RU2008108473A - Устройство и способ для конфигурирования полупроводниковой схемы - Google Patents
Устройство и способ для конфигурирования полупроводниковой схемы Download PDFInfo
- Publication number
- RU2008108473A RU2008108473A RU2008108473/09A RU2008108473A RU2008108473A RU 2008108473 A RU2008108473 A RU 2008108473A RU 2008108473/09 A RU2008108473/09 A RU 2008108473/09A RU 2008108473 A RU2008108473 A RU 2008108473A RU 2008108473 A RU2008108473 A RU 2008108473A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- semiconductor circuit
- functional blocks
- faulty
- output signals
- clause
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
- G06F11/1629—Error detection by comparing the output of redundant processing systems
- G06F11/165—Error detection by comparing the output of redundant processing systems with continued operation after detection of the error
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
- G06F11/20—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware using active fault-masking, e.g. by switching out faulty elements or by switching in spare elements
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Hardware Redundancy (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
1. Способ конфигурирования полупроводниковой схемы, содержащей по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока, отличающийся тем, что при наличии неисправности по меньшей мере в одном из одинаковых или аналогичных функциональных блоков неисправный блок идентифицируют и отключают. ! 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что конфигурирование полупроводниковой схемы является технологической операцией процесса изготовления, контроля, диагностики и технического обслуживания. ! 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере два из одинаковых или аналогичных функциональных блоков полупроводниковой схемы способны переключаться в режим работы, в котором функциональные блоки выполняют одинаковые функции, команды, программные сегменты или программы с возможностью сравнения выходных сигналов этих функциональных блоков. ! 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что для идентификации неисправных функциональных блоков выходные сигналы этих функциональных блоков сравнивают с эталонными значениями. ! 5. Способ по п.3 или 4, отличающийся тем, что предусмотрена возможность инициирования переключения и/или взаимного сравнения выходных сигналов по меньшей мере двух функциональных блоков и/или сравнения выходных сигналов с эталонными значениями посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств, не являющихся частью полупроводниковой схемы. ! 6. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере для функциональных блоков полупроводниковой схемы, идентифицированных как неисправные, генерируют состояние конфигурирования и/или состояние неисправности. ! 7. Способ по п.6, отлича
Claims (28)
1. Способ конфигурирования полупроводниковой схемы, содержащей по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока, отличающийся тем, что при наличии неисправности по меньшей мере в одном из одинаковых или аналогичных функциональных блоков неисправный блок идентифицируют и отключают.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что конфигурирование полупроводниковой схемы является технологической операцией процесса изготовления, контроля, диагностики и технического обслуживания.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере два из одинаковых или аналогичных функциональных блоков полупроводниковой схемы способны переключаться в режим работы, в котором функциональные блоки выполняют одинаковые функции, команды, программные сегменты или программы с возможностью сравнения выходных сигналов этих функциональных блоков.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что для идентификации неисправных функциональных блоков выходные сигналы этих функциональных блоков сравнивают с эталонными значениями.
5. Способ по п.3 или 4, отличающийся тем, что предусмотрена возможность инициирования переключения и/или взаимного сравнения выходных сигналов по меньшей мере двух функциональных блоков и/или сравнения выходных сигналов с эталонными значениями посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств, не являющихся частью полупроводниковой схемы.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что по меньшей мере для функциональных блоков полупроводниковой схемы, идентифицированных как неисправные, генерируют состояние конфигурирования и/или состояние неисправности.
7. Способ по п.6, отличающийся тем, что для отключения функционального блока информацию, характеризующую состояние конфигурирования или состояние неисправности этого функционального блока, сохраняют в запоминающем устройстве с возможностью считывания этой информации при инициализации и/или во время работы полупроводниковой системы, и обрабатывают сохраненную информацию таким образом, чтобы использование во время работы блока, обозначенного как неисправный, было невозможным.
8. Способ по пп.6 и 7, отличающийся тем, что определение состояния конфигурирования или состояния неисправности по меньшей мере одного функционального блока полупроводниковой схемы и/или сохранение этой информации в запоминающем устройстве осуществимо посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств, не являющихся частью полупроводниковой схемы.
9. Способ по п.2, отличающийся тем, что блок, идентифицированный как неисправный, отключают необратимо.
10. Способ по п.2, отличающийся тем, что электрические соединения с функциональными блоками или между функциональными блоками полупроводниковых схем прерывают.
11. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют механическим воздействием на полупроводниковую схему.
12. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют химическим воздействием на полупроводниковую схему.
13. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют оптическим воздействием на полупроводниковую схему.
14. Способ по п.10, отличающийся тем, что прерывание электрических соединений в полупроводниковой схеме осуществляют электрическим воздействием на полупроводниковую схему.
15. Способ по одному из пп.9-14, отличающийся тем, что отключение функционального блока осуществляют посредством внешних технологических, контрольных или диагностических устройств.
16. Устройство для конфигурирования полупроводниковой схемы, содержащей по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока, отличающееся тем, что оно содержит средства для идентификации неисправности по меньшей мере в одном из одинаковых или аналогичных функциональных блоков и для отключения неисправного блока.
17. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства переключения, позволяющие переключать по меньшей мере два одинаковых или аналогичных функциональных блока в режим работы, в котором эти функциональные блоки выполняют одинаковые функции, команды, программные сегменты или программы.
18. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства сравнения, позволяющие сравнивать выходные сигналы по меньшей мере двух функциональных блоков.
19. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства сравнения, позволяющие сравнивать выходные сигналы по меньшей мере одного функционального блока с эталонными значениями.
20. Устройство по п.16, отличающееся тем, оно содержит средства хранения данных, в которых хранятся эталонные значения для идентификации неисправных функциональных блоков.
21. Устройство по пп.18-20, отличающееся тем, что средства сравнения и/или средства хранения данных распложены, по меньшей мере частично, на полупроводниковой схеме.
22. Устройство по п.16, отличающееся тем, что полупроводниковая схема содержит средства приема, позволяющие принимать сигналы технологических, контрольных, диагностических устройств и устройств технического обслуживания.
23. Устройство по п.16, отличающееся тем, оно содержит средства хранения данных, позволяющие сохранять по меньшей мере один элемент данных, характеризующий состояние конфигурирования или состояние неисправности, с возможностью его считывания при инициализации и/или во время работы полупроводниковой системы.
24. Устройство по п.23, отличающееся тем, что оно содержит средства считывания и обработки информации, а использование во время работы схемы блока, обозначенного как неисправный, допускается или запрещается в зависимости от хранящейся в памяти информации.
25. Устройство по п.23, отличающееся тем, что средства хранения данных являются энергонезависимыми.
26. Устройство по п.23, отличающееся тем, что средства хранения данных выполнены таким образом, что доступ к ним для записи имеют только технологические, контрольные, диагностические устройства и устройства для технического обслуживания, не установленные на полупроводниковой схеме.
27. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства переключения для обратимого отключения функционального блока, и эти средства являются частью полупроводниковой схемы или частью компонента, на котором полупроводниковая схема реализована.
28. Устройство по п.16, отличающееся тем, что оно содержит средства для необратимого отключения функционального блока.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005037236A DE102005037236A1 (de) | 2005-08-08 | 2005-08-08 | Vorrichtung und Verfahren zur Konfiguration einer Halbleiterschaltung |
DE102005037236.8 | 2005-08-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2008108473A true RU2008108473A (ru) | 2009-09-20 |
Family
ID=37547047
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2008108473/09A RU2008108473A (ru) | 2005-08-08 | 2006-07-27 | Устройство и способ для конфигурирования полупроводниковой схемы |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100295571A1 (ru) |
EP (1) | EP1917591A1 (ru) |
JP (1) | JP2009514064A (ru) |
KR (1) | KR20080032166A (ru) |
CN (1) | CN101238445A (ru) |
DE (1) | DE102005037236A1 (ru) |
RU (1) | RU2008108473A (ru) |
TW (1) | TW200725254A (ru) |
WO (1) | WO2007017399A1 (ru) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009000045A1 (de) * | 2009-01-07 | 2010-07-08 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben eines Steuergerätes |
EP2778934B1 (en) * | 2011-11-10 | 2021-05-12 | Fujitsu Limited | Information processing device, information processing method, information processing program, and recording medium in which program is recorded |
US11424621B2 (en) | 2020-01-28 | 2022-08-23 | Qualcomm Incorporated | Configurable redundant systems for safety critical applications |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58127242A (ja) * | 1982-01-25 | 1983-07-29 | Nec Corp | 論理回路 |
JPH08148573A (ja) * | 1994-11-21 | 1996-06-07 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
US5732209A (en) * | 1995-11-29 | 1998-03-24 | Exponential Technology, Inc. | Self-testing multi-processor die with internal compare points |
JPH09325946A (ja) * | 1996-06-05 | 1997-12-16 | Toshiba Corp | マルチプロセッサのテスト回路 |
US5903717A (en) * | 1997-04-02 | 1999-05-11 | General Dynamics Information Systems, Inc. | Fault tolerant computer system |
JP3142801B2 (ja) * | 1997-09-04 | 2001-03-07 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路の検査方法、プローブカード及びバーンイン用ボード |
US6452411B1 (en) * | 1999-03-01 | 2002-09-17 | Formfactor, Inc. | Efficient parallel testing of integrated circuit devices using a known good device to generate expected responses |
US6625749B1 (en) * | 1999-12-21 | 2003-09-23 | Intel Corporation | Firmware mechanism for correcting soft errors |
US6550020B1 (en) * | 2000-01-10 | 2003-04-15 | International Business Machines Corporation | Method and system for dynamically configuring a central processing unit with multiple processing cores |
DE10035174A1 (de) * | 2000-05-18 | 2001-12-06 | Siemens Ag | Peripheriebaustein mit hoher Fehlersicherheit für speicherprogrammierbare Steuerungen |
US6798225B2 (en) * | 2002-05-08 | 2004-09-28 | Formfactor, Inc. | Tester channel to multiple IC terminals |
US6812691B2 (en) * | 2002-07-12 | 2004-11-02 | Formfactor, Inc. | Compensation for test signal degradation due to DUT fault |
US7402897B2 (en) * | 2002-08-08 | 2008-07-22 | Elm Technology Corporation | Vertical system integration |
KR100688517B1 (ko) * | 2005-01-11 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 전압공급유닛 분할을 통한 반도체 소자의 병렬검사 방법 |
US7557592B2 (en) * | 2006-06-06 | 2009-07-07 | Formfactor, Inc. | Method of expanding tester drive and measurement capability |
US7888955B2 (en) * | 2007-09-25 | 2011-02-15 | Formfactor, Inc. | Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources |
-
2005
- 2005-08-08 DE DE102005037236A patent/DE102005037236A1/de not_active Withdrawn
-
2006
- 2006-07-27 WO PCT/EP2006/064751 patent/WO2007017399A1/de active Application Filing
- 2006-07-27 US US11/990,095 patent/US20100295571A1/en not_active Abandoned
- 2006-07-27 EP EP06778034A patent/EP1917591A1/de not_active Ceased
- 2006-07-27 KR KR1020087003202A patent/KR20080032166A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-07-27 RU RU2008108473/09A patent/RU2008108473A/ru not_active Application Discontinuation
- 2006-07-27 CN CNA2006800291941A patent/CN101238445A/zh active Pending
- 2006-07-27 JP JP2008525531A patent/JP2009514064A/ja active Pending
- 2006-08-07 TW TW095128807A patent/TW200725254A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1917591A1 (de) | 2008-05-07 |
US20100295571A1 (en) | 2010-11-25 |
WO2007017399A1 (de) | 2007-02-15 |
TW200725254A (en) | 2007-07-01 |
JP2009514064A (ja) | 2009-04-02 |
KR20080032166A (ko) | 2008-04-14 |
CN101238445A (zh) | 2008-08-06 |
DE102005037236A1 (de) | 2007-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9728276B2 (en) | Integrated circuits with built-in self test mechanism | |
US10594321B1 (en) | Semiconductor integrated circuit and reconfigurable semiconductor system | |
JP2008310955A (ja) | 不良な列にあるアドレスでプログラミングするのに時間を消費することを回避する方法 | |
JP2016512646A (ja) | 構成情報を記憶するための予備セクタを有するメモリセルアレイ | |
CN105259863A (zh) | 一种plc温备份冗余方法及*** | |
RU2008108473A (ru) | Устройство и способ для конфигурирования полупроводниковой схемы | |
US10008288B2 (en) | Power loss test device and method for nonvolatile memory device | |
US8621643B2 (en) | Semiconductor device | |
US7830741B2 (en) | Semiconductor memory device for controlling banks | |
JP5558167B2 (ja) | 半導体装置並びにデータ保持回路の故障検出システム及び故障検出方法 | |
CN110322921A (zh) | 一种终端及电子设备 | |
US20140063993A1 (en) | Repair system for repairing defect using e fuses and method of controlling the same | |
CN108629185B (zh) | 服务器可信平台度量控制***及其运行方法 | |
CN114121120A (zh) | 一种存储器的检测***、方法及芯片 | |
US7536611B2 (en) | Hard BISR scheme allowing field repair and usage of reliability controller | |
US11068369B2 (en) | Computer device and testing method for basic input/output system | |
CN113777528A (zh) | 一种iic漏电流检测电路、检测方法及测试工装 | |
JP4088967B2 (ja) | 出力接点装置の診断回路 | |
CN112764409B (zh) | 安全控制电路及方法、存储介质、电子设备 | |
KR101091550B1 (ko) | 분산형 프로그래밍 시스템 | |
KR20010098521A (ko) | 집적 반도체 회로 및 그의 작동 방법 | |
WO2024040506A1 (en) | Memory chip test pad access management to facilitate data security | |
JP3704973B2 (ja) | 電子制御装置 | |
US10305470B1 (en) | Circuit for recovering from power loss and electronic device using the same circuit and method thereof | |
JP2000329828A (ja) | 半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FA92 | Acknowledgement of application withdrawn (lack of supplementary materials submitted) |
Effective date: 20101122 |