,藉以減少 厚度。 圖1 5爲依照本發明之第七資施例之引線框之圓,其 中阻塞構件設置所在之引線部份受到放大。 阻塞構件3安排在包括介於外引線2 b和內引線2 a 間之邊界2 a b之部份。在圖1 5中,阻塞構件3所在之 區域由破折線所指示。在設置阻塞構件3之引線部份中, 設置有具有較大引線宽度之宽部份2 c (除了外引線2 b 之部份2 b 1 )。在宽部份2 c之減少宽度部份2 b 1在 樹脂模製處理後匹配在外引線2 b之彎曲處理中之引線彎 曲部份2 b 2。 由於具有較大引線宽度之宽部份2 c在設置阻塞構件 3之部份中製造(除了匹配外引線2 b之彎曲位置之部份 ),應用阻塞構件3之處理更加便利。 圚1 6和8顯示依照本發明之第八實施例。圖1 6顯 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) J------^----—「裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -22 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(20 ) 示在引線框之引線彎曲處理之前之狀態’其中密封樹脂部 份移除。圖8顯示在模製處理後,外引線之輪廓之橫截面 製造如圚16和8所示之半導體裝置之方法如下所述 。在圚1,4至7所示之引線框之翼片4上,半導《I晶片 9以一_結合劑安裝,而後,晶片9和內引線2a之相關 已定區域藉由細金屬線1〇互相電連接。此外,引線框安 排在金屬模中,而後密封樹脂1 1供應至金Λ模中,藉以 完成樹脂模製處理。 而後,晶片墊支撑引線5和留在周園之樹脂毛邊同時 切除,而外引線2 b依照已定之長度形成和切除,藉以獲 得半導髗裝置。依照使用本發明之引線框而製造之半導體 裝置,由於引線框之彎曲可顯著的減少對於配線所窬之可 靠度而言,在配線結合方法進行下之內引線之外端部份之 平坦度可設定成1 0 0 //m或更小。 圖9顯示所生產之半導體裝置之上表面圖。在密封樹脂 1 1之外緣部份,外引線2 b之週園仍留有阻塞構件3。 由於阻塞構件3和晶片墊支撑引線5分離,在切割處理後 ,阻塞構件3在支撑引線5之週圍火傅導。但是,如同和 第一資施例一起說明,阻塞桿並不需要和所有的晶片墊支 撑引線分離。結果,依照本發明,在所得之半導髏裝置中 ,?且塞構件3可在至少一個晶片埜支撑引線之週圍 不傅 導。 當半導體裝置利用依照習知技藝之引線框製造時,樹 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X29?公釐) I------5-----「裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -23 - 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明説明(21 ) 脂阻塞等以單塊結構形成在習知阻塞桿設置處。結果,剩 餘阻塞構件3之連績部份亦呈現在在切割處理下之晶片整 支撑引線5和相鄰之外引線2 b之間,如圖1 0所示。 再者,阻塞部份由絕緣有機物質所製成。結果,雖然 在此狀態不會產生任何問題,阻塞部份可由有機溶劑等輕 易的移去。 圖1 1顯示半導體裝置之上表面圖,其中阻塞部份已 移除。由於阻塞構件3之部份亦形成在如圖8所示之樹脂 模製處理中,當阻塞部份由有機溶劑等移除時,在此部份 產生間隙1 3,由此間隙可將阻塞部份移除。在使用依照 本發明之引線框之半導體裝置之例中,間隙1 3只呈現在 外引線2 b之週園。在使用依照習知技藝之引線框之半導 嫌裝置之例中,圖10之阻塞構件3完全的移除。結果, 可了解的是,在以切割處理進行下之晶片墊支撑引線5和 相鄰之外引線2 b間會呈現連績型式之凹陷。 雖然本發明已參考特別之實施例說明如上,但是本發 明並非由這些實施例所限制,本發明應由隨後之申請專利 範園所界定。必需了解的是,對於熟悉此項技藝之人士對 上述實施例所做的改變或修飾仍未能悖離本發明之精神和 範疇。 本紙張尺度適用中國國家樣準(CNS > A4規格(210X297公釐) ------=-----「裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -24 -

Claims (1)

  1. Α8 修} Β8 C8 ㈣月(ιΛΛ: D8 六、申請專利範固 經濟部中央揉準局β;工消费合作社印製 第8 4104789號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國85年1月修正 1 ·—種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含: 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撐引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框’其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 一阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於外引線之 間以避免密封樹脂流出》 2 ·—種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含: —翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撐引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框,其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 一阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於內引線和 外引線間之邊界,用以避免密封樹脂流出,阻塞構件在一 位置上連接至晶片墊支撐引線或框。 3 . —種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含: 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; I-----:------^-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度逍用中國國家搮率(CNS)A4规格(210x297公釐) " A8 B8 C8 D8 :、申請專利範圍 晶片墊支撐引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構; —框,其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷:和 —阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於內引線和 外引線間之邊界,用以避免密封樹脂流出,該阻塞構件連 接至晶片墊支撐引線或框在兩個互相對角線之位置上。 4 .—種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含: 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上: 晶片墊支撐引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合: 外引線和內引線一起形成在單阻隔結構; 一框,其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 經濟部中央橾準局員工消费合作社印装 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) —阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於內引線和 外引線間之邊界以避免密封樹脂流出,該阻塞構件連接至 晶片墊支撐引線和框,除了至少在一位置上。 5 . —種用於塑膠密封半導體裝置之引線框,包含: —翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撐引線,其連接至翼片: 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框,其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 私纸張尺度逋用中國國家梯準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ^^〇167 H C8 ____ D8 六、申請專利範圍 導體裝置組裝後,受到切斷; 虛擬引線,設置在電訊號引線間用以電傳導至半導體 晶片和晶片墊支撐引線,該虛擬引線並未電傳導至包括至 少只有外引線之半導體晶片;和 一阻塞構件,其由絕緣材料所製成,且以連績方式設 置在電訊號引線和虛擬引線間用以避免密封樹脂流出。 6 ·如申請專利範圍第5項所述之引線框,其中虛擬 引線位在相對於由金靥模所箝夾之箝夾外緣之內側。 7 .如申請專利範圍第1項所述之引線框,其中一絕 緣片固定在阻塞形成部份上,而後在高溫下箝夾,以形成 一阻塞桿。 8 .如申請專利範圍第1項所述之引線框,其中利用 分配器將樹脂施加在阻塞形成部份上,而後在高溫下箝夾 ,以形成一阻塞桿。 9.如申請專利範圍第1至8項所述之引線框,其中 外引線在阻塞構件置放位置具有較大的寬度。 經濟部中央棵準局Λ工消费合作社印装 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 0 .如申請專利範圍第1至8項所述之引線框,其 中引線安排成至少爲0·5mm之引線節距。 1 1 . 一種半導體裝置,其藉由將半導體晶片安裝在 如申請專利範圍第1至8項所述之引線框上,電連接半導 體晶片至引線框,和以樹脂密封半導體晶片和引線框而構 成。 1 2 . —種使用引線框之半導體裝置,其用以和塑膠 密封半導體裝置一起使用,包含 本纸張尺度逋用中國B家梂準(CNS ) A4規《格(210X297公釐) I ~ A8 B8 C8 D8 經濟部中央#率局β;工消费合作社印装 六、申請專利範圍 一翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撐引線,其連接至翼片; 多數之內引線與半導體晶片電耦合: 外引線和內引線一起形成在單塊結構; 一框’其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷;和 —阻塞構件,其由絕緣材料製成,且設置於外引線之 間以避免密封樹脂流出,其中 阻塞構件位於外引線之週圍,但是並非至少在晶片墊 支撐引線之週圍之一個位置上,在切割處理時。 13.如申請專利範圍第12項所述之半導體裝置, 其中在配線結合處理時之內引線之外緣之平坦性最多爲 1 Ο Ο β m。 1 4 . 一種半導體裝置,其使用如申請專利範圍第8 項所述之引線框,其中阻塞構件在半導體裝置組裝後移去 〇 1 5 . —種使用引線框之半導體裝置,其用以和塑膠 密封半導體裝置一起使用,包含: —翼片,而半導體晶片安裝在翼片上; 晶片墊支撐引線,其連接至翼片: 多數之內引線與半導體晶片電耦合; 外引線和內引線一起形成在單塊結構; —框,其用以支撐晶片墊支撐引線和外引線,而在半 導體裝置組裝後,受到切斷:和 木紙張尺度逋用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注$項再填寫本頁) -装· k B8 C8 D8 六、申請專利範圍 一阻塞構件’其由絕緣材料製成,且設置於外引線之 間以避免密封樹脂流出;其中 在配線結合處理下之內引線之外緣之平坦性至多爲 1 0 0 4 m 〇 1 6 .如申請專利範圍第1至8項所述之引線框,其 中具有降低引線寬度之窄部份位在阻塞構件所設置之區域 之每一外引線部份。 1 7 .如申請專利範圍第1至8 中寬部份在窄部份位在阻塞構件所設 線部份之前或後設置,寬部份具有之 之引線之寬度。 1 8 .如申請專利範圍第1項所 薄部份取代窄部份,該薄部份之引線 近引線之寬度和一降低引線厚度。 1 9 _如申請專利範圍第1 *7項 以一薄部份取代窄部份,該薄部份具 附近引線之寬度和一降低引線厚度》 經濟部中央梯準局負工消费合作社印裝 項所述之引線框,其 置之區域之每一外引 引線寬度大於在附近 述之引線框,其中以 寬度實質的等於在附 所述之引線框,其中 有引線寬度實質等於 項所述之引線框,其 而設置該薄部份。 所述之引線框,其中 去後引線彎曲之位置 •裝. (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 20.如申請專利範圍第1至8 中藉由形成一凹陷在外引線之上表面 2 1 .如申請專利範園第1 6項 具有降低引線寬度之窄部份位在框移 2 2 .如申請專利範圔第1 8項所述之引線框’其中 薄部份位在框择去後引線彎曲之位置* 衣纸張尺度適用中•國家操率(CNS ) A4规格(210X297公釐) 經濟部中央橾準局貞工消费合作社印裂 V ί> ^ ·〜0167 Μ C8 ______ D8六、申請專利範圍 2 3 .—種半導體裝置,包括安裝在如申請專利範圍 第16項所述之引線框上之半導體晶片, 其中半導體晶片和藉由配線連接之內引線以密封樹脂 密封,而外引線在窄部份彎曲。 2 4 . —種半導體裝置,包括安裝在如申請專利範圍 第18項所述之引線框上之半導體晶片, 其中半導體晶片和藉由配線連接之內引線以密封樹脂 密封,而外引線在窄部份彎曲。 2 5 .—種引線框,包含: 一翼片用以安裝一半導體晶片,該翼片具有四個實質 爲矩形輪廓之緣; 至少兩晶片墊支撐引線連接至翼片用以支撐翼片; 引線群,具有端表面至少與翼片之四緣之兩緣分離, 且互相相對: 晶片墊支撐引線具有一端僅連接至引線框之外框,藉 以形成引線框之單塊結構,其中 樹脂區域形成線性形狀,樹脂區域橫過引線群,且和 晶片墊支撐引線分離。 2 6 .如申請專利範圍第2 5項所述之引線框,其中 樹脂區域藉由將片形物質附著至引線群之兩側表面之至少 —面而形成。 2 7 .如申請專利範圍第2 5項所述之引線框,其中 樹脂區域藉由將液體樹脂化合物掉落或施加至介於引線群 間之空間和上表面而形成,該樹脂區域橫過引線群,並更 (請先聞讀背面之注意Ϋ項再填寫本頁) .裝- 訂 泉 本纸張尺度逍用中國國家揉準(CNS )八4规格(210 X 297公釐) 6 六、申請專利範圍 熱以硬化。 28· —種引線框,包含: 一翼片用以安裝一半導體晶片,該翼片具有四個實質 爲矩形輪廓之緣: 至少兩晶片墊支撐引線連接至翼片之四個角落; 引線群,具有端表面與翼片之四緣之側表面分離,且 互相相對; 晶片墊支撐引線具有一端僅連接至引線框之外框,藉 以形成引線框之單塊結構,其中 樹脂區域形成線性形狀以和四緣連接,樹脂區域橫過 相連的引線群,且和晶片墊支撐引線分離。 2 9 .如申請專利範圍第2 8項所述之引線框,其中 樹脂區域藉由將片形物質附著至引線群之兩側表面之至少 一面而形成》 經濟部中央梯车局貞工消费合作社印装 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 3 0 .如申請專利範圍第2 8項所述之引線框,其中 樹脂區域藉由將液體樹脂化合物掉落或施加至介於引線群 間之空間和上表面而形成,該樹脂區域橫過引線群,並更 熱以硬化。 3 1 . —種引線框之製造方法,該引線框包括 一翼片用以安裝一半導體晶片,該翼片具有四個實質 爲矩形輪廊之緣; 至少兩晶片墊支撐引線連接至翼片用以支撐翼片; 引線群,具有端表面至少與翼片之四緣之兩緣分離, 且互相相對; 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4洗格(210X297公釐)。 Λ8 B8 C8 D8 ^〇Sl67 六、申請專利範圍 晶片墊支撐引槔具有一端僅連接至引線框之外框,藉 以形成引線框之單塊結構,其中 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 該方法包含形成線性形狀之樹脂區域之步驟,樹脂區 域橫過引線群,且和晶片墊支撐引線分離。 3 2 .如申請專利範圍第3 1項所述之引線框製造方 法,其中樹脂區域藉由將片形物質附著至引線群之兩側表 面之至少一面而形成。 3 3 .如申請專利範圍第3 1項所述之引線框製造方 法,其中樹脂區域藉由將液體樹脂化合物掉落或施加至介 於引線群間之空間和上表面而形成,該樹脂區域橫過引線 群,並更熱以硬化。 34 種引線框製造方法,該引線框,包含: 一翼片用以安裝一半導體晶片,該翼片真有四個實質 爲矩形輪廓之緣; 至少兩晶片墊支撐引線連接至翼片之四個角落; 引線群,具有端表面與翼片之四緣之側表面分離.,且 互相相對; 經濟部中央梂準局貝工消费合作社印裒 晶片墊支撐引線具有一端僅連接至引線框之外框,藉 以形成引線框之單塊結構,其中 該方法包含形成線性形狀之樹脂區域以和四緣連接, 樹脂區域橫過相連的引線群,且和晶片墊支撐引線分離。 3 5 .如申請專利範圍第3 4項所述之引線框製造方 法,其中樹脂區域藉由將片形物質附著至引線群之兩側表 面之至少一面而形成· 表紙張尺度適用中國國家揉率(CNS ) A4洗格(210X297公釐) -8 - B8 C8 D8 經濟部中央樑率局貝工消费合作社印家 ☆、申請專利範圍 3 6 .如申請專利範圍第3 4項所述之引線框製造方 法,其中樹脂區域藉由將液體樹脂化合物掉落或施加至介 於引線群間之空間和上表面而形成,該樹脂區域橫過引線 群,並更熱以硬化。 3 7 .—種半導體裝置之製造方法,其使用如申請專 利範圍第5項所述之引線框,其中當引線框由金屬模所箝 夾時,箝夾之外緣在虛擬引線之表面上,且沿著虛擬引線 〇 3 8 . —種用以製造如申請專利範圍第2 5項所述之 引線框之方法,其中絕緣片附著在阻塞形成區域,且在高 溫下箝夾,以形成阻塞桿。 3 9 . —種用以製造如申請專利範圍第2 5項所述之 引線框之方法,其中藉由分配器將樹脂施加至阻塞形成區 域,且在高溫下箝夾,以形成阻塞桿。 40. —種用以製造如申請專利範圍第5項所述之引 線框之方法,其中絕緣片附著在阻塞形成區域,且在高溫 下箝夾,以形成阻塞桿。 41. 一種用以製造如申請專利範圔第5項所述之引 線框之方法,其中藉由分配器將樹脂施加至阻塞形成區域 *且在高溫下箝夾,以形成阻塞桿。 4 2 . —種半導體裝置製造方法,其中半導體晶片安 裝在具有四個緣之翼片上,至少兩晶片墊支撐引線由翼片 抽出以支撐霣片,設置引線群,引線之端表面與翼片之四 緣之至少兩緣分離且互相相對,安排有用以將每一引線群 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. >1T -率 本紙張尺度逋用中國國家橾率(CNS ) A4規《格(210X297公釐) A8 B8 D8 六、申請專利範園 傳導至半導體晶片之傅導機構,和在翼片側之每一引線群 之部份’翼片,晶片墊支撐引線,和傳導機構以樹脂密封 * 該方法包含下列之步驟: 傳導樹脂模製處理,其中在晶片墊支撐引線和引線群 連接至引線框之外框以形成單塊結構中,引線框安排在金 靥模中,半導體晶片安裝在翼片上; 形成線性形狀之樹脂區域,樹脂區域橫過每個引線群 並與晶片墊支撐引線分離; 藉由樹脂區域和金靥模以使模製樹脂免於由金靥模中 流出;和 在移去金屬模後,將引線框之外框切除,而保留模製 樹脂。 請專利範圍第4 2項所述之半導體裝置之 樹脂區域藉由將片形物質附著至引線群之 一面而形成。 經濟部中央輮率局貞工消費合作社印«. 4 3 .如申 製造方法,其中 兩側表面之至少 4 4 .如申 製造方法,其中 加至介於引線群 過引線群,並更 4 5 . —種 小寬度之窄部份 ,引線彎曲在外 4 6 種 請專利範圍第42項所述之半導體裝置之 樹脂區域藉由將液體樹脂化合物掉落或施 間之空間和上表面而形成,該樹脂區域橫 熱以硬化。 半導體裝置製造方法,其使用包括具有較 之引線之引線框,其中在樹脂模製處理後 引線形成處理之窄部份上。 半導體裝置製造方法,其使用包括具有較 衣紙張尺度逋用中國國家揉準(CNS ) A4现格(210 X 297公釐) -10 - Sd〇iH7 A8 B8 C8 D8 •、申請專利範圍 大寬度之厚部份之引線之引線框,其中在樹脂模製處理後 ,引線彎曲在外引線形成處理之厚部份上。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印装 本紙張尺度遑用中國國家橾率(CNS ) A4洗格(210X297公釐) 11
TW84104789A 1994-05-16 1995-05-15 TW293167B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10044494 1994-05-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW293167B true TW293167B (zh) 1996-12-11

Family

ID=14274105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW84104789A TW293167B (zh) 1994-05-16 1995-05-15

Country Status (7)

Country Link
US (2) US5637914A (zh)
EP (1) EP0683518B1 (zh)
KR (1) KR100225333B1 (zh)
CN (1) CN1097312C (zh)
DE (1) DE69534483T2 (zh)
MY (1) MY114386A (zh)
TW (1) TW293167B (zh)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2928120B2 (ja) * 1995-01-18 1999-08-03 日本電気株式会社 樹脂封止型半導体装置用リードフレームおよび樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH0951067A (ja) * 1995-08-08 1997-02-18 Sony Corp リードフレーム
JPH09129686A (ja) * 1995-11-06 1997-05-16 Toshiba Microelectron Corp テープキャリヤ及びその実装構造
KR100214480B1 (ko) * 1996-05-17 1999-08-02 구본준 반도체 패키지용 리드 프레임
US5939775A (en) * 1996-11-05 1999-08-17 Gcb Technologies, Llc Leadframe structure and process for packaging intergrated circuits
US5929512A (en) * 1997-03-18 1999-07-27 Jacobs; Richard L. Urethane encapsulated integrated circuits and compositions therefor
JPH10303352A (ja) * 1997-04-22 1998-11-13 Toshiba Corp 半導体装置および半導体装置の製造方法
US6305921B1 (en) * 1999-07-12 2001-10-23 Accu-Mold Corp. Saw tooth mold
JP2001156212A (ja) * 1999-09-16 2001-06-08 Nec Corp 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP2002343816A (ja) 2001-05-18 2002-11-29 Lintec Corp 樹脂タイバー形成用テープ、樹脂タイバー、樹脂タイバー付リードフレーム、樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP4054188B2 (ja) * 2001-11-30 2008-02-27 富士通株式会社 半導体装置
CN100536121C (zh) * 2001-12-14 2009-09-02 株式会社瑞萨科技 半导体器件及其制造方法
JP3812447B2 (ja) * 2002-01-28 2006-08-23 富士電機デバイステクノロジー株式会社 樹脂封止形半導体装置
JP2005086014A (ja) * 2003-09-09 2005-03-31 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置、及び半導体装置の製造方法
JP4595835B2 (ja) * 2006-03-07 2010-12-08 株式会社日立製作所 鉛フリーはんだを用いたリード付き電子部品
US8148825B2 (en) * 2007-06-05 2012-04-03 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system with leadfinger
US8648458B2 (en) * 2009-12-18 2014-02-11 Nxp B.V. Leadframe circuit and method therefor
JP5549612B2 (ja) 2011-01-31 2014-07-16 三菱電機株式会社 半導体装置の製造方法
US9082759B2 (en) * 2012-11-27 2015-07-14 Infineon Technologies Ag Semiconductor packages and methods of formation thereof
US20140208689A1 (en) 2013-01-25 2014-07-31 Renee Joyal Hypodermic syringe assist apparatus and method
EP2948709B1 (en) * 2013-01-25 2016-10-05 Koninklijke Philips N.V. Lighting assembly and method for manufacturing a lighting assembly
CN108735701B (zh) 2017-04-13 2021-12-24 恩智浦美国有限公司 具有用于包封期间的毛刺缓解的虚设引线的引线框架
JP7182374B2 (ja) * 2017-05-15 2022-12-02 新光電気工業株式会社 リードフレーム及びその製造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57192058A (en) * 1981-05-22 1982-11-26 Hitachi Ltd Semiconductor device
JPS5828841A (ja) * 1981-08-14 1983-02-19 Toshiba Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法
US4899207A (en) * 1986-08-27 1990-02-06 Digital Equipment Corporation Outer lead tape automated bonding
JPH01187842A (ja) * 1988-01-21 1989-07-27 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JPH02122660A (ja) * 1988-11-01 1990-05-10 Nec Corp プラスチックパッケージ
JPH02220468A (ja) * 1989-02-21 1990-09-03 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置用リードフレーム
JP2685582B2 (ja) * 1989-05-26 1997-12-03 株式会社日立製作所 リードフレーム及びこれを用いた半導体装置
US5432127A (en) * 1989-06-30 1995-07-11 Texas Instruments Incorporated Method for making a balanced capacitance lead frame for integrated circuits having a power bus and dummy leads
US5258331A (en) * 1989-10-20 1993-11-02 Texas Instruments Incorporated Method of manufacturing resin-encapsulated semiconductor device package using photoresist or pre-peg lead frame dam bars
JPH03136267A (ja) * 1989-10-20 1991-06-11 Texas Instr Japan Ltd 半導体装置及びその製造方法
JPH0491464A (ja) * 1990-08-01 1992-03-24 Ibiden Co Ltd リードフレーム
JPH04133459A (ja) * 1990-09-26 1992-05-07 Nec Corp リードフレーム
JPH04206560A (ja) * 1990-11-30 1992-07-28 New Japan Radio Co Ltd 半導体装置の製造方法
JPH04255260A (ja) * 1991-02-07 1992-09-10 Fujitsu Ltd リードフレーム及び半導体装置の製造方法
JP2959874B2 (ja) * 1991-07-02 1999-10-06 大日本印刷株式会社 リードフレームの製造方法
JPH05218283A (ja) * 1992-02-03 1993-08-27 Nec Corp 半導体装置
US5352633A (en) * 1992-06-02 1994-10-04 Texas Instruments Incorporated Semiconductor lead frame lead stabilization
JP3246769B2 (ja) * 1992-07-15 2002-01-15 株式会社日立製作所 半導体装置及びその製造方法
JPH0799768B2 (ja) * 1992-08-24 1995-10-25 徹也 北城 リードフレームへのピン保持部の形成方法、および形成装置
US5281851A (en) * 1992-10-02 1994-01-25 Hewlett-Packard Company Integrated circuit packaging with reinforced leads
US5336564A (en) * 1993-12-06 1994-08-09 Grumman Aerospace Corporation Miniature keeper bar
US5422313A (en) * 1994-05-03 1995-06-06 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit device and manufacturing method using photoresist lead covering

Also Published As

Publication number Publication date
EP0683518B1 (en) 2005-09-28
DE69534483D1 (de) 2006-02-09
CN1121261A (zh) 1996-04-24
DE69534483T2 (de) 2006-07-06
MY114386A (en) 2002-10-31
KR100225333B1 (ko) 1999-10-15
EP0683518A3 (en) 1998-09-09
CN1097312C (zh) 2002-12-25
US5637914A (en) 1997-06-10
US5837567A (en) 1998-11-17
EP0683518A2 (en) 1995-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW293167B (zh)
US5986333A (en) Semiconductor apparatus and method for fabricating the same
US5286679A (en) Method for attaching a semiconductor die to a leadframe using a patterned adhesive layer
TW494558B (en) Semiconductor device having lead terminals bent in J-shape
US4774635A (en) Semiconductor package with high density I/O lead connection
TW410444B (en) Substrate having gate slots and molding device and molding method thereof
TW571402B (en) Leadframe semiconductor device and the manufacturing method thereof, circuit substrate and electronic machine
JP3482702B2 (ja) プラスチックパッケージ内のヒートシンクとして機能する基台
EP0902473A2 (en) Improvements in or relating to leadframes
JPH0815165B2 (ja) 樹脂絶縁型半導体装置の製造方法
TW425679B (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
USRE36894E (en) Semiconductor package with high density I/O lead connection
JPH06507276A (ja) リードフレームに接合された介在ダイ取付基板を有する集積回路パッケージ設計
JP3367272B2 (ja) リードフレーム及び半導体装置
JP3182374B2 (ja) 半導体装置
JP2515882B2 (ja) リ―ドフレ―ム、リ―ドフレ―ムの製造方法、半導体装置および半導体装置の製造方法
JP4015118B2 (ja) 半導体装置
JP2959144B2 (ja) リードフレームの製造方法
JP3034767B2 (ja) 半導体装置
JPH02202042A (ja) 樹脂封止型半導体装置
CN115083923A (zh) 制造半导体器件的方法和相应的半导体器件
JP3353757B2 (ja) リードフレーム及びリードフレーム製造方法
JPH09283549A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH03124055A (ja) リードフレームの製造方法およびこれを用いた半導体装置
JPH1126680A (ja) 半導体装置用リードフレーム