SU641333A1 - Дифференциальный рефрактометр - Google Patents

Дифференциальный рефрактометр

Info

Publication number
SU641333A1
SU641333A1 SU721792489A SU1792489A SU641333A1 SU 641333 A1 SU641333 A1 SU 641333A1 SU 721792489 A SU721792489 A SU 721792489A SU 1792489 A SU1792489 A SU 1792489A SU 641333 A1 SU641333 A1 SU 641333A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
scanner
refractometer
working pulses
video signal
sawtooth voltage
Prior art date
Application number
SU721792489A
Other languages
English (en)
Inventor
Павел Иннокентьевич Госьков
Original Assignee
Томский Институт Автоматизированных Систем Управления И Радиоэлектроники
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Томский Институт Автоматизированных Систем Управления И Радиоэлектроники filed Critical Томский Институт Автоматизированных Систем Управления И Радиоэлектроники
Priority to SU721792489A priority Critical patent/SU641333A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU641333A1 publication Critical patent/SU641333A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1
Иасбретение относитс  к рефрактометрии .
Известны рефрактометры, содержащие оптическую часть, фотоприемник и электронную схему l|.
Наиболее близким дл  данного технического решени   вл етс  рефрактометр, содержащий оптическую часть с двум  треугольными призматическими кюветами, полупроводниковый координатно-чувствительный фотоприемник и электронную схему 2.
Недостатками известных рефрактометров  вл ютс ; дрейф нулевой точки инверсионной характеристики; зависимость выходного сигнала не только от положени  светового потока на фотоприемнике, но и от его интенсивности, т.е. зависимость выходного сигнала не только от коэффициента преломлени  исследуемой среды, но и от ее оптической плотности; сравнительно узка  рабоча  характеристика; работа по амплитуде выходного сигнала с фотоприемника, а не по временному положению импульсного сигнала, поэтому старение фотоприемника, изменение параметров внешней окружающей среды, нестабильность оптической плотности исследуемой среды значительно вли ют на точность, надежность, чувствительность в стабильность работы рефрактометра.
Цель предлагаемого изобретени  - повышение точности, чувствительности, надежн1эсти и стабильности работы рефракт1 метра и расширение диапазона измерени$1.

Claims (1)

  1. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в дифференциальный рефрактометр введены Источник посто нного напр жени  смешени , дифференцирующий трансформатор , генератор пилообразного напр жени  опроса сканистора, схема выделени  видеосигнала со сканистора, измеритель временных интервалов, а фотоприемник вьшо№нен в виде полупроводникового линейного сканистора, на передний фоточувствитель- ный слой которого раздельно спроектированы световые потоки, прошедшие через эталонную и исследуемую среды, и noitкшочен источник посто нного напр жени  смещени : а к заднему слою - через первичную обмотку дифференцирующего трааоформатора подключен генератор пилообразного напр жени  опроса сканистора, а ко вторичной обмотке трансформатора подсоедввбва схема выделени  видеосигнала со сканистора, к выходу которой подсоединен измеритель временных интервалов, На фи. i показана блок-схема пред nafaeMoro рефрактометра; на фиг. 2 ocuHflnOT-paMMbi напр жений; на фиг. 3 экса@р1ШЕевтальные кривые. Согласно изобретению рв4рактометр состшт ИЗ источника 1 света, создающего два световых потока регулируемой интенсивности} из двух идентичных треуго ь ныл npH3Mai«4ecKHX кювет 2 {проточных или непроточных), в одну из которых помещаетс  эталонна  среда, а в другую исследуема  из линейного попупроводш кового скааистора 3, на передний, фоточувствите ькый слой которого проектируютс  прошедшие сквозь кюветы 2 световые потоки и, кроме того, к его концам с помощью металлических контактов подведено посто нное напр жение смещени  от источника 4, а на весь задний слой с помощью металлической подложки подаетс  пилообразное напр жение от генераTOjpa 5 через первичную обмотку дифферен аирующего трансформатора 6; из схемы выде еваа видеосигнала со сканистора 7} из иам ител  8 временных интервалов. Оредпагаемый дифференциальный рефрактометр работает следующим образом, Сканастор опрашиваетс  пилообразным напр жением и, если на сканистор будут спроектированы два световых потока, то в соответствующих местах будут наблюдатьс  скачки пилообразного напр жени  G (фиг. 2) и к;ледствве этого после вь4делени  видеосигнала со сканистора будут наблюдатьс  импульсы, фиксирующие начало и конец пилообразного напр жени  опросе, и два рабочих кмпульса «Г между ними {фиу. 2). Местоположение рабочих импульсов определ етс  коэффициентами преломлени  эталонной и исследуемой сре соответственно. На измеритель 8 време ных интервалов со схемы 7 подаютс  тол ко оба рабочих импульса и измер етс  временное рассто ние между ними В (фиг. 2) Если в обе кюветы залит эталонный раствор, временное рассто ние . между рабочими импульсами равно {фиг, 2,Ь), а когда в одну из кювет вместо эталонного раствора запиваетс  исслеуемый раствор,, показатель преломлени  оторого отличаетс  на величину д П от оказател  преломлени  эталонного раствоа , то в результате этого временное расто ние между рабочими импульсами измен етс  пропорционально Д П -на величину Af (фиг. 2, г), т.е. &n-kAt, где конкретное значение коэффициента К определ етс  конкретными параметрами кювет и сканистора. На фиг. 3 дл  примера приведены экспериментальные кривые дл  водного растрвора , сн тые с помощью предлагаемого рефрактометра, использующего кремниевый сканистор. В качестве измерител  8 временных интервалов использовалс  цифровой измеритель временных интервалов И2-8. Погрешность измерений экспериментального макета рефрактометра не превышала i 2,5 10 ед. И, так как рассто ние 1 между кюветами и сканиотором равно Ь 2О см, а разрещающа  способность использованнсг о сканистора и перемещени  луча по немуЛХ. ±10сек. ПрнДХ -jjti мк и I, 100 см соот ветственно погрешность не будет превь шать ± О,510 ед. Ц, а интервал измер емых коэффвдиентов преломлени  при длине сканистора SO мм составит ЛП ,05. Поскодьку А п определ етс  по изменецйю только времецного положени  рабочих импульсов, то вследствие этого изменеаив их амплитуд (и( изменени  оптической ПЛОТНОСТИ растворов разной концентрш ии или параметров окружающей среды н т.д.) Вли ни  ва точность измерений практически окааьгвать не будет. Таким образом, применение в предлагаемом рефрактометре в качестве фотоприемника полупроводникового сканистора вместо фотоэлемента с продольным фотоэффектом позвол ет устранить все выщеперечисленные недостатки и в результате этого повысить точность, стабильность, надежность и чувствительность рефрактометра и обеспечить ему достаточно широкую линейную рабочую характеристику. Формула изобретени  Дифференциальный рефрактометр, содержащий оптическую часть с двум  треугольными призматическими кюветами, полупроводниковый координатно-чувствательаый фотоприемник и электронную схему, от
SU721792489A 1972-06-02 1972-06-02 Дифференциальный рефрактометр SU641333A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU721792489A SU641333A1 (ru) 1972-06-02 1972-06-02 Дифференциальный рефрактометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU721792489A SU641333A1 (ru) 1972-06-02 1972-06-02 Дифференциальный рефрактометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU641333A1 true SU641333A1 (ru) 1979-01-07

Family

ID=20516588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU721792489A SU641333A1 (ru) 1972-06-02 1972-06-02 Дифференциальный рефрактометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU641333A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5157454A (en) * 1989-11-30 1992-10-20 Otsuka Electronics Co., Ltd. Differential refractometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5157454A (en) * 1989-11-30 1992-10-20 Otsuka Electronics Co., Ltd. Differential refractometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6466565A (en) Voltage detection
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
SU641333A1 (ru) Дифференциальный рефрактометр
JPS6488516A (en) Detector for quantity of fluctuation of optical beam of optical scanner
SU593122A1 (ru) Способ измерени коэфициента преломлени веществ
JPH01277740A (ja) 水中濁度計装置
SU439738A1 (ru) Способ измерени потерь интенсивности излучени в однородных материалах
SU427274A1 (ru)
SU702245A1 (ru) Автоматический пол риметр
SU1125514A1 (ru) Рефрактометр-колориметр
RU2039931C1 (ru) Способ определения диаметра стеклянной трубы и устройство для его осуществления
SU1092393A1 (ru) Способ обнаружени нефт ной пленки на поверхности водоемов
SU1551985A1 (ru) Фотоэлектрический автоколлиматор
SU705313A1 (ru) Автоматический рефрактометр
SU772392A1 (ru) Способ измерени длительности светового импульса
SU1560996A1 (ru) Измеритель атмосферного давлени
SU940236A1 (ru) Устройство дл измерени коэрцитивной силы магнитоодноосных пленок
SU603842A1 (ru) Фотоэлектрический измеритель прогибов полупроводниковых пластин
SU1213396A1 (ru) Астрономический рефрактометр
SU1631272A1 (ru) Способ измерени линейных размеров
SU1061005A1 (ru) Рефрактометр
SU495526A1 (ru) Зеркальна марка
SU444053A1 (ru) Устройство дл дистанционного измерени углов поворота объектов
SU1290189A1 (ru) Способ измерени пиковой мощности радиоимпульсных сигналов
SU1523921A1 (ru) Фотоимпульсный способ измерени линейных размеров