KR930017128A - 집적 회로 장치 및 그 검사 방법 - Google Patents

집적 회로 장치 및 그 검사 방법 Download PDF

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KR930017128A
KR930017128A KR1019930000404A KR930000404A KR930017128A KR 930017128 A KR930017128 A KR 930017128A KR 1019930000404 A KR1019930000404 A KR 1019930000404A KR 930000404 A KR930000404 A KR 930000404A KR 930017128 A KR930017128 A KR 930017128A
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integrated circuit
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terminal
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output terminal
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KR1019930000404A
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도루 시오노
도시따까 세누마
가쯔미 마쯔노
도꾸야 후꾸다
Original Assignee
오오가 노리오
소니 가부시끼가이샤
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
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    • GPHYSICS
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Abstract

본 발명은 집적 회로 장치 및 그 검사 방법에 관하며 특히 복수의 집적 회로를 접속하고 이루는 회로 기판의 접속 상태를 검사할 수 있는 집적 회로 장치에 적용해서 호적한 것이다.

Description

집적 회로 장치 및 그 검사 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예에 의한 집적 회로 장치의 검사시스템의 구성을 도시하는 블럭도, 제2도는 본 발명의 실시예에 의한 집적 회로의 내부 구성을 도시하는 블럭도, 제3도는 본 발명의 실시예에 의한 집적 회로의 상태 천이도.

Claims (2)

  1. 소정의 데이타를 적어도 입력 또는 출력하는 데이타 입출력 단자와 직렬 통신용의 직렬 입력 단자 및 직렬 출력 단자와 클럭단자와 칩 셀렉트 단자를 각각 갖는 제1 및 제2의 집적 회로를 가지며, 상기 제1의 집적 회로의 데이타 입출력 단자 및 그 데이타 입출력 단자에 대응하는 상기 제2의 집적 회로의 데이타 입출력 단자간에서 상기 데이타를 송수하는 집적회로 장치에서 (a) 상기 제1 및 제2의 집적 회로를 각각 테스트 모드로 설정하는 상기 제1 및 제2의 집적 회로에 각각 설치된 테스트 모드 셀렉트 단자와, (b) 상기 제1 및 제2의 집적 회로의 상기 데이타 입출력 단자에 각각 대응해서 상기 제1 및제2의 집적회로에 각각 설치된 바운더리 스캔 셀을 구비하고, 테스트 모드시, 상기 제1의 집적 회로의 상기 직렬 입출력단자로부터 상기 제1의 집적 회로의 바운더리 스캔 셀에 소정의 테스트 데이타를 입력하고, 상기 제1의 집적회로의 데이타 입출력 단자로부터 상기 제2의 집적회로의 데이타 입출력 단자에 상기 테스트 데이타를 송출하고 상기 제2의 집적회로의 데이타 입출력 단자에 대응해서 설치된 바운더리 스캔 셀로부터 상기 테스트 데이타를 읽어내므로서 상기 제1 및 제2의 집적 회로의 접속상태를 검사토록한 것을 특징으로 하는 집적 회로 장치.
  2. 소정의 데이타를 적어도 입력 또는 출력하는 데이타 입출력 단자와 직렬 통신용의 직렬 입력 단자 및 직렬 출력단자와 클럭 단자와 칩 셀렉트 단자를 각각 갖는제1 및 제2의 집적회로를 가지며 상기 제1의 집적 회로의 데이타 입출력 단자 및 그 데이타 입출력 단자에 대응하는 상기 제2의 집적 회로의 데이타 입출력 단자간에서 상기 데이타를 송수하는 직접 회로 장치의 검사방법에서 (a)상기 제1 및 제2의 집적회로를 각각 테스트 모드에 설정하는 테스트 모드 셀렉트 단자를 상기 제1 및 제2의 집적회로에 각각 두고, (c)상기 제1의 집적회로의 상기 직렬 입출력 단자로부터 상기 제1의 집적회로의 바운더리 스캔셀에 소정의 테스트 데이타를 입력하는 스텝과, (d)상기 제1의 집적 회로의 데이타 입출력 단자로부터 상기 제2의 집적 회로의 데이타 입출력 단자에 상기 테스트 데이타를 송출하는 스텝과 (e)상기 제2의 집적회로의 데이타 입출력 단자에 대응해서 설치된 바운더리 스캔 셀로 부터 상기 테스트 데이트를 읽어내는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 집적 회로장치의 검사방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930000404A 1992-01-31 1993-01-14 집적 회로 장치 및 그 검사 방법 KR930017128A (ko)

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