RU2011115097A - Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа - Google Patents
Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа Download PDFInfo
- Publication number
- RU2011115097A RU2011115097A RU2011115097/28A RU2011115097A RU2011115097A RU 2011115097 A RU2011115097 A RU 2011115097A RU 2011115097/28 A RU2011115097/28 A RU 2011115097/28A RU 2011115097 A RU2011115097 A RU 2011115097A RU 2011115097 A RU2011115097 A RU 2011115097A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- defect
- image data
- detecting
- thermal image
- thermographic camera
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
1. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии: ! вызывание изменения температуры поверхности материала во времени, ! получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и ! обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. ! 2. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии: ! нагревание поверхности материала, ! получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала охлаждают после стадии нагревания, и ! обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. ! 3. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии: ! нагревание поверхности материала, ! получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала нагревают на стадии нагревания, и ! обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. ! 4. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление абсолютного значения вычисленного лапласиана, чтобы определить, имеется ли дефект. ! 5. Способ
Claims (11)
1. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
вызывание изменения температуры поверхности материала во времени,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
2. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
нагревание поверхности материала,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала охлаждают после стадии нагревания, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
3. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
нагревание поверхности материала,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала нагревают на стадии нагревания, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
4. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление абсолютного значения вычисленного лапласиана, чтобы определить, имеется ли дефект.
5. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление значения вычисленного лапласиана для определения того, является ли это значение положительным или отрицательным, чтобы определить тип дефекта.
6. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
устройство изменения температуры для изменения температуры поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
7. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
нагревательное устройство для нагревания поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала охлаждают, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
8. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
нагревательное устройство для нагревания поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала нагревают, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
9. Система по п.7, при этом нагревательное устройство и инфракрасная термографическая камера выполнены так, что предотвращается поступление тепловой энергии, излучаемой из нагревательного устройства, в инфракрасную термографическую камеру.
10. Система по п.7, при этом между нагревательным устройством и инфракрасной термографической камерой размещен теплозащитный элемент так, что предотвращается поступление тепловой энергии, излучаемой из нагревательного устройства, в инфракрасную термографическую камеру.
11. Система по п.8, при этом нагревательное устройство и инфракрасная термографическая камера выполнены так, что тепловая энергия, излучаемая из нагревательного устройства, отражается от поверхности материала, поступая в инфракрасную термографическую камеру.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/US2008/076598 WO2010033113A1 (en) | 2008-09-17 | 2008-09-17 | Method for detecting defect in material and system for the method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2011115097A true RU2011115097A (ru) | 2012-10-27 |
RU2476867C2 RU2476867C2 (ru) | 2013-02-27 |
Family
ID=40670939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2011115097/28A RU2476867C2 (ru) | 2008-09-17 | 2008-09-17 | Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8506159B2 (ru) |
EP (1) | EP2350627B1 (ru) |
JP (1) | JP4913264B2 (ru) |
KR (1) | KR101260146B1 (ru) |
CN (1) | CN102159940B (ru) |
BR (1) | BRPI0823078B1 (ru) |
CA (1) | CA2736734C (ru) |
MX (1) | MX2011002128A (ru) |
RU (1) | RU2476867C2 (ru) |
TW (1) | TWI425205B (ru) |
WO (1) | WO2010033113A1 (ru) |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5732826B2 (ja) * | 2010-11-22 | 2015-06-10 | トヨタ自動車株式会社 | 鋳造品の検査方法 |
TWI426263B (zh) * | 2010-12-15 | 2014-02-11 | Ind Tech Res Inst | 缺陷量測裝置和缺陷量測方法 |
CN103562962A (zh) * | 2011-03-31 | 2014-02-05 | 赛智电致变色公司 | 用于使用热成像检测和修复电致变色装置中的缺陷的***和方法 |
JP5494566B2 (ja) * | 2011-05-11 | 2014-05-14 | 新日鐵住金株式会社 | 鋼材の欠陥検出方法 |
JP5743855B2 (ja) * | 2011-11-07 | 2015-07-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 発熱点検出方法及び発熱点検出装置 |
US10261059B1 (en) | 2012-04-13 | 2019-04-16 | Design Data Corporation | Galvanization analysis system |
RU2494434C1 (ru) * | 2012-06-07 | 2013-09-27 | Закрытое акционерное общество "ГИАП-ДИСТцентр" | Способ управления промышленной безопасностью и диагностики эксплуатационного состояния промышленного объекта |
KR20190121886A (ko) * | 2012-10-18 | 2019-10-28 | 요시노 셋고 가부시키가이샤 | 석고계 건축용 보드 중의 공극 검출방법 및 석고계 건축용 보드의 제조방법 |
TWI490471B (zh) * | 2013-01-28 | 2015-07-01 | Univ Nat Taiwan | 非破壞性的複合材料檢測裝置及其檢測方法 |
CN103235003B (zh) * | 2013-04-18 | 2015-04-08 | 常州山由帝武节能新材料制造有限公司 | 真空隔热板导热系数检测装置 |
CN103245668B (zh) * | 2013-04-22 | 2015-03-25 | 南京诺威尔光电***有限公司 | 一种激光扫描热波成像方法 |
US9689262B2 (en) * | 2013-06-05 | 2017-06-27 | General Electric Company | Thermographic inspection system for composite wind turbine blade |
US9518946B2 (en) * | 2013-12-04 | 2016-12-13 | Watlow Electric Manufacturing Company | Thermographic inspection system |
JP6021798B2 (ja) * | 2013-12-27 | 2016-11-09 | 株式会社神戸製鋼所 | 表面欠陥検査装置 |
TWI495869B (zh) * | 2014-01-03 | 2015-08-11 | Jung Tzung Wei | 石墨導熱片的製備系統及導熱片檢測裝置 |
US9897561B2 (en) | 2014-03-12 | 2018-02-20 | Agency For Science, Technology And Research | Method of detecting defects in an object based on active thermography and a system thereof |
WO2015195135A1 (en) * | 2014-06-20 | 2015-12-23 | Halliburton Energy Services, Inc. | Flash infrared thermography examination - nondestructive testing |
DE102014218136B4 (de) * | 2014-09-10 | 2019-07-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Thermographische Untersuchungseinrichtung sowie Verfahren zur zerstörungsfreien Untersuchung einer oberflächennahen Struktur an einem Prüfobjekt |
DE102014014737A1 (de) * | 2014-10-09 | 2016-04-14 | Testo Ag | Verfahren sowie Wärmebildaufnahmevorrichtung zur Erzeugung radiometrischer Bilder mit in Teilbereichen erhöhter Auflösung |
JP6568691B2 (ja) * | 2015-02-25 | 2019-08-28 | 株式会社Kjtd | 探傷対象物の内部欠陥を検出する探傷システム、及び探傷方法 |
EP3088876B1 (en) * | 2015-04-28 | 2017-12-13 | Mart S.r.l. | Machine and method to detect a surface irregularity on a moving panel |
DE102015211853B3 (de) * | 2015-06-25 | 2016-06-16 | Thyssenkrupp Ag | Verfahren zur Beschichtung einer Oberfläche eines Metallbandes sowie Metallbandbeschichtungsvorrichtung |
US9910001B2 (en) * | 2015-10-01 | 2018-03-06 | Radix Inc. | Fragment detection method and apparatus |
CN105301051B (zh) * | 2015-11-18 | 2018-01-12 | 北京理工大学 | 适用于tbc脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法 |
US10690581B2 (en) * | 2015-12-07 | 2020-06-23 | The Boeing Company | Infrared thermographic porosity quantification in composite structures |
CN106324037A (zh) * | 2016-09-30 | 2017-01-11 | 杭州公科路桥技术有限公司 | 无损检测桥梁混凝土结构缺陷的***及方法 |
CN106290471A (zh) * | 2016-09-30 | 2017-01-04 | 杭州公科路桥技术有限公司 | 用于无损检测桥梁混凝土结构缺陷的***及方法 |
US10564108B2 (en) * | 2017-07-03 | 2020-02-18 | Saudi Arabian Oil Company | Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes |
US10954002B2 (en) * | 2018-04-03 | 2021-03-23 | The Boeing Company | Methods for thermographic inspection of structures |
CN112165996B (zh) * | 2018-05-22 | 2022-07-29 | 东芝三菱电机产业***株式会社 | 产业成套设备监视控制*** |
CN109254012A (zh) * | 2018-10-09 | 2019-01-22 | 中北大学 | 一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置及方法 |
KR102285341B1 (ko) * | 2018-10-22 | 2021-08-03 | 주식회사 파루인쇄전자 | 면상 발열 검사시트 및 이를 이용한 제품 검사 장치 |
CN109813433A (zh) * | 2018-12-01 | 2019-05-28 | 湖北理工学院 | Lf精炼炉钢水温度的连续测温方法 |
CN113412424A (zh) * | 2019-02-06 | 2021-09-17 | 松下知识产权经营株式会社 | 厚度测量方法、厚度测量装置、缺陷检测方法以及缺陷检测装置 |
JP2021012124A (ja) * | 2019-07-08 | 2021-02-04 | 株式会社シーピーアイテクノロジーズ | 温度計測装置、温度計測プログラムおよび温度計測方法 |
US11796539B2 (en) * | 2019-10-17 | 2023-10-24 | C2Sense, Inc. | Systems and methods for determining a characteristic of an emissive species |
CN111721810B (zh) * | 2020-07-09 | 2023-05-09 | 中国民航大学 | 一种融合恒温加热箱的涡轮叶片缺陷红外检测*** |
CN112129809B (zh) * | 2020-08-13 | 2023-12-29 | 苏州赛米维尔智能装备有限公司 | 一种基于视觉引导的铜片热阻率检测装置及其检测方法 |
CN113008936B (zh) * | 2021-03-23 | 2022-10-04 | 深圳市梯易易智能科技有限公司 | 一种利用红外热成像识别基材与脏污的方法 |
CN113447527B (zh) * | 2021-06-11 | 2022-10-25 | 西安交通大学 | 一种双模激光红外热成像检测***及方法 |
CN114113218B (zh) * | 2021-11-24 | 2023-09-26 | 北京理工大学 | 一种残胶检测方法和*** |
CN114609189B (zh) * | 2022-02-24 | 2023-04-21 | 电子科技大学 | 一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法 |
CN117124559B (zh) * | 2023-10-27 | 2023-12-22 | 湖南嘉迪汽车零部件有限公司 | 一种用于汽车内外饰的塑料成型冷却方法及装置 |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62126339A (ja) * | 1985-11-28 | 1987-06-08 | Komatsu Ltd | 内部欠陥の検出方法および装置 |
US4866276A (en) * | 1987-12-29 | 1989-09-12 | The Boeing Company | Method and apparatus for nondestructive analysis of subsurface features of material |
JPH01239443A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-25 | Nkk Corp | 管外面の欠陥検出方法およびその装置 |
SU1746391A1 (ru) * | 1989-05-10 | 1992-07-07 | Научно-исследовательский институт телевизионной техники "Электрон" | Устройство дл выделени контуров изображений объектов |
US5131758A (en) * | 1990-05-16 | 1992-07-21 | Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of remotely characterizing thermal properties of a sample |
US5292195A (en) * | 1992-09-09 | 1994-03-08 | Martin Marietta Corporation | Thermographic evaluation technique |
US5396068A (en) * | 1993-03-30 | 1995-03-07 | At&T Corp. | Method of making a semiconductor device including infrared imaging, and apparatus for use in the imaging |
US5716133A (en) * | 1995-01-17 | 1998-02-10 | Applied Komatsu Technology, Inc. | Shielded heat sensor for measuring temperature |
US5711603A (en) * | 1996-10-30 | 1998-01-27 | United Technologies Corporation | Nondestructive testing: transient depth thermography |
US6000844A (en) * | 1997-03-04 | 1999-12-14 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects using spatially controlled heat application |
JP3275796B2 (ja) * | 1997-09-08 | 2002-04-22 | 日本鋼管株式会社 | 樹脂被覆鋼材の製造装置 |
US6236044B1 (en) | 1998-08-21 | 2001-05-22 | Trw Inc. | Method and apparatus for inspection of a substrate by use of a ring illuminator |
DE19846995C2 (de) * | 1998-10-13 | 2000-11-30 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zum berührungslosen Detektieren von Prüfkörpern |
US7083327B1 (en) * | 1999-04-06 | 2006-08-01 | Thermal Wave Imaging, Inc. | Method and apparatus for detecting kissing unbond defects |
JP2001050921A (ja) * | 1999-08-11 | 2001-02-23 | Constec Engi Co | 物体の内部欠陥の自動検出方法及び装置 |
GB9924425D0 (en) * | 1999-10-16 | 1999-12-15 | British Aerospace | Material analysis |
US7401976B1 (en) * | 2000-08-25 | 2008-07-22 | Art Advanced Research Technologies Inc. | Detection of defects by thermographic analysis |
MXPA03010637A (es) | 2001-05-21 | 2004-12-06 | Pressco Tech Inc | Aparato y metodo para suministrar informacion de imagenes infrarrojas termicas de accion de exposicion instantanea dentro de aplicaciones de inspeccion de articulos con control automatizado de procedimientos. |
US6840666B2 (en) * | 2002-01-23 | 2005-01-11 | Marena Systems Corporation | Methods and systems employing infrared thermography for defect detection and analysis |
US6712502B2 (en) * | 2002-04-10 | 2004-03-30 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Synchronized electronic shutter system and method for thermal nondestructive evaluation |
US7520857B2 (en) * | 2002-06-07 | 2009-04-21 | Verathon Inc. | 3D ultrasound-based instrument for non-invasive measurement of amniotic fluid volume |
JP2004020336A (ja) | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Osaka Gas Co Ltd | サーモグラフィー検査装置 |
JP4216609B2 (ja) | 2003-01-10 | 2009-01-28 | 新日本製鐵株式会社 | 疵検出装置及び疵検出方法 |
JP2006090801A (ja) | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Hitachi Metals Ltd | 被検査体の検査装置および検査方法 |
DE602004030728D1 (de) | 2004-10-04 | 2011-02-03 | Siemens Ag | Verfahren zur Bestimmung von Materialparametern eines Objekts von Temperature-versus-Time-Daten |
US7462809B2 (en) * | 2004-10-22 | 2008-12-09 | Northrop Grumman Corporation | Spectral filter system for infrared imaging of substrates through coatings |
AT501845B1 (de) * | 2005-03-15 | 2008-08-15 | Walter Mag Dr Medinger | Verfahren zur punkt-raster-diagnose von störstellen im raum auf der grundlage der magnetischen flussdichte oder verwandter physikalischer grössen |
US7568832B2 (en) * | 2006-05-12 | 2009-08-04 | The Boeing Company | Imaging method to verify electrical conductivity across lightning strike protection boundaries |
US8220991B2 (en) * | 2006-05-12 | 2012-07-17 | The Boeing Company | Electromagnetically heating a conductive medium in a composite aircraft component |
JP4218037B2 (ja) * | 2006-06-06 | 2009-02-04 | 株式会社九州ノゲデン | 被検体欠陥部等の検出装置 |
WO2007147158A2 (en) | 2006-06-16 | 2007-12-21 | Worcester Polytechnic Institute | Infrared defect detection system and method for the evaluation of powdermetallic compacts |
US7553070B2 (en) * | 2006-11-06 | 2009-06-30 | The Boeing Company | Infrared NDI for detecting shallow irregularities |
US8393784B2 (en) * | 2008-03-31 | 2013-03-12 | General Electric Company | Characterization of flaws in composites identified by thermography |
-
2008
- 2008-09-17 EP EP08822598.2A patent/EP2350627B1/en not_active Not-in-force
- 2008-09-17 WO PCT/US2008/076598 patent/WO2010033113A1/en active Application Filing
- 2008-09-17 JP JP2011517394A patent/JP4913264B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-17 MX MX2011002128A patent/MX2011002128A/es active IP Right Grant
- 2008-09-17 BR BRPI0823078-1A patent/BRPI0823078B1/pt not_active IP Right Cessation
- 2008-09-17 RU RU2011115097/28A patent/RU2476867C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2008-09-17 CA CA2736734A patent/CA2736734C/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-17 CN CN2008801311566A patent/CN102159940B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-17 KR KR1020117008587A patent/KR101260146B1/ko active IP Right Grant
- 2008-09-17 US US13/060,658 patent/US8506159B2/en active Active
-
2009
- 2009-09-08 TW TW098130207A patent/TWI425205B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4913264B2 (ja) | 2012-04-11 |
EP2350627B1 (en) | 2013-11-06 |
CA2736734C (en) | 2015-05-19 |
TW201020541A (en) | 2010-06-01 |
JP2011527438A (ja) | 2011-10-27 |
KR20110059769A (ko) | 2011-06-03 |
CA2736734A1 (en) | 2010-03-25 |
TWI425205B (zh) | 2014-02-01 |
RU2476867C2 (ru) | 2013-02-27 |
CN102159940B (zh) | 2013-12-11 |
US20110249700A1 (en) | 2011-10-13 |
MX2011002128A (es) | 2011-04-05 |
BRPI0823078B1 (pt) | 2019-06-25 |
KR101260146B1 (ko) | 2013-05-02 |
EP2350627A1 (en) | 2011-08-03 |
BRPI0823078A2 (pt) | 2018-12-18 |
WO2010033113A1 (en) | 2010-03-25 |
CN102159940A (zh) | 2011-08-17 |
US8506159B2 (en) | 2013-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2011115097A (ru) | Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа | |
US9905014B2 (en) | Method and system for the examination of a sample by means of thermography | |
WO2012012437A3 (en) | Temperature response sensing and classification of analytes with porous optical films | |
JP2008072575A5 (ru) | ||
US20200292464A1 (en) | Article damage evaluation | |
US9383540B1 (en) | System and method for controlling the focus of a lens | |
PL1760401T3 (pl) | Sposób i urządzenie do kontroli osadów w komorach paleniskowych | |
JP6273365B2 (ja) | サーモグラフィ検査システム | |
WO2011064531A3 (en) | Improved sensor arrangement | |
RU2011123399A (ru) | Устройство и способ для трехмерного оптического обмера сильно отражающих или прозрачных объектов | |
CN102214354A (zh) | 一种红外图像无效像元实时检测方法 | |
JP2021526227A (ja) | 熱画像カメラを用いた温度測定装置、方法、及びコンピュータで読み出し可能な記録媒体 | |
CN103713006B (zh) | 一种固态材料的固-固相变速率测量装置及方法 | |
KR101322801B1 (ko) | 기준패턴을 이용한 적외선 열화상 카메라의 방사율 설정 시스템 및 그 방법 | |
KR101248018B1 (ko) | 열 손실량 측정방법 및 열 손실량 측정장치 | |
US10109514B2 (en) | Visual feedback for process control in RTP chambers | |
JP2011038838A (ja) | 熱型赤外線出力計測装置および熱型赤外線出力計測方法 | |
JP2002027330A (ja) | ディジタル画像形成システムの暗信号による閉ループ熱制御 | |
CN106679818B (zh) | 光滑表面温度分布的测量装置及方法 | |
CN103646386A (zh) | 一种可抑制材料表面热发射率不均影响的热图像处理方法 | |
FR3080199B1 (fr) | Procede et dispositif de mesure d'une vitesse effective de vent au voisinage d'un objet | |
TW201925768A (zh) | 利用紅外線熱影像檢測熱管品質之裝置與方法 | |
JPWO2020162121A1 (ja) | 厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
CN203414854U (zh) | 具有自动降温作用的红外摄像镜头 | |
CN206339310U (zh) | 光滑表面温度分布的测量装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PD4A | Correction of name of patent owner | ||
PD4A | Correction of name of patent owner | ||
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20200918 |