KR20140087585A - 편광 필름 검사 장치 - Google Patents

편광 필름 검사 장치 Download PDF

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Abstract

편광 필름 검사 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 편광 필름 검사 장치는, 빛을 발생시키는 광원, 투과축이 수직하게 상호 교차된 편광 필름에 광원에서 발생시킨 빛을 조사하는 조사부, 조사부의 반대편에서 편광 필름을 촬영하는 촬영부, 광원에서 발생시킨 빛을 조사부로 전달하는 광 전달 부재, 광원과 광 전달 부재 및 광 전달 부재와 조사부를 각각 연결하는 연결부, 및 연결부에 형성되고, 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 적어도 하나를 차단하는 파장 차단 필터를 포함한다.

Description

편광 필름 검사 장치{APPARATUS FOR INSPECTING POLARIZING FILM}
본 발명의 실시예는 편광 필름 검사 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 편광 필름의 블랙 모드를 검사할 수 있는 편광 필름 검사 장치에 관한 것이다.
편광 필름은 빛을 특정 방향으로 편광시키기 위한 것이다. 편광 필름은 예를 들어, 액정 표시 장치(LCD)에서 액정셀의 양면에 점착되어 액정 패널을 이루는데 사용된다. 이론상으로, 편광 필름은 편광 필름 2개를 직교 상태로 겹쳐 놓았을 때(즉, 2개의 편광 필름의 투과축이 서로 수직하도록 겹쳐 놓았을 때) 편광 필름을 통과하는 빛이 없어야 한다. 이 경우, 편광 필름을 촬영한 영상은 빛이 차단되어 까맣게 표시되며, 이를 편광 필름의 블랙 모드(Black Mode)라고 한다.
일반적으로, 편광 필름의 블랙 모드 상태는 일측에 설치된 광원에서 직교 상태로 겹쳐 놓은 2개의 편광 필름에 빛을 조사하면, 타측에 설치된 카메라가 편광 필름을 촬영하여 검사하게 된다. 그런데, 광원에서 조사되는 빛에는 가시광선뿐만 아니라 적외선 및 자외선이 포함되어 있어 편광 필름의 블랙 모드를 촬영한 영상이 까맣게 나오지 않고 하얗게 나온다는 문제점이 있다.
즉, 편광 필름은 일반적으로 가시광선 영역의 빛을 편광시키도록 제조된다. 따라서, 광원에서 조사되는 빛에 적외선 및 자외선이 포함되어 있으면, 2개의 편광 필름을 직교 상태로 겹쳐 놓더라도 적외선 및 자외선 영역의 빛은 차단하지 못하고 통과하게 되며, 그로 인해 편광 필름의 블랙 모드를 촬영한 영상이 하얗게 나오게 된다. 이 경우, 편광 필름의 블랙 모드 자체를 검사할 수 없으며, 편광 필름의 블랙 모드를 통해 편광 필름에 존재하는 결함을 검출 할 수도 없다는 문제점이 있다.
구체적으로, 편광 필름의 블랙 모드 상태에서는 이론적으로 빛이 편광 필름을 통과하지 못하기 때문에, 편광 필름을 촬영한 영상 전체가 까맣게 나와야 하지만, 편광 필름을 제조하는 과정에서 편광 필름에 결함(예를 들어, 염료의 불균일한 염착, 접착 불량, 표면 스크래치, 이물질 등)이 존재하는 경우, 빛이 100% 차단되지 못하여 편광 필름을 촬영한 영상에 밝기 차이가 발생하게 된다. 그런데, 편광 필름의 블랙 모드를 촬영한 영상 자체가 하얗게 나오는 경우에는 이러한 편광 필름의 결함을 검출할 수 없게 된다.
본 발명의 실시예는 편광 필름의 블랙 모드를 검사 할 수 있는 편광 필름 검사 장치를 제공하고자 한다.
1. 본 발명의 일 실시예에 따른 편광 필름 검사 장치는, 빛을 발생시키는 광원; 투과축이 수직하게 상호 교차된 편광 필름에 상기 광원에서 발생시킨 빛을 조사하는 조사부; 상기 조사부의 반대편에서 상기 편광 필름을 촬영하는 촬영부; 상기 광원에서 발생시킨 빛을 상기 조사부로 전달하는 광 전달 부재; 상기 광원과 상기 광 전달 부재 및 상기 광 전달 부재와 상기 조사부를 각각 연결하는 연결부; 및 상기 연결부에 형성되고, 상기 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 적어도 하나를 차단하는 파장 차단 필터를 포함한다.
2. 1에서, 상기 광 전달 부재는, 광 파이버이고, 상기 연결부는, 광 파이버 어댑터인 것을 특징으로 한다.
3. 1에서, 상기 연결부는, 상기 광원과 상기 광 전달 부재의 일단을 연결하는 제1 연결부 및 상기 광 전달 부재의 타단과 상기 조사부를 연결하는 제2 연결부를 포함하며, 상기 파장 차단 필터는, 상기 제1 연결부에 형성되고 상기 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 어느 하나를 차단하는 제1 파장 차단 필터 및 상기 제2 연결부에 형성되고 상기 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 다른 하나를 차단하는 제2 파장 차단 필터를 포함한다.
4. 1에서, 상기 촬영부는, 적외선 차단 필터를 포함하고, 상기 파장 차단 필터는, 상기 광원이 발생시킨 빛에서 자외선 영역을 차단한다.
본 발명의 실시예에 의하면, 파장 차단 필터를 통해 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 및 자외선 영역을 차단함으로써, 편광 필름을 촬영한 영상이 까맣게 나타나도록 할 수 있으며, 그로 인해 촬영 영상을 통해 편광 필름의 블랙 모드를 검사할 수 있게 된다. 이때, 편광 필름에 결함이 존재한다면, 촬영 영상에서 결함이 존재하는 부분에 밝기 차이가 발생하게 되므로 편팡 필름의 결함 여부를 용이하게 검출할 수 있게 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 편광 필름 검사 장치를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 편광 필름 검사 장치에서 파장 차단 필터를 적용한 경우와 미적용한 경우의 촬영 영상을 비교한 도면.
이하, 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 편광 필름 검사 장치의 구체적인 실시예를 설명하기로 한다. 그러나 이는 예시적 실시예에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.
본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해 결정되며, 이하 실시예는 진보적인 본 발명의 기술적 사상을 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에게 효율적으로 설명하기 위한 일 수단일 뿐이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 편광 필름 검사 장치를 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 편광 필름 검사 장치(100)는 광원(102), 연결부(104), 광 전달 부재(106), 파장 차단 필터(108), 조사부(110), 편광 필름(112), 및 촬영부(114)를 포함한다.
광원(102)은 빛을 발생시키는 역할을 한다. 광원(102)으로는 예를 들어, 메탈 할라이드 램프(Metal Halide Lamp), LED 램프(Light Emitting Diode Lamp) 등이 사용될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 그 이외의 다양한 광원이 사용될 수 있다.
연결부(104)는 제1 연결부(104-1) 및 제2 연결부(104-2)를 포함한다. 제1 연결부(104-1)는 광원(102)과 광 전달 부재(106) 사이에서 광원(102)과 광 전달 부재(106)를 연결한다. 제2 연결부(104-2)는 조사부(110)와 광 전달 부재(106) 사이에서 조사부(110)와 광 전달 부재(106)를 연결한다.
광 전달 부재(106)는 광원(102)에서 발생시킨 빛을 조사부(110)로 전달하는 역할을 한다. 광 전달 부재(106)는 예를 들어, 광 파이버(Optical Fiber)가 사용될 수 있다. 이 경우, 광원(102)에서 발생시킨 빛의 손실을 줄이면서 신속하게 조사부(110)로 전달할 수 있게 된다. 광 전달 부재(106)로 광 파이버가 사용되는 경우, 제1 연결부(104-1) 및 제2 연결부(104-2)로는 광 파이버 어댑터(Optical Fiber Adaptor)가 사용될 수 있다. 그러나, 광 전달 부재(106)가 광 파이버로 한정되는 것은 아니며, 그 이외에 빛을 전달할 수 있는 다양한 부재(예를 들어, 광 도파관 등)가 사용될 수 있다.
파장 차단 필터(108)는 광원(102)이 발생시킨 빛에서 적외선(IR) 및 자외선(UV) 영역을 차단하는 역할을 한다. 파장 차단 필터(108)는 제1 파장 차단 필터(108-1) 및 제2 파장 차단 필터(108-2)를 포함한다. 제1 파장 차단 필터(108-1)는 제1 연결부(104-1)에 형성되고, 제2 파장 차단 필터(108-2)는 제2 연결부(104-2)에 형성될 수 있다. 그러나, 이에 한정되는 것은 아니며 제1 파장 차단 필터(108-1) 및 제2 파장 차단 필터(108-2)가 모두 제1 연결부(104-1) 또는 제2 연결부(104-2)에 형성될 수도 있다.
제1 파장 차단 필터(108-1)는 광원(102)이 발생시킨 빛에서 적외선(IR) 영역을 차단하도록 형성되고, 제2 파장 차단 필터(108-2)는 광원(102)이 발생시킨 빛에서 자외선(UV) 영역을 차단하도록 형성될 수 있다. 그러나, 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 파장 차단 필터(108-1)가 광원(102)이 발생시킨 빛에서 자외선(UV) 영역을 차단하도록 형성되고, 제2 파장 차단 필터(108-2)가 광원(102)이 발생시킨 빛에서 적외선(IR) 영역을 차단하도록 형성될 수도 있다. 이 경우, 광원(102)이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역은 제1 파장 차단 필터(108-1) 및 제2 파장 차단 필터(108-2)에 의해 차단되므로, 광 전달 부재(106)를 지나 조사부(110)로 전달되는 빛은 가시광선 영역의 빛이 된다.
여기서, 파장 차단 필터(108)를 연결부(104)에 형성함으로써, 적은 개수(최대 2개) 그리고 작은 크기의 파장 차단 필터(108)로 광원(102)이 발생시킨 빛에서 적외선 및 자외선 영역을 차단시킬 수 있게 되며, 그로 인해 편광 필름 검사 장치(100)의 제작 비용을 줄일 수 있게 된다.
조사부(110)는 편광 필름(112)으로 빛을 조사하는 역할을 한다. 이때, 조사부(110)는 가시광선 영역의 빛을 편광 필름(112)으로 조사하게 된다. 조사부(110)는 투명 재질로 이루어질 수 있다. 이 경우, 광 전달 부재(106)로부터 전달된 빛은 조사부(110)를 통해 편광 필름(112)으로 조사되게 된다.
편광 필름(112)은 제1 편광 필름(112-1) 및 제2 편광 필름(112-2)을 포함한다. 제1 편광 필름(112-1)의 투과축과 제2 편광 필름(112-2)의 투과축은 상호 직교하도록 형성된다. 예를 들어, 제1 편광 필름(112-1)의 투과축이 가로 방향(↔)으로 형성된 경우, 제2 편광 필름(112-2)의 투과축은 세로 방향(↕)이 되도록 형성된다. 제1 편광 필름(112-1)과 제2 편광 필름(112-2)은 각각 가시광선 영역의 빛을 편광시키도록 형성된다.
촬영부(114)는 조사부(110)의 반대 방향에서 편광 필름(112)을 촬영한다. 여기서, 제1 편광 필름(112-1)과 제2 편광 필름(112-2)은 각각 가시광선 영역의 빛을 편광시키고 투과축이 상호 직교하도록 형성되므로, 편광 필름(112)에 조사되는 빛(즉, 가시광선 영역의 빛)은 편광 필름(112)을 통과하지 못하게 된다. 이 경우, 촬영부(114)가 빛을 수광하지 못하여 편광 필름(112)을 촬영한 영상은 까맣게 나타나게 된다. 따라서, 편광 필름(112)을 촬영한 영상을 통해 편광 필름(112)의 블랙 모드를 검사할 수 있게 된다.
한편, 촬영부(114) 내에는 적외선(IR) 차단 필터가 구비될 수 있다. 예를 들어, 촬영부(114) 내의 렌즈는 적외선 차단 처리가 수행된 상태로 제조될 수 있다. 이 경우, 파장 차단 필터(108)는 광원(102)이 발생시킨 빛에서 자외선(UV) 영역을 차단하도록 구현될 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 파장 차단 필터(108)를 통해 광원(102)이 발생시킨 빛에서 적외선 및 자외선 영역을 차단함으로써, 편광 필름(112)을 촬영한 영상이 까맣게 나타나도록 할 수 있으며, 그로 인해 촬영 영상을 통해 편광 필름(112)의 블랙 모드를 검사할 수 있게 된다. 이때, 편광 필름(112)에 결함이 존재한다면, 촬영 영상에서 결함이 존재하는 부분에 밝기 차이가 발생하게 되므로 편팡 필름(112)의 결함 여부를 용이하게 검출할 수 있게 된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 편광 필름 검사 장치에서 파장 차단 필터를 적용한 경우와 미적용한 경우의 촬영 영상을 비교한 도면이다.
도 2를 참조하면, 파장 차단 필터(108)를 적용한 경우, 편광 필름(112)을 촬영한 영상이 까맣게 나타나는 것을 볼 수 있다. 반면, 파장 차단 필터(108)를 적용하지 않은 경우, 편광 필름(112)을 촬영한 영상이 하얗게 나타나는 것을 볼 수 있다.
이상에서 대표적인 실시예를 통하여 본 발명에 대하여 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100 : 편광 필름 검사 장치 102 : 광원
104 : 연결부 104-1 : 제1 연결부
104-2 : 제2 연결부 106 : 광 전달 부재
108 : 파장 차단 필터 108-1 : 제1 파장 차단 필터
108-2 : 제2 파장 차단 필터 110 : 조사부
112 : 편광 필름 112-1 : 제1 편광 필름
112-2 : 제2 편광 필름 114 : 촬영부

Claims (4)

  1. 빛을 발생시키는 광원;
    투과축이 수직하게 상호 교차된 편광 필름에 상기 광원에서 발생시킨 빛을 조사하는 조사부;
    상기 조사부의 반대편에서 상기 편광 필름을 촬영하는 촬영부;
    상기 광원에서 발생시킨 빛을 상기 조사부로 전달하는 광 전달 부재;
    상기 광원과 상기 광 전달 부재 및 상기 광 전달 부재와 상기 조사부를 각각 연결하는 연결부; 및
    상기 연결부에 형성되고, 상기 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 적어도 하나를 차단하는 파장 차단 필터를 포함하는, 편광 필름 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 광 전달 부재는, 광 파이버이고,
    상기 연결부는, 광 파이버 어댑터인, 편광 필름 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 연결부는, 상기 광원과 상기 광 전달 부재의 일단을 연결하는 제1 연결부 및 상기 광 전달 부재의 타단과 상기 조사부를 연결하는 제2 연결부를 포함하며,
    상기 파장 차단 필터는, 상기 제1 연결부에 형성되고 상기 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 어느 하나를 차단하는 제1 파장 차단 필터 및 상기 제2 연결부에 형성되고 상기 광원이 발생시킨 빛에서 적외선 영역 및 자외선 영역 중 다른 하나를 차단하는 제2 파장 차단 필터를 포함하는, 편광 필름 검사 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 촬영부는, 적외선 차단 필터를 포함하고,
    상기 파장 차단 필터는, 상기 광원이 발생시킨 빛에서 자외선 영역을 차단하는, 편광 필름 검사 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160044318A (ko) 2014-10-15 2016-04-25 한화테크윈 주식회사 가변 파장 조명 장치

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6485628B2 (ja) 2014-06-25 2019-03-20 有限会社 渕田ナノ技研 成膜方法及び成膜装置
KR20160047360A (ko) * 2014-10-22 2016-05-02 동우 화인켐 주식회사 결함 검출 시스템 및 방법

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1725047A (zh) * 2004-07-22 2006-01-25 力特光电科技股份有限公司 一种光学膜检测装置
JP2006290966A (ja) * 2005-04-07 2006-10-26 Fuji Photo Film Co Ltd セルロースアシレートフィルム、並びにそれを用いた光学補償フィルム、偏光板及び液晶表示装置
KR101057626B1 (ko) * 2008-01-07 2011-08-19 주식회사 엘지화학 화상 분석을 이용한 편광판 얼룩 검사 방법 및 이를 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 시스템
JP2011197282A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Sumitomo Chemical Co Ltd 偏光板、偏光板の評価方法、および偏光板の製造方法
CN101915661A (zh) * 2010-09-03 2010-12-15 无锡市奥达光电子有限责任公司 一种偏振特性元器件的光轴角度检测方法和装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160044318A (ko) 2014-10-15 2016-04-25 한화테크윈 주식회사 가변 파장 조명 장치

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