SU1149151A1 - X-ray structure analysis method - Google Patents

Abstract

СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА, включающий облучение пучком рентгеновских лучей исследуемого образца и эталона, закрепленных во вращающемс  держателе-кювете на столике гониометра, попеременную съемку исследуемого образца и эталона, регистрацию ПС точкам интенсивности дифрагированных лучей как функции угла отражени  с помощью детектора, нормировку интенсивности от исследуемого образца на интенсивность эталона, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  слабых дифракционных максимумов, эталон выполн ют из аморфного вещества , регистрацию интенсивности осуществл ют детектором по каналам , причем один канал регистрирует отражение от исследуемого образца , а другой - отражение от эталона, (Л при этом интенсивность нормируют в каждой точке измерени . 4 UD in Фиг.1A method of x-ray structural analysis, including an X-ray beam irradiation of the test sample and a sample fixed in a rotating holder-cell on the goniometer table, alternating shooting of the test sample and the reference, recording the PS points of the intensity of the diffracted rays as a function of the reflector program using the program and the program of the sample and the sample, and the standard. the intensity of the standard, characterized in that, in order to improve the accuracy of measurement of weak diffraction peaks, the standard is performed of an amorphous substance, the intensity is recorded by the detector through channels, one channel recording the reflection from the sample under study, and the other registering the reflection from the reference (L, the intensity is normalized at each measurement point. 4 UD in Figure 1

Description

нзойретение отио.игс  к шс/1едоBEjiUjQ физико-х 11-;ическ:1); Б шесчв с помощью pajrrrCHoiiCKoro из.п Dispensation of OTIO.GS to W / EDO BEjiUjQ Physical X 11;; Scient: 1); B sheschv with pajrrrCHoiiCKoro iz.p

ЗННОР ЬОрМИрОВКИ вDIMENSIONAL IN

;бxc;;ii)Mci регистраци  в тех же томках. тируетс  ингерфереь: иг :-:елуемогс сбра;; bxc ;; ii) Mci registration in the same volumes. Inferfer: u:::

.Kvivi 01.Kvivi 01

Ч гх ГИСH gx GIS

Claims (1)

СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА, включающий облучение пучком рентгеновских лучей исследуемого образца и эталона, закрепленных во вращающемся держателе-кювете на столике гониометра, попеременную съемку исследуемого образца и эталона, регистрацию пс точкам интенсивности дифрагированных лучей как функции угла отражения с помощью детектора, нормировку интенсивности от исследуемого образца на интенсивность эталона, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения слабых дифракционных максимумов, эталон выполняют из аморфного вещества, регистрацию интенсивности осуществляют детектором по двум каналам, причем один канал регистрирует отражение от исследуемого образца, а другой - отражение от эталона, при этом интенсивность нормируют в каждой точке измерения.METHOD FOR X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS, including irradiation with an x-ray beam of the test sample and standard fixed in a rotating holder-cuvette on the goniometer table, alternate shooting of the test sample and standard, registration of ps intensity points of diffracted rays as a function of the reflection angle from the sample using the detector norms, the intensity of the standard, characterized in that, in order to improve the accuracy of measuring weak diffraction maxima, the standard is made of amo fnogo substances registration intensity detector carried on two channels, one channel records the reflection from the test sample and the other - the reflection from the sample, wherein the normalized intensity at each measurement point.