RU2015129794A - Система анализа флюидов с интегрированным вычислительным элементом, образованным путем атомно-слоевого осаждения - Google Patents

Система анализа флюидов с интегрированным вычислительным элементом, образованным путем атомно-слоевого осаждения Download PDF

Info

Publication number
RU2015129794A
RU2015129794A RU2015129794A RU2015129794A RU2015129794A RU 2015129794 A RU2015129794 A RU 2015129794A RU 2015129794 A RU2015129794 A RU 2015129794A RU 2015129794 A RU2015129794 A RU 2015129794A RU 2015129794 A RU2015129794 A RU 2015129794A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
aso
ive
fluid analysis
analysis system
fluid
Prior art date
Application number
RU2015129794A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2618743C2 (ru
Inventor
Майкл Т. ПЕЛЛЕТЬЕ
Дэвид Л. ПЕРКИНС
Original Assignee
Хэллибертон Энерджи Сервисиз, Инк.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Хэллибертон Энерджи Сервисиз, Инк. filed Critical Хэллибертон Энерджи Сервисиз, Инк.
Publication of RU2015129794A publication Critical patent/RU2015129794A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2618743C2 publication Critical patent/RU2618743C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • E—FIXED CONSTRUCTIONS
    • E21—EARTH OR ROCK DRILLING; MINING
    • E21B—EARTH OR ROCK DRILLING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR A SLURRY OF MINERALS FROM WELLS
    • E21B49/00—Testing the nature of borehole walls; Formation testing; Methods or apparatus for obtaining samples of soil or well fluids, specially adapted to earth drilling or wells
    • E21B49/08—Obtaining fluid samples or testing fluids, in boreholes or wells
    • E21B49/087—Well testing, e.g. testing for reservoir productivity or formation parameters
    • E21B49/088—Well testing, e.g. testing for reservoir productivity or formation parameters combined with sampling
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
    • C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/457—Correlation spectrometry, e.g. of the intensity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
    • G01V8/20—Detecting, e.g. by using light barriers using multiple transmitters or receivers
    • G01V8/22—Detecting, e.g. by using light barriers using multiple transmitters or receivers using reflectors
    • E—FIXED CONSTRUCTIONS
    • E21—EARTH OR ROCK DRILLING; MINING
    • E21B—EARTH OR ROCK DRILLING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR A SLURRY OF MINERALS FROM WELLS
    • E21B49/00—Testing the nature of borehole walls; Formation testing; Methods or apparatus for obtaining samples of soil or well fluids, specially adapted to earth drilling or wells
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1213—Filters in general, e.g. dichroic, band
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1226—Interference filters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/068—Optics, miscellaneous
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/20—Filters
    • G02B5/28—Interference filters
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/20—Filters
    • G02B5/28—Interference filters
    • G02B5/285—Interference filters comprising deposited thin solid films

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mining & Mineral Resources (AREA)
  • Geology (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Claims (34)

1. Система анализа флюидов, содержащая:
источник светового потока;
интегрированный вычислительный элемент (ИВЭ); и
датчик, который преобразовывает оптические сигналы в электрические,
при этом ИВЭ содержит множество оптических слоев, и при этом по меньшей мере один из множества оптических слоев образован путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью определения химических или физических свойств вещества.
2. Система анализа флюидов по п. 1, отличающаяся тем, что ИВЭ содержит множество оптических слоев различных типов на основании АСО, и отличающаяся тем, что множество оптических слоев различных типов имеют различные коэффициенты преломления.
3. Система анализа флюидов по п. 1, отличающаяся тем, что ИВЭ содержит по меньшей мере один оптический слой, образованный с применением технологии реактивного магнетронного напыления (РМН).
4. Система анализа флюидов по п. 1, отличающаяся тем, что ИВЭ содержит по меньшей мере один неплоский оптический слой, образованный или модифицированный путем АСО.
5. Система анализа флюидов по п. 1, дополнительно содержащая интерфейс образцов флюидов, притом, что интерфейс образцов флюидов содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
6. Система анализа флюидов по п. 5, отличающаяся тем, что интерфейс образцов флюидов содержит алмазный слой, образованный путем АСО.
7. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, отличающаяся тем, что датчик или источник светового потока содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
8. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, дополнительно содержащая элемент полосового фильтра, притом, что элемент полосового фильтра содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
9. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, дополнительно содержащая линзу с входной стороны относительно ИВЭ, притом, что линза с входной стороны содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
10. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, дополнительно содержащая линзу с выходной стороны относительно ИВЭ, при том, что линза с выходной стороны содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
11. Способ изготовления системы анализа флюидов, включающий:
выбор конструкции интегрированного вычислительного элемента (ИВЭ), содержащей множество оптических слоев; и
образование по меньшей мере одного из множества оптических слоев ИВЭ путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью определения химических или физических свойств вещества.
12. Способ по п. 11, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части источника светового потока или датчика путем АСО.
13. Способ по п. 11, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части интерфейса образцов флюидов посредством АСО, с установкой интерфейса образцов флюидов на входной стороне ИВЭ.
14. Способ по п. 11, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части элемента полосового фильтра путем АСО, с установкой элемента полосового фильтра на входной стороне ИВЭ.
15. Способ по любому из пп. 11-14, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части линзы путем АСО, с установкой линзы на входной или выходной стороне ИВЭ.
16. Способ по любому из пп. 11-14, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере одного неплоского оптического слоя ИВЭ путем АСО.
17. Способ по любому из пп. 11-14, дополнительно включающий образование множества различных типов оптических слоев ИВЭ путем АСО.
18. Технологическая линия каротажа, содержащая:
участок каротажной аппаратуры; и
инструмент для анализа флюидов, связанный с участком каротажной аппаратуры, при том, что инструмент для анализа флюидов содержит интегрированный вычислительный элемент (ИВЭ) с по меньшей мере одним оптическим слоем, образованным путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью определения химических или физических свойств вещества.
19. Технологическая линия каротажа по п. 18, отличающаяся тем, что конструкция устройства анализа флюидов содержит по меньшей мере что-то одно из датчика и полосового фильтра, образованных или модифицированных путем АСО.
20. Способ анализа флюидов, включающий:
направление светового потока с определенным спектром через образец флюида;
фильтрацию светового потока, прошедшего через образец флюида, при помощи множества оптических слоев, при том, что по меньшей мере один из множества оптических слоев образован путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью фильтрации светового потока в зависимости от химических или физических свойств образца флюида;
определение светового потока на выходе после фильтрации множеством оптических слоев; и
увязку параметров спектра отфильтрованного светового потока с указанными химическими или физическими свойствами образца флюида.
21. Способ по п. 20, дополнительно включающий направление светового потока через по меньшей мере один компонент оптического пути, образованный или модифицированный путем АСО, перед выполнением указанной фильтрации.
22. Способ по п. 20, дополнительно включающий направление светового потока через по меньшей мере один компонент оптического пути, образованный или модифицированный путем АСО, после выполнения указанной фильтрации и перед выполнением указанного обнаружения.
RU2015129794A 2013-02-11 2013-02-11 Система анализа флюидов с интегрированным вычислительным элементом, образованным путем атомно-слоевого осаждения RU2618743C2 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US2013/025546 WO2014123544A1 (en) 2013-02-11 2013-02-11 Fluid analysis system with integrated computation element formed using atomic layer deposition

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2015129794A true RU2015129794A (ru) 2017-03-16
RU2618743C2 RU2618743C2 (ru) 2017-05-11

Family

ID=51300016

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015129794A RU2618743C2 (ru) 2013-02-11 2013-02-11 Система анализа флюидов с интегрированным вычислительным элементом, образованным путем атомно-слоевого осаждения

Country Status (10)

Country Link
US (1) US20150369043A1 (ru)
EP (1) EP2939055A4 (ru)
JP (1) JP2016507745A (ru)
CN (1) CN104981721A (ru)
AU (1) AU2013377941B2 (ru)
BR (1) BR112015016721A2 (ru)
CA (1) CA2897779A1 (ru)
MX (1) MX363597B (ru)
RU (1) RU2618743C2 (ru)
WO (1) WO2014123544A1 (ru)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2962393C (en) 2014-11-10 2019-03-26 Halliburton Energy Services, Inc. Systems and methods for real-time measurement of gas content in drilling fluids
WO2017019072A1 (en) * 2015-07-29 2017-02-02 Halliburton Energy Services, Inc. Reconstructing optical spectra using integrated computational element structures
EP3300508A4 (en) * 2015-09-03 2019-01-16 Halliburton Energy Services, Inc. TRAINING FLUID ANALYSIS TOOL COMPRISING AN INTEGRATED COMPUTING ELEMENT AND AN OPTICAL FILTER
CN108351299A (zh) * 2015-12-29 2018-07-31 哈里伯顿能源服务公司 用于对管道的监控传输进行测量的光学计算装置
US20190025122A1 (en) * 2016-04-14 2019-01-24 Halliburton Energy Services, Inc. Fabry-Perot Based Optical Computing
WO2021137871A1 (en) * 2020-01-03 2021-07-08 Halliburton Energy Services, Inc. Ald-thin layer coating applications for sensing telemetry through evanescent wave interactions
CN112526663A (zh) * 2020-11-04 2021-03-19 浙江大学 一种基于原子层沉积的吸收膜及其制作方法
US20220228265A1 (en) * 2021-01-15 2022-07-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. System and method for dynamically adjusting thin-film deposition parameters

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5506676A (en) * 1994-10-25 1996-04-09 Pixel Systems, Inc. Defect detection using fourier optics and a spatial separator for simultaneous optical computing of separated fourier transform components
US6198531B1 (en) * 1997-07-11 2001-03-06 University Of South Carolina Optical computational system
US6529276B1 (en) * 1999-04-06 2003-03-04 University Of South Carolina Optical computational system
TW556004B (en) * 2001-01-31 2003-10-01 Planar Systems Inc Methods and apparatus for the production of optical filters
US7294360B2 (en) * 2003-03-31 2007-11-13 Planar Systems, Inc. Conformal coatings for micro-optical elements, and method for making the same
US20070201136A1 (en) * 2004-09-13 2007-08-30 University Of South Carolina Thin Film Interference Filter and Bootstrap Method for Interference Filter Thin Film Deposition Process Control
US7697141B2 (en) * 2004-12-09 2010-04-13 Halliburton Energy Services, Inc. In situ optical computation fluid analysis system and method
US20060139757A1 (en) * 2004-12-29 2006-06-29 Harris Michael D Anti-reflective coating for optical windows and elements
US7659504B1 (en) * 2005-05-18 2010-02-09 Ric Investments, Llc Optical sensor with an optical element transmissive to warming radiation
US7911605B2 (en) * 2005-11-28 2011-03-22 Halliburton Energy Services, Inc. Multivariate optical elements for optical analysis system
US7623233B2 (en) * 2006-03-10 2009-11-24 Ometric Corporation Optical analysis systems and methods for dynamic, high-speed detection and real-time multivariate optical computing
JP2011523225A (ja) * 2008-06-10 2011-08-04 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Ｌｅｄモジュール
WO2010044922A1 (en) * 2008-06-12 2010-04-22 Anguel Nikolov Thin film and optical interference filter incorporating high-index titanium dioxide and method for making them
CA2750374A1 (en) * 2009-01-13 2010-07-22 Schlumberger Canada Limited In-situ stress measurements in hydrocarbon bearing shales
KR20110007408A (ko) * 2009-07-16 2011-01-24 삼성전자주식회사 3차원 컬러 입체 영상 센서용 광학 필터를 갖는 반도체 소자 및 제조 방법
WO2011014144A1 (en) * 2009-07-30 2011-02-03 Halliburton Energy Services, Inc. Energy intensity transformation
WO2011018115A1 (en) * 2009-08-13 2011-02-17 Siemens Aktiengesellschaft A combustion apparatus
CA2728594C (en) * 2010-01-15 2017-06-13 Innovision Inc An optical spectral filter, angular filter and polariser
JP4690495B1 (ja) * 2010-03-09 2011-06-01 孝司 成澤 最適化シミュレーションプログラムおよび最適化シミュレーション装置
JP4854098B1 (ja) * 2010-08-10 2012-01-11 孝司 成澤 成膜方法およびそれを用いた成膜装置
US8411262B2 (en) * 2010-09-30 2013-04-02 Precision Energy Services, Inc. Downhole gas breakout sensor
US8717488B2 (en) * 2011-01-18 2014-05-06 Primesense Ltd. Objective optics with interference filter
FR2973939A1 (fr) * 2011-04-08 2012-10-12 Saint Gobain Element en couches pour l’encapsulation d’un element sensible
US20130031972A1 (en) * 2011-08-05 2013-02-07 Halliburton Energy Services, Inc. Methods for monitoring a water source using opticoanalytical devices
US8908165B2 (en) * 2011-08-05 2014-12-09 Halliburton Energy Services, Inc. Systems and methods for monitoring oil/gas separation processes

Also Published As

Publication number Publication date
EP2939055A4 (en) 2016-10-26
AU2013377941B2 (en) 2017-04-13
JP2016507745A (ja) 2016-03-10
BR112015016721A2 (pt) 2017-07-11
AU2013377941A1 (en) 2015-07-23
CA2897779A1 (en) 2014-08-14
US20150369043A1 (en) 2015-12-24
MX2015009318A (es) 2015-09-29
RU2618743C2 (ru) 2017-05-11
EP2939055A1 (en) 2015-11-04
CN104981721A (zh) 2015-10-14
MX363597B (es) 2019-03-28
WO2014123544A1 (en) 2014-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2015129794A (ru) Система анализа флюидов с интегрированным вычислительным элементом, образованным путем атомно-слоевого осаждения
US8908165B2 (en) Systems and methods for monitoring oil/gas separation processes
US9261461B2 (en) Systems and methods for monitoring oil/gas separation processes
US20220003652A1 (en) In situ evaluation of filter parameters with opticoanalytical devices
US8812238B2 (en) Systems and methods for analyzing flowback compositions in real time
JP2013164372A5 (ru)
CA2880499C (en) Systems and methods for monitoring oil/gas separation processes
CA2880582C (en) Systems and methods for monitoring oil/gas separation processes
WO2014093572A3 (en) Systems and methods for real time monitoring and management of wellbore servicing fluids
NZ704677A (en) Systems and methods for monitoring chemical processes
WO2007100564A4 (en) A method and apparatus for a downhole spectrometer based on tunable optical filters
Tellez et al. Atomically flat symmetric elliptical nanohole arrays in a gold film for ultrasensitive refractive index sensing
WO2013186672A3 (en) Optical detection system for liquid samples
WO2017027476A1 (en) Online process monitoring
US10107095B2 (en) Apparatus and method for monitoring a fluid
MX2015016227A (es) Elementos computaciones integrados con filtros espectrales distribuidos lateralmente.
WO2015052590A3 (en) System and method for detecting crude oil or gas underground using light scattering spectral analyses
EP3128303A3 (en) In-situ spectral process monitoring
CN105300930A (zh) 双通道水质浊度检测方法
MX364526B (es) Elementos informáticos integrados con una superficie selectiva en frecuencia.
DE112015006146T5 (de) Optische Rechenvorrichtungen, umfassend drehbare selektive Breitbandwinkelfilter
CN202153209U (zh) 一种录井用拉曼光谱气体检测***
US20160131623A1 (en) Systems and methods for analyzing contaminants in flowing atmospheric air
JP2016008887A (ja) 潤滑油の劣化検出方法
TWI625515B (zh) 光纖感測器的用途

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20210212