KR20180055964A - 금속박 두께 측정장치 - Google Patents

금속박 두께 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20180055964A
KR20180055964A KR1020160152716A KR20160152716A KR20180055964A KR 20180055964 A KR20180055964 A KR 20180055964A KR 1020160152716 A KR1020160152716 A KR 1020160152716A KR 20160152716 A KR20160152716 A KR 20160152716A KR 20180055964 A KR20180055964 A KR 20180055964A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
unit
thickness
processing unit
sensor coil
Prior art date
Application number
KR1020160152716A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101921462B1 (ko
Inventor
이충기
Original Assignee
유진인스텍코어 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 유진인스텍코어 주식회사 filed Critical 유진인스텍코어 주식회사
Priority to KR1020160152716A priority Critical patent/KR101921462B1/ko
Publication of KR20180055964A publication Critical patent/KR20180055964A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101921462B1 publication Critical patent/KR101921462B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
    • G01B7/085Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means for measuring thickness of coating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/18Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

본 발명은 투사코일과 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 와류신호센싱부; 송신신호를 와류신호센싱부에 입력되는 제1신호와 기준신호 측정을 위한 제2신호로 분배하는 송신신호분배부; 상기 와류신호센싱부의 출력신호를 처리하는 제1신호처리부 및 상기 제2신호를 처리하는 제2신호처리부를 포함하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부의 출력신호를 검출하는 신호검출기;를 포함하는 금속박 두께 측정장치를 제공한다.

Description

금속박 두께 측정장치{THICKNESS MEASURING METHOD OF MATAL FILM}
본 발명은 금속박 두께 측정장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 각종 금속박 소재의 두께를 현장에서 실시간으로 신속하고 정확하게 측정할 수 있고, 나아가 금속박의 두께 측정시 외부 환경 조건(특히 온도)에 따라 두께 측정기용 센서 및 두께 측정기 구성품에 의한 경년변화(Long-term drift)에 기인된 두께 측정 값에 대한 오류를 근본적으로 해소할 수 있는 금속박 두께 측정장치에 관한 것이다.
전해동박, 알루미늄포일, 강판, 서스 등의 금속박 소재는 그 제조과정에서 정밀한 두께 관리가 요구되어진다.
이들 금속박의 형성과정 혹은 박막이 형성된 이후 사후 관리단계에서 이들 막의 두께가 적정한 수준에 있는지 측정되어질 수 없다면, 소재가 불량으로 판정될 경우 제품 전체를 폐기하거나 다시 금속박을 생산하여야 하는 문제가 있고, 연속적으로 금속박이 생산되는 상황에서는 시료의 채취가 불가능하며, 시료의 채취를 위해 생산라인을 정지하여야 하므로 생산에 지장을 초래하는 문제가 있다.
현재 대부분의 공정에서 이들 금속박의 두께는 레이저 감지형 내지 정전기 유도형 감지기를 이용하고 있으나, 이들 방식은 두께 측정시 정밀도에 한계가 지적된다.
더욱이 금속박의 두께 측정시 외부 환경 조건(특히 온도)에 따라 두께 측정기용 센서 및 두께 측정기 구성품에 의해 경년변화(Long-term drift)가 일어나서 측정되는 두께 값에 오류가 발생되어지는데, 현재까지의 모든 두께 측정기들은 이러한 오류를 근본적으로 해소할 대책이 마련되어 있지 않은 실정이다.
본 발명은 상기한 바와 같이 종래기술이 가지는 문제를 해결하기 위해 제안된 것으로,
그 목적은 각종 금속박 소재의 두께를 현장에서 실시간으로 신속하고 정확하게 측정할 수 있고, 나아가 금속박의 두께 측정시 외부 환경 조건(특히 온도)에 따라 두께 측정기용 센서 및 두께 측정기 구성품에 의한 경년변화(Long-term drift)에 기인된 두께 측정 값에 대한 오류를 근본적으로 해소할 수 있는 금속박 두께 측정장치를 제공함에 있다.
상기한 바와 같은 본 발명의 기술적 과제는 다음과 같은 수단에 의해 달성되어진다.
(1) 투사코일과 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 와류신호센싱부; 송신신호를 와류신호센싱부에 입력되는 제1신호와 기준신호 측정을 위한 제2신호로 분배하는 송신신호분배부; 상기 와류신호센싱부의 출력신호를 처리하는 제1신호처리부 및 상기 제2신호를 처리하는 제2신호처리부를 포함하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부의 출력신호를 검출하는 신호검출기;를 포함하는 금속박 두께 측정장치.
(2) 상기 (1)에 있어서,
와류신호센싱부는 측정 투사코일과 측정 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 측정 신호센싱부 및 기준 투사코일과 기준 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 기준용 신호센싱부로 이루어진 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
(3) 상기 (2)에 있어서,
상기 제1신호처리부는 주신호처리부와 예비신호처리부로 이루어지고, 주신호처리부에서 기준 센서코일의 출력신호를 신호처리하는 동안 예비신호처리부는 측정 센서코일의 출력신호를 처리하도록 기준 센서코일 및 측정 센서코일의 후단에 수신신호의 경로를 제어하는 경로제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
(4) 상기 (1)에 있어서,
롤 타입의 금속박편의 두께를 연속적으로 측정하기 위한 엔코더가 더 포함된 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
(5) 상기 (1)에 있어서,
제1신호처리부는 증폭부, 가변필터부 및 레벨조정기를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
(6) 상기 (1)에 있어서,
제2신호처리부는 증폭부, 위상조정부 및 레벨조정기를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
본 발명에 의하면, 각종 금속박 소재의 두께를 현장에서 실시간으로 신속하고 정확하게 측정할 수 있고, 나아가 금속박의 두께 측정시 외부 환경 조건(특히 온도)에 따라 두께 측정기용 센서 및 두께 측정기 구성품에 의한 경년변화(Long-term drift)에 기인된 두께 측정 값에 대한 오류를 근본적으로 해소할 수 있게 하는 효과를 제공한다.
도 1은 본 발명에 따른 금속박 두께측정기의 전체 구성블록도이다.
도 2는 본 발명에 따른 경로제어부의 세부 구성도이다.
도 3은 본 발명에 따른 두께측정용 센서부의 세부구성을 보여준다.
도 4는 본 발명에 따른 연속두께 측정으로 위한 엔코더를 포함하는 시스템의 개략도를 보여준다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시 형태를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 첨부된 도면과 함께 이하에 개시될 상세한 설명은 본 발명의 예시적인 실시형태를 설명하고자 하는 것이며, 본 발명이 실시될 수 있는 유일한 실시형태를 나타내고자 하는 것이 아니다. 이하의 상세한 설명은 본 발명의 완전한 이해를 제공하기 위해서 구체적 세부사항을 포함한다. 그러나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 이러한 구체적 세부사항 없이도 실시될 수 있음을 안다.
몇몇 경우, 본 발명의 개념이 모호해지는 것을 피하기 위하여 공지의 구조 및 장치는 생략되거나, 각 구조 및 장치의 핵심기능을 중심으로 한 블록도 형식으로 도시될 수 있다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함(comprising 또는 including)"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부", "…기", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 또한, "일(a 또는 an)", "하나(one)", "그(the)" 및 유사 관련어는 본 발명을 기술하는 문맥에 있어서(특히, 이하의 청구항의 문맥에서) 본 명세서에 달리 지시되거나 문맥에 의해 분명하게 반박되지 않는 한, 단수 및 복수 모두를 포함하는 의미로 사용될 수 있다.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명의 실시예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
이하, 본 발명의 내용을 보다 상세하게 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 금속박 두께 측정장치는,
투사코일과 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 와류신호센싱부; 송신신호를 와류신호센싱부에 입력되는 제1신호와 기준신호 측정을 위한 제2신호로 분배하는 송신신호분배부; 상기 와류신호센싱부의 출력신호를 처리하는 제1신호처리부 및 상기 제2신호를 처리하는 제2신호처리부를 포함하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부의 출력신호를 검출하는 신호검출기;를 포함한다.
본 발명에서 측정의 대상이 되는 「측정체」는 금속으로 이루어진 박으로, 예를 들어, 정지상태 혹은 이동 중인 상태에서 박의 두께가 측정되어질 것이 요구되어지는 중간적인 제품 내지 최종 제품의 어떠한 것도 포함한다. 따라서, 동박, 알루미늄박, 강판, 서스 등 모두 본 발명의 「측정체」에 포함될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 금속박 두께측정기의 전체 구성블록도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 경로제어부의 세부 구성도이며, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 두께측정용 센서부의 세부구성을 보여주고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 연속두께 측정으로 위한 엔코더를 포함하는 시스템의 개략도를 보여주고 있다.
먼저, 파형 발생부(70)는 수 KHz에서 수십KHz 두께측정용 구형파신호를 발생시킨다. 두께 측정기 측정 주파수는 PC(260)에서 선택이 가능하다. 두께 측정기 주파수는 금속 특성에 따라 최적의 주파수를 설정하여 운용된다.
제1가변필터부(80)는 바람직하게는 두께 측정용 구형파신호를 사인(SINE) 파형으로 변환시키는 저역 통과(LPF) 필터로 통과 대역 주파수를 가변할 수 있는 가변 필터부이다.
송신용 전력증폭부(85)는 바람직하게는 본 발명의 와류신호센싱부를 구성하는 측정용 투사코일(110) 및 기준 투사코일(120)용 두께 측정용 송신신호를 공급하는 전력증폭기이다.
송신신호분배부(90)는 상기 송신용 전력증폭부(85)에서 발생시킨 증폭신호를 측정용 투사코일(110)과 기준 투사코일(120)에 필요한 송신신호를 균일하게 분배해주는 역할을 수행하고, 또한 제1증폭부(140)에 사용되는 기준 신호의 측정을 위한 신호도 분배해주는 역할을 수행한다.
도 3에 도시한 바와 같이, 측정용 투사코일(110)과 측정용 센서코일(130) 사이에 측정체(111)(예로, 두께 측정이 요구되는 금속박 또는 롤)이 삽입될 경우 측정용 투사코일(110)에서 송신된 신호가 측정체(111)에 의해 와류신호(Eddy Current)가 발생되고, 이 신호는 측정용 센서 코일(130)에 의해 센서신호로 감지된다.
측정용 센서코일(130)에서 검출되는 센서신호는 측정을 요하는 금속박의 두께에 따라 송신용 전력증폭부(85)에서 보낸 기준 신호와 대비할 때, 소정의 신호레벨차 및 위상차가 발생된다.
제1증폭부(140)는 송신신호 분배부(90)에서 보낸 기준 신호를 수신 및 증폭하여 제1검출기(230)가 정상적으로 동작되도록 증폭 및 버퍼 역할을 수행한다.
위상 조정부(150)는 제1증폭부(140)에서 증폭한 기준 신호의 위상지연을 조정하는 역할을 수행한다. 위상 조정부(150)는 바람직하게는 측정체(111)와 같은 피 측정체용 금속박이 없을 때 0 CAL로 미리 정해진 위상차로 조정한다.
상기와 같이 위상 조정부(150)를 거친 기준 신호는 제1레벨조정기(160)를 통해 제1검출기(230)에 최적의 신호로 입력된다.
제2증폭부(170)는 측정용 센서코일(130)에서 검출된 작은 센서신호를 증폭하여 안정적으로 제1검출기(230)가 동작 되도록 증폭 및 버퍼 역할을 수행한다.
제2가변필터부(180)는 상기 제2증폭부(170)에서, 제3가변필터부(210)는 제3증폭부(200)에서 증폭한 센서신호에서 잡음을 제거하고 검출에 필요한 신호만 통과하는 필터로 온도변화에 따른 진폭 및 위상 특성변화가 최소화 되는 방식의 필터로 설계된다.
PC(260)에서 운용자가 선택한 수 KHz에서 수십 KHz 두께측정용 고주파 신호를 선택할 시 제2가변필터부(180)는 송신 주파수에 맞추어 대역 통과 주파수를 가변하여 필요한 센서신호만 통과 가능하도록 동작한다.
제2가변필터부(180)를 통과한 센서신호는 제2레벨조정기(190)를 통해 제1검출기(230)에 최적의 신호로 입력된다.
본 발명에서 상기 제1검출기(230)는 2개의 입력신호의 레벨과 위상을 비교하는 검출기이다. 상기 제1검출기(230)의 첫 번째 입력신호는 송신신호 분배부(90)에서 보낸 기준 신호의 위상지연 및 최적의 신호 레벨로 조정되어 제1검출기(230)의 첫 번째 input에 입력되고, 두 번째 신호는 측정용 센서코일(130)에서 검출된 센서신호를 증폭 및 필터 처리한 최적의 신호가 제1검출기(230)에 두 번째 iuput에 입력된다.
측정용 센서코일(130) 또는 기준 센서코일(120)에서 검출되는 센서신호는 금속박(101, 111)의 두께에 따라 송신용 전력증폭부(85)에서 보낸 기준신호와의 레벨차 및 위상차가 발생되는데 제1검출기(230) 및 제2검출기(240)는 상기 기준신호와 센서신호와의 레벨차와 위상차을 아날로그 신호로 출력한다.
신호변환부(250)는 제1검출기(230)에 출력되는 레벨차 및 위상차 변화에 대한 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환시키고, 두께 측정기 동작에 필요한 PC(260) 제어용 디지털 I/0 신호를 처리한다. PC(260)는 측정체(111)의 두께 측정에 필요한 프로그램을 수행한다.
두께 측정 운용 전에 PC(260)에서 금속박에 대해 사전 두께보정(Calibration)을 완료하면 PC(260)는 두께별로 검출기 진폭레벨과 위상값을 분석하여 각각의 두께별 데이터로 가상의 두께측정 근사함수를 구한다.
본 발명에 따른 두께 측정기를 정상적으로 가동할 경우 측정할 금속박에서 검출한 센서의 진폭 및 위상값을 두께측정 최적함수를 이용하여 금속박의 두께를 정확하게 계산할 수 있다.
엔코더(270)는 금속박판 롤의 두께를 연속적으로 시험할 경우 두께 측정시 엔코더(270)에서 발생되는 펄스를 PC(260)가 신호변환부(250)를 통해 수신하여 박판 길이(π x R(지름) x 초당 펄스 수)별 두께를 연속적으로 측정하여 PC(260) 모니터 화면에 거리별 두께를 표시한다.
연속된 금속박판이 아니 독립된 금속박의 두께 측정시에는 상기 엔코더(270)는 사용되지 않는다.
상기 본 발명에서 기준 투사코일(100)과 기준 센서코일은(120)은 기준 금속박(101)을 측정하기 위한 것이다. 금속박 두께 측정시 외부 환경 조건(특히 온도)에 따라 두께 측정기용 센서 및 두께 측정기 구성품에 의해 경년변화(Long-term drift)가 일어나서 측정되는 두께 값에 오류가 발생된다. 두께 측정기에서 가장 난해한 기술이 경년 변화에 의한 두께 오류를 극소화 시키는 기술이다.
경년변화에 의해 두께오류를 극소화 시키는 방법은 제1검출기(230)에서 기준 투사코일(100)과 기준 센서코일(120) 사이에 탑재된 기준 금속박(101)을 대상으로 검출한 제1검출기(230)의 검출값과 측정용 투사코일(110)과 측정용 센서코일(130) 사이에서 측정용 금속박(111)을 대상으로 검출한 제1검출기(230)의 검출값과의 차 값을 계산하면 두께 오류가 상쇄되어 경년변화에 의한 두께오류가 제거된다.
이 방식은 두께측정을 절대값에서 상대값으로 전환하여 두께를 측정하면서 드리프트(Drift)에 의한 오류를 제거하는 기술이다.
도 2에 도시한 바와 같이, 경로 제어부(280)는 기준 센서코일(120)의 신호와 측정용 센서코일(130)의 신호를 주 신호처리부인 제1신호처리부(170~190)와 예비 신호처리부인 제2신호처리부(200~220)에 수신신호 경로를 제어해주는 역할을 수행한다.
제1신호처리부(170~190) 및 제1검출기(230)는 경로 제어부(280)를 통해 측정용 센서코일(130)의 센싱값을 계속 읽다가 PC(260)의 두께 프로그램 제어를 통해 단주기로 기준 센서코일(120)의 센싱값을 주기적으로 읽는다.
제2신호처리부(200~220) 및 제2검출기(240)는 기준용 금속박의 센싱값을 제1신호처리부(170~190) 및 제1검출기(230)에서 단주기로 읽는 동안 주 신호처리부(170~190)를 대신하여 측정용 센서코일(130)의 센싱값을 읽어서 두께 측정값이 끊어짐(Seamless)이 없이 연속적으로 두께측정이 가능하도록 동작한다.
기준 센서코일(120)과 측정용 센서코일(130)의 센싱 주기는 장비에 내장된 온도센서에 의해서 온도 변화도가 심할 경우 기준 센서코일(120)을 읽는 주기를 짧게 하고, 온도변화가 완만할 경우 주기를 길게 하여 온도에 따른 주기조정을 통해 드리프트(Drift)를 최소화 시킨다.
제1검출기(230)는 제1신호처리부(170~190)의 신호와 제1레벨조정기(160)를 거친 신호 상호간 레벨차 및 위상차 출력을 아날로그 신호로 출력하고, 제2검출기(240)는 제2신호처리부(200~220)의 신호와 제1레벨조정기(160)를 거친 신호 상호간 레벨차 및 위상차 출력을 아날로그 신호로 출력한다.
신호변환부(250)는 제1검출기(230) 및 제2검출기에서 아날로그 레벨로 출력되는 레벨차 및 위상차 출력신호를 디지털 데이터로 변환하여 PC(260)에 전송한다.
PC(260)에는 두께측정 이전에 실시한 표준 금속박별로 두께보정(Calibration)을 실시하여 금속박 두께 측정용 근사 함수값이 PC(260)에 자동으로 저장되어 있다.
신호변환부(250)에서 PC(260)로 보낸 레벨차 및 위상차 출력 디지털 데이터는 두께 근사 함수값을 이용하여 금속박 두께를 계산하여 PC(260) 모니터에 측정한 두께 데이터를 모니터에 표시하면서 데이터를 디스크 메모리에 저장한다.
도 4에 도시한 바와 같이, 엔코더(270)는 롤 타입의 금속박편 롤의 두께를 연속적으로 측정할 때 거리별 두께를 측정할 수 있도록 1 회전 마다 수천 펄스가 출력되어 P/C(260)에서 엔코더 펄스 수를 카운트하여 금속박편롤 이동거리를 계산하면서 거리별 두께 데이터를 모니터에 표시하면서 데이터를 디스크 메모리에 저장한다.
한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시 예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
70: 파형 발생부
80: 제1가변필터부
85: 송신용 전력증폭부
90: 송신신호분배부
110: 측정용 투사코일
120: 기준 투사코일
130: 측정용 센서코일
140: 제1증폭부
150: 위상 조정부
160: 제1레벨조정기
170: 제2증폭부
180: 제2가변필터부
190: 제2레벨조정기
200: 제3증폭부
210: 제3가변필터부
220: 제3레벨조정기
230: 제1검출기
240: 제2검출기
250: 신호변환부
260: PC
270: 엔코더

Claims (6)

  1. 투사코일과 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 와류신호센싱부; 송신신호를 와류신호센싱부에 입력되는 제1신호와 기준신호 측정을 위한 제2신호로 분배하는 송신신호분배부; 상기 와류신호센싱부의 출력신호를 처리하는 제1신호처리부 및 상기 제2신호를 처리하는 제2신호처리부를 포함하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부의 출력신호를 검출하는 신호검출기;를 포함하는 금속박 두께 측정장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    와류신호센싱부는 측정 투사코일과 측정 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 측정 신호센싱부 및 기준 투사코일과 기준 센서코일이 한쌍으로 측정체의 상하부에 각각 설치된 기준용 신호센싱부로 이루어진 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 제1신호처리부는 주신호처리부와 예비신호처리부로 이루어지고, 주신호처리부에서 기준 센서코일의 출력신호를 신호처리하는 동안 예비신호처리부는 측정 센서코일의 출력신호를 처리하도록 기준 센서코일 및 측정 센서코일의 후단에 수신신호의 경로를 제어하는 경로제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    롤 타입의 금속박의 두께를 연속적으로 측정하기 위한 엔코더가 더 포함된 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    제1신호처리부는 증폭부, 가변필터부 및 레벨조정기를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.
  6. 제 1항에 있어서,
    제2신호처리부는 증폭부, 위상조정부 및 레벨조정기를 포함하는 것을 특징으로 하는 금속박 두께 측정장치.

KR1020160152716A 2016-11-16 2016-11-16 금속박 두께 측정장치 KR101921462B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160152716A KR101921462B1 (ko) 2016-11-16 2016-11-16 금속박 두께 측정장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160152716A KR101921462B1 (ko) 2016-11-16 2016-11-16 금속박 두께 측정장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180055964A true KR20180055964A (ko) 2018-05-28
KR101921462B1 KR101921462B1 (ko) 2018-11-23

Family

ID=62451584

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160152716A KR101921462B1 (ko) 2016-11-16 2016-11-16 금속박 두께 측정장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101921462B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102571043B1 (ko) * 2022-12-23 2023-08-28 (주)제이에스티앤랩 공기예열기용 실갭 측정센서

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030050874A (ko) * 2001-12-19 2003-06-25 주식회사 포스코 박판에 대한 비접촉식 두께 측정 장치 및 그 방법
JP2010510509A (ja) * 2006-11-23 2010-04-02 アーベーベー・アーベー ディメンション計測システム用の信号処理方法及び装置
US7701205B2 (en) * 2003-12-31 2010-04-20 Abb Ab Method and device for measuring the thickness and the electrical conductivity of electrically conducting sheets
JP2011185732A (ja) * 2010-03-08 2011-09-22 Kawasaki Heavy Ind Ltd 変位量検出装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3658504B2 (ja) 1998-07-09 2005-06-08 株式会社日立製作所 表面層厚さ測定装置
CN102175133B (zh) 2011-02-25 2012-07-18 清华大学 全局金属膜厚度测量装置
KR101605004B1 (ko) * 2014-10-30 2016-03-21 주식회사 알투람 강판두께 및 스카핑 량 측정장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030050874A (ko) * 2001-12-19 2003-06-25 주식회사 포스코 박판에 대한 비접촉식 두께 측정 장치 및 그 방법
US7701205B2 (en) * 2003-12-31 2010-04-20 Abb Ab Method and device for measuring the thickness and the electrical conductivity of electrically conducting sheets
JP2010510509A (ja) * 2006-11-23 2010-04-02 アーベーベー・アーベー ディメンション計測システム用の信号処理方法及び装置
JP2011185732A (ja) * 2010-03-08 2011-09-22 Kawasaki Heavy Ind Ltd 変位量検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR101921462B1 (ko) 2018-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7877220B2 (en) Flowmeter
CN101957451B (zh) 放射线检查设备
GB2599259A (en) Compensation for air gap changes and temperature changes in a resonant phase detector
US4190804A (en) Signal-conditioning circuits
US20130307562A1 (en) Systems and methods for fft-based microwave distance sensing for a plumbing fixture
KR101921462B1 (ko) 금속박 두께 측정장치
JP5423705B2 (ja) 放射線検査装置
EP2754993B1 (en) Instrument and method for measuring coating thickness
US3938382A (en) Method and apparatus for detecting shape of flat products
JP4131843B2 (ja) チャタマーク検出装置
TWI636264B (zh) 非接觸型基板檢查裝置及其檢查方法
EP2799829B1 (en) Method of and calibration device for calibrating an adjustable mechanical pointer gauge
JP2021043176A (ja) 金属検出器
JPS62194475A (ja) 静止誘導機器の内部放電監視装置
EP0157997B1 (en) Programmable multi-channel tool monitor with multiple alarm limits and sensor taring
EP3388783B1 (en) Thickness measuring device
JP2004077349A (ja) 金属検出装置
JPS60230009A (ja) 放射線厚さ計
JPS59195166A (ja) 周波数粗測定方式
KR20150059425A (ko) 수도미터용 디지털 검출기의 보정 방법 및 그 디지털 검출기
KR20030043142A (ko) 휴대용 방사선 계측기및 그 계측방법
JPH05141944A (ja) 放射線厚さ計
JP3228132B2 (ja) 超音波探傷方法
SU1048323A1 (ru) Способ градуировки уровнемеров
JPH02115707A (ja) 放射線厚み計

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant