SU1149151A1 - Способ рентгеноструктурного анализа - Google Patents

Abstract

СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА, включающий облучение пучком рентгеновских лучей исследуемого образца и эталона, закрепленных во вращающемс  держателе-кювете на столике гониометра, попеременную съемку исследуемого образца и эталона, регистрацию ПС точкам интенсивности дифрагированных лучей как функции угла отражени  с помощью детектора, нормировку интенсивности от исследуемого образца на интенсивность эталона, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  слабых дифракционных максимумов, эталон выполн ют из аморфного вещества , регистрацию интенсивности осуществл ют детектором по каналам , причем один канал регистрирует отражение от исследуемого образца , а другой - отражение от эталона, (Л при этом интенсивность нормируют в каждой точке измерени . 4 UD in Фиг.1

Description

нзойретение отио.игс  к шс/1едоBEjiUjQ физико-х 11-;ическ:1); Б шесчв с помощью pajrrrCHoiiCKoro из.п

ЗННОР ЬОрМИрОВКИ в

;бxc;;ii)Mci регистраци  в тех же томках. тируетс  ингерфереь: иг :-:елуемогс сбра;

.Kvivi 01

Ч гх ГИС

Claims (1)

1. СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА, включающий облучение пучком рентгеновских лучей исследуемого образца и эталона, закрепленных во вращающемся держателе-кювете на столике гониометра, попеременную съемку исследуемого образца и эталона, регистрацию пс точкам интенсивности дифрагированных лучей как функции угла отражения с помощью детектора, нормировку интенсивности от исследуемого образца на интенсивность эталона, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения слабых дифракционных максимумов, эталон выполняют из аморфного вещества, регистрацию интенсивности осуществляют детектором по двум каналам, причем один канал регистрирует отражение от исследуемого образца, а другой - отражение от эталона, при этом интенсивность нормируют в каждой точке измерения.