KR101746860B1 - 액정표시장치 및 그의 검사방법 - Google Patents

액정표시장치 및 그의 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101746860B1
KR101746860B1 KR1020100137129A KR20100137129A KR101746860B1 KR 101746860 B1 KR101746860 B1 KR 101746860B1 KR 1020100137129 A KR1020100137129 A KR 1020100137129A KR 20100137129 A KR20100137129 A KR 20100137129A KR 101746860 B1 KR101746860 B1 KR 101746860B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
pad
dummy
log wiring
electrically connected
Prior art date
Application number
KR1020100137129A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120075095A (ko
Inventor
유재현
민지숙
김윤오
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020100137129A priority Critical patent/KR101746860B1/ko
Publication of KR20120075095A publication Critical patent/KR20120075095A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101746860B1 publication Critical patent/KR101746860B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/133345—Insulating layers
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458—Terminal pads
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0404—Matrix technologies
    • G09G2300/0413—Details of dummy pixels or dummy lines in flat panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

액정표시장치가 개시된다.
본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 다수의 게이트라인과 다수의 데이터라인이 배열되어 화소 영역을 정의하는 액티브 영역과, 상기 액티브 영역의 가장자리에 형성되어 상기 다수의 게이트라인으로 스캔신호를 제공하는 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 전기적으로 접속되는 LOG 배선이 형성된 비표시영역 및 상기 비표시영역의 최외곽에 위치하는 검사 영역으로 구분되는 TFT 어레이 기판과, 상기 검사 영역에 형성되어 상기 LOG 배선으로 상기 LOG 배선의 단락 여부를 확인하는 검사 신호를 제공하는 검사 패드 및 상기 검사 패드와 일정 간격 이격되며 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 더미 패드를 포함한다.

Description

액정표시장치 및 그의 검사방법{Liquid Crystal Display device and Inspection Method thereof}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정표시장치 및 그의 검사방법에 관한 것이다.
정보화 사회가 급진전함에 따라 대량의 정보를 처리하고 이를 표시하는 디스플레이 분야가 나날이 발전해 가고 있다. 최근 들어 박형화, 경량화, 저소비전력화 등의 시대상에 부응하기 위하여 평판표시장치에 초점이 맞추어져 있다.
이러한 액정표시장치는 액정분자의 광학적 이방성과 분극 성질을 이용하는데, 이는 액정분자의 구조가 가늘고 길며 그 배열에 있어서 방향성을 띠는 선경각형(pretilt angle)을 갖고 있기 때문에 액정에 전압을 인가하면 액정분자가 갖는 선경사각을 변화시켜 액정분자의 배열 방향을 제어할 수 있다.
따라서, 액정표시장치는 액정층에 적절한 전압을 제어함으로써 그 액정분자의 배열 방향을 임의로 조절하여 액정의 분자배열을 변화시키고, 이러한 액정이 가지고 있는 광학적 이방성에 의하여 편광된 빛을 임의로 조절함으로써 원하는 화상 정보를 표현한다.
액정표시장치를 이루는 기본적인 소자인 액정패널은 상부의 컬러필터기판과 하부의 TFT 어레이 기판이 서로 대향하여 소정의 간격을 두고 이격되고 있고, 이러한 두 기판 사이에 액정분자로 포함하는 액정이 충진되어 있는 구조이다.
이때, 이러한 액정에 전압을 인가하는 전극은 컬러필터 기판에 위치하는 공통전극과 어레이 기판에 위치하는 화소전극이 되고, 이러한 두 개의 전극에 전압이 인가되면 그 인가되는 전압 차에 의하여 형성되는 상하의 수직선 전기장이 그 사이에 위치하는 액정분자의 방향을 제어하는 방식으로 사용된다.
물론 액정표시장치는 액정패널의 하부에 배치되고, 광원으로 이용되는 백라이트 장치, 그리고 액정패널 외곽에 위치하며 액정패널을 구동시키기 위한 구동부를 포함한다. 여기서, 구동부는 PCB(Printed Circuit Board)에 구현되고, 이러한 PCB는 액정패널의 게이트라인과 연결되는 게이트 PCB와, 데이터라인과 연결되는 데이터 PCB로 구분된다.
그리고 이들 각각의 PCB는 액정패널의 일측면에 형성되며 게이트라인과 연결된 게이트 패드부와, 통상적으로 게이트 패드가 형성된 일측면과 직교하는 상측면에 형성된 데이터라인과 연결된 데이터 패드부 각각에 TCP(Tape Carrier Package) 형태로서 실장된다.
그런데, 이러한 PCB를 게이트 및 데이터용으로 각각 게이트 패드부와 데이터 패드부에 실장하게 되면 그 부피가 커지게 되고, 그 무게 또한 증가하게 되므로 종래에는 게이트 또는 데이터 PCB에 실장되는 구동칩을 액정패널의 일면에만 실장하는 것을 특징으로 하는 GIP(Gate In Panel) 구조의 액정표시장치가 제안된 바 있다.
이러한 GIP 액정표시장치는 외부의 인쇄회로기판 상에서 상기 액정패널 상에 실장된 구동칩으로 신호 및 전압을 제공하기 위해 상기 액정패널의 비표시영역 상에 형성된 LOG(Line One Glass) 배선을 더 포함한다.
한편, 이러한 GIP 액정표시장치는 상기 LOG 배선의 불량 여부를 검사하기 위한 검사 공정에서 오토 프로브 장비로부터 제공된 검사 신호를 상기 LOG 배선으로 공급하기 위한 검사 패드를 포함한다. 상기 검사 패드는 상기 GIP 액정표시장치의 액정패널의 일측 가장자리에 형성되어 상기 LOG 배선에 대한 검사 공정이 끝난 후에 제거된다.
상기 검사 패드는 상기 오토 프로브 장비로부터 클럭신호와 같이 고전류/고전압의 신호들을 제공받는다. 이때, 상기 고전류/고전압의 신호들이 일정한 면적으로 제한된 검사 패드로 지속적으로 제공됨에 따라 상기 검사 패드의 불량이 발생하게 되어 상기 LOG 배선의 검사를 실시할 수 없는 경우를 초래하게 되었다.
본 발명은 LOG 배선의 불량 검사시에 사용되는 검사 패드와 전기적으로 접속되는 더미 패드를 구비함으로써 고전류/고전압의 신호들이 상기 검사 패드로 인가되어 상기 검사 패드가 파손되더라도 상기 더미 패드를 이용해서 상기 LOG 배선으로 고전류/고전압의 신호를 인가하여 상기 LOG 배선의 불량을 검출할 수 있는 액정표시장치 및 그의 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 다수의 게이트라인과 다수의 데이터라인이 배열되어 화소 영역을 정의하는 액티브 영역과, 상기 액티브 영역의 가장자리에 형성되어 상기 다수의 게이트라인으로 스캔신호를 제공하는 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 전기적으로 접속되는 LOG 배선이 형성된 비표시영역 및 상기 비표시영역의 최외곽에 위치하는 검사 영역으로 구분되는 TFT 어레이 기판과, 상기 검사 영역에 형성되어 상기 LOG 배선으로 상기 LOG 배선의 단락 여부를 확인하는 검사 신호를 제공하는 검사 패드 및 상기 검사 패드와 일정 간격 이격되며 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 더미 패드를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사방법은 다수의 게이트라인과 다수의 데이터라인이 배열되어 화소 영역을 정의하는 액티브 영역과, 상기 액티브 영역의 가장자리에 형성되어 상기 다수의 게이트라인으로 스캔신호를 제공하는 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 전기적으로 접속되는 LOG 배선이 형성된 비표시영역 및 상기 비표시영역의 최외곽에 위치하는 검사 영역으로 구분되는 TFT 어레이 기판과, 상기 검사 영역에 형성되어 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 검사 패드 및 상기 검사 패드와 일정 간격 이격되며 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 더미 패드를 포함하는 액정표시장치의 검사방법에 있어서, 상기 검사 패드로 검사 신호를 제공하는 단계와, 상기 검사 패드와 전기적으로 접속된 LOG 배선의 단락 여부를 판단하는 단계 및 상기 LOG 배선의 단락 여부 검사 후 상기 검사 패드 및 상기 더미 패드가 형성된 검사 영역을 제거하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치 및 그의 검사방법은 LOG 배선과 전기적으로 접속되어 상기 LOG 배선으로 검사 신호를 제공하는 검사 패드 및 상기 검사 패드와 전기적으로 접속되며 상기 검사 패드보다 면적이 큰 더미 패드를 TFT 어레이 기판 상에 형성함으로써, 고전류/고전압의 검사 신호의 인가로 인해 상기 검사 패드가 파손되더라도 상기 더미 패드를 이용해서 상기 LOG 배선으로 검사 신호를 인가함으로써 상기 LOG 배선의 불량을 검출할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다.
도 2는 도 1의 더미 패드 및 검사 패드가 형성된 TFT 어레이 기판의 일부를 상세히 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2의 더미 패드 및 검사 패드를 상세히 나타낸 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 다수의 게이트라인(GL)과 다수의 데이터라인(DL)이 배열되어 화소 영역(P)을 정의하는 액티브 영역(103)과, 상기 액티브 영역(103)의 가장자리에 형성되어 상기 다수의 게이트라인(GL)으로 스캔신호를 제공하는 게이트 구동부(110) 및 LOG 배선(140)이 형성된 비표시영역(101) 및 상기 비표시영역(101)의 최외곽에 위치하는 검사 영역(105)으로 구분되는 TFT 어레이 기판(100)을 제공한다.
상기 액티브 영역(103)은 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)에 의해 정의되는 화소영역(P) 마다 화상 신호에 따라 광투과량을 조정하는 액정셀(Clc)과, 상기 액정셀(Clc)을 구동하기 위한 박막트랜지스터(TFT)가 구성된다.
상기 박막트랜지스터(TFT)는 게이트라인(GL)으로부터 스캔신호가 입력되면 턴-온(turn-on) 되어 데이터라인(DL)의 화상신호를 액정셀(Clc)에 공급하고, 스캔신호가 입력되지 않으면 턴-오프(turn-off)되어 액정셀(Clc)에 충전된 화상 신호를 다음 프레임까지 유지한다.
상기 액정셀(Clc)은 상기 TFT 어레이 기판(100)과 상기 TFT 어레이 기판(100)에 마주보는 컬러필터 기판(도시하지 않음)에 각각 형성된 화소전극 및 공통전극과 두 전극 사이의 액정에 의해 정의된다.
상기 TFT 어레이 기판(100)은 상기 액정셀(Clc)에 병렬로 연결되어 상기 액정셀(Clc)에 충전된 화상 신호를 다음 화상 신호가 인가될 때까지 안정적으로 유지되게 하는 보조 용량부로 스토리지 캐패시터(Cst)를 더 포함한다.
상기 게이트 구동부(110)는 도시하지 않는 타이밍 컨트롤러로부터의 게이트 제어신호에 응답하여, 상기 LOG 배선(140)으로부터의 스캔신호를 다수의 게이트라인(GL)에 대응되게 공급한다. 이들 다수의 게이트라인(GL)은 순차적으로 1 수평동기신호의 기간씩 인에이블된다.
상기 검사 영역(105)은 상기 TFT 어레이 기판(100)의 최외곽에 위치하여 검사 공정이 완료된 후 마모 공정을 통해 제거된다. 상기 검사 영역(105)에 형성된 검사 패드(120)는 오토 프로브 장치(도시하지 않음)의 프로브 핀과 전기적으로 연결되어 상기 오토 프로브 장치로부터의 검사 신호가 제공받는다.
상기 검사 패드(120)는 상기 비표시영역(101)에 형성된 LOG 배선(140)과 전기적으로 연결된다.
이와 더불어, 상기 검사 영역(105)에는 상기 검사 패드(120)와 일정 간격이격된 더피 패드(130)가 형성된다. 상기 더미 패드(130)는 상기 검사 패드(120)와 마찬가지로 상기 비표시영역(101)에 형성된 LOG 배선(140)과 전기적으로 접속된다. 따라서, 상기 검사 패드(120)로 제공된 검사 신호가 상기 더미 패드(130)에도 제공된다.
상기 LOG 배선(140)은 외부에 위치하는 인쇄회로기판(도시하지 않음)으로부터 제공된 클럭신호와 같은 고전류/고전압의 신호를 상기 TFT 어레이 기판(100)에 형성된 게이트 구동부(110)로 공급한다. 상기 LOG 배선(140)에 의해 상기 게이트 구동부(110)로 신호가 공급됨에 따라 상기 LOG 배선(140)의 단락 여부를 검사 공정 중에서 반드시 확인해야 한다.
검사 공정 중에 상기 LOG 배선(140)의 단락 여부를 확인하기 위해 상기 검사 패드(120)를 상기 LOG 배선(140)과 전기적으로 연결되게 한다. 이어, 상기 검사 패드(120)로 검사 신호를 제공하여 상기 LOG 배선(140)으로 상기 검사 신호가 제공되는지를 확인한다.
이때, 상기 검사 패드(120)는 일정한 면적을 갖고 있어서 고전류/고전압의 검사 신호가 지속적으로 인가되면 파손될 수 있다. 상기 검사 패드(120)가 파손되더라도 상기 LOG 배선(140)과 전기적으로 접속된 더미 패드(130)를 이용하여 상기 LOG 배선(140)으로 검사 신호를 제공할 수 있다.
상기 더미 패드(130)는 상기 검사 패드(120)에 비해 면적이 크도록 제작된다.
도 2는 도 1의 더미 패드 및 검사 패드가 형성된 TFT 어레이 기판의 일부를 상세히 나타낸 도면이다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, TFT 어레이 기판(도 1의 100)의 비표시영역(101)에는 LOG 배선(140)이 형성되어 있고, 상기 비표시영역(101)의 최외곽에 위치하는 검사 영역(105)에는 상기 LOG 배선(140)과 전기적으로 접속된 검사 패드(120) 및 더미 패드(130)가 형성된다.
또한, 상기 비표시영역(101)에는 다수의 데이터라인(도 1의 DL)과 전기적으로 접속된 데이터 링크라인(160)이 형성되고, 상기 검사 영역(105)에는 상기 데이터 링크라인(160)의 단락 여부를 검사하는 데이터 검사 패드(150)가 형성된다.
상기 검사 패드(120)는 상기 LOG 배선(140)으로 저전위의 검사 신호를 제공하는 제1 검사핀(120a)과, 제1 내지 제4 클럭신호를 제공하는 제2 내지 제5 검사핀(120b ~ 120e) 및 고전위의 검사 신호를 제공하는 제6 검사핀(120f)으로 구성된다. 상기 제1 내지 제6 검사핀(120a ~ 120f) 각각은 상기 LOG 배선(140)과 일대일 대응되게 접속된다.
상기 더미 패드(130)도 상기 LOG 배선(140)으로 저전위의 검사 신호를 제공하는 제1 더미핀(130a)과, 제1 내지 제4 클럭신호는 제공하는 제2 내지 제5 더미핀(130b ~ 130e) 및 고전위의 검사 신호를 제공하는 제6 더미핀(130f)으로 구성된다. 상기 제1 내지 제6 더미핀(130a ~ 130f) 각각은 상기 LOG 배선(140)과 일대일 대응되게 접속된다.
상기 더미 패드(130)의 제1 내지 제6 더미핀(130a ~ 130f) 각각은 서로 동일한 면적을 갖으며, 상기 제1 내지 제6 검사핀(120a ~ 120f)의 면적보다 크게 설계된다.
상기 검사 영역(105)에서 상기 검사 패드(120)의 제1 검사핀(120a)과 상기 더미 패드(130)의 제6 더미핀(130f)은 일정간격 이격된다.
이와 같이, 오토 프로브 장치로부터 제공된 검사 신호가 상기 검사 패드(120)로 인가되면 상기 LOG 배선(140) 및 상기 더미 패드(130)에도 상기 검사 신호가 인가된다. 따라서, 상기 검사 패드(120)로 고전류/고전압의 검사 신호가 지속적으로 인가되어 상기 검사 패드(120)가 파손되더라도 상기 검사 패드(120)보다 면적이 커서 상기 검사 신호에 의한 저항이 작은 더미 패드(130)를 이용하여 상기 LOG 배선(140)으로 검사 신호를 공급할 수 있다. 그 결과 상기 LOG 배선(140)의 불량 여부를 검사할 수 있다.
상기 LOG 배선(140)에 대한 불량 검사가 완료되면 상기 검사 패드(120) 및 더미 패드(130)가 형성된 검사 영역(105)은 마모 공정에서 제거된다.
도 3은 도 2의 더미 패드 및 검사 패드를 상세히 나타낸 도면이다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 검사 패드(120) 및 더미 패드(130)는 이중 레이어로 구성된다.
즉, 상기 검사 패드(120)는 제1 금속층(121)과, 다수의 제2 컨택홀(H2)을 구비한 절연층 및 상기 제2 컨택홀(H2)을 통해 상기 제1 금속층(121)과 전기적으로 접속된 제2 금속층(123)으로 구성된 이중 레이어로 형성된다.
마찬가지로, 상기 더미 패드(130)는 상기 제1 금속층(121)과 동일 공정으로 형성된 제1 더미 금속층(131)과, 다수의 제1 컨택홀(H1)을 구비한 절연층 및 상기 제1 컨택홀(H1)을 통해 상기 제1 더미 금속층(121)과 전기적으로 접속된 제2 더미 금속층(133)으로 구성된 이중 레이어로 형성된다.
상기 검사 패드(120) 및 더미 패드(130)가 이중 레이어로 형성됨에 따라 상기 검사 패드(120) 및 더미 패드(130)의 저항을 최소화할 수 있다.
상기 더미 패드(130)의 제1 더미 금속층(131)의 높이(A)는 500㎛ 정도이고, 폭(B)은 450㎛ 정도이며, 상기 제2 더미 금속층(133)의 폭(C)은 400㎛ 정도이다. 이때, 상기 더미 패드(130)와 검사 패드(120)는 대략 15mm 이상의 간격으로 이격되어 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적인 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
100:TFT 어레이 기판 101:비표시영역
103:액티브 영역 105:검사 영역
110:게이트 구동부 120:검사 패드
120a ~ 120f:제1 내지 제6 검사핀 130:더미 패드
130a ~ 130f:제1 내지 제6 더미핀 140:LOG 배선
150:데이터 검사 패드 160:데이터 링크라인

Claims (9)

  1. 다수의 게이트라인과 다수의 데이터라인이 배열되어 화소 영역을 정의하는 액티브 영역과, 상기 액티브 영역의 가장자리에 형성되어 상기 다수의 게이트라인으로 스캔신호를 제공하는 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 전기적으로 접속되는 LOG 배선이 형성된 비표시영역 및 상기 비표시영역의 최외곽에 위치하는 검사 영역으로 구분되는 TFT 어레이 기판;
    상기 검사 영역에 형성되어 상기 LOG 배선으로 상기 LOG 배선의 단락 여부를 확인하는 검사 신호를 제공하는 검사 패드; 및
    상기 검사 영역에 형성되어 상기 검사 패드와 일정 간격 이격되며 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 더미 패드를 포함하며,
    상기 검사 패드는 상기 LOG 배선과 일대일 대응되게 접속되는 다수의 검사핀으로 구성되며, 상기 더미 패드는 상기 LOG 배선과 일대일 대응되게 접속되는 다수의 더미핀으로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 더미 패드의 폭은 상기 검사 패드의 폭보다 크도록 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 검사 패드 및 더미 패드는 이중 레이어로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 더미 패드는 제1 더미 금속층과, 다수의 컨택홀을 구비한 절연층 및 상기 컨택홀을 통해 상기 제1 더미 금속층과 전기적으로 접속되는 제2 더미 금속층을 포함하는 이중 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 검사 패드 및 더미 패드가 위치하는 검사 영역은 상기 LOG 배선으로 검사 신호를 제공하여 상기 LOG 배선의 단락 여부를 검사하는 공정이 완료된 후에 마모 공정에서 제거되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 검사 패드 및 더미 패드가 이격된 일정 간격은 15mm 이상인 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  7. 다수의 게이트라인과 다수의 데이터라인이 배열되어 화소 영역을 정의하는 액티브 영역과, 상기 액티브 영역의 가장자리에 형성되어 상기 다수의 게이트라인으로 스캔신호를 제공하는 게이트 구동부 및 상기 게이트 구동부와 전기적으로 접속되는 LOG 배선이 형성된 비표시영역 및 상기 비표시영역의 최외곽에 위치하는 검사 영역으로 구분되는 TFT 어레이 기판과, 상기 검사 영역에 형성되어 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 검사 패드 및 상기 검사 영역에 형성되어 상기 검사 패드와 일정 간격 이격되며 상기 LOG 배선과 전기적으로 접속된 더미 패드를 포함하며, 상기 검사 패드는 상기 LOG 배선과 일대일 대응되게 접속되는 다수의 검사핀으로 구성되며, 상기 더미 패드는 상기 LOG 배선과 일대일 대응되게 접속되는 다수의 더미핀으로 구성되는 액정표시장치의 검사방법에 있어서,
    상기 검사 패드로 검사 신호를 제공하는 단계;
    상기 검사 패드와 전기적으로 접속된 LOG 배선의 단락 여부를 판단하는 단계; 및
    상기 LOG 배선의 단락 여부 검사 후 상기 검사 패드 및 상기 더미 패드가 형성된 검사 영역을 제거하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사방법.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 검사 영역을 제거하는 단계는 마모 공정에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사방법.
  9. 제7 항에 있어서,
    상기 더미 패드의 폭은 상기 검사 패드의 폭보다 크도록 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사방법.
KR1020100137129A 2010-12-28 2010-12-28 액정표시장치 및 그의 검사방법 KR101746860B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100137129A KR101746860B1 (ko) 2010-12-28 2010-12-28 액정표시장치 및 그의 검사방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100137129A KR101746860B1 (ko) 2010-12-28 2010-12-28 액정표시장치 및 그의 검사방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120075095A KR20120075095A (ko) 2012-07-06
KR101746860B1 true KR101746860B1 (ko) 2017-06-28

Family

ID=46709134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100137129A KR101746860B1 (ko) 2010-12-28 2010-12-28 액정표시장치 및 그의 검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101746860B1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102028978B1 (ko) * 2013-01-31 2019-10-07 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법
KR102335815B1 (ko) 2014-12-08 2021-12-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN108121122B (zh) * 2017-12-28 2020-12-18 友达光电（昆山）有限公司 一种显示装置
CN117037727B (zh) * 2023-08-31 2024-05-28 惠科股份有限公司 显示调节方法、电子纸显示面板及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120075095A (ko) 2012-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100392575B1 (ko) 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
US9188822B2 (en) Chip on glass type LCD device including testing thin film transistors, testing lines and testing pads and inspecting method of the same
US8975905B2 (en) Display apparatus with reduced number of test lines for array test process and method of testing the same
US20120161805A1 (en) Display device and method of testing the same
JP2008171000A (ja) 表示パネル、その検査方法、及びその製造方法
KR20170000884A (ko) 표시장치와 그 검사 방법
US8982293B2 (en) Display apparatus and method of measuring liquid crystal capacitance
KR101550251B1 (ko) 표시 패널의 테스트 방법 및 이를 수행하기 위한 테스트 장치
KR20040059670A (ko) 액정표시패널의 검사용 범프 구조
KR101746860B1 (ko) 액정표시장치 및 그의 검사방법
JP2016218243A (ja) 表示装置
KR101585253B1 (ko) 액정표시장치
KR20120075096A (ko) 액정표시장치 및 그의 검사 방법
KR101649220B1 (ko) 액정표시장치의 검사장치
KR102296073B1 (ko) 액정 표시 장치
KR20070044684A (ko) 평판 표시장치
KR102078994B1 (ko) 액정표시장치 및 이의 검사방법
KR20170029761A (ko) 표시패널과 그 정전기 방전 방법
KR20070063310A (ko) 신호 라인 검사 패드를 구비한 액정 표시 패널 및 이를포함한 액정 표시 장치
KR20070120385A (ko) 어레이 기판, 이를 이용한 액정표시장치 및 어레이 기판의제조방법
KR20150078440A (ko) 디스플레이 장치의 검사 방법
KR20130054678A (ko) 표시장치
KR101192050B1 (ko) 평판표시장치의 검사방법 및 장치
KR101981113B1 (ko) 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법
JP3898037B2 (ja) 液晶表示パネルの点灯表示検査方法及び点灯表示検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant