SU641333A1 - Дифференциальный рефрактометр - Google Patents
Дифференциальный рефрактометрInfo
- Publication number
- SU641333A1 SU641333A1 SU721792489A SU1792489A SU641333A1 SU 641333 A1 SU641333 A1 SU 641333A1 SU 721792489 A SU721792489 A SU 721792489A SU 1792489 A SU1792489 A SU 1792489A SU 641333 A1 SU641333 A1 SU 641333A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- scanner
- refractometer
- working pulses
- video signal
- sawtooth voltage
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
1
Иасбретение относитс к рефрактометрии .
Известны рефрактометры, содержащие оптическую часть, фотоприемник и электронную схему l|.
Наиболее близким дл данного технического решени вл етс рефрактометр, содержащий оптическую часть с двум треугольными призматическими кюветами, полупроводниковый координатно-чувствительный фотоприемник и электронную схему 2.
Недостатками известных рефрактометров вл ютс ; дрейф нулевой точки инверсионной характеристики; зависимость выходного сигнала не только от положени светового потока на фотоприемнике, но и от его интенсивности, т.е. зависимость выходного сигнала не только от коэффициента преломлени исследуемой среды, но и от ее оптической плотности; сравнительно узка рабоча характеристика; работа по амплитуде выходного сигнала с фотоприемника, а не по временному положению импульсного сигнала, поэтому старение фотоприемника, изменение параметров внешней окружающей среды, нестабильность оптической плотности исследуемой среды значительно вли ют на точность, надежность, чувствительность в стабильность работы рефрактометра.
Цель предлагаемого изобретени - повышение точности, чувствительности, надежн1эсти и стабильности работы рефракт1 метра и расширение диапазона измерени$1.
Claims (1)
- Поставленна цель достигаетс тем, что в дифференциальный рефрактометр введены Источник посто нного напр жени смешени , дифференцирующий трансформатор , генератор пилообразного напр жени опроса сканистора, схема выделени видеосигнала со сканистора, измеритель временных интервалов, а фотоприемник вьшо№нен в виде полупроводникового линейного сканистора, на передний фоточувствитель- ный слой которого раздельно спроектированы световые потоки, прошедшие через эталонную и исследуемую среды, и noitкшочен источник посто нного напр жени смещени : а к заднему слою - через первичную обмотку дифференцирующего трааоформатора подключен генератор пилообразного напр жени опроса сканистора, а ко вторичной обмотке трансформатора подсоедввбва схема выделени видеосигнала со сканистора, к выходу которой подсоединен измеритель временных интервалов, На фи. i показана блок-схема пред nafaeMoro рефрактометра; на фиг. 2 ocuHflnOT-paMMbi напр жений; на фиг. 3 экса@р1ШЕевтальные кривые. Согласно изобретению рв4рактометр состшт ИЗ источника 1 света, создающего два световых потока регулируемой интенсивности} из двух идентичных треуго ь ныл npH3Mai«4ecKHX кювет 2 {проточных или непроточных), в одну из которых помещаетс эталонна среда, а в другую исследуема из линейного попупроводш кового скааистора 3, на передний, фоточувствите ькый слой которого проектируютс прошедшие сквозь кюветы 2 световые потоки и, кроме того, к его концам с помощью металлических контактов подведено посто нное напр жение смещени от источника 4, а на весь задний слой с помощью металлической подложки подаетс пилообразное напр жение от генераTOjpa 5 через первичную обмотку дифферен аирующего трансформатора 6; из схемы выде еваа видеосигнала со сканистора 7} из иам ител 8 временных интервалов. Оредпагаемый дифференциальный рефрактометр работает следующим образом, Сканастор опрашиваетс пилообразным напр жением и, если на сканистор будут спроектированы два световых потока, то в соответствующих местах будут наблюдатьс скачки пилообразного напр жени G (фиг. 2) и к;ледствве этого после вь4делени видеосигнала со сканистора будут наблюдатьс импульсы, фиксирующие начало и конец пилообразного напр жени опросе, и два рабочих кмпульса «Г между ними {фиу. 2). Местоположение рабочих импульсов определ етс коэффициентами преломлени эталонной и исследуемой сре соответственно. На измеритель 8 време ных интервалов со схемы 7 подаютс тол ко оба рабочих импульса и измер етс временное рассто ние между ними В (фиг. 2) Если в обе кюветы залит эталонный раствор, временное рассто ние . между рабочими импульсами равно {фиг, 2,Ь), а когда в одну из кювет вместо эталонного раствора запиваетс исслеуемый раствор,, показатель преломлени оторого отличаетс на величину д П от оказател преломлени эталонного раствоа , то в результате этого временное расто ние между рабочими импульсами измен етс пропорционально Д П -на величину Af (фиг. 2, г), т.е. &n-kAt, где конкретное значение коэффициента К определ етс конкретными параметрами кювет и сканистора. На фиг. 3 дл примера приведены экспериментальные кривые дл водного растрвора , сн тые с помощью предлагаемого рефрактометра, использующего кремниевый сканистор. В качестве измерител 8 временных интервалов использовалс цифровой измеритель временных интервалов И2-8. Погрешность измерений экспериментального макета рефрактометра не превышала i 2,5 10 ед. И, так как рассто ние 1 между кюветами и сканиотором равно Ь 2О см, а разрещающа способность использованнсг о сканистора и перемещени луча по немуЛХ. ±10сек. ПрнДХ -jjti мк и I, 100 см соот ветственно погрешность не будет превь шать ± О,510 ед. Ц, а интервал измер емых коэффвдиентов преломлени при длине сканистора SO мм составит ЛП ,05. Поскодьку А п определ етс по изменецйю только времецного положени рабочих импульсов, то вследствие этого изменеаив их амплитуд (и( изменени оптической ПЛОТНОСТИ растворов разной концентрш ии или параметров окружающей среды н т.д.) Вли ни ва точность измерений практически окааьгвать не будет. Таким образом, применение в предлагаемом рефрактометре в качестве фотоприемника полупроводникового сканистора вместо фотоэлемента с продольным фотоэффектом позвол ет устранить все выщеперечисленные недостатки и в результате этого повысить точность, стабильность, надежность и чувствительность рефрактометра и обеспечить ему достаточно широкую линейную рабочую характеристику. Формула изобретени Дифференциальный рефрактометр, содержащий оптическую часть с двум треугольными призматическими кюветами, полупроводниковый координатно-чувствательаый фотоприемник и электронную схему, от
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU721792489A SU641333A1 (ru) | 1972-06-02 | 1972-06-02 | Дифференциальный рефрактометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU721792489A SU641333A1 (ru) | 1972-06-02 | 1972-06-02 | Дифференциальный рефрактометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU641333A1 true SU641333A1 (ru) | 1979-01-07 |
Family
ID=20516588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU721792489A SU641333A1 (ru) | 1972-06-02 | 1972-06-02 | Дифференциальный рефрактометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU641333A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5157454A (en) * | 1989-11-30 | 1992-10-20 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Differential refractometer |
-
1972
- 1972-06-02 SU SU721792489A patent/SU641333A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5157454A (en) * | 1989-11-30 | 1992-10-20 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Differential refractometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6466565A (en) | Voltage detection | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
SU641333A1 (ru) | Дифференциальный рефрактометр | |
JPS6488516A (en) | Detector for quantity of fluctuation of optical beam of optical scanner | |
SU593122A1 (ru) | Способ измерени коэфициента преломлени веществ | |
JPH01277740A (ja) | 水中濁度計装置 | |
SU439738A1 (ru) | Способ измерени потерь интенсивности излучени в однородных материалах | |
SU427274A1 (ru) | ||
SU702245A1 (ru) | Автоматический пол риметр | |
SU1125514A1 (ru) | Рефрактометр-колориметр | |
RU2039931C1 (ru) | Способ определения диаметра стеклянной трубы и устройство для его осуществления | |
SU1092393A1 (ru) | Способ обнаружени нефт ной пленки на поверхности водоемов | |
SU1551985A1 (ru) | Фотоэлектрический автоколлиматор | |
SU705313A1 (ru) | Автоматический рефрактометр | |
SU772392A1 (ru) | Способ измерени длительности светового импульса | |
SU1560996A1 (ru) | Измеритель атмосферного давлени | |
SU940236A1 (ru) | Устройство дл измерени коэрцитивной силы магнитоодноосных пленок | |
SU603842A1 (ru) | Фотоэлектрический измеритель прогибов полупроводниковых пластин | |
SU1213396A1 (ru) | Астрономический рефрактометр | |
SU1631272A1 (ru) | Способ измерени линейных размеров | |
SU1061005A1 (ru) | Рефрактометр | |
SU495526A1 (ru) | Зеркальна марка | |
SU444053A1 (ru) | Устройство дл дистанционного измерени углов поворота объектов | |
SU1290189A1 (ru) | Способ измерени пиковой мощности радиоимпульсных сигналов | |
SU1523921A1 (ru) | Фотоимпульсный способ измерени линейных размеров |