KR970048581A - 테스트 어댑터 보드 체크기 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 테스트 보드의 에러를 체크하기 위한 체크기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 테스터,케이블 및 어댑터의 이상유무를 점검할 수 있도록 회로소자를 이용하여 회로 보드를 제작함으로써 각각의 성능을 테스트 하기 위한 옵션보드에 적합하도록 프로그램을 개발하여 테스터 설비를 자동적으로 점검 하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기에 관한 것이다. 본 발명은 반도체 칩의 특성을 검사하기 위한 테스트 장치에 있어서, 상기 테스트 보드를 체크하기 위한 릴레이 콘트롤 단자와, 매트릭스 핀 점검단자와, 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, 직류전원을 점검하기 위한 단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드 체크기를 제공하다. 따라서, 상기 전술한 바에 의하면, 테스트 설비에 에러가 발생하였는지의 유무를 체크할 수 있으므로 반도체 칩의 특성을 점검하는데 있어서 정확도를 기할 수 있는 장점이 있고, 불량률을 줄임으로써 생산성이 향상되는 이점(利點)이 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 릴레이 콘트롤 단자를 점검하기 위한 회로 구성도.
제2도는 본 발명의 매트릭스 핀 단자를 점검하기 위한 회로 구성도.
제3도는 본 발명의 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 회로 구성도.
제4도는 본 발명의 직류전원을 점검하기 위한 회로 구성도.
제5도는 본 발명의 테스트 보드 체크기를 나타내는 정면도.
Claims (1)
- 반도체 칩의 특성을 검사하기 위한 테스트 장치에 있어서, 상기 테스트 보드를 체크하기 위한 릴레이 콘트롤 단자와, 매트릭스 핀 점검단자와, 오디오 전원 단자, 및 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, 직류전원을 점검하기 위한 단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드 체크기.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950068179A KR0179093B1 (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 테스트 어댑터 보드 체크기 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950068179A KR0179093B1 (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 테스트 어댑터 보드 체크기 |
Publications (2)
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KR970048581A true KR970048581A (ko) | 1997-07-29 |
KR0179093B1 KR0179093B1 (ko) | 1999-04-01 |
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ID=19447963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950068179A KR0179093B1 (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 테스트 어댑터 보드 체크기 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0179093B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
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KR20170071121A (ko) | 2015-12-15 | 2017-06-23 | 현대오트론 주식회사 | 초음파 신호 최적화 장치 및 방법 |
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1995
- 1995-12-30 KR KR1019950068179A patent/KR0179093B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
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KR0179093B1 (ko) | 1999-04-01 |
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