KR20220050472A - 컨트롤러 및 디스플레이 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시예들은, 컨트롤러와 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 디스플레이 장치의 구동에 따라 스트레스 값을 누적하고 누적된 스트레스 값에 기초한 보상 값을 적용하여 디스플레이 구동을 수행함으로써, 서브픽셀의 열화에 대한 보상을 실시간으로 수행할 수 있다. 또한, 기설정된 시기에 서브픽셀의 열화량을 센싱하고 열화량 센싱 데이터에 기초하여 스트레스 값을 보정함으로써, 서브픽셀의 열화량 센싱을 최소화하며 서브픽셀의 열화에 대한 실시간 보상의 정확도를 향상시킬 수 있다.

Description

컨트롤러 및 디스플레이 장치{CONTROLLER AND DISPLAY DEVICE}
본 발명의 실시예들은, 컨트롤러와 디스플레이 장치에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라, 화상을 표시하는 디스플레이 장치에 대한 요구가 증가하고 있으며, 액정 디스플레이 장치, 유기발광 디스플레이 장치와 같은 다양한 유형의 디스플레이 장치가 활용된다.
디스플레이 장치는, 다수의 서브픽셀이 배치된 디스플레이 패널과, 다수의 서브픽셀을 구동하기 위한 각종 구동 회로를 포함할 수 있다. 그리고, 다수의 서브픽셀 각각에 적어도 하나 이상의 회로 소자가 배치될 수 있다.
디스플레이 장치의 구동 시간이 길어질수록 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화가 발생할 수 있다. 그리고, 서로 다른 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화 정도는 서로 다를 수 있다.
서로 다른 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화 정도가 다를 경우, 서브픽셀 간의 구동 편차가 발생할 수 있으며, 서브픽셀 간의 구동 편차로 인해 디스플레이 품질이 저하될 수 있다.
따라서, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화와 서로 다른 서브픽셀에 배치된 회로 소자 간의 열화 편차로 인한 디스플레이 품질의 저하를 방지할 수 있는 방안이 요구된다.
본 발명의 실시예들은, 디스플레이 장치의 구동 시간의 증가에 따라 발생할 수 있는 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화를 실시간으로 보상할 수 있는 방안을 제공한다.
본 발명의 실시예들은, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화를 실시간으로 보상하며, 회로 소자의 열화를 보상하는 데이터의 오차를 보정할 수 있는 방안을 제공한다.
일 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 다수의 서브픽셀들, 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로, 데이터 구동 회로로 구동 데이터 신호를 출력하는 컨트롤러 및 컨트롤러의 내부 또는 외부에 위치하고 다수의 서브픽셀들의 열화량을 나타내는 스트레스 값을 저장하는 메모리를 포함하는 디스플레이 장치를 제공한다.
디스플레이 장치에서, 컨트롤러가 구동 데이터 신호를 출력하면 메모리에 저장된 스트레스 값은 증가하고, 기설정된 시기에 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되면 메모리에 저장된 스트레스 값은 조정될 수 있다.
여기서, 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되면 메모리에 저장된 스트레스 값은 증가하거나 감소될 수 있다.
메모리에 저장된 스트레스 값이 증가하는 경우, 스트레스 값의 증가량은 컨트롤러가 구동 데이터 신호를 출력할 때 스트레스 값의 증가량보다 크거나 작을 수 있다.
다른 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 다수의 서브픽셀들, 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로, 데이터 구동 회로로 구동 데이터 신호를 출력하고 기설정된 시기에 데이터 구동 회로로부터 열화량 센싱 데이터를 수신하는 컨트롤러 및 컨트롤러가 구동 데이터 신호를 출력하면 증가하고 컨트롤러가 열화량 센싱 데이터를 수신하면 조정되는 스트레스 값을 저장하는 메모리를 포함하는 디스플레이 장치를 제공한다.
다른 측면에서, 본 발명의 실시예들은, 데이터 구동 회로로 구동 데이터 신호를 출력하는 데이터 신호 출력부 및 데이터 신호 출력부가 구동 데이터 신호를 출력하면 증가하는 스트레스 값을 저장하는 메모리를 포함하는 컨트롤러를 제공한다.
컨트롤러가 데이터 구동 회로로부터 열화량 센싱 데이터를 수신하면 메모리에 저장된 스트레스 값은 증가하거나 감소될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 장치의 구동 시간에 따라 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 스트레스 값을 누적시키고 스트레스 값에 대응하는 보상 값을 적용함으로써, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화를 실시간으로 보상할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 기설정된 시기에 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화량을 센싱하고 센싱된 데이터에 따라 누적된 스트레스 값을 조정할 수 있다. 따라서, 회로 소자의 열화를 실시간으로 보상하는 과정에서 발생할 수 있는 오차를 보정하며 회로 소자의 열화에 대한 보상의 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 회로 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 컨트롤러의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치가 서브픽셀의 열화 보상을 수행하는 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치가 서브픽셀의 열화를 실시간으로 보상하는 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치가 서브픽셀의 열화량을 센싱하는 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 7 내지 도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치가 서브픽셀의 열화 보상을 수행하는 방식의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
도 10과 도 11은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치가 서브픽셀의 열화 보상을 수행하는 과정을 나타낸 도면이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들의 시간 관계 또는 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 패널(110)과, 디스플레이 패널(110)을 구동하기 위한 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 및 컨트롤러(140) 등을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은, 다수의 서브픽셀(SP)이 배치되는 액티브 영역(AA)과, 액티브 영역(AA)의 외측에 위치하는 논-액티브 영역(NA)을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)에는, 다수의 게이트 라인(GL)과 다수의 데이터 라인(DL)이 배치되고, 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차하는 영역에 서브픽셀(SP)이 위치할 수 있다.
게이트 구동 회로(120)는, 컨트롤러(140)에 의해 제어되며, 디스플레이 패널(110)에 배치된 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 출력하여 다수의 서브픽셀(SP)의 구동 타이밍을 제어한다.
게이트 구동 회로(120)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있으며, 구동 방식에 따라 디스플레이 패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고 양 측에 위치할 수도 있다.
각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 디스플레이 패널(110)과 연결된 필름 상에 실장되는 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 컨트롤러(140)로부터 영상 데이터를 수신하고, 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환한다. 그리고, 게이트 라인(GL)을 통해 스캔 신호가 인가되는 타이밍에 맞춰 데이터 전압(Vdata)을 각각의 데이터 라인(DL)으로 출력하여 각각의 서브픽셀(SP)이 영상 데이터에 따른 밝기를 표현하도록 한다.
데이터 구동 회로(130)는, 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 시프트 레지스터, 래치 회로, 디지털 아날로그 컨버터, 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결되거나, 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수 있으며, 경우에 따라, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 칩 온 필름(COF) 방식으로 구현될 수 있으며, 이 경우, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 연결된 필름 상에 실장되고, 필름 상의 배선들을 통해 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)로 각종 제어 신호를 공급하며, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)의 동작을 제어한다.
컨트롤러(140)는, 인쇄 회로 기판, 가요성 인쇄 회로 등 상에 실장되고, 인쇄 회로 기판, 가요성 인쇄 회로 등을 통해 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)와 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 게이트 구동 회로(120)가 스캔 신호를 출력하도록 하며, 외부에서 수신한 영상 데이터를 데이터 구동 회로(130)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 변환하여 변환된 영상 데이터를 데이터 구동 회로(130)로 출력한다.
컨트롤러(140)는, 영상 데이터와 함께 수직 동기 신호(VSYNC), 수평 동기 신호(HSYNC), 입력 데이터 인에이블 신호(DE: Data Enable), 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호를 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 수신한 각종 타이밍 신호를 이용하여 각종 제어 신호를 생성하고 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
일 예로, 컨트롤러(140)는, 게이트 구동 회로(120)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 시프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 구동 회로(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 시프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호의 시프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 구동 회로(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)의 데이터 샘플링 스타트 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적 회로(SDIC) 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 구동 회로(130)의 출력 타이밍을 제어한다.
디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 패널(110), 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나, 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 관리 집적 회로를 더 포함할 수 있다.
각각의 서브픽셀(SP)은, 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차에 의해 정의되는 영역일 수 있으며, 광을 발산하는 소자를 포함하여 적어도 하나 이상의 회로 소자가 배치될 수 있다.
일 예로, 디스플레이 장치(100)가 유기발광 디스플레이 장치인 경우, 다수의 서브픽셀(SP)에 유기 발광 다이오드(OLED)와 여러 회로 소자가 배치될 수 있다. 여러 회로 소자에 의해 서브픽셀(SP)에 배치된 유기 발광 다이오드(OLED)로 공급되는 전류를 제어함으로써, 영상 데이터에 대응하는 밝기를 각각의 서브픽셀(SP)이 나타낼 수 있다.
또는, 경우에 따라, 서브픽셀(SP)에 발광 다이오드(LED)나, 마이크로 발광 다이오드(μLED)가 배치될 수도 있다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 회로 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED)와 발광 소자(ED)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(DRT)가 배치될 수 있다. 또한, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED)와 구동 트랜지스터(DRT) 이외에 적어도 하나 이상의 회로 소자가 더 배치될 수 있다.
일 예로, 도 2에 도시된 예시와 같이, 서브픽셀(SP)에 스위칭 트랜지스터(SWT), 센싱 트랜지스터(SENT) 및 스토리지 캐패시터(Cstg)가 더 배치될 수 있다.
따라서, 도 2에 도시된 예시는, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED) 이외에 3개의 박막 트랜지스터와 1개의 캐패시터가 배치되는 3T1C 구조를 예시로 나타내나, 본 발명의 실시예들은 이에 한정되지는 아니한다. 또한, 도 2에 도시된 예시는, 박막 트랜지스터가 모두 N 타입인 경우를 예시로 나타내나, 경우에 따라, 서브픽셀(SP)에 배치된 박막 트랜지스터는 P 타입일 수도 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는, 데이터 라인(DL)과 제1 노드(N1) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다. 제1 노드(N1)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드일 수 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는, 게이트 라인(GL)으로 공급되는 스캔 신호에 의해 제어될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 전압(Vdata)이 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 인가되는 것을 제어할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 구동 전압 라인(DVL)과 발광 소자(ED) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 구동 전압 라인(DVL)을 통해 제1 구동 전압(EVDD)이 구동 트랜지스터(DRT)의 제3 노드(N3)로 공급될 수 있다. 제1 구동 전압(EVDD)은 고전위 구동 전압일 수 있다. 제3 노드(N3)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 제1 노드(N1)에 인가되는 전압에 의해 제어될 수 있다. 그리고, 구동 트랜지스터(DRT)는, 발광 소자(ED)로 공급되는 구동 전류를 제어할 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 기준 전압 라인(RVL)과 제2 노드 (N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 기준 전압 라인(RVL)을 통해 기준 전압(Vref)이 제2 노드(N2)로 공급될 수 있다. 제2 노드(N2)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 게이트 라인(GL)으로 공급되는 스캔 신호에 의해 제어될 수 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)를 제어하는 게이트 라인(GL)은 스위칭 트랜지스터(SWT)를 제어하는 게이트 라인(GL)과 동일할 수도 있고, 다를 수도 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)는, 제2 노드(N2)에 기준 전압(Vref)이 인가되는 것을 제어할 수 있다. 또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는, 경우에 따라, 기준 전압 라인(RVL)을 통해 제2 노드(N2)의 전압을 센싱하는 것을 제어할 수 있다.
스토리지 캐패시터(Cstg)는, 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 스토리지 캐패시터(Cstg)는, 제1 노드(N1)에 인가된 데이터 전압(Vdata)을 한 프레임 동안 유지시켜줄 수 있다.
발광 소자(ED)는, 제2 노드(N2)와 제2 구동 전압(EVSS)이 공급되는 라인 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 구동 전압(EVSS)은, 저전위 구동 전압일 수 있다.
발광 소자(ED)는, 구동 트랜지스터(DRT)를 통해 공급되는 구동 전류에 따른 밝기를 나타낼 수 있다.
따라서, 서브픽셀(SP)이 영상 데이터에 따른 밝기를 나타내기 위하여, 구동 트랜지스터(DRT)와 발광 소자(ED)의 정확한 제어가 요구된다. 그러나, 구동 시간이 증가할수록 열화로 인해 구동 트랜지스터(DRT)나 발광 소자(ED)의 특성치가 변경될 수 있다.
일 예로, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압이나 이동도가 변동될 수 있다. 또한, 발광 소자(ED)의 문턱 전압이 변동될 수 있다.
이러한 구동 트랜지스터(DRT)나 발광 소자(ED)의 특성치의 변동으로 인해 서브픽셀(SP) 간에 특성치의 편차가 발생할 수 있다. 서브픽셀(SP) 간의 특성치의 편차는 디스플레이 패널(110)을 통해 나타나는 이미지의 품질에 영향을 줄 수 있다.
본 발명의 실시예들은, 서브픽셀(SP)에 배치된 회로 소자의 열화로 인한 디스플레이 품질의 저하를 방지할 수 있는 방안을 제공한다.
본 명세서에서, 서브픽셀(SP)의 특성치의 변화량은 서브픽셀(SP)의 열화량을 의미할 수 있다. 그리고, 서브픽셀(SP)의 열화량은 서브픽셀(SP)에 배치된 구동 트랜지스터(DRT) 및 발광 소자(ED) 중 적어도 하나의 특성치의 변화량을 의미할 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 컨트롤러(140)의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 컨트롤러(140)는, 외부로부터 영상 데이터 신호를 수신하고 데이터 구동 회로(130)로 구동 데이터 신호를 출력하는 데이터 신호 출력부(141)를 포함할 수 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 신호 출력부(141) 이외에 보상부(142), 누적부(143), 센싱 구동부(144), 보정부(145) 및 메모리(146) 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.
일 예로, 컨트롤러(140)는, 데이터 신호 출력부(141), 보상부(142), 누적부(143) 및 메모리(146)를 포함할 수 있다. 또는, 컨트롤러(140)는, 전술한 구성에 부가하여 센싱 구동부(144) 및 보정부(145)를 더 포함할 수도 있다. 또한, 메모리(146)는, 컨트롤러(140)의 내부에 배치될 수 있으나, 컨트롤러(140)의 외부에 위치할 수도 있다.
데이터 신호 출력부(141)는, 외부로부터 디지털 형태의 영상 데이터 신호를 수신할 수 있다. 데이터 신호 출력부(141)는, 영상 데이터 신호에 기초하여 디지털 형태의 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
구동 데이터 신호는 영상 데이터 신호와 동일한 데이터를 나타내는 신호일 수 있다. 또는, 구동 데이터 신호는 영상 데이터 신호에 보상 값(Vcomp)이 적용된 데이터를 나타내는 신호일 수 있다.
여기서, 보상 값(Vcomp)은 서브픽셀(SP)의 열화에 따른 보상을 위한 값으로서, 영상 데이터 신호에 보상 값(Vcomp)이 적용된 구동 데이터 신호가 데이터 구동 회로(130)로 출력될 수 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 보상 값(Vcomp)이 반영된 구동 데이터 신호에 따라 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)을 생성하고 서브픽셀(SP)로 공급할 수 있다. 따라서, 보상 값(Vcomp)이 반영된 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급됨으로써, 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 보상이 이루어질 수 있다.
보상 값(Vcomp)은, 메모리(146)에 저장된 값일 수 있다. 그리고, 보상 값(Vcomp)은, 메모리에 저장된 스트레스 값(Vstr)과 대응하는 값일 수 있다.
스트레스 값(Vstr)은, 서브픽셀(SP)의 열화량을 나타내는 값일 수 있다. 그리고, 스트레스 값(Vstr)은, 디스플레이 장치(100)의 구동에 따라 누적되어 증가하는 값일 수 있다.
일 예로, 데이터 신호 출력부(141)가 구동 데이터 신호를 출력하면, 누적부(143)가 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)을 갱신할 수 있다.
구동 데이터 신호에 따른 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급되며, 서브픽셀(SP)로 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 따라 서브픽셀(SP)의 열화가 진행될 수 있으므로, 구동 데이터 신호에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화량을 나타내는 스트레스 값(Vstr)을 갱신할 수 있다.
보상부(142)는, 영상 데이터 신호를 수신하면, 영상 데이터 신호에 따라 구동될 서브픽셀(SP)의 스트레스 값(Vstr)을 메모리(146)에서 확인할 수 있다. 또한, 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 메모리(146)에서 확인할 수 있다.
일 예로, 메모리(146)는, 서브픽셀(SP)의 열화량을 나타내는 스트레스 값(Vstr)을 저장할 수 있다. 또한, 메모리(146)는, 스트레스 값(Vstr)과 보상 값(Vcomp) 사이의 대응 관계를 나타내는 룩 업 테이블(LUT)을 저장할 수 있다.
따라서, 보상부(142)가 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 확인하여 확인된 보상 값(Vcomp)을 데이터 신호 출력부(141)로 전송할 수 있다.
데이터 신호 출력부(141)는, 외부로부터 수신한 영상 데이터 신호와 보상부(142)로부터 수신한 보상 값(Vcomp)에 기초한 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
누적부(143)가 구동 데이터 신호에 따른 스트레스 값(Vstr)을 갱신하고, 보상부(142)가 갱신되는 스트레스 값(Vstr)에 기초한 보상 값(Vcomp)을 데이터 신호 출력부(141)로 전달함으로써, 서브픽셀(SP)의 열화에 따른 보상이 실시간으로 수행될 수 있다.
따라서, 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 위한 별도의 구동을 디스플레이 패널(110)에서 수행하지 않고, 컨트롤러(140)에 의해 출력되는 구동 데이터 신호에 기초한 실시간 보상이 수행될 수 있다. 그리고, 실시간 보상을 통해 서브픽셀(SP)의 열화에 따른 디스플레이 품질 저하를 방지할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들은, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고, 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정해줄 수 있다. 따라서, 구동 데이터 신호에 따라 누적되는 스트레스 값(Vstr)에 기초한 보상이 장기간 수행될 경우 발생할 수 있는 보상 값(Vcomp)의 오차를 보정할 수 있다.
일 예로, 컨트롤러(140)의 센싱 구동부(144)는, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하는 구동을 제어할 수 있다. 서브픽셀(SP)의 열화량은, 일 예로, 데이터 구동 회로(130)에 의해 센싱될 수 있다.
센싱 구동부(144)는, 데이터 구동 회로(130)를 제어하고, 데이터 구동 회로(130)가 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하여 획득한 열화량 센싱 데이터를 데이터 구동 회로(130)로부터 수신할 수 있다.
컨트롤러(140)의 보정부(145)는, 센싱 구동부(144)에 의해 열화량 센싱 데이터를 수신하면, 열화량 센싱 데이터에 기초하여 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정할 수 있다.
여기서, 스트레스 값(Vstr)은, 보정부(145)에 의해 증가하거나 감소될 수 있다.
보정부(145)에 의해 조정되는 스트레스 값(Vstr)의 변동량은 열화량 센싱 데이터와 기저장된 스트레스 값(Vstr) 사이의 차이에 비례할 수 있다.
그리고, 보정부(145)에 의해 조정되는 스트레스 값(Vstr)의 변동량은 구동 데이터 신호의 출력에 따라 갱신되는 스트레스 값(Vstr)의 증가량보다 클 수 있다.
즉, 실시간 보상이 수행되는 기간에 구동 데이터 신호의 출력에 따라 스트레스 값(Vstr)은 점차적으로 증가할 수 있다. 그리고, 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱이 수행되고 열화량 센싱 데이터가 수신되면, 열화량 센싱 데이터에 따라 스트레스 값(Vstr)이 큰 폭으로 증가하거나 감소될 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예들은, 구동 데이터 신호에 기초한 스트레스 값(Vstr)을 이용하여 서브픽셀(SP)의 열화를 실시간으로 보상하며, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하여 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정함으로써 열화 보상의 정확도를 향상시킬 수 있다.
여기서, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하는 시기는 주기적일 수도 있고, 비주기적일 수도 있다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)가 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 수행하는 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 디스플레이 장치(100)는, T1 구간에 구동 데이터 신호에 따른 스트레스 값(Vstr)에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 실시간으로 수행할 수 있다. 서브픽셀(SP)의 열화량이 직접 센싱되지 않고 보상이 수행되므로, T1 구간에 수행되는 실시간 보상을 “센싱리스 보상”이라 할 수 있다.
또한, T2 구간과 T3 구간에 구동 데이터 신호에 따른 스트레스 값(Vstr)에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화 보상이 실시간으로 수행될 수 있다.
여기서, T1 구간과 T2 구간 사이, T2 구간과 T3 구간 사이에서 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱과 열화량 센싱에 따른 스트레스 값(Vstr)의 조정이 수행될 수 있다.
일 예로, T1 구간에서 실시간 보상을 수행하고, 스트레스 값(Vstr)이 기설정된 값 이상이 되면 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱이 수행될 수 있다.
스트레스 값(Vstr)이 기설정된 값과 같은 일정한 값 이상이 되면, 디스플레이 장치(100)의 구동 시간이 일정 수준 이상 누적된 것으로 볼 수 있다. 그리고, 구동 시간이 일정 수준 이상이면 구동 데이터 신호에 따른 스트레스 값(Vstr)의 오차가 존재할 수 있다.
따라서, 디스플레이 장치(100)는, 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)이 기설정된 값 이상이 되면, 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱을 수행하고 기저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정할 수 있다.
또는, 경우에 따라, 디스플레이 장치(100)는, 구동 시간이 기설정된 시간 이상이 되면 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱과 스트레스 값(Vstr) 조정을 수행할 수도 있다.
디스플레이 장치(100)는, T1 구간과 T2 구간 사이에서 열화량 센싱과 스트레스 값(Vstr) 조정을 수행한 후, 주기적으로 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수 있다.
또는, 디스플레이 장치(100)는, T2 구간에서 디스플레이 구동에 따라 증가하는 스트레스 값(Vstr)의 증가량이 일정한 값 이상이 되면, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수도 있다.
즉, 디스플레이 장치(100)는, 스트레스 값(Vstr)에 기초한 실시간 보상을 수행하면서, 서브픽셀(SP)의 열화량을 주기적 또는 비주기적으로 센싱할 수 있다.
그리고, 디스플레이 장치(100)는, 스트레스 값(Vstr)의 절대적인 값, 스트레스 값(Vstr)의 변화량, 디스플레이 장치(100)의 구동 시간 중 적어도 하나에 기초하여 설정되는 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고 기저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정할 수 있다.
이와 같이, 디스플레이 장치(100)는, 실시간 보상이 수행되는 기간에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하지 않고 서브픽셀(SP)의 열화를 보상할 수 있다. 그리고, 디스플레이 장치(100)는, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고, 기저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정할 수 있다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)가 서브픽셀(SP)의 열화를 실시간으로 보상하는 방식의 예시를 나타낸 도면이다. 도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)가 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하는 방식의 예시를 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)과 보상 값(Vcomp) 사이의 대응 관계의 예시를 나타낸다.
디스플레이 장치(100)의 구동이 시작되면, 컨트롤러(140)에서 출력되는 구동 데이터 신호에 따라 메모리(146)에 저장되는 스트레스 값(Vstr)이 증가될 수 있다.
그리고, 컨트롤러(140)는, 구동 데이터 신호를 출력할 때, 저장된 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)이 반영된 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
일 예로, 컨트롤러(140)는, 누적된 스트레스 값(Vstr)이 제1 스트레스 값(Vstr1)인 경우, 제1 스트레스 값(Vstr1)에 대응하는 제1 보상 값(Vcomp1)이 반영된 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
이후, 디스플레이 장치(100)의 구동에 따라, 누적된 스트레스 값(Vstr)이 제2 스트레스 값(Vstr2)이 되면, 컨트롤러(140)는, 제2 스트레스 값(Vstr2)에 대응하는 제2 보상 값(Vcomp2)이 반영된 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
즉, 디스플레이 장치(100)는, 도 5에 도시된 스트레스 값(Vstr)과 보상 값(Vcomp) 사이의 대응 관계와 실시간으로 갱신되는 스트레스 값(Vstr)에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 실시간 보상을 수행할 수 있다.
디스플레이 장치(100)는, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고 스트레스 값(Vstr)을 조정할 수 있다.
도 6을 참조하면, 서브픽셀(SP)의 열화량의 센싱은, 일 예로, 데이터 구동 회로(130)에 의해 수행될 수 있다. 데이터 구동 회로(130)는, 센싱부(131)를 포함할 수 있다. 센싱부(131)는, 아날로그 디지털 컨버터를 포함할 수 있으며, 서브픽셀(SP)에 배치된 기준 전압 라인(RVL)을 통해 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수 있다.
또는, 경우에 따라, 센싱부(131)는, 데이터 구동 회로(130)에 포함되지 않고 별도로 배치되는 구성일 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 센싱이 가능한 기간에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수 있다. 여기서, 서브픽셀(SP)의 열화량은, 구동 트랜지스터(DRT) 및 발광 소자(ED) 중 적어도 하나의 문턱 전압이나 이동도가 변화된 정도를 의미할 수 있다. 그리고, 본 명세서에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압을 센싱하는 경우를 예시로 설명한다.
일 예로, 데이터 구동 회로(130)는, 프레임 기간 중 블랭크 기간에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수 있다. 또는, 데이터 구동 회로(130)는, 디스플레이 장치(100)가 턴-온 되고 일정한 시간이 경과하기 전이나, 디스플레이 장치(100)가 턴-오프 된 후 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수 있다.
센싱이 수행되는 기간에 게이트 라인(GL)을 통해 턴-온 레벨의 스캔 신호가 공급될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 된 상태에서, 데이터 구동 회로(130)는, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하기 위해 데이터 라인(DL)을 통해 센싱용 데이터 전압(Vsen)을 공급할 수 있다. 그리고, 기준 전압 라인(RVL)을 통해 기준 전압(Vref)이 공급될 수 있다.
이후, 게이트 라인(GL)을 통해 턴-오프 레벨의 스캔 신호가 공급될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-오프 상태가 되므로, 제1 노드(N1)과 제2 노드(N2)는 플로팅 될 수 있다. 그리고, 제2 노드(N2)는 제1 노드(N1)와 커플링되어 제2 노드(N2)의 전압이 증가할 수 있다.
일정한 시간이 경과하면, 제2 노드(N2)의 전압이 포화될 수 있다. 제2 노드(N2)가 포화 상태가 되면, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 되고 기준 전압 라인(RVL)을 통해 제2 노드(N2)의 전압이 센싱될 수 있다.
그리고, 제2 노드(N2)의 전압과 센싱용 데이터 전압(Vsen) 사이의 차이를 이용하여 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압이 센싱될 수 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압을 센싱한 데이터를 컨트롤러(140)로 전송할 수 있다. 그리고, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)로부터 수신한 열화량 센싱 데이터에 기초하여 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하여 획득한 열화량 센싱 데이터에 따른 보상 값(Vcomp)을 산출하고, 산출된 보상 값(Vcomp)에 대응하는 스트레스 값(Vstr)을 확인할 수 있다. 그리고, 컨트롤러(140)는, 기저장된 스트레스 값(Vstr)을 확인된 스트레스 값(Vstr)으로 조정함으로써, 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정하여 저장한 후, 보정된 스트레스 값(Vstr)을 디스플레이 구동에 따라 증가시키며 실시간 보상을 수행할 수 있다.
도 7 내지 도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)가 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 수행하는 방식의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다. 도 7 내지 도 9는 디스플레이 장치(100)가 실시간 보상을 수행하는 중 스트레스 값(Vstr)을 보정하고, 다시 실시간 보상을 수행하는 방식의 예시를 나타낸다.
도 7 내지 도 9를 참조하면, 디스플레이 장치(100)의 컨트롤러(140)는, 디스플레이 장치(100)의 구동이 시작되면 메모리(146)에 기저장된 스트레스 값(Vstr)을 호출하고(①), 호출된 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 반영한 구동 데이터 신호를 출력할 수 있다. 따라서, 기저장된 스트레스 값(Vstr)에 기초하여 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 보상이 수행될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 디스플레이 장치(100)의 구동 시간이 누적되면 디스플레이 장치(100)의 구동 시간에 따라 스트레스 값(Vstr)을 증가시켜 메모리(146)에 저장할 수 있다(②). 즉, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)로 출력하는 구동 데이터 신호에 따라 스트레스 값(Vstr)을 증가시킬 수 있다.
컨트롤러(140)는, 구동 데이터 신호 출력 시 증가된 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 반영함으로써, 디스플레이 장치(100)의 구동에 따라 진행되는 서브픽셀(SP)의 열화를 실시간으로 보상할 수 있다(③).
컨트롤러(140)는, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량의 센싱을 구동할 수 있다(④).
기설정된 시기는, 디스플레이 장치(100)의 구동에 따라 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)이 기설정된 값 이상이 되는 시점일 수 있다. 또는, 서브픽셀(SP)의 열화량을 마지막으로 센싱한 이후 증가된 스트레스 값(Vstr)이 일정한 값 이상이 되는 시점일 수도 있다. 또는, 디스플레이 장치(100)의 구동 시간에 따라 주기적으로 설정된 시기일 수도 있다.
컨트롤러(140)가 서브픽셀(SP)의 열화량의 센싱을 구동하는 기간은 프레임 기간 중 블랭크 기간일 수 있다. 또는, 디스플레이 장치(100)가 턴-온 된 후 또는 디스플레이 장치(100)가 턴-오프 된 후 일정한 기간이 경과하기 전일 수도 있다.
컨트롤러(140)는, 서브픽셀(SP)의 열화량의 센싱을 구동할 수 있으며, 일 예로, 데이터 구동 회로(130)를 통해 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱함에 따라 획득된 열화량 센싱 데이터를 수신하면, 열화량 센싱 데이터에 기초하여 서브픽셀(SP)의 실제 열화에 따라 요구되는 센싱 보상 값(Vcomp_sen)을 산출할 수 있다. 그리고, 컨트롤러(140)는, 산출된 센싱 보상 값(Vcom_sen)에 기초하여 기저장된 최종 스트레스 값(Vstr_fin)을 보정 스트레스 값(Vstr_cal)으로 조정할 수 있다(⑤).
컨트롤러(140)가, 열화량 센싱 데이터에 기초하여 스트레스 값(Vstr)을 조정함으로써, 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정할 수 있다.
여기서, 컨트롤러(140)는, 기저장된 최종 스트레스 값(Vstr_fin)에 대응하여 저장된 보상 값(Vcomp)을 초기화할 수 있다.
즉, 스트레스 값(Vstr)의 오차는 보정되고, 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)은 초기화되어 조정된 스트레스 값(Vstr)에 기초한 보상이 새롭게 수행될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 디스플레이 장치(100)의 구동이 다시 시작되면, 조정된 보정 스트레스 값(Vstr_cal)을 호출한다(①'). 컨트롤러(140)는, 디스플레이 장치(100)가 구동됨에 따라, 호출된 보정 스트레스 값(Vstr_cal)부터 스트레스 값(Vstr)을 증가시킨다(②').
컨트롤러(140)는, 보정 스트레스 값(Vstr_cal)부터 다시 증가하는 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 반영하여 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 보상을 수행할 수 있다(③').
따라서, 컨트롤러(140)는, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱을 다시 수행하기 전까지 오차가 보정된 스트레스 값(Vstr)에 기초한 실시간 보상을 수행할 수 있다.
또한, 스트레스 값(Vstr)의 오차는 디스플레이 패널(110)에 배치된 서브픽셀(SP)마다 상이할 수 있다. 따라서, 스트레스 값(Vstr)의 오차에 따른 보정량은 서브픽셀(SP)마다 상이할 수 있다.
일 예로, 도 7을 참조하면, 디스플레이 패널(110)의 A 지점에 위치하는 서브픽셀(SP)의 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정한 경우를 예시적으로 나타낸다.
컨트롤러(140)는, 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱으로부터 산출한 센싱 보상 값(Vcomp_sen)에 기초하여, 메모리(146)에 기저장된 최종 스트레스 값(Vstr_fin)을 보정 스트레스 값(Vstr_cal)으로 조정할 수 있다. 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)의 오차가 보정되므로, 스트레스 값(Vstr)은 큰 폭으로 변동될 수 있다.
다른 예로, 도 8을 참조하면, 디스플레이 패널(110)의 B 지점에 위치하는 서브픽셀(SP)의 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정한 경우를 예시적으로 나타낸다.
컨트롤러(140)가 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고, 기저장된 최종 스트레스 값(Vstr_fin)을 센싱 보상 값(Vcomp_sen)에 기초하여 보정 스트레스 값(Vstr_cal)으로 조정할 수 있다. 여기서, B 지점에 위치하는 서브픽셀(SP)의 스트레스 값(Vstr)의 보정량은 A 지점에 위치하는 서브픽셀(SP)의 스트레스 값(Vstr)의 보정량보다 작을 수 있다.
디스플레이 패널(110)의 영역마다 열화 정도가 상이하므로, 구동 데이터 신호에 따라 누적된 스트레스 값(Vstr)의 오차도 상이할 수 있다. 따라서, A 지점과 B 지점에서 스트레스 값(Vstr)의 보정량이 상이할 수 있다.
다른 예로, 도 9를 참조하면, 컨트롤러(140)에 의한 스트레스 값(Vstr)의 보정에 따라, 메모리(146)에 기저장된 최종 스트레스 값(Vstr_fin)이 보정 스트레스 값(Vstr_cal)으로 조정되며, 스트레스 값(Vstr)이 감소될 수도 있다.
도 9는 디스플레이 패널(110)의 C 지점에 위치하는 서브픽셀(SP)의 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정한 경우를 예시적으로 나타낸다.
컨트롤러(140)가 열화량 센싱 데이터에 기초하여 산출한 센싱 보상 값(Vcomp_sen)이 최종 스트레스 값(Vstr_fin)에 대응하는 보상 값(Vcomp)보다 작을 수 있다.
컨트롤러(140)는, 메모리(146)에 저장된 최종 스트레스 값(Vstr_fin)을 최종 스트레스 값(Vstr_fin)보다 작은 보정 스트레스 값(Vstr_cal)으로 조정할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 디스플레이 장치(100)의 구동에 따라 감소된 보정 스트레스 값(Vstr_cal)부터 스트레스 값(Vstr)을 증가시키며 실시간 보상을 수행할 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 구동에 따라 누적되는 스트레스 값(Vstr)을 이용하여 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 실시간 보상을 수행할 수 있다.
또한, 기설정된 시기에 수행하는 서브픽셀(SP)의 열화량 센싱에 기초하여 스트레스 값(Vstr)의 오차를 보정함으로써, 센싱을 최소화하며 정확도가 높은 실시간 보상을 수행할 수 있다.
도 10과 도 11은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)가 서브픽셀(SP)의 열화 보상을 수행하는 과정을 나타낸 도면이다.
도 10은 컨트롤러(140)가 실시간 보상 중 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고 스트레스 값(Vstr)을 보정하는 과정의 예시를 나타낸다. 그리고, 도 11은 스트레스 값(Vstr)이 보정된 후 다시 실시간 보상을 수행하는 과정의 예시를 나타낸다.
도 10을 참조하면, 컨트롤러(140)는, 외부로부터 영상 데이터 신호를 수신하고(S1000), 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)과 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 확인한다(S1010).
컨트롤러(140)는, 보상 값(Vcomp)을 적용한 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력한다(S1020).
컨트롤러(140)는, 구동 데이터 신호를 출력함에 따라 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)을 갱신한다(S1030). 즉, 보상 값(Vcomp)이 서브픽셀(SP)로 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 반영되므로, 보상 값(Vcomp)이 반영된 구동 데이터 신호에 기초하여 스트레스 값(Vstr)을 갱신한다.
컨트롤러(140)는, 전술한 과정과 같이 서브픽셀(SP)의 열화를 실시간으로 보상하며, 서브픽셀(SP)의 열화량의 센싱을 수행할 조건을 만족하는지 여부를 확인한다(S1040).
일 예로, 스트레스 값(Vstr) 또는 디스플레이 장치(100)의 구동 시간이 기설정된 값 이상이거나, 마지막 열화량 센싱 이후 스트레스 값(Vstr)의 증가량 또는 디스플레이 장치(100)의 구동 시간이 일정한 값 이상일 경우, 센싱 조건을 만족하는 것으로 판단할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)를 제어하며 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱한다(S1050).
컨트롤러(140)는, 열화량 센싱 데이터에 기초하여 기저장된 스트레스 값(Vstr)을 조정한다(S1060). 스트레스 값(Vstr)의 조정에 의해 메모리(146)에 저장된 스트레스 값(Vstr)은 큰 폭으로 증가하거나 감소될 수 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 메모리(146)에 기저장된 보상 값(Vcomp)을 초기화할 수 있다(S1070).
도 11을 참조하면, 컨트롤러(140)는, 스트레스 값(Vstr)을 보정한 후 영상 데이터 신호를 수신한다(S1100).
컨트롤러(140)는, 열화량 센싱 이후 조정된 스트레스 값(Vstr)에 대응하는 보상 값(Vcomp)을 확인하고(S1110), 확인된 보상 값(Vcomp)을 적용한 구동 데이터 신호를 출력한다(S1120). 따라서, 오차가 보정된 스트레스 값(Vstr)에 기초한 보상이 이루어질 수 있다.
컨트롤러(140)는, 구동 데이터 신호를 출력함에 따라 조정된 스트레스 값(Vstr)부터 스트레스 값(Vstr)을 갱신한다(S1130). 따라서, 스트레스 값(Vstr)의 오차가 보정된 상태에서 다시 실시간 보상을 수행할 수 있다.
전술한 본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 장치(100)의 구동에 따라 스트레스 값(Vstr)을 증가시키고 스트레스 값(Vstr)에 기초한 열화 보상을 수행함으로써, 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하지 않고 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 보상을 실시간으로 수행할 수 있다.
또한, 기설정된 시기에 서브픽셀(SP)의 열화량을 센싱하고 열화량 센싱 데이터에 기초하여 스트레스 값(Vstr)을 보정함으로써, 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 실시간 보상을 높은 정확도로 수행할 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 디스플레이 장치 110: 디스플레이 패널
120: 게이트 구동 회로 130: 데이터 구동 회로
131: 센싱부 140: 컨트롤러
141: 데이터 신호 출력부 142: 보상부
143: 누적부 144: 센싱 구동부
145: 보정부 146: 메모리

Claims (17)

  1. 다수의 서브픽셀들;
    상기 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로;
    상기 데이터 구동 회로로 구동 데이터 신호를 출력하는 컨트롤러; 및
    상기 컨트롤러의 내부 또는 외부에 위치하고, 상기 다수의 서브픽셀들의 열화량을 나타내는 스트레스 값을 저장하는 메모리를 포함하고,
    상기 컨트롤러가 상기 구동 데이터 신호를 출력하면 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 증가하고, 기설정된 시기에 상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되면 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 조정되는 디스플레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되면 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 증가 또는 감소하는 디스플레이 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱된 후 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값의 변동량은 상기 컨트롤러가 상기 구동 데이터 신호를 출력할 때 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값의 증가량보다 큰 디스플레이 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되기 전 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 제1 값이고, 상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱된 후 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 제2 값이며,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱된 후 상기 컨트롤러가 상기 구동 데이터 신호를 출력하면 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 상기 제2 값부터 증가하는 디스플레이 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱될 때 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 기설정된 값 이상인 디스플레이 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 스트레스 값에 대응하는 보상 값이 상기 메모리에 저장된 디스플레이 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되면 상기 메모리에 저장된 상기 보상 값은 초기화되는 디스플레이 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 구동 데이터 신호는 상기 컨트롤러가 외부로부터 수신한 영상 데이터 신호와 상기 메모리에 저장된 상기 보상 값에 기초하여 결정되는 디스플레이 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 열화량이 센싱되면 상기 구동 데이터 신호는 상기 영상 데이터 신호와 상기 조정된 스트레스 값에 대응하는 상기 보상 값에 기초하여 결정되는 디스플레이 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 서브픽셀들의 열화량은 상기 다수의 서브픽셀들 각각에 포함된 발광 소자 및 구동 트랜지스터 중 적어도 하나의 열화량인 디스플레이 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 구동 회로는,
    상기 기설정된 시기에 상기 다수의 서브픽셀들 중 적어도 하나의 서브픽셀로 센싱용 데이터 전압을 공급하고 상기 서브픽셀의 열화량을 센싱하는 디스플레이 장치.
  12. 다수의 서브픽셀들;
    상기 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로;
    상기 데이터 구동 회로로 구동 데이터 신호를 출력하고, 기설정된 시기에 상기 데이터 구동 회로로부터 열화량 센싱 데이터를 수신하는 컨트롤러; 및
    상기 컨트롤러가 상기 구동 데이터 신호를 출력하면 증가하고, 상기 컨트롤러가 상기 열화량 센싱 데이터를 수신하면 조정되는 스트레스 값을 저장하는 메모리
    를 포함하는 디스플레이 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 컨트롤러가 상기 열화량 센싱 데이터를 수신한 후 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 증가하고, 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값의 증가량은 상기 컨트롤러가 상기 구동 데이터 신호를 출력할 때 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값의 증가량보다 큰 디스플레이 장치.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 컨트롤러가 상기 열화량 센싱 데이터를 수신한 후 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 감소하는 디스플레이 장치.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 컨트롤러가 상기 열화량 센싱 데이터를 수신할 때 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 기설정된 값 이상인 디스플레이 장치.
  16. 데이터 구동 회로로 구동 데이터 신호를 출력하는 데이터 신호 출력부; 및
    상기 데이터 신호 출력부가 상기 구동 데이터 신호를 출력하면 증가하는 스트레스 값을 저장하는 메모리를 포함하고,
    상기 데이터 구동 회로로부터 열화량 센싱 데이터를 수신하면 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값은 증가하거나 감소되는 컨트롤러.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 구동 데이터 신호는 상기 열화량 센싱 데이터를 수신하기 전 상기 메모리에 저장된 상기 스트레스 값에 대응하는 보상 값에 기초하여 결정되고, 상기 열화량 센싱 데이터를 수신한 후 상기 조정된 스트레스 값에 대응하는 보상 값에 기초하여 결정되는 컨트롤러.
KR1020200134194A 2020-10-16 2020-10-16 컨트롤러 및 디스플레이 장치 KR20220050472A (ko)

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