KR970000349B1 - Original flat board direction testing method and device of flat display panel - Google Patents
Original flat board direction testing method and device of flat display panel Download PDFInfo
- Publication number
- KR970000349B1 KR970000349B1 KR1019930016461A KR930016461A KR970000349B1 KR 970000349 B1 KR970000349 B1 KR 970000349B1 KR 1019930016461 A KR1019930016461 A KR 1019930016461A KR 930016461 A KR930016461 A KR 930016461A KR 970000349 B1 KR970000349 B1 KR 970000349B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- inspection
- disc
- pattern
- display panel
- unit electrode
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G49/00—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
- B65G49/05—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
- B65G49/06—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
- B65G49/061—Lifting, gripping, or carrying means, for one or more sheets forming independent means of transport, e.g. suction cups, transport frames
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
제1도는 일반적인 액정표시패널을 보이는 단면도.1 is a cross-sectional view showing a general liquid crystal display panel.
제2도는 본 발명에 따른 원판방향 검사장치를 보이는 사시도.2 is a perspective view showing a disk direction inspection apparatus according to the present invention.
제3도는 (a)(b)도는 본 발명 검사장치의 작동을 보이는 측면도들.Figure 3 is (a) (b) is a side view showing the operation of the inspection device of the present invention.
제4도는 본 발명 장치의 검사회로의 일례를 보이는 블록도.4 is a block diagram showing an example of an inspection circuit of the apparatus of the present invention.
제5도는 본 발명의 다른 실시예를 보이는 정면도이다.5 is a front view showing another embodiment of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
12 : 원판(原板) 13 : (원판의) 단위 전극패턴12: disc 13: unit electrode pattern (of disc)
14 : (원판의) 검사패턴 18 : 검사헤드14: inspection pattern (of the original) 18: inspection head
19 : (검사헤드의) 접촉핀19: contact pin (in test head)
본 발명은 평판표시패널(Flat-Panel Display)의 제조에 관한 것으로, 더 상세하게는 각각 평판표시패널을 형성할 복수의 단위 전극패턴이 형성되어 후속공정으로 이송되는 원판(原板)의 방향을 검사하는 방법 및 이를 구현하는데 적합한 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of flat-panel displays. More particularly, a plurality of unit electrode patterns for forming a flat-panel display panel are formed to inspect a direction of an original plate transferred to a subsequent process. And a device suitable for implementing the same.
플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel ; PDP)이나 액정표시패널(Liquid Crystal Display ; LCD)등의 편판표시패널은 박형화가 용이하고 소비전력이 낮은 장점에 따라 휴대용 컴퓨터 등의 표시장치로서 점차 그 영역이 확대되어 가고 있다. 제1도에는 이러한 평판표시패널의 일례로 액정표시패널을 도시하였는 바, 유리로 된 두 기판(1)상에 소정패턴의 투명전극(2)을 사진식각방법(lithographic method)등으로 형성하고 배향막(alignment layer ; 3)을 형성한 후 양 기판(1)을 접합시켜 그 사이에 액정(4)을 주입하여 밀봉하고, 두 기판(1)의 외측에 편광판(polarzier ; 5)을 부착하여 구성한다.Flat panel displays such as Plasma Display Panels (PDPs) and Liquid Crystal Display (LCD) panels are becoming thinner and have lower power consumption. Is going. 1 shows a liquid crystal display panel as an example of such a flat panel display panel. A transparent electrode 2 having a predetermined pattern is formed on two glass substrates 1 by a photolithography method and an alignment layer. After forming the alignment layer (3), the two substrates (1) are bonded to each other, the liquid crystal (4) is injected therebetween, and the polarizer (5) is attached to the outside of the two substrates (1). .
이와 같은 액정표시패널은 대량 생산을 위하여 대면적의 원판상에 각각 액정표시패널을 형성할 복수의 단위 전극패턴(unit grid pattern)을 한꺼번에 형성한 뒤 이를 절단(scribing)하여 각 패널을 제조하는 방법이 통상 사용된다. 이와 같이 복수의 단위 전극패턴이 형성된 원판은 컨베이어(conveyer)등의 이송수단에 의해 후속공정으로 이송되어 배향막의 형성을 거친 뒤 단위 전극패턴이 형성된 다른 원판과 접합되게 되는 등 일련의 작업공정을 연속적으로 거치게 된다. 따라서 단위 전극패턴이 완성된 원판은 이송시 소정의 방향을 가질 것이 요구되는데, 단위 전극패턴이 형성된 면이 상측을 향해야할 뿐 아니라 그 전후도 명확히 구분되어야 한다. 이와 같이 원판의 방향을 판단하기 위해 종래에는 단위 전극패턴의 형성면을 작업자가 직접 육안으로 식별함으로써 원판의 방향을 판단하는 시감검사(視感檢査)방법을 행하였다.Such a liquid crystal display panel is a method of manufacturing each panel by forming a plurality of unit electrode patterns (unit grid pattern) for forming a liquid crystal display panel on a large plate of mass for mass production at the same time and then cutting them (scribing) This is usually used. As described above, a disc having a plurality of unit electrode patterns is transferred to a subsequent process by a conveying means such as a conveyor, and after forming an alignment layer, a series of work processes are continuously performed, such as bonding to another disc having a unit electrode pattern formed thereon. It goes through. Therefore, the original plate of the unit electrode pattern is required to have a predetermined direction during the transfer, the surface on which the unit electrode pattern is formed should not only face upward, but also before and after it should be clearly distinguished. Thus, in order to judge the direction of a disc, the visual inspection method which judges the direction of a disc by performing visual identification of the formation surface of a unit electrode pattern directly by the operator was performed conventionally.
그런데 단위 전극패턴은 유리로 된 원판상에 산화인듐 주석(ITO)등의 투명한 도전성 재료로 형성된 것이므로 육안으로 식별하기 어려울 뿐 아니라 아무리 잘 검사한다 하더라도 정확한 식별이 불가능하여 제작불량이 다량 발생되는 문제가 있었다. 즉, 원판의 상하면이 뒤바뀐 채로 후속공정으로 이송되면 그 원판으로 제작된 복수의 패널 전체가 사용 불가능하게 되는 것이다. 종래에는 이를 해결할 별다른 수단을 확보하고 있지 못했기 때문에 다소의 제작 불량을 감수할 수 밖에 없었다. 또한, 원판의 방향을 검사하기 위해서 항상 작업자가 대기하여 이를 일일이 수작업으로 행하여야 하므로 고정적으로 작업인원을 배치해야 할 뿐 아니라 작업이 매우 번거로워 패널 제조작업 효율을 떨어뜨리는 문제도 있었다.However, since the unit electrode pattern is formed of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) on a glass plate, it is difficult to identify with the naked eye, and no matter how well inspected, the unit electrode pattern cannot be accurately identified, resulting in a large amount of manufacturing defects. there was. In other words, if the upper and lower surfaces of the original plate are transferred to the subsequent process while the original plate is inverted, the entire plurality of panels manufactured from the original plate becomes unavailable. In the prior art, since there was no other means to solve this problem, there was no choice but to accept some manufacturing defects. In addition, in order to inspect the direction of the disc always have to wait for the operator to do this manually by hand, not only to arrange the number of workers fixed, but also has a problem that the work is very cumbersome to reduce the efficiency of panel manufacturing work.
본 발명의 목적은 이러한 종래의 제반 문제를 감안하여 복수의 단위 전극패턴이 형성되어 후속공정으로 이송되어지는 원판의 방향을 자동으로 정확하게 검사할 수 있는 검사방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an inspection method capable of automatically and accurately inspecting the direction of a disc to which a plurality of unit electrode patterns are formed and conveyed in a subsequent process in view of such conventional problems.
본 발명의 다른 목적은 상술한 검사방법을 구현하는데 적합한 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an inspection apparatus suitable for implementing the above-described inspection method.
이와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명의 검사방법은, 원판의 복수의 단위 전극패턴의 외측에 도전성의 검사패턴을 형성하여, 이 검사패턴의 통전여부를 검사함으로써 원판의 방향을 판단하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the inspection method of the present invention is characterized by forming a conductive inspection pattern on the outside of the plurality of unit electrode patterns of the original plate, and determining the direction of the original plate by inspecting whether the inspection pattern is energized. do.
이러한 검사방법을 구현하기 위해 본 발명의 검사장치는, 원판의 복수의 단위 전극패턴의 외측에 형성된 도전성이 검사패턴과, 이 검사패턴에 탄성적으로 접촉하는 두 접촉핀을 가지는 검사헤드와, 이 검사헤드의 두 접촉핀간에 전원을 공급하여 두 접촉핀과 검사헤드간에 통전되는 것을 표시하는 검사회로를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In order to implement such an inspection method, an inspection apparatus of the present invention includes: an inspection head having a conductive pattern formed on an outer side of a plurality of unit electrode patterns of an original plate, and two contact pins elastically contacting the inspection pattern; It is characterized in that it comprises a test circuit for supplying power between the two contact pins of the test head to indicate that the electricity between the two contact pins and the test head.
이러한 본 발명 검사장치의 한 특징에 의하면, 검사패턴이 원판의 이송방향의 양측에 형성된, 검사헤드가 원판의 일측에 하나 구비되어, 이 검사헤드에 의한 검사패턴의 검지여부에 따라 원판의 상하면을 구분한다.According to one aspect of the inspection apparatus of the present invention, one inspection head is provided on one side of the original plate having inspection patterns formed on both sides of the conveying direction of the original plate, and the upper and lower surfaces of the original plate are determined according to whether the inspection pattern is detected by the inspection head. Separate.
또한 본 발명 검사장치의 다른 특징에 의하면, 검사패턴이 원판의 이송방향의 일측에 형성되고, 검사헤드가 원판의 양측에 두 개 구비되어, 두 검사헤드 중 어느 하나의 검사패턴의 검지여부에 따라 원판의 상하면을 구분하고, 두 검사헤드 중 소정이 한 검사헤드의 검사패턴의 검지여부에 따라 원판의 전후를 구분한다.In addition, according to another feature of the inspection apparatus of the present invention, the inspection pattern is formed on one side of the transfer direction of the original plate, two inspection heads are provided on both sides of the original plate, depending on whether the detection pattern of any one of the two inspection heads The upper and lower surfaces of the disc are divided, and the front and rear of the disc are distinguished according to whether or not the inspection pattern of one of the two inspection heads is detected.
이에 따라 본 발명은 후속공정으로 이송되는 원판의 방향을 자동으로 정확하게 판단하게 되므로 패널의 제작불량을 미연에 방지할 수 있으며, 그 검사 작업도 별도의 작업자 없이 자동적으로 이루어지므로 패널 제조작업의 효율 향상에 효과를 발휘하게 된다.Accordingly, the present invention can accurately determine the direction of the disk to be transferred to the subsequent process automatically prevents the production defects of the panel in advance, and the inspection work is also made automatically without a separate operator, thereby improving the efficiency of the panel manufacturing work Will be effective.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제2도 및 제3도에서 보는 바와 같이 본 발명에 따른 원판방향 검사장치에 투입되는 원판(12)에는 복수의 단위 전극패턴(13)이 형성되면 양 외측에 도전성의 검사패턴(14)이 형성되는데, 이 검사패턴(14)은 도전성 패턴으로 바람직하기로는 각 단위 전극패턴(13)의 형성시 이와 함께 형성된다. 이러한 도전성의 검사패턴(14)에 본 발명 장치의 검사헤드(18)의 두 접촉핀(19)이 접촉하여 그 사이의 통전여부를 검사하게 되는데, 이 검사헤드(18)는 액츄에이터(16)에 의해 원판(12)에 대해 승강가능하게 설치된다. 즉 원판(12)이 이송되는 이송장치(11)의 일측에는 공압실린더 등의 액츄에이터(actuator ; 16)가 브라켓(15)상에 지지설치된다. 액츄에이터(16)의 작동로드(16a)에는 지지판(17)이 설치되고, 이 지지판(17)에는 원판(12)의 어느 한 검사패턴(14)에 접촉되는 두 개의 접촉핀(19)을 가지는 검사헤드(18)가 설치된다. 바람직하기로는 이 검사헤드(18)는 크기가 다른 여러 원판(12)의 검사패턴(14)과 접촉될 수 있도록 원판(12)의 이송방향과 직교하는 방향으로 안내장공(18a)이 형성되어 지지판(17)에 대해 상대적으로 이동가능하게 설치된다. 이와 같은 검사헤드(18)는 원판(12)이 그 하부에 투입될 때마다 액츄에이터(16)의 작동에 의해 승강하여 원판(12)의 검사패턴(14)에 선택적으로 접촉될 수 있으나, 이 경우 이송되어온 원판(12)의 투입여부를 감지하는 센서(sensor)등을 구비해야 될 뿐 아니라 원판(12)에 충격을 가할 우려가 있고 검사패턴(14)과의 정확한 접촉이 어렵게 된다. 이에 따라 본 고안에서는 그 접촉핀(19)이 상시 하방으로 탄성바이어스되어 있다가 원판(12)이 그 하부에 진입되면 원판(12)의 검사패턴(14)에 탄성적으로 접촉될 수 있도록 프루브(porbe ; 19b)가 슬리이브(sleeve ; 19a)내의 스프링 등에 의해 탄성적으로 지지되는 소위 포고핀(pogo pin)으로 구성되는 것이 바람직하다. 또한 프루브(19b)는 그 하부에 원판(12)이 진입된 경우에만 회로접속이 되도록 스프링으로 분리된 두 접점을 가지게 된다.As shown in FIGS. 2 and 3, when a plurality of unit electrode patterns 13 are formed in the disc 12 inserted into the disc direction inspection apparatus according to the present invention, conductive inspection patterns 14 are formed on both sides. The test pattern 14 is a conductive pattern, and is preferably formed together with each unit electrode pattern 13. The two test pins 19 of the test head 18 of the apparatus of the present invention come into contact with the conductive test pattern 14 to check whether there is an electric current therebetween, and the test head 18 is connected to the actuator 16. It is installed so that it can be elevated with respect to the original plate 12. That is, an actuator 16 such as a pneumatic cylinder is supported on the bracket 15 at one side of the transfer device 11 to which the disc 12 is transferred. An actuating rod 16a of the actuator 16 is provided with a supporting plate 17, which has two contact pins 19 in contact with one of the inspection patterns 14 of the original plate 12. The head 18 is installed. Preferably, the test head 18 is formed with a guide hole 18a formed in a direction orthogonal to the conveying direction of the disc 12 so as to be in contact with the test patterns 14 of various discs 12 having different sizes. It is installed to be movable relative to (17). The inspection head 18 may be elevated by the operation of the actuator 16 whenever the disc 12 is inserted into the lower portion thereof, and selectively contact the test pattern 14 of the disc 12. Not only should the sensor (sensor) to detect whether the input plate (12) has been transferred, there is a risk of impact on the original plate 12, and the exact contact with the inspection pattern 14 is difficult. Accordingly, in the present invention, the contact pin 19 is always elastically biased downward, but when the original plate 12 enters the lower portion thereof, the probe may be elastically contacted with the inspection pattern 14 of the original plate 12. The porbe 19b is preferably composed of so-called pogo pins that are elastically supported by a spring or the like in the sleeve 19a. In addition, the probe 19b has two contacts separated by springs so that the circuit connection is made only when the disc 12 enters the lower portion thereof.
또한, 본 발명 장치에는 검사헤드(18)의 두 접촉핀(19)간에 전원을 공급하여 각 접촉핀(19)과 원판(12)의 검사패턴(14)간에 통전되는가의 여부를 표시하는 검사회로가 구비된다. 이 검사회로는 양 접촉핀(19)이 도전성의 검사패턴(14)을 통해 폐회로가 형성되는가를 검사할 수 있으면 어떠한 형식의 회로라도 무방한바, 예를 들어 제4도에 도시된 바와 같이 구성된다. 제4도에서 한 접촉핀(19)은 검사전원(+)에 접속되고 다른 접촉핀(19)에는 스위칭 트랜지스터(switching transistor ; TR) 및 인버터(inverter ; INV)를 통해 제어스위치(SW)가 선택적으로 조작되고, 이에 따라 제어스위치(SW)는 경보부(A)와 이송장치(11)의 구동모터(M)를 제어하도록 되어 있다. 경보부(A)는 바람직하기로는 경보램프(alarm lamp)와 경보버저(alarm buzzer)등을 포함하며, 제어스위치(SW)는 예를 들어 릴레이(relay)등으로 구성된다.Further, the apparatus of the present invention supplies a power supply between the two contact pins 19 of the test head 18 to indicate whether or not the contact pins 19 and the test pattern 14 of the disc 12 are energized. Is provided. This inspection circuit can be any type of circuit as long as both contact pins 19 can inspect whether the closed circuit is formed through the conductive inspection pattern 14, for example, as shown in FIG. . In FIG. 4, one contact pin 19 is connected to the test power supply (+), and the other contact pin 19 is selected by a control switch SW through a switching transistor TR and an inverter INV. The control switch SW controls the drive motor M of the alarm unit A and the feeder 11 accordingly. The alarm unit A preferably includes an alarm lamp, an alarm buzzer, and the like, and the control switch SW is configured by, for example, a relay.
이와 같은 본 발명에 의한 원판 방향 검사장치의 작동은 다음과 같다.The operation of the disc direction inspection apparatus according to the present invention as follows.
제3도(a)에서, 검사헤드(18)는 하강하여 그 접촉핀(19)이 이송장치(11)의 상면과 접촉한 상태로 원판(12)의 이송을 대기하고 있다가, 원판(12)이 진입해오면 그 선단에 의해 접촉핀(19)의 프루부(19b)가 슬리이브(19a)내로 밀려들어가며 스프링의 탄성력에 의해 원판(12)의 상면에 탄성적으로 접촉하게 되고, 이에 따라 접촉핀(19)의 점점이 접속된다.In FIG. 3 (a), the inspection head 18 is lowered, waiting for the transfer of the disc 12 while the contact pin 19 is in contact with the upper surface of the transfer device 11, and then the disc 12 ) Is pushed in, the pruning portion 19b of the contact pin 19 is pushed into the sleeve 19a by the tip thereof and elastically contacts the upper surface of the disc 12 by the elastic force of the spring. Increasing contact pins 19 are connected.
다음 제3도(b)와 같이 원판(12)상에 형성된 검사패턴(14)이 두 접촉핀(14)간에 접촉되면, 스위칭 트랜지스터(TR)가 ON되어 검사대기 상태에 들어가게된다. 즉 스위칭 트랜지스터(TR)의 HIGH출력은 인버터(INV)에 의해 LOW가 되므로 검사패턴(14)이 감지되는 경우 제어스위치(SW)가 조작되지 않지만, 검사패턴(14)이 감지되지 않는 경우에는 스위칭 트랜지스터(TR)가 OFF되므로 인버터(INV)의 출력이 HIGH가 되어 제어스위치(SW)를 토글(toggle)시키게 된다. 이에 따라 이송장치(11)의 구동모터(M)가 정지하고 경보부(A)가 경보음과 경보를 발하게 된다.Next, when the test pattern 14 formed on the disc 12 contacts the two contact pins 14 as shown in FIG. 3B, the switching transistor TR is turned on to enter the test standby state. That is, since the HIGH output of the switching transistor TR is LOW by the inverter INV, the control switch SW is not operated when the test pattern 14 is detected, but is switched when the test pattern 14 is not detected. Since the transistor TR is turned off, the output of the inverter INV becomes HIGH, thereby toggling the control switch SW. Accordingly, the drive motor M of the transfer device 11 stops, and the alarm unit A emits an alarm sound and an alarm.
그러면 작업작 액츄에이터(16)를 상승시켜 검사헤드(18)를 원판(12)에서 분리시킨 뒤, 원판(12)의 방향을 맞춘 뒤 다시 검사헤드(18)를 하강시켜 공정을 재개하게 된다.Then, the work head actuator 16 is raised to separate the test head 18 from the original plate 12, and after the orientation of the original plate 12, the test head 18 is lowered again to resume the process.
이상의 실시예에서는 검사패턴(14)을 단위 전극패턴(13)에 형성된 원판(12)상면의 양측에 형성하여 원판(12)의 상하면만을 구분하도록 하였는데 제5도의 실시예에 의하면 원판(12)의 상하면 뿐 아니라 전후도 구분할 수 있게 된다.In the above embodiment, the inspection pattern 14 is formed on both sides of the upper surface of the original plate 12 formed in the unit electrode pattern 13 to distinguish only the upper and lower surfaces of the original plate 12. According to the embodiment of FIG. Not only the top and bottom, but also the front and back can be distinguished.
즉, 제2도의 실시예에서는 원판(12)의 상면 양측에 검사패턴(14)이 형성되어 한 검사헤드(18)에 의해 양검사패턴(14)중 어느 한 검사패턴(14)이 검지되면 원판(12)이 정확히 상면을 향하도록 이송되는 것으로 판다하였다. 이에 비해 제5도의 실시예에서는 원판(12)의 일측(도면에서는 좌측)에만 검사패턴(14)을 형성하고, 두 검사헤드(18,18')를 구비하여 양 헤드(18,18')의 통전여부로서 원판(12)의 상하면과 전후방향을 구분하게 된다. 예를 들어 검사패턴(14)이 도시된 바와 같이 원판(12)의 좌측에 형성되는 경우의 진리표는 다음 표와 같다That is, in the embodiment of FIG. 2, when the inspection pattern 14 is formed on both sides of the upper surface of the original plate 12, and the inspection pattern 14 of the two inspection patterns 14 is detected by one inspection head 18. It was judged that (12) was conveyed to face the upper surface exactly. In contrast, in the embodiment of FIG. 5, the inspection pattern 14 is formed only on one side of the disc 12 (left side in the drawing), and the two inspection heads 18, 18 'are provided to provide the As the energization, the upper and lower surfaces of the disc 12 and the front and rear directions are distinguished. For example, the truth table in the case where the inspection pattern 14 is formed on the left side of the disc 12 as shown in the drawing is as follows.
즉, 이 실시예의 경우는 좌측 검사헤드(18)가 검사패턴(14)를 검사하고 우측 검사헤드(18')가 검지하지 않은 상태인 경우 원판(12)이 정확히 이송되는 것으로 판단하고 그 이외의 경우에는 각각 해당 경보를 발하여 작업자가 교정할 수 있도록 하게 된다.That is, in this embodiment, when the left inspection head 18 inspects the inspection pattern 14 and the right inspection head 18 'is not detected, it is judged that the original plate 12 is correctly conveyed. In each case, the corresponding alarm is issued so that the operator can correct it.
이상과 같이 본 발명에 의하면, 이송중인 원판의 방향을 자동으로 정확하게 구분할 수 있게 되므로 패널의 제작불량을 미연에 방지할 수 있을 뿐 아니라 작업자가 상시 대기할 필요가 없게된다. 따라서 본 발명은, 작업인원절감 및 패널 제조작업의 효율향상에 큰 효과를 발휘하게 된다.As described above, according to the present invention, the direction of the disk being transferred can be automatically and accurately distinguished, thus not only preventing production defects of the panel in advance, but also eliminating the need for the operator to wait at all times. Therefore, the present invention has a great effect on reducing the number of workers and improving the efficiency of panel manufacturing.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930016461A KR970000349B1 (en) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | Original flat board direction testing method and device of flat display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930016461A KR970000349B1 (en) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | Original flat board direction testing method and device of flat display panel |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950006494A KR950006494A (en) | 1995-03-21 |
KR970000349B1 true KR970000349B1 (en) | 1997-01-08 |
Family
ID=19361832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019930016461A KR970000349B1 (en) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | Original flat board direction testing method and device of flat display panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR970000349B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000027500A (en) * | 1998-10-28 | 2000-05-15 | 김영환 | Conductive film for glass substrate and apparatus for detecting resistance value of conductive film |
-
1993
- 1993-08-24 KR KR1019930016461A patent/KR970000349B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR950006494A (en) | 1995-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR0142014B1 (en) | Inspection apparatus and method for display device | |
KR20070109533A (en) | Apparatus for testing touch screen panel and method for testing the same | |
KR970000349B1 (en) | Original flat board direction testing method and device of flat display panel | |
KR102206767B1 (en) | Apparatus for Testing LED Back Light Unit | |
KR101701213B1 (en) | Device for testing flatness | |
TWI460431B (en) | Pogo probe unit and repair apparatus for flat panel display by the same | |
JPH08304846A (en) | Inspection device for liquid crystal display element | |
KR102016076B1 (en) | Testing apparatus and method for flat display device | |
JP2007278943A (en) | Method and apparatus for inspecting substrate, and method and apparatus for repairing substrate | |
TWI445973B (en) | Electrical connecting apparatus and testing system using the same | |
KR20080027569A (en) | Apparatus and method of testing display panel | |
KR102208811B1 (en) | Controlling Method for Apparatus for Testing LED Back Light Unit | |
KR100671342B1 (en) | Apparatus and method for inspecting electricity-driven device | |
KR19990024147U (en) | Liquid crystal cell import / export device for visual inspection | |
JP2006301633A (en) | Liquid crystal display panel, and device and method for inspecting the same | |
TW202129293A (en) | Lateral detection device and method of panel to be tested wherein the detection device includes a jig and a detection unit | |
WO2014000354A1 (en) | Liquid crystal display panel detecting device | |
KR20070013443A (en) | System for sensing the touch status of display panel | |
JPS62225965A (en) | Method of detecting short-circuiting | |
JPH0599788A (en) | Inspection of liquid crystal display substrate | |
JPS6266152A (en) | Inspecting method for electrode | |
KR970000135Y1 (en) | Original flat board direction testing device of flat display panel | |
JPH01182763A (en) | Checking of continuity for substrate having circuit | |
JPH07248479A (en) | Method for inspecting liquid crystal display device and device therefor | |
JPH083451B2 (en) | LCD board inspection device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |