KR20220158978A

KR20220158978A - 측정에 의한 전력 소모를 줄이기 위한 전자 장치 및 그의 동작 방법

Info

Publication number: KR20220158978A
Application number: KR1020210066665A
Authority: KR
Inventors: 김상원
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2021-05-25
Filing date: 2021-05-25
Publication date: 2022-12-02
Also published as: EP4329363A1; WO2022250273A1

Abstract

본 발명의 다양한 실시예는 전자 장치에서 측정을 위한 전력 소모를 줄이기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다. 전자 장치는, 전자 장치는, 통신 회로, 및 상기 통신 회로와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하며, 상기 프로세서는, 상기 통신 회로를 통해 외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하고, 상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하고, 상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신할 수 있다. 다른 실시예들도 가능할 수 있다.

Description

측정에 의한 전력 소모를 줄이기 위한 전자 장치 및 그의 동작 방법{ELECTRONIC DEVICE FOR REDUCING POWER CONSUMPTION BY MEASUREMENT AND OPERATING METHOD THEREOF}

본 발명의 다양한 실시예는 전자 장치에서 측정(measurement)에 위한 전력 소모를 줄이기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.

무선 통신 기술의 발전에 따라 전자 장치(예: 통신용 전자 장치)는 일상 생활에 보편적으로 사용되고 있으며, 이로 인한 무선 데이터 트래픽의 수요가 증가되고 있는 추세이다. 4G(4th generation) 통신 시스템(예: LTE(long term evolution))의 상용화 이후, 증가하는 무선 데이터 트래픽 수요를 충족시키기 위하여 고주파 대역(예: mmWave, 약 3 GHz ~ 300 GHz 대역)의 주파수를 이용하여 신호를 송신 및/또는 수신하는 통신 시스템(예: 5G(5th generation), pre-5G 통신 시스템, 또는 new radio(NR))이 연구되고 있다.

전자 장치는 이중 접속(DC: dual connectivity) 및/또는 반송파 집적(CA: carrier aggregation) 방식을 위한 활성화 지연(activation delay)를 줄이기 위해 조기 측정 보고(early measurement reporting)를 지원할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치는 네트워크로부터 제공받은 측정과 관련된 정보에 기반하여 RRC(radio resource control) 비활성 상태(예: RRC inactive) 또는 RRC 대기 상태(예: RRC idle)에서 주기적으로 측정(measurement)을 수행할 수 있다. 전자 장치는 RRC 재시작과 관련된 메시지(예: RRC resume complete)와 함께 측정 결과를 네트워크로 전송할 수 있다.

하지만, 전자 장치는 상대적으로 장시간 동안 데이터의 송신 및/또는 수신이 없는 경우에도 조기 측정 보고를 위해 반복적으로 측정을 수행해야 하므로 불필요하게 전력 소모가 증가할 수 있다. 또한, 전자 장치는 네트워크와 상대적으로 적은 데이터를 송신 및/또는 수신하는 경우에도 조기 측정 보고에 의해 불필요한 이중 접속 및/또는 반송파 집적 방식을 수행해야 하므로 불필요하게 전력 소모가 증가할 수 있다.

본 발명의 다양한 실시예는 전자 장치에서 측정(measurement)에 의한 전력 소모를 줄이기 위한 장치 및 방법에 대해 개시한다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치는, 통신 회로, 및 상기 통신 회로와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하며, 상기 프로세서는, 상기 통신 회로를 통해 외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하고, 상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하고, 상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치의 동작 방법은, 외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하는 동작과 상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하는 동작; 및 상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 포함할 수 있다.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치에서 전자 장치의 사용 여부에 기반하여 RRC 비활성 상태(예: RRC inactive) 및/또는 RRC 대기 상태(예: RRC idle)에서의 측정 주기를 설정함으로써, 측정에 의한 전력 소모를 줄일 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치에서 실행되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율(data throughput)에 기반하여 RRC 비활성 상태(예: RRC inactive) 및/또는 RRC 대기 상태(예: RRC idle)에서 수행된 측정 결과를 선택적으로 전송함으로써, 불필요한 이중 접속 및/또는 반송파 집적 방식의 수행을 줄일 수 있다.

도 1은 다양한 실시예에 따른, 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블록도이다.
도 2는 다양한 실시예에 따른 측정을 위한 전자 장치의 블록도이다.
도 3은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 주기를 갱신하기 위한 흐름도이다.
도 4a는 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 주기의 일예이다.
도 4b는 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 주기의 다른 일예이다.
도 5는 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 지정된 확장 간격에 기반하여 측정 주기를 갱신하기 위한 흐름도이다.
도 6은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 비활성 모드로 전환에 기반하여 측정 주기를 갱신하기 위한 흐름도이다.
도 7은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 결과를 선택적으로 전송하기 위한 흐름도이다.
도 8은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 결과를 전송하기 위한 흐름도이다.

이하 다양한 실시예들이 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명된다.

도 1은, 다양한 실시예에 따른, 네트워크 환경(100) 내의 전자 장치(101)의 블록도이다. 도 1을 참조하면, 네트워크 환경(100)에서 전자 장치(101)는 제 1 네트워크(198)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(102)와 통신하거나, 또는 제 2 네트워크(199)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(104) 또는 서버(108) 중 적어도 하나와 통신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 서버(108)를 통하여 전자 장치(104)와 통신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 프로세서(120), 메모리(130), 입력 모듈(150), 음향 출력 모듈(155), 디스플레이 모듈(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 연결 단자(178), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 또는 안테나 모듈(197)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(101)에는, 이 정보요소들 중 적어도 하나(예: 연결 단자(178))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 정보요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 정보요소들 중 일부들(예: 센서 모듈(176), 카메라 모듈(180), 또는 안테나 모듈(197))은 하나의 정보요소(예: 디스플레이 모듈(160))로 통합될 수 있다.

프로세서(120)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(140))를 실행하여 프로세서(120)에 연결된 전자 장치(101)의 적어도 하나의 다른 정보요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 정보요소)를 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(120)는 다른 정보요소(예: 센서 모듈(176) 또는 통신 모듈(190))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(132)에 저장하고, 휘발성 메모리(132)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(134)에 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(120)는 메인 프로세서(121)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서) 또는 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치, 신경망 처리 장치(NPU: neural processing unit), 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)가 메인 프로세서(121) 및 보조 프로세서(123)를 포함하는 경우, 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)보다 저전력을 사용하거나, 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

보조 프로세서(123)는, 예를 들면, 메인 프로세서(121)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(121)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)와 함께, 전자 장치(101)의 정보요소들 중 적어도 하나의 정보요소(예: 디스플레이 모듈(160), 센서 모듈(176), 또는 통신 모듈(190))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 정보요소(예: 카메라 모듈(180) 또는 통신 모듈(190))의 일부로서 구현될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 신경망 처리 장치)는 인공지능 모델의 처리에 특화된 하드웨어 구조를 포함할 수 있다. 인공지능 모델은 기계 학습을 통해 생성될 수 있다. 이러한 학습은, 예를 들어, 인공지능 모델이 수행되는 전자 장치(101) 자체에서 수행될 수 있고, 별도의 서버(예: 서버(108))를 통해 수행될 수도 있다. 학습 알고리즘은, 예를 들어, 지도형 학습(supervised learning), 비지도형 학습(unsupervised learning), 준지도형 학습(semi-supervised learning) 또는 강화 학습(reinforcement learning)을 포함할 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은, 복수의 인공 신경망 레이어들을 포함할 수 있다. 인공 신경망은 심층 신경망(DNN: deep neural network), CNN(convolutional neural network), RNN(recurrent neural network), RBM(restricted boltzmann machine), DBN(deep belief network), BRDNN(bidirectional recurrent deep neural network), 심층 Q-네트워크(deep Q-networks) 또는 둘 이상의 조합 중 하나일 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은 하드웨어 구조 이외에, 추가적으로 또는 대체적으로, 소프트웨어 구조를 포함할 수 있다.

메모리(130)는, 전자 장치(101)의 적어도 하나의 정보요소(예: 프로세서(120) 또는 센서 모듈(176))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(140)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(130)는, 휘발성 메모리(132) 또는 비휘발성 메모리(134)를 포함할 수 있다.

프로그램(140)은 메모리(130)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(142), 미들 웨어(144) 또는 어플리케이션(146)을 포함할 수 있다.

입력 모듈(150)은, 전자 장치(101)의 정보요소(예: 프로세서(120))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 모듈(150)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 키(예: 버튼), 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다.

음향 출력 모듈(155)은 음향 신호를 전자 장치(101)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 모듈(155)은, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있다. 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

디스플레이 모듈(160)은 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 디스플레이 모듈(160)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 디스플레이 모듈(160)은 터치를 감지하도록 설정된 터치 센서, 또는 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 압력 센서를 포함할 수 있다.

오디오 모듈(170)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 오디오 모듈(170)은 입력 모듈(150)을 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 모듈(155), 또는 전자 장치(101)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))(예: 스피커 또는 헤드폰)를 통해 소리를 출력할 수 있다.

센서 모듈(176)은 전자 장치(101)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 센서 모듈(176)은 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.

인터페이스(177)는 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 인터페이스(177)는 HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.

연결 단자(178)는, 그를 통해서 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 연결 단자(178)는 HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.

햅틱 모듈(179)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 햅틱 모듈(179)은 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.

카메라 모듈(180)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.

전력 관리 모듈(188)은 전자 장치(101)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전력 관리 모듈(188)은 PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.

배터리(189)는 전자 장치(101)의 적어도 하나의 정보요소에 전력을 공급할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 배터리(189)는 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.

통신 모듈(190)은 전자 장치(101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102), 전자 장치(104), 또는 서버(108)) 간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(190)은 프로세서(120)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 모듈(190)은 무선 통신 모듈(192)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(194)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(198)(예: 블루투스, WiFi(wireless fidelity) direct 또는 IrDA(infrared data association)와 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(199)(예: 레거시 셀룰러 네트워크, 5G 네트워크, 차세대 통신 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부의 전자 장치(104)와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 정보요소(예: 단일 칩)로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 정보요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 가입자 식별 모듈(196)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제 1 네트워크(198) 또는 제 2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(101)를 확인 또는 인증할 수 있다.

무선 통신 모듈(192)은 4G 네트워크 이후의 5G 네트워크 및 차세대 통신 기술, 예를 들어, NR 접속 기술(new radio access technology)을 지원할 수 있다. NR 접속 기술은 고용량 데이터의 고속 전송(eMBB(enhanced mobile broadband)), 단말 전력 최소화와 다수 단말의 접속(mMTC(massive machine type communications)), 또는 고신뢰도와 저지연(URLLC(ultra-reliable and low-latency communications))을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은, 예를 들어, 높은 데이터 처리율 달성을 위해, 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 고주파 대역에서의 성능 확보를 위한 다양한 기술들, 예를 들어, 빔포밍(beamforming), 거대 배열 다중 입출력(massive MIMO(multiple-input and multiple-output)), 전차원 다중입출력(FD-MIMO: full dimensional MIMO), 어레이 안테나(array antenna), 아날로그 빔형성(analog beam-forming), 또는 대규모 안테나(large scale antenna)와 같은 기술들을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 전자 장치(101), 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104)) 또는 네트워크 시스템(예: 제 2 네트워크(199))에 규정되는 다양한 요구사항을 지원할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 무선 통신 모듈(192)은 eMBB 실현을 위한 peak data rate(예: 20Gbps 이상), mMTC 실현을 위한 손실 coverage(예: 164dB 이하), 또는 URLLC 실현을 위한 U-plane latency(예: 다운링크(DL) 및 업링크(UL) 각각 0.5ms 이하, 또는 라운드 트립 1ms 이하)를 지원할 수 있다. 다양한 실시예에 따르면, 가입자 식별 모듈(196)은 복수의 가입자 식별 모듈을 포함할 수 있다. 예를들어, 복수의 가입자 식별 모듈은 서로 다른 가입자 정보를 저장할 수 있다.

안테나 모듈(197)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부의 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 서브스트레이트(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 안테나를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제 1 네트워크(198) 또는 제 2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(190)에 의하여 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(190)과 외부의 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC(radio frequency integrated circuit))이 추가로 안테나 모듈(197)의 일부로 형성될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 고주파(예: mmWave) 안테나 모듈을 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 고주파(예: mmWave) 안테나 모듈은 인쇄 회로 기판, 인쇄 회로 기판의 제 1 면(예: 아래 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 지정된 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있는 RFIC, 및 인쇄 회로 기판의 제 2 면(예: 윗 면 또는 측 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 지정된 고주파 대역의 신호를 송신 또는 수신할 수 있는 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 복수의 안테나들은 패치(patch) 어레이 안테나 및/또는 다이폴(dipole) 어레이 안테나를 포함할 수 있다.

정보요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))을 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제 2 네트워크(199)에 연결된 서버(108)를 통해서 전자 장치(101)와 외부의 전자 장치(104)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 외부의 전자 장치(102, 또는 104) 각각은 전자 장치(101)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전자 장치(101)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부의 전자 장치들(102, 104, 또는 108) 중 하나 이상의 외부의 전자 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(101)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(101)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부의 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 기능 또는 서비스의 적어도 일부를 수행하라는 요청을 수신한 하나 이상의 외부의 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 적어도 일부를 수행하라는 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(101)로 전달할 수 있다. 전자 장치(101)는 실행의 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 적어도 일부를 수행하라는 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 모바일 에지 컴퓨팅(MEC: mobile edge computing), 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다. 전자 장치(101)는, 예를 들어, 분산 컴퓨팅 또는 모바일 에지 컴퓨팅을 이용하여 초저지연 서비스를 제공할 수 있다. 다른 실시예에 있어서, 외부의 전자 장치(104)는 IoT(internet of things) 기기를 포함할 수 있다. 서버(108)는 기계 학습 및/또는 신경망을 이용한 지능형 서버일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 외부의 전자 장치(104) 또는 서버(108)는 제 2 네트워크(199) 내에 포함될 수 있다. 전자 장치(101)는 5G 통신 기술 및 IoT 관련 기술을 기반으로 지능형 서비스(예: 스마트 홈, 스마트 시티, 스마트 카, 또는 헬스 케어)에 적용될 수 있다.

본 문서에 개시된 다양한 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치(예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.

본 문서의 다양한 실시예 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 정보요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C", "A, B 및 C 중 적어도 하나", 및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 정보요소를 다른 해당 정보요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 정보요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 정보요소가 다른(예: 제 2) 정보요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 어떤 정보요소가 다른 정보요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 정보요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.

본 문서의 다양한 실시예에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로와 같은 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 일체로 구성된 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일 실시예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.

본 문서의 다양한 실시예는 기기(machine)(예: 전자 장치(101)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(136) 또는 외장 메모리(138))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(140))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(101))의 프로세서(예: 프로세서(120))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장 매체는, 비일시적(non-transitory) 저장 매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, '비일시적'은 저장 매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장 매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.

일 실시예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시예에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory(CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어^TM)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트 폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상술한 정보요소들의 각각의 정보요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있으며, 복수의 개체 중 일부는 다른 정보요소에 분리 배치될 수도 있다. 다양한 실시예에 따르면, 전술한 해당 정보요소들 중 하나 이상의 정보요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 정보요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 정보요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 정보요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 정보요소는 상기 복수의 정보요소들 각각의 정보요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 정보요소들 중 해당 정보요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시예에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 정보요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.

도 2는 다양한 실시예에 따른 측정을 위한 전자 장치의 블록도이다. 일 실시예에 따르면, 도 2의 전자 장치(101)는 도 1의 전자 장치(101)와 적어도 일부 유사하거나, 전자 장치의 다른 실시예들을 더 포함할 수 있다.

도 2를 참조하는 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 프로세서(200), 통신 회로(210) 및/또는 메모리(220)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 도 1의 프로세서(120)와 실질적으로 동일하거나, 프로세서(120)에 포함될 수 있다. 통신 회로(210)는 도 1의 무선 통신 모듈(192)과 실질적으로 동일하거나, 무선 통신 모듈(192)에 포함될 수 있다. 메모리(220)는 도 1의 메모리(130)와 실질적으로 동일하거나, 메모리(130)에 포함될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 작동적으로 연결된 무선 통신 회로(210) 및/또는 메모리(220)를 제어할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 어플리케이션 프로세서(AP: application processor)(202) 및/또는 통신 프로세서(CP: communication processor)(204)를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 RRC 비활성 상태(예: RRC inactive) 또는 RRC 대기 상태(예: RRC idle)에서의 측정(measurement)과 관련된 정보를 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 통신 회로(210)를 통해 네트워크로부터 수신하는 RRC 해제와 관련된 메시지(예: RRC release message)에서 측정과 관련된 정보(예: measidleconfig)를 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 통신 회로(210)를 통해 네트워크로부터 수신하는 시스템 정보(예: SIB(system information block) 11)에서 측정과 관련된 정보(예: measidleconfig)를 확인할 수 있다. 일예로, 측정과 관련된 정보는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정을 수행하기 위한 제 1 측정 주기(duration)와 관련된 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, RRC 비활성 상태는 전자 장치(101)와 관련된 코어 네트워크(CN: core network)가 연결 상태이지만, 전자 장치(101)와 관련된 무선 접속 네트워크(RAN: radio access network)가 대기 상태인 무선 접속 상태를 포함할 수 있다. 일예로, RRC 비활성 상태는 네트워크(예: 기지국) 및/또는 전자 장치(101)에 전자 장치(101)와 관련된 컨텍스트(context)(예: AS(access stratum) context)가 유지될 수 있다. 예를 들어, RRC 대기 상태는 전자 장치(101)가 네트워크와 RRC가 연결(connection)되지 않은 무선 접속 상태를 포함할 수 있다. 일예로, 전자 장치(101)는 RRC 비활성 상태 및/또는 RRC 대기 상태에서 전자 장치(101)와 관련된 페이징을 모니터링할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 전자 장치(101)의 동작 모드를 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)가 슬립 상태(sleep state)인 것으로 판단한 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 RIL(radio interface layer)을 통해 어플리케이션 프로세서(202)로부터 수신한 슬립 상태로의 전환과 관련된 정보에 기반하여 어플리케이션 프로세서(202)가 슬립 상태인 것으로 판단할 수 있다. 일예로, 어플리케이션 프로세서(202)의 슬립 상태는 어플리케이션 프로세서(202)가 구동되지 않는 상태로, 전자 장치(101)의 디스플레이(미도시)가 비활성된 상태를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)의 디스플레이(미도시)가 비활성 상태(예: OFF)인 것으로 판단한 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이의 비활성 상태는 통신 프로세서(204)가 어플리케이션 프로세서(202)로부터 수신한 디스플레이의 상태 정보(또는 상태 전환 정보)에 기반하여 판단될 수 있다. 일예로, 디스플레이의 비활성 상태는 디스플레이가 구동되지 않아 디스플레이에 표시되는 정보가 존재하지 않는 상태를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)가 활성 상태(active state)인 것으로 판단한 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 RIL을 통해 어플리케이션 프로세서(202)로부터 수신한 활성 상태로의 전환과 관련된 정보에 기반하여 어플리케이션 프로세서(202)가 활성 상태인 것으로 판단할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)의 디스플레이(미도시)가 활성 상태(예: ON)인 것으로 판단한 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 일예로, 전자 장치(101)의 활성 모드는 전자 장치(101)가 사용자에 의해 사용 중인 상태를 포함할 수 있다. 일예로, 전자 장치(101)의 비활성 모드는 전자 장치(101)가 사용자에 의해 사용되지 않는 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 전자 장치(101)의 페이징 주기에 기반하여 측정과 관련된 정보를 갱신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)의 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 1 측정 주기를 제 2 측정 주기로 갱신할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)의 페이징 주기가 약 1.28초이고, 제 1 측정 주기가 약 10초인 경우, 페이징 주기에 기반하여 제 1 측정 주기를 10.24초(예: 약 1.28초 × 8)인 제 2 측정 주기로 갱신할 수 있다. 일예로, 페이징 주기(예: defaultpagingcycle)는 네트워크로부터 수신하는 시스템 정보(예: SIB 1)에서 확인될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 전자 장치(101)의 동작 모드에 기반하여 측정과 관련된 정보를 갱신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다. 예를 들어, 제 3 측정 주기는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 상태에서 측정이 제한되도록 갱신(또는 확장)된 측정 주기를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제 3 측정 주기는 지정된 확장 간격에 기반하여 갱신(또는 확장)된 측정 주기를 포함할 수 있다. 일예로, 지정된 확장 간격에 기반하여 갱신(또는 확장)된 측정 주기는 연속적인 측정에 기반하여 지정된 확장 간격으로 추가적으로 갱신(또는 확장)될 수 있다. 일예로, 지정된 확장 간격은 측정 주기를 확장하기 위한 기준 간격으로, 측정 주기를 확장하기 위한 1을 초과하는 자연수를 포함할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 시점에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)를 제 3 측정 주기로 갱신할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보가 확인되기 이전에 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환된 경우, 전자 장치(101)가 비활성 모드인 상태에서 측정이 제한되도록 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)를 제 3 측정 주기로 갱신할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보를 확인한 이후에 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환된 경우, 지정된 확장 간격에 기반하여 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)를 제 3 측정 주기로 갱신할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 제 1 측정 주기에 기반하여 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우, 전자 장치(101)의 페이징 주기에 기반하여 갱신된 제 2 측정 주기에 기반하여 주기적으로 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드에 기반하여 갱신된 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 프로세서(200)는 전자 장치(101)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율(data throughput)에 기반하여 측정 결과의 전송을 제한할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율(data throughput)을 만족하는 경우, 측정 결과의 전송을 제한할 수 있다. 예를 들어, 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율은 전자 장치(101)가 비활성 모드에서 활성 모드로 전환되는 시점에 확인될 수 있다. 예를 들어, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 제 3 측정 주기로 설정(또는 유지)될 수 있다. 일예로, 지정된 처리율을 만족하는 상태는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율 이하인 상태를 포함할 수 있다. 일예로, 지정된 처리율은 측정 결과의 전송 여부를 판단하기 위한 기준 처리율을 포함할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 측정 결과를 네트워크로 전송하도록 통신 회로(210)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 통신 회로(210)를 통해 네트워크로부터 측정 결과와 관련된 요청 메시지를 수신한 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정된 결과를 네트워크로 전송하도록 통신 회로(210)를 제어할 수 있다. 일예로, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정된 결과는 가장 최근에 수행된 측정 결과 또는 요청 메시지의 수신 시점을 기준으로 지정된 시간 이전 동안 수행된 측정 결과를 포함할 수 있다. 예를 들어, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 제 1 측정 주기 또는 제 2 측정 주기로 설정(또는 전환)될 수 있다. 일예로, 지정된 처리율을 만족하지 않는 상태는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 초과하는 상태 및/또는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율을 확인할 수 없는 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 통신 회로(210)는 무선 네트워크를 통해 외부 장치(예: 도 1의 전자 장치(104) 및/또는 서버(108))와 신호 및/또는 데이터를 송신 및/또는 수신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 회로(210)는 외부 장치와의 통신을 위한 RFIC(radio frequency integrated circuit) 및 RFFE(radio frequency front end)를 포함할 수 있다. 일예로, 무선 네트워크는 2G 네트워크, 3G 네트워크, 4G 네트워크(예: LTE(long term evolution)) 및/또는 5G 네트워크(예: NR(new radio))를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 메모리(220)는 전자 장치(101)의 적어도 하나의 정보 요소(예: 프로세서(200) 또는 통신 회로(210))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 메모리(216)는 프로세서(212)를 통해 실행될 수 있는 다양한 인스트럭션들을 저장할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101))는, 통신 회로(예: 도 1의 무선 통신 모듈(192) 또는 도 2의 통신 회로(210)); 및 상기 통신 회로와 작동적으로 연결되는 프로세서(예: 도 1의 프로세서(120), 도 2의 프로세서(200) 또는 통신 프로세서(204))를 포함하며, 상기 프로세서는, 상기 통신 회로를 통해 외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하고, 상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하고, 상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 측정 주기는, 상기 통신 회로를 통해 상기 외부 장치로부터 수신한 RRC 해제와 관련된 메시지 또는 시스템 정보 블록에 포함될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 어플리케이션 프로세서(예: 도 1의 메인 프로세서(121) 또는 도 2의 어플리케이션 프로세서(AP)(202))를 더 포함하며, 상기 프로세서는, 상기 어플리케이션 프로세서가 슬립 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 디스플레이(예: 도 1의 디스플레이 모듈(160))를 더 포함하며, 상기 프로세서는, 상기 디스플레이가 비활성 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 전자 장치기 비활성 모드인 상태에서 측정이 수행되지 않도록 상기 측정 주기를 갱신할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 페이징 주기를 확인하고, 상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 상기 측정 주기를 갱신할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 갱신된 측정 주기를 지정된 간격에 기반하여 추가적으로 갱신할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드로 전환되는 경우, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율을 확인하고, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과에 대한 전송을 제한할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과를 상기 외부 장치로 전송할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기에 기반하여 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다.

도 3은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 주기를 갱신하기 위한 흐름도(300)이다. 이하 실시예에서 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다. 일예로, 도 3의 전자 장치는 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101) 일 수 있다. 일예로, 도 3의 적어도 일부는 도 4a 및/또는 도 4b를 참조할 수 있다. 도 4a는 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 주기의 일예이다. 도 4b는 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 주기의 다른 일예이다.

도 3을 참조하는 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1의 프로세서(120) 또는 도 2의 프로세서(200))는 동작 301에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보를 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 하기 표 1과 같이, 통신 회로(210)를 통해 네트워크로부터 수신하는 RRC 해제와 관련된 메시지(예: TS 38.331 표준의 RRC release message)에서 측정과 관련된 정보(예: measidleconfig)를 확인할 수 있다.

RRCRelease message
~ 생략
RRCRelease-v16xy-IEs ::= SEQUENCE {
voiceFallbackIndication-r16 ENUMERATED {true} OPTIONAL, -- Need N
measIdleConfig-r16 SetupRelease {MeasIdleConfigDedicated-r16} OPTIONAL, -- Need M
nonCriticalExtension SEQUENCE {} OPTIONAL
~ 생략

일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 하기 표 2와 같이, 통신 회로(210)를 통해 네트워크로부터 수신하는 시스템 정보(예: TS 38.331 표준의 SIB(system information block) 11)에서 측정과 관련된 정보(예: measidleconfig)를 확인할 수 있다.

SIB11 information element

-- ASN1START
-- TAG-SIB11-START

SIB11-r16 ::= SEQUENCE {
measIdleConfigSIB-r16 MeasIdleConfigSIB-r16 OPTIONAL, -- Need S
lateNonCriticalExtension OCTET STRING OPTIONAL,
...
}

-- TAG-SIB11-STOP
-- ASN1STOP

예를 들어, 측정과 관련된 정보는 하기 표 3(예: TS 38.331 표준의 MeasIdleConfig)과 같이, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정을 수행하기 위한 제 1 측정 주기(measidleduration)와 관련된 정보를 포함할 수 있다.

MeasIdleConfig information element
-- ASN1START
-- TAG-MEASIDLECONFIG-START

MeasIdleConfigSIB-r16 ::= SEQUENCE {
measIdleCarrierListNR-r16 SEQUENCE (SIZE (1..maxFreqIdle-r16)) OF MeasIdleCarrierNR-r16 OPTIONAL, -- Need S
measIdleCarrierListEUTRA-r16 SEQUENCE (SIZE (1..maxFreqIdle-r16)) OF MeasIdleCarrierEUTRA-r16 OPTIONAL, -- Need S
...
}

MeasIdleConfigDedicated-r16 ::= SEQUENCE {
measIdleCarrierListNR-r16 SEQUENCE (SIZE (1..maxFreqIdle-r16)) OF MeasIdleCarrierNR-r16 OPTIONAL, -- Need N
measIdleCarrierListEUTRA-r16 SEQUENCE (SIZE (1..maxFreqIdle-r16)) OF MeasIdleCarrierEUTRA-r16 OPTIONAL, -- Need N
measIdleDuration-r16 ENUMERATED{sec10, sec30, sec60, sec120, sec180, sec240, sec300, spare},
validityAreaList-r16 ValidityAreaList-r16 OPTIONAL, -- Need N
...
}

예를 들어, RRC 비활성 상태는 전자 장치(101)와 관련된 코어 네트워크(CN)가 연결 상태이지만, 전자 장치(101)와 관련된 무선 접속 네트워크(RAN)가 대기 상태인 무선 접속 상태를 포함할 수 있다. 일예로, RRC 비활성 상태는 네트워크(예: 기지국) 및/또는 전자 장치(101)에 전자 장치(101)와 관련된 컨텍스트(context)(예: AS context)가 유지될 수 있다. 예를 들어, RRC 대기 상태는 전자 장치(101)가 네트워크와 RRC가 연결(connection)되지 않은 무선 접속 상태를 포함할 수 있다. 일예로, 전자 장치(101)는 RRC 비활성 상태 및/또는 RRC 대기 상태에서 전자 장치(101)와 관련된 페이징을 모니터링할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200)는 동작 303에서, 전자 장치(101)의 동작 모드가 비활성 모드인지 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)가 슬립 상태(sleep state)인 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 일예로, 어플리케이션 프로세서(202)의 슬립 상태는 어플리케이션 프로세서(202)가 구동되지 않는 상태로, 전자 장치(101)의 디스플레이(미도시)가 비활성된 상태를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)의 디스플레이(미도시)가 비활성 상태(예: OFF)인 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 일예로, 디스플레이의 비활성 상태는 디스플레이가 구동되지 않아 디스플레이에 표시되는 정보가 존재하지 않는 상태를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)가 활성 상태(active state)인 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)의 디스플레이(미도시)가 활성 상태(예: ON)인 경우, 전자 장치(101)의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단할 수 있다. 일예로, 전자 장치(101)의 활성 모드는 전자 장치(101)가 사용자에 의해 사용 중인 상태를 포함할 수 있다. 일예로, 전자 장치(101)의 비활성 모드는 전자 장치(101)가 사용자에 의해 사용되지 않는 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200)는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우(예: 동작 303의 '예'), 동작 305에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 갱신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4a와 같이, 전자 장치(101)가 비활성 모드인 상태에서 측정이 제한되도록 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다(420). 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4b와 같이, 지정된 확장 간격에 기반하여 제 1 측정 주기를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다(470). 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 갱신된 제 3 측정 주기에 기반하여 지정된 횟수만큼 연속적으로 측정을 수행한 경우, 지정된 확장 간격으로 추가적으로 측정 주기를 갱신할 수 있다(472).

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200)는 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우(예: 동작 303의 '아니오'), 동작 307에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보에 포함된 제 1 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보에 포함된 제 1 측정 주기에 기반하여 주기적으로 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우, 전자 장치(101)의 페이징 주기에 기반하여 갱신된 제 2 측정 주기(예: 약 10.24초)에 기반하여 주기적으로 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200)는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 시점에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 갱신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4a와 같이, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보를 수신하는 시점(402) 이전에 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환된 경우(400), 전자 장치(101)가 비활성 모드인 상태에서 측정이 제한되도록 측정 주기를 갱신할 수 있다(420).

일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4b와 같이, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정과 관련된 정보를 수신한 시점(440)에 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우, 측정과 관련된 정보에 포함된 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다(442 및 444). 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 경우(460), 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 갱신할 수 있다(470). 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 경우(460), 비활성 모드로의 전환 시점과 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)의 차에 기반하여 측정을 수행하고(462) 측정 주기를 갱신할 수 있다(470). 일예로, 측정(462)은 비활성 모드로의 전환 시점과 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)의 차가 지정된 시간 간격을 만족하는 경우, 수행될 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 경우(460), 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)와 무관하게 측정 주기를 갱신할 수 있다(470).

도 5는 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 지정된 확장 간격에 기반하여 측정 주기를 갱신하기 위한 흐름도(500)이다. 일 실시예에 따르면, 도 5의 동작들은 도 3의 동작 305의 상세한 동작일 수 있다. 이하 실시예에서 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다. 일예로, 도 5의 전자 장치는 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101)일 수 있다.

도 5를 참조하는 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1의 프로세서(120) 또는 도 2의 프로세서(200))는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우(예: 도 3의 동작 303의 '예'), 동작 501에서, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우, 도 4b와 같이, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다(470).

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 503에서, 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4b와 같이, 지정된 확장 간격에 기반하여 갱신된 제 3 측정 주기(470)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다(464).

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 505에서, 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 주기적인 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하는지 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 제 3 측정 주기(470)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 수행된 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하는지 확인할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 주기적인 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하는 경우(예: 동작 505의 '예'), 동작 503에서, 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일예로, 지정된 조건을 만족하는 상태는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 수행된 측정 횟수가 지정된 횟수 미만인 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 주기적인 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하지 않는 경우(예: 동작 505의 '아니오'), 동작 507에서, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 3 측정 주기를 추가적으로 갱신(또는 확장)할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 제 3 측정 주기(470)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하지 않는 경우, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 3 측정 주기(470)를 추가적으로 갱신할 수 있다(472). 예를 들어, 제 3 측정 주기(470)는 지정된 확장 간격에 기반하여 추가적으로 확장될 수 있다(472). 일예로, 지정된 조건을 만족하지 않는 상태는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 수행된 측정 횟수가 지정된 횟수 이상인 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 503에서, 추가적으로 갱신된 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 도 5의 동작 501 내지 동작 507을 반복적으로 수행할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 지정된 시간 구간 동안 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일예로, 지정된 시간 구간은 네트워크에 의해 설정되거나, 전자 장치(101)의 상태 정보(예: 배터리 잔량)에 기반하여 설정될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 지정된 시간 구간 동안 도 5의 동작 501 내지 동작 507을 반복적으로 수행할 수 있다.

도 6은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 비활성 모드로 전환에 기반하여 측정 주기를 갱신하기 위한 흐름도(600)이다. 일 실시예에 따르면, 도 6의 동작들은 도 3의 동작 307의 상세한 동작일 수 있다. 이하 실시예에서 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다. 일예로, 도 6의 전자 장치는 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101)일 수 있다.

도 6을 참조하는 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1의 프로세서(120) 또는 도 2의 프로세서(200))는 전자 장치(101)가 활성 모드인 경우(예: 도 3의 동작 303의 '아니오'), 동작 601에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기가 도래하는지 확인할 수 있다. 일예로, 측정 주기는 네트워크로부터 수신한 채널과 관련된 정보에서 확인된 제 1 측정 주기 또는 페이징 주기에 기반하여 갱신된 제 2 측정 주기를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 측정 주기가 도래한 경우(예: 동작 601의 '예'), 동작 603에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4b와 같이, 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다(442 및 444). 예를 들어, 측정은 전자 장치(101)가 위치한 영역에서의 채널 품질을 확인하는 일련의 동작을 포함할 수 있다. 일예로, 채널 품질은 RSSI(received signal strength indicator), RSRQ(reference signal received quality), RSRP(reference signal received power) 및/또는 SINR(signal to interference noise ratio)를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 측정을 수행하거나(예: 동작 603), 측정 주기가 도래하지 않은 경우(예: 동작 601의 '아니오'), 동작 605에서, 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는지 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)로부터 슬립 상태로의 전환과 관련된 정보를 수신한 경우, 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 것으로 판단할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)로부터 디스플레이의 비활성 상태로의 전환 정보를 수신한 경우, 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되는 것으로 판단할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환되지 않은 경우(예: 동작 605의 '아니오'), 동작 601에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기가 도래하는지 확인할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환된 경우(예: 동작 605의 '예'), 동작 607에서, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 전자 장치(101)가 비활성 모드로 전환된 것으로 판단한 경우(460), 도 4b와 같이, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)(450)를 제 3 측정 주기로 갱신(또는 확장)할 수 있다(470).

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 609에서, 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4b와 같이, 지정된 확장 간격에 기반하여 갱신된 제 3 측정 주기(470)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다(464).

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 611에서, 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 주기적인 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하는지 확인할 수 있다. 일예로 측정 횟수는 제 3 측정 주기(470)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 수행된 측정 횟수를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 주기적인 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하는 경우(예: 동작 611의 '예'), 동작 609에서, 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일예로, 지정된 조건을 만족하는 상태는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 수행된 측정 횟수가 지정된 횟수 미만인 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 주기적인 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하지 않는 경우(예: 동작 611의 '아니오'), 동작 613에서, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 3 측정 주기를 추가적으로 갱신(또는 확장)할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 제 3 측정 주기(470)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 측정 횟수가 지정된 조건을 만족하지 않는 경우, 지정된 확장 간격에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 제 3 측정 주기(470)를 추가적으로 갱신할 수 있다(472). 예를 들어, 제 3 측정 주기(470)는 지정된 확장 간격에 기반하여 추가적으로 확장될 수 있다(472). 일예로, 지정된 조건을 만족하지 않는 상태는 제 3 측정 주기에 기반한 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 연속적으로 수행된 측정 횟수가 지정된 횟수 이상인 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 609에서, 추가적으로 갱신된 제 3 측정 주기에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 도 4b와 같이, 지정된 확장 간격에 기반하여 추가적으로 갱신된 제 3 측정 주기(472)에 기반하여 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행할 수 있다(466).

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 전자 장치(101)가 비활성 모드인 경우, 지정된 최대 측정 주기에 기반하여 측정 주기를 갱신(또는 확장)할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 지정된 확장 간격에 기반하여 갱신(또는 확장)되는 제 3 측정 주기가 지정된 최대 측정 주기 이하인 경우, 지정된 확장 간격에 기반하여 제 3 측정 주기를 추가적으로 갱신(또는 확장)할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 지정된 확장 간격에 기반하여 갱신(또는 확장)되는 제 3 측정 주기가 지정된 최대 측정 주기를 초과하는 경우, 측정 주기를 지정된 최대 측정 주기로 설정할 수 있다.

도 7은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 결과를 선택적으로 전송하기 위한 흐름도(700)이다. 이하 실시예에서 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다. 일예로, 도 7의 전자 장치는 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101)일 수 있다.

도 7을 참조하는 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1의 프로세서(120) 또는 도 2의 프로세서(200))는 동작 701에서, 비활성 모드로 동작하던 전자 장치(101)의 활성 모드로의 전환을 확인할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)로부터 활성 상태로의 전환과 관련된 정보를 수신한 경우, 전자 장치(101)가 활성 모드로 전환되는 것으로 판단할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)로부터 디스플레이의 활성 상태로의 전환 정보를 수신한 경우, 전자 장치(101)가 활성 모드로 전환되는 것으로 판단할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 703에서, 전자 장치(101)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율(data throughput)을 확인할 수 있다. 예를 들어, 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율은 전자 장치(101)의 메모리(220)에 저장된 어플리케이션 프로그램과 관련된 정보에 포함될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 705에서, 전자 장치(101)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는지 확인할 수 있다. 일예로, 지정된 처리율은 측정 결과의 전송을 제한할 것인지 여부를 판단하기 위한 기준 처리율을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 전자 장치(101)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우(예: 동작 705의 '예'), 동작 707에서, 측정 결과의 전송을 제한할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 어플리케이션 프로그램과 관련된 기능을 제공하기 위해 이중 접속 및/또는 반송파 집적 방식이 필요 없는 것으로 판단할 수 있다. 이에 따라, 통신 프로세서(204)는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 수행된 측정 결과의 전송을 제한할 수 있다. 일예로, 지정된 처리율을 만족하는 상태는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율 이하인 상태를 포함할 수 있다. 일 실시에에 따르면, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서의 측정 주기는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 제 3 측정 주기로 설정(또는 유지)될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 전자 장치(101)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우(예: 동작 705의 '아니오'), 동작 709에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 수행된 측정 결과를 네트워크로 전송할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 어플리케이션 프로그램과 관련된 기능을 제공하기 위해 이중 접속 및/또는 반송파 집적 방식이 필요한 것으로 판단할 수 있다. 이에 따라, 통신 프로세서(204)는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 수행된 측정 결과의 전송하는 것으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 통신 프로세서(204)는 통신 회로(210)를 통해 네트워크로부터 측정 결과와 관련된 요청 메시지를 수신한 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정된 결과를 네트워크로 전송하도록 통신 회로(210)를 제어할 수 있다. 일예로, 요청 메시지는 RRC 재개와 관련된 메시지(RRCresume)에 포함되어 수신될 수 있다. 일예로, 측정 결과는 RRC 재개의 완료와 관련된 메시지(RRCresumecomplete)에 포함되어 네트워크로 전송될 수 있다. 일예로, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정된 결과는 가장 최근에 수행된 측정 결과 또는 요청 메시지의 수신 시점을 기준으로 지정된 시간 이전 동안 수행된 측정 결과를 포함할 수 있다. 일예로, 지정된 처리율을 만족하지 않는 상태는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 초과하는 상태 및/또는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율을 확인할 수 없는 상태를 포함할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 어플리케이션 프로세서(202)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 제 1 측정 주기 또는 제 2 측정 주기에 기반하여 주기적으로 측정을 수행할 수 있다.

도 8은 다양한 실시예에 따른 전자 장치에서 측정 결과를 전송하기 위한 흐름도(800)이다. 일 실시예에 따르면, 도 8의 동작들은 도 7의 동작 709의 상세한 동작일 수 있다. 이하 실시예에서 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다. 일예로, 도 8의 전자 장치는 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101)일 수 있다.

도 8을 참조하는 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1의 프로세서(120) 또는 도 2의 프로세서(200))는 전자 장치(101)에서 구동되는 어플리케이션 프로그램(또는 기능)에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우(예: 도 7의 동작 705의 '아니오'), 동작 801에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 마지막으로 측정을 수행한 시점을 확인할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 803에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 마지막으로 측정을 수행한 시점이 지정된 측정 조건을 만족하는지 확인할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 마지막으로 측정을 수행한 시점이 지정된 측정 조건을 만족하는 경우(예: 동작 803의 '예'), 동작 805에서, 측정을 수행할 수 있다. 일예로, 지정된 측정 조건을 만족하는 상태는 마지막으로 측정을 수행한 시점을 확인하는 시점(또는 현시점)부터 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 마지막으로 측정을 수행한 시점까지의 시간 간격이 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)보다 긴 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 마지막으로 측정을 수행한 시점이 지정된 측정 조건을 만족하지 않거나(예: 동작 803의 '아니오'), 측정을 수행한 경우(예: 동작 805), 동작 807에서, 측정 주기를 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)로 복원할 수 있다. 일예로, 지정된 측정 조건을 만족하는 상태는 마지막으로 측정을 수행한 시점을 확인하는 시점(또는 현시점)부터 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 마지막으로 측정을 수행한 시점까지의 시간 간격이 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)보다 짧거나 같은 상태를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 동작 809에서, 복원된 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)가 도래하는지 확인할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 측정 주기가 도래한 경우(예: 동작 809의 '예'), 동작 811에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 측정을 수행할 수 있다. 예를 들어, 측정은 전자 장치(101)가 위치한 영역에서의 채널 품질을 확인하는 일련의 동작을 포함할 수 있다. 일예로, 채널 품질은 RSSI, RSRQ, RSRP 및/또는 SINR를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 측정을 수행하거나(예: 동작 811), 측정 주기가 도래하지 않은 경우(예: 동작 809의 '아니오'), 동작 813에서, 네트워크로부터 측정 결과와 관련된 요청 메시지가 수신되는지 확인할 수 있다. 일예로, 요청 메시지는 RRC 재개와 관련된 메시지(RRCresume)에 포함될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 네트워크로부터 측정 결과와 관련된 요청 메시지가 수신되지 않은 경우(예: 동작 813의 '아니오'), 동작 809에서, 복원된 제 1 측정 주기(또는 제 2 측정 주기)가 도래하는지 확인할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 프로세서(120 또는 200))는 네트워크로부터 측정 결과와 관련된 요청 메시지를 수신한 경우(예: 동작 813의 '예'), 동작 815에서, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 수행된 측정 결과를 네트워크로 전송할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 프로세서(204)는 네트워크로부터 측정 결과와 관련된 요청 메시지를 수신한 경우, RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 수행된 측정 결과를 네트워크로 전송하도록 통신 회로(210)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 측정 결과는 RRC 재개의 완료와 관련된 메시지(RRCresumecomplete)에 포함되어 네트워크로 전송될 수 있다. 일예로, 측정 결과는 RRC 비활성 상태 또는 RRC 대기 상태에서 가장 최근에 수행된 측정 결과 또는 요청 메시지의 수신 시점을 기준으로 지정된 시간 이전 동안 수행된 측정 결과를 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 전자 장치(예: 도 1 또는 도 2의 전자 장치(101))의 동작 방법은, 외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하는 동작과 상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하는 동작; 및 상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 측정 주기를 확인하는 동작은, 상기 외부 장치로부터 수신한 RRC 해제와 관련된 메시지 또는 시스템 정보 블록에서 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 확인하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 동작 모드를 확인하는 동작은, 상기 전자 장치의 어플리케이션 프로세서(예: 도 1의 메인 프로세서(121) 또는 도 2의 어플리케이션 프로세서(AP)(202))가 슬립 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 동작 모드를 확인하는 동작은, 상기 전자 장치의 디스플레이가 비활성 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 측정 주기를 갱신하는 동작은, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 전자 장치기 비활성 모드인 상태에서 측정이 수행되지 않도록 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 페이징 주기를 확인하는 동작, 및 상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 더 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 측정 주기를 갱신하는 동작은, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 갱신된 측정 주기를 지정된 간격에 기반하여 추가적으로 갱신하는 동작을 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드로 전환되는 경우, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율을 확인하는 동작; 및 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과에 대한 전송을 제한하는 동작을 더 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과를 상기 외부 장치로 전송하는 동작을 더 포함할 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기에 기반하여 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행하는 동작을 더 포함할 수 있다.

본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시예는 본 발명의 실시예에 따른 기술 내용을 쉽게 설명하고 본 발명의 실시예의 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것일 뿐이며, 본 발명의 실시예의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 따라서 본 발명의 다양한 실시예의 범위는 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 다양한 실시예의 기술적 사상을 바탕으로 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 다양한 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

Claims

전자 장치에 있어서,
통신 회로; 및
상기 통신 회로와 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하며,
상기 프로세서는,
상기 통신 회로를 통해 외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하고,
상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하고,
상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신하는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
상기 측정 주기는, 상기 통신 회로를 통해 상기 외부 장치로부터 수신한 RRC 해제와 관련된 메시지 또는 시스템 정보 블록에 포함되는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
어플리케이션 프로세서를 더 포함하며,
상기 프로세서는, 상기 어플리케이션 프로세서가 슬립 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단하는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
디스플레이를 더 포함하며,
상기 프로세서는, 상기 디스플레이가 비활성 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단하는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 전자 장치기 비활성 모드인 상태에서 측정이 수행되지 않도록 상기 측정 주기를 갱신하는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 페이징 주기를 확인하고,
상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 상기 측정 주기를 갱신하는 전자 장치.
제 6항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 갱신된 측정 주기를 지정된 간격에 기반하여 추가적으로 갱신하는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드로 전환되는 경우, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율을 확인하고,
상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과에 대한 전송을 제한하는 전자 장치.
제 8항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과를 상기 외부 장치로 전송하는 전자 장치.
제 1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기에 기반하여 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행하는 전자 장치.
전자 장치의 동작 방법에 있어서,
외부 장치로부터 수신한 제어 메시지에서 RRC 비활성 상태(RRC(radio resource control) inactive) 또는 RRC 대기 상태(RRC idle)에서의 측정 주기(duration)를 확인하는 동작;
상기 전자 장치의 동작 모드를 확인하는 동작; 및
상기 전자 장치의 동작 모드가 비활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 측정 주기를 확인하는 동작은,
상기 외부 장치로부터 수신한 RRC 해제와 관련된 메시지 또는 시스템 정보 블록에서 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 주기를 확인하는 동작을 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 동작 모드를 확인하는 동작은,
상기 전자 장치의 어플리케이션 프로세서가 슬립 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단하는 동작을 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 동작 모드를 확인하는 동작은,
상기 전자 장치의 디스플레이가 비활성 상태인 경우, 상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단하는 동작을 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 측정 주기를 갱신하는 동작은,
상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 전자 장치기 비활성 모드인 상태에서 측정이 수행되지 않도록 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 전자 장치의 페이징 주기를 확인하는 동작, 및
상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 상기 측정 주기를 갱신하는 동작을 더 포함하는 방법.
제 16항에 있어서,
상기 측정 주기를 갱신하는 동작은,
상기 전자 장치의 동작 모드가 상기 비활성 모드인 것으로 판단한 경우, 상기 페이징 주기와 적어도 일부 중첩되도록 갱신된 측정 주기를 지정된 간격에 기반하여 추가적으로 갱신하는 동작을 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드로 전환되는 경우, 상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율을 확인하는 동작; 및
상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과에 대한 전송을 제한하는 동작을 더 포함하는 방법.
제 18항에 있어서,
상기 전자 장치에서 구동되는 어플리케이션 프로그램에서 필요로 하는 데이터 처리율이 지정된 처리율을 만족하지 않는 경우, 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서의 측정 결과를 상기 외부 장치로 전송하는 동작을 더 포함하는 방법.
제 11항에 있어서,
상기 전자 장치의 동작 모드가 활성 모드인 것으로 판단되는 경우, 상기 측정 주기에 기반하여 상기 RRC 비활성 상태 또는 상기 RRC 대기 상태에서 주기적으로 측정을 수행하는 동작을 더 포함하는 방법.