KR20140086619A - 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 - Google Patents

디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 디스플레이 장치, 디스플레이 장치의 광학 보상 시스템 및 디스플레이 장치의 광학 보상 방법을 개시한다.
본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 장치는, 복수의 화소를 포함하는 디스플레이 패널, 상기 복수의 화소 중, 상기 복수의 화소의 휘도 추세선을 기초로 불량 화소로 검출된 화소들을 지정하는 불량 화소 정보 및 상기 불량 화소에 대한 보상 파라미터가 저장되는 저장부 및 상기 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 이용하여, 상기 불량 화소에 대응하는 데이터를 변환하는 휘도 보상부를 포함할 수 있다.

Description

디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법{Display device, Optical compensation system and Optical compensation method thereof}
본 발명은 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 그의 광학 보상 방법에 관한 것이다.
최근 음극선관(Cathode Ray Tude)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판표시장치들이 대두되고 있다. 이러한 평판표시장치로는 액정표시장치(Liquid Crystal Display), 플라즈마표시패널(Plasma Display Panel) 및 유기전계발광(Organic Light Emitting Diode)표시장치 등이 있다.
이와 같은 평판표시장치들에 얼룩 결함이 발생하는 경우가 있다. 얼룩 결함이란 패널 제조 공정에서 발생하는 오류 또는 제조 불량 등으로 인해 패널 전체 또는 일부 영역에 걸쳐 불균일한 휘도 특성을 나타내는 표시 얼룩이 발생하는 것을 의미하며 그 발생 원인에 따라 점, 선, 띠, 원, 다각형 등과 같은 정형적인 형상을 가지기도 하고 부정형적인 형상을 가지기도 한다. 이러한 표시 얼룩은 다른 화소들보다 휘도 편차가 큰 불량 화소들에 의해 발생한다.
본 발명은 얼룩 결함 발생 영역을 검출하여 광학 특성을 보상하는 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 그의 광학 보상 방법을 제공한다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 디스플레이 장치는, 따른 복수의 화소를 포함하는 디스플레이 패널, 상기 복수의 화소들 중, 상기 복수의 화소의 휘도 추세선을 기초로 불량 화소로 검출된 화소들을 지정하는 불량 화소 정보 및 상기 불량 화소에 대한 보상 파라미터가 저장되는 저장부 및 상기 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 이용하여, 상기 불량 화소에 대응하는 데이터를 변환하는 휘도 보상부를 포함할 수 있다.
일 예로서, 상기 불량 화소는, 화소의 측정된 휘도와 상기 휘도 추세선에서 상기 화소에 대응되는 위치의 휘도와의 차이가 임계값을 초과하는 화소일 수 있다.
일 예로서, 상기 휘도 추세선은, 상기 디스플레이 패널을 측정하여 획득된 상기 복수의 화소의 휘도 분포를 기초로 산출된 N차 함수 형태(N은 1 이상의 정수)일 수 있다.
일 예로서, 상기 보상 파라미터는, 상기 불량 화소로 검출된 화소들 중 대응되는 화소가 위치한 순서에 따라 상기 저장부에 저장될 수 있다.
일 예로서, 상기 보상 파라미터는 상기 불량 화소들 각각에 대응하는 휘도 보상 데이터일 수 있다.
일 예로서, 상기 불량 화소 정보는, 상기 복수의 화소 각각에 대하여 불량 여부를 나타내는 인덱스를 포함할 수 있다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템은, 영상을 표시하는 디스플레이 패널, 상기 디스플레이 패널에 표시된 영상을 촬상하는 촬상부, 상기 촬상부에 의하여 촬상된 영상으로부터 획득된 휘도 데이터를 분석하여 상기 패널의 휘도 추세선을 생성하고, 상기 휘도 추세선을 기초로 불량 화소를 검출하는 불량 화소 검출부, 및 상기 불량 화소의 휘도를 보상하기 위한 보상 파라미터를 생성하는 보상 파라미터 생성부를 포함할 수 있다.
일 예로서, 상기 휘도 추세선은, 상기 디스플레이 패널상의 일 방향과 휘도 값을 축으로 한 N 차 함수 (N은 1 이상의 정수) 형태일 수 있다.
일 예로서, 상기 불량 화소 검출부는, 상기 디스플레이 패널상의 동일한 라인에 위치하는 화소들의 휘도 데이터를 기초로 상기 휘도 추세선을 산출할 수 있다.
다른 예로서, 상기 불량 화소 검출부는, 상기 불량 화소의 비율이 소정 비율 이하가 되도록 상기 휘도 추세선을 산출할 수 있다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 광학 보상 방법은, 디스플레이 패널의 휘도 데이터를 획득하는 단계, 상기 휘도 데이터의 분포에 따라 디스플레이 패널의 휘도 추세선을 결정하는 단계, 상기 휘도 추세선을 기초로, 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정하는 단계 및 상기 디스플레이 구동 회로의 저장부에 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
일 예로서, 상기 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 이용하여 상기 디스플레이 패널에 표시될 영상 데이터 중 상기 불량 화소에 대응하는 영상 데이터를 변환하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 예로서, 상기 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정하는 단계는, 화소의 휘도가 상기 휘도 추세선에서 상기 화소에 대응되는 위치의 휘도로부터 임계값을 초과하는 차이를 갖는 경우, 상기 화소를 불량 화소로 검출할 수 있다.
다른 예로서, 상기 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정하는 단계는, 상기 불량 화소의 측정된 휘도와 상기 휘도 추세선에서 상기 불량 화소에 대응되는 위치의 휘도의 차이에 기초하여 보상 파라미터를 생성할 수 있다.
일 예로서, 상기 휘도 추세선을 결정하는 단계는, 상기 휘도 데이타의 휘도 분포를 N차 함수 형태(N은 1이상의 정수)로 모델링하고, 불량 화소 비율을 기초로 상기 N차 함수 형태의 적합성을 판별하여 상기 휘도 추세선으로 결정할 수 있다.
일 예로서, 상기 불량 화소 및 상기 보상 파라미터를 저장하는 단계는, 상기 복수의 화소 각각에 대하여 불량 여부를 나타내는 인덱스를 부여하고, 상기 복수의 화소에 부여된 인덱스를 기초로 불량 화소 정보를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명은 패널의 휘도 특성에 따라 효율적으로 불량 화소를 검출할 수 있다. 또한, 불량 화소로 검출된 화소들에 대한 정보를 인덱스화하고, 불량 화소로 판단된 화소들에 대해서만 광학 보상 파라미터를 생성함으로써, 디스플레이 장치내의 불량 화소 정보 및 보상 파라미터의 저장 공간을 줄일 수 있으며, 불량 화소에 대해서만 휘도 보상을 수행함으로써 디스플레이 장치의 소비 전력을 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 2a 및 도 2b는 얼룩 결함의 예를 나타낸 도면이다.
도 3은 휘도 데이터의 분포를 나타낸 도면이다.
도 4a 내지 도 4c는 휘도 데이터를 N차 함수 형태로 모델링한 도면이다.
도 5a는 2차 함수 형태의 추세선에 기초하여 휘도 보상을 수행하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 5b는 1차 함수 형태의 추세선에 기초하여 휘도 보상을 수행하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 불량 화소 정보를 인덱스화하여 나타낸 인덱스 맵이다.
도 7a 내지 도 7c는 불량 화소 정보를 데이터 코딩하는 것을 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 광학 보상 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 9는 휘도 추세선 결정 단계 및 불량 화소 정보 및 보상 파라미터 결정 단계의 일 구현예를 나타낸 흐름도이다.
도 10은 휘도 추세선 결정 단계 및 불량 화소 정보 및 보상 파라미터 결정 단계의 다른 구현예를 나타낸 흐름도이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 12는 도 11의 디스플레이 장치의 휘도 보상부 및 저장부를 나타낸 블록도이다.
도 13은 디스플레이 장치의 영상 데이터 변환단계를 나타낸 흐름도이다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하 첨부된 도면들에 도시된 본 발명에 관한 실시예를 참조하여 본 발명의 구성 및 작용을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 1을 참조하면, 광학 보상 시스템(1000)은 디스플레이 장치(100), 촬상부(200) 및 보상 데이터 생성부(300)를 포함할 수 있다.
디스플레이 장치(100)는 영상을 표시하는 디스플레이 패널(100) 및 디스플레이 패널(100)을 구동하기 위한 디스플레이 구동 회로(120)를 포함할 수 있다.
디스플레이 장치(100)는 각종 평판 디스플레이 장치 중 어느 하나가 적용될 수 있다. 예컨대, 평판 디스플레이 장치는 액정 표시 장치(liquid crystal display)(LCD), PDP(plasma display panel) 장치, 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display)(OLED), ECD(Electrochromic Display), DMD(Digital Mirror Device), AMD(Actuated Mirror Device), GLV(Grating Light Value), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display) 등을 포함할 수 있다.
한편, 디스플레이 패널(110)에는 도 2a 및 도 2b에 도시된 바와 같이 얼룩 결함이 발생하는 경우가 있다. 도 2a는 원 형태의 얼룩 결함이 발생하는 것을 나타낸 도면이고, 도 2b는 선 형태의 얼룩 결함을 나타낸 도면이다. 도 2a 를 참조하면, 디스플레이 패널(110)의 좌측 상단의 일부 영역이 다른 영역보다 휘도가 높아 원 형태의 얼룩 결함이 나타나는 것을 알 수 있다. 도 2b를 참조하면, 디스플레이 패널(110)의 열 방향의 일부 영역이 다른 영역보다 휘도가 낮아 세 개의 선 형태의 얼룩 결함이 나타나는 것을 알 수 있다. 이처럼, 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이 다른 영역과 다른 휘도를 나타냄으로써 얼룩 결함이 발생할 수 있다. 얼룩 결함은 발생 원인에 따라 점, 선, 띠 ,원 다각형 등과 같은 정형적인 형상을 가지기도 하고 부정형적인 형상을 나타내기도 한다. 이러한 얼룩 결함은 제조 공정에서 발생하는 오류 또는 제조 불량 등으로 인해 다른 화소들보다 휘도 편차가 큰 불량 화소들에 생성됨에 따라 발생할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 광학 보상 시스템(1000)은 상기 불량 화소들에 대한 광학 보상을 통하여 얼룩 결함의 발생을 방지할 수 있다. 촬상부(200)가 일정한 계조를 표시하는 디스플레이 패널(110)을 촬상하고, 보상 데이터 생성부(300)는 촬상된 영상으로부터 획득된 디스플레이 패널(110)의 휘도 데이터를 기초로 보상 데이터(DPI, CPM)를 생성하여 디스플레이 구동 회로(120)에 제공할 수 있다. 보상 데이터(DPI, CPM)는 디스플레이 구동 회로(120)에 저장될 수 있다. 디스플레이 구동 회로(120)는 보상 데이터(DPI, CPM)를 기초로 불량 화소의 휘도를 보상함으로써 디스플레이 패널(110)에 표시된 영상에 얼룩 결함이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
보다 상세하게 설명하면, 촬상부(200)는 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 영상을 촬상할 수 있다. 촬상부(200)는 카메라, 스캐너, 광센서, 분광기 등을 포함할 수 있다. 도 1에는 촬상부(200)가 디스플레이 장치(100)의 외부에 위치하는 것으로 도시되었으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 촬상부(200)는 디스플레이 장치(100) 내에 구비될 수도 있다.
보상 데이터 생성부(300)는 불량 화소 검출부(310) 및 보상 파라미터 생성부(320)를 포함할 수 있다.
불량 화소 검출부(310)는 상기 촬상부(200)에의해 촬상된 표시 영상으로부터 획득된 휘도 데이터를 분석하여 상기 디스플레이 패널(110)의 휘도 추세선을 생성하고, 휘도 추세선을 기초로 불량 화소를 검출할 수 있다. 이때, 휘도 추세선은 디스플레이 패널(110)의 휘도 데이터를 적절한 함수 형태로 모델링한 것이다. 휘도 추세선은 휘도 데이터의 분포에 따른 N차 함수 형태(N은 1 이상의 정수)일 수 있다. 휘도 추세선은 디스플레이 패널 상의 일 방향과 휘도 값을 축으로 한 1차, 2차 또는 3차 함수 형태일 수 있다. 휘도 데이터의 분포가 1차, 2차 및 3차 함수 형태로 모델링되고, 이 중 가장 적절한 함수 형태가 상기 휘도 추세선으로 결정될 있다. 예를 들어, 휘도 데이터의 분포와 가장 근접한 함수 형태가 휘도 추세선으로 결정되거나 또는 짧은 영역의 균일도(SRU; short range uniformity) 및 긴 영역의 균일도(LRU; lomg range uniformity) 중 적어도 하나에 기초하여 적합한 함수 형태가 휘도 추세선으로 결정될 수 있다. 이때, 휘도 추세선은 디스플레이 패널(110) 상에서 동일한 라인, 동일한 열 또는 동일한 행에 위치하는 화소들의 휘도 데이터를 기초로 산출되거나 또는 디스플레이 패널에 포함되는 전체 화소들에 대한 휘도 데이터를 기초로 산출될 수도 있다.
휘도 추세선이 결정되면, 휘도 추세선으로부터 시각적으로 인지되지 않는 범위의 휘도 차이가 임계값(critical value)으로 설정되고, 화소의 측정된 휘도와 상기 휘도 추세선에서 상기 화소에 대응되는 위치의 휘도와의 차이가 임계값을 초과하는 경우, 상기 화소는 불량 화소로 검출될 수 있다.
한편, 상기 불량 화소에 대한 정보는 인덱스화되어 불량 화소 정보(DPI)로 생성될 수 있다. 예를 들어, 불량 화소 정보(DPI)는 복수의 화소 각각에 대하여 불량 여부를 나타내는 인덱스를 포함할 수 있다. 불량 화소 정보(DPI)는 또한 다양한 코딩 기법에 의하여 압축 처리될 수 있다.
보상 파라미터 생성부(320)는 불량 화소 검출부(310)에서 불량 화소로 검출된 화소들에 대한 보상 파라미터(CPM)를 생성한다. 보상 파라미터는 불량 화소들의 휘도를 휘도 추세선에서 상기 화소에 대응하는 위치의 휘도에 유사해지도록 보상해주기 위한 데이터일 수 있다. 보상 파라미터(CPM)는 상기 불량 화소들 각각에 대응하는 휘도 보상 데이터일 수 있다.
보상 데이터 생성부(300) 생성된 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)를 디스플레이 장치(100)에 제공할 수 있다. 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)은 디스플레이 구동 회로(120)의 저장부에 저장될 수 있다.
디스플레이 패널(110) 구동 시, 디스플레이 구동 회로(120)은 불량 화소 정보(DPI)로부터 불량 화소를 판별하고, 패널에 표시될 영상 데이터 중 불량 화소에 대응하는 데이터에 보상 파라미터(CPM)을 적용하여 데이터 변환할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 광학 보상 시스템(1000)은 측정된 휘도 데이터의 분포에 따른 추세선에 기초하여 불량 화소를 검출함으로써, 단순히 단순히 휘도 데이터의 평균값 또는 절대값을 기준으로 불량 화소를 검출하는 것보다 검출 기준을 유연하게 적용할 수 있다. 실질적으로, 얼룩 결함은 거리가 먼 곳에 위치한 화소간의 휘도 차이보다는 인접한 화소간의 휘도 차이가 클 때 더 두드러질 수 있다. 따라서, 휘도 분포를 고려한 추세선을 기초로 시각적으로 인지되지 않는 범위를 넘어서는 휘도 차이를 가진 화소를 불량 화소로 검출함으로써, 디스플레이 패널(110)의 휘도 특성에 따라 불량 화소를 효율적으로 검출할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 광학 보상 시스템(1000)은 불량 화소 정보(DPI)를 인덱스화 하고 또한 불량 화소로 검출된 화소들에 대해서만 보상 파라미터를 적용함으로써, 디스플레이 구동 회로(120) 내에서 불량 화소 정보 및 보상 파라미터를 저장하기 위한 저장 영역, 예컨대 불휘발성 메모리의 용량을 줄일 수 있고, 불량 화소에 대해서만 광학 보상이 수행되므로, 디스플레이 장치(100)의 소비 전력이 감소될 수 있다.
도 3 내지 도 4c는 디스플레이 패널(도 1의 110)로부터 획득한 휘도 데이터를 획득하고, 휘도 데이터의 분포를 함수 형태로 모델링 하는 것을 설명하기 위한 도면이다. 도 3은 휘도 데이터의 분포를 나타낸 도면이고, 도 4a 내지 도 4c는 휘도 데이터를 N차 함수로 모델링한 것을 나타낸 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 휘도 데이터의 휘도 분포는 디스플레이 패널(110) 상의 일방향, 예컨대, x 방향 y 방향 또는 z 방향으로 배치된 복수의 화소의 위치 및 휘도로 표현될 수 있다. 이때, 휘도는 단일 화소에 대한 휘도일 수 있고, 복수의 화소의 휘도를 평균한 값일 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 패널(110) 전체의 x 방향의 휘도 분포를 기초로 휘도 추세선을 산출하는 경우, 휘도 분포상에서 각 위치에 대한 휘도는 y 방향으로 정렬된 화소들의 휘도를 평균한 값일 수 있다. 또는 디스플레이 패널(110) 전체의 y 방향의 휘도 분포를 기초로 휘도 추세선을 산출하는 경우, 휘도 분포상에서 각 위치에 대한 휘도는 x 방향으로 정렬된 화소들의 휘도를 평균한 값일 수 있다. 반면, 디스플레이 패널(110) 상에서 라인 단위로, 예를 들어, x 방향 또는 y 방향의 각 라인에 대한 휘도 분포를 기초로 휘도 추세선을 검출하는 경우, 휘도 분포상에서 각 위치에 대한 휘도는 동일한 라인에 포함된 화소들 각각에 대한 휘도일 수 있다.
도 4a 내지 도 4b를 참조하면, 휘도 분포는 1차, 2차 또는 3차 함수 형태로 모델링 될 수 있다. 이때, X는 디스플레이 패널상의 위치이고, Y는 휘도이다.
휘도 분포는 도 4a에 도시된 바와 같이 직선 형태의 1차 함수 형태로 모델링 되거나, 도 4b 에 도시된 바와 같은 곡선 형태의 2차 함수 또는 도 4c에 도시된 바와 같은 곡선 형태의 3차 함수로 모델링 될 수 있다. 각 함수의 계수는 함수의 형태가 휘도 분포에 유사하도록 조정될 수 있다. 상기 모델링된 함수들 중 하나가 휘도 추세선으로 결정될 수 있다. 이때, 휘도 추세선은 휘도 분포와의 근접도, 넓은 영역에서의 균일도(LRU) 또는 좁은 영역에서의 균일도(SRU) 등을 기초로 결정될 수 있다. 예를 들어, 넒은 영역에서의 균일도가 중요한 경우, 도 4a에 도시된 바와 같은 1차 함수 형태가 선택될 수 있다. 또는 휘도 분포와의 근접도가 중요한 경우, 도 4c에 도시된 바와 같은 3차 함수 형태가 선택될 수 있다. 한편, 본 실시예에서는 휘도 분포가 세 개의 함수 형태로 모델링 된 경우만을 도시하였으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 휘도 분포는 더 많은 형태의 함수로 모델링될 수 있다.
도 5a 및 도 5b는 불량 화소를 검출하고, 휘도 보상을 수행하는 것을 설명하기 위한 도면이다. 도 5a는 2차 함수 형태의 휘도 추세선에 기초하여 불량 화소를 검출하는 것을, 도 5b는 1차 함수 형태의 휘도 추세선에 기초하여 불량 화소를 검출하는 것을 나타낸다.
도 5a 및 도 5b를 참조하면, 복수의 화소들 중 어느 한 화소에 있어서, 화소의 휘도와 휘도 추세선(TL)상에서 화소에 대응되는 위치의 휘도와의 차이가 임계값(ΔVcvh, ΔVcvl)을 초과하는 경우, 상기 화소는 불량 화소로 검출된다. 화소의 휘도가 휘도 추세선(TL) 상에서 화소에 대응되는 위치의 휘도와의 차이가 임계값(ΔVcvh, ΔVcvl)이내인 경우, 상기 화소는 불량이 아닌 화소, 즉 노멀 화소로 검출된다. 이때, 임계값(ΔVcvh, ΔVcvl)은 휘도 추세선(TL)을 기초로 시각적으로 인지되지않는 휘도 차이의 최대값으로 설정될 수 있다. 또한, 양의 임계값(ΔVcvh)과 음의 임계값(ΔVcvl)이 다르게 설정될 수 있다. 불량 화소로 검출된 화소는 휘도 보상을 통하여 휘도 추세선(TL)에 근접하게 휘도가 조정될 수 있다.
한편, 도 5a에서는 3개의 화소가 불량 화소로 검출되었으나, 도 5b에서는 5개의 화소가 불량 화소로 검출되었다. 이처럼, 도 5a 와 도 5b의 휘도 추세선(TL)의 형태가 다르므로, 불량 화소로 검출되는 화소 및 검출된 불량 화소의 수가 다를 수 있다. 또한, 도 5a에서 2차 함수 형태의 휘도 추세선에 기초하여 검출된 불량 화소들은 휘도 보상을 통하여 상기 2차 함수 형태의 휘도 추세선에 근접하도록 휘도가 조정되고, 도 5b에서 1차 함수 형태의 휘도 추세선에 기초하여 검출된 불량 화소들은 휘도 보상을 통하여 상기 1차 함수 형태의 휘도 추세선에 근접하도록 휘도가 조정될 수 있다.
도 6은 불량 화소 정보를 인덱스화하여 나타낸 인덱스 맵이다.
도 6을 참조하면, 디스플레이 패널 상의 복수의 화소들(PX11, PX12~PXnm) 각각이 불량 화소인지 노멀 화소인지에 대한 불량 화소 정보는 인덱스 맵으로 생성될 수 있다. 인덱스 맵은 디스플레이 패널(110)과 동일한 행과 열로 구성될 수 있다. 디스플레이 패널(110)에 포함된 복수의 화소 각각에 대하여 불량 화소임을 나타내는 제1 인덱스와 불량 화소가 아님을 나타내는 제2 인덱스가 할당되고, 할당된 제1 및 제2 인덱스가, 대응하는 화소의 위치에 해당하는 행과 열에 배치되어 인덱스 맵을 구성할 수 있다. 예를 들어, 불량 화소임을 나타내는 제1 인덱스는 디지털 신호 1이고, 불량 화소가 아님을 나타내는 제2 인덱스는 디지털 신호 0일 수 있다. 인덱스 맵은 디스플레이 구동 회로(120)에 저장되고, 휘도 보상 시에 저장된 인덱스 맵을 기초로 휘도 보상이 수행될 화소들이 판단될 수 있다.
도 7a 내지 도 7c는 불량 화소 정보를 데이터 코딩하는 것을 나타낸 도면이다. 불량 화소 정보는 디스플레이 장치(도 1의 100)에 제공되어, 휘도 보상시 이용될 수 있다. 이때, 불량 화소 정보는 인덱스 코드 또는 압축된 인덱스 코드로 생성되어 디스플레이 장치에 제공되고, 디스플레이 구동 회로에 저장될 수 있다. 도 7a는 불량 화소 정보가 인덱스 코드로 생성되는 것을 나타내고, 도 7b는 인덱스 코드가 바이너리 코딩을 통해 압축되는 것을 나타내고, 도 7c는 인덱스 코드가 엔트로피 코딩을 통해 압축되는 것을 나타낸다.
도 7a를 참조하면, 불량 화소 정보는, 불량 화소임을 나타내는 제1 인덱스 및 불량 화소가 아님을 나타내는 제2 인덱스가 대응되는 화소의 위치에 따라 순차적으로 정렬된 인덱스 코드로 생성될 수 있다. 불량 화소 정보는 인덱스화하여 인덱스 맵으로 생성되고, 인덱스 맵 상의 제1 행부터 마지막 행에 해당하는 인덱스가 순차적으로 정렬되어 인덱스 코드로 생성될 수 있다.
도 7b 및 도 7c를 참조하면, 인덱스 코드는 동일한 인덱스가 반복되는 개수에 기초하여 압축될 수 있다. 이때, 동일한 인덱스가 반복되는 개수가 도 7b에 도시된 바와 같이 바이너리 코딩되거나, 도 7c에 도시된 바와 같이 엔트로피 코딩될 수 있다. 인덱스 코드를 기초로, 최초 화소의 인덱스를 표시하고, 이후 동일한 인덱스가 반복되는 개수를 표시한다. 예를 들어, 인덱스 코드가 "000100011000..."인 경우, 최초 화소의 인덱스는 제2 인덱스, 예컨대 디지털 신호 0, 이고 최초 화소 인덱스인 제2 인덱스와 다른 인덱스인 제2 인덱스가 순차적으로 세 번, 한 번, 세 번, 두 번, 세 번 반복되는 것을 알 수 있다. 이에 따라 인덱스 코드는 "031323..."으로 변환되어 표현될 수 있다. 첫번째 데이터 0은 최초 화소의 인덱스를 나타내고, 이후의 수는 동일한 인덱스가 반복되는 수를 나타낸다. 이때, 도 7b에 도시된 바와 같이 반복되는 개수는 바이너리 코딩될 수 있다. 반복되는 개수가 바이너리 값으로 변환되어, 결국 인덱스 코드는 "01000100110..."으로 압축될 수 있다. 또는 도 7c에 도시된 바와 같이 반복되는 개수는 엔트로피 코딩될 수 있다. 반복되는 개수가 바이너리 코딩되고, 이때, 반복되는 개수 중 발생 횟수가 높은 수일수록 낮은 수의 비트가 할당될 수 있다. 도 7c를 참조하면, 동일한 인덱스가 세 번 반복되는 경우가 2 회로 가장 많고, 동일한 인덱스가 한 번, 두 번 반복되는 경우는 각각 1회로 동일하다. 따라서, 동일한 인덱스가 반복되는 수 3에는 디지털 신호 0이 할당되고, 동일한 인덱스가 반복되는 수 1 및 2에는 각각 디지털 신호 "01" 및 "11" 이 할당될 수 있다. 이에 따라, 인덱스 코드는 "00100110..."으로 압축될 수 있다. 도 7b 및 도 7c에서 인덱스 코드가 압축된 경우, 압축된 인덱스 코드를 디스플레이 장치에 제공할 때, 압축 여부를 헤더 부분에 표시하여 전송할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 보상 시스템의 광학 보상 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 우선, 소정의 계조를 표시하는 디스플레이 패널을 촬상하여 휘도 데이터를 획득한다(S110). 디스플레이 패널(도 1의 110)을 소정의 계조로 디스플레이 하고, 촬상부(200)로 디스플레이 패널에 표시된 영상을 촬상한다. 촬상된 영상으로부터 휘도 데이터가 획득될 수 있다.
그후, 휘도 데이터의 분포에 따라 휘도 추세선을 결정한다(120). 불량 화소 검출부(도 1의 310)는 휘도 데이터를 분석하여 디스플레이 패널(110)의 휘도 추세선을 결정한다. 휘도 추세선은 N차 함수 형태일 수 있다. 이때, 디스플레이 패널의 라인 단위로 각 라인에 대응하는 복수의 휘도 추세선이 결정될 수 있다. 또는 디스플레이 패널 전체에 대한 하나의 휘도 추세선이 결정될 수도 있다.
휘도 추세선이 결정되면, 휘도 추세선을 기초로 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정한다(S130). 추세선으로부터 시각적으로 인지되지 않는 범위의 휘도 차이가 임계값으로 설정되고, 휘도 추세선으로부터 임계값을 초과한 휘도 차이를 갖는 화소들이 불량 화소로 검출될 수 있다. 이후, 검출된 불량 화소에 대한 보상 파라미터를 생성한다. 보상 파라미터는 불량 화소들 각각에 대응하는 휘도 보상 데이터일 수 있다.
다음으로, 디스플레이 장치(도 1의 100)에 불량 화소 정보 및 보상 파라미터를 저장한다(S140). 불량 화소 정보는 불량 화소에 대한 정보가 인덱스화된 인덱스 맵 또는 인덱스 코드일 수 있다. 불량 화소 정보 및 보상 파라미터는 디스플레이 장치(100)로 제공되어, 디스플레이 장치(100)의 저장부에 저장될 수 있다. 이때, 저장부는 디스플레이 구동 회로(도 1의 120) 내에 위치한 저장부일 수 있다. 불량 화소 정보와 보상 파라미터는 각각 별개의 저장 영역에 저장될 수 있다. 또한, 보상 파라미터는 불량 화소들 중 대응하는 불량 화소가 위치한 순서에 따라 순차적으로 저장될 수 있다.
디스플레이 구동 회로(110)는 저장된 불량 화소 정보 및 보상 파라미터를 이용하여 불량 화소에 대응하는 영상 데이터를 변환한다(S150). 불량 화소에 대응하는 영상 데이터를 변환함으로써, 불량 화소의 휘도가 추세선에 근접하도록 보상될 수 있다.
도 9는 도 8의 휘도 추세선 결정 단계 및 불량 화소 정보 및 보상 파라미터 결정 단계의 일 구현예를 나타낸 흐름도이다.
도 9를 참조하면, 불량 화소 검출부(도 1의 310)는 휘도 데이터의 분포를 복수의 함수 형태로 모델링 한다(S121). 휘도 데이터의 분포는 1차 내지 N차 함수 형태로 모델링될 수 있다. 그리고, 복수의 함수 형태 중 하나를 휘도 추세선으로 결정한다(S122). 휘도 데이터 분포와의 유사성 또는 패널의 균일도 등이 고려되어 휘도 추세선이 결정될 수 있다.
휘도 추세선이 결정되면, 불량 화소 검출부는(310)는 휘도 추세선으로부터 시각적으로 인지되지 않는 범위의 휘도 차이를 임계값으로 설정하고(S123), 상기 휘도 추세선 및 임계값을 기초로 불량 화소를 검출한다(S131). 또한, 보상 파라미터 생성부(도 1의 320)는 불량 화소 검출부(310)에 의해 검출된 불량 화소에 대한 보상 파라미터를 생성한다(S132).
도 10은 휘도 추세선 결정 단계 및 불량 화소 정보 및 보상 파라미터 결정 단계의 다른 구현예를 나타낸 흐름도이다.
도 10의 휘도 추세선 결정 단계 및 불량 화소 정보 및 보상 파라미터 결정 단계를 나타낸 흐름도는 도 9의 흐름도와 유사하다. 다만, 도 10의 실시예는 검출된 불량 화소의 수를 기초로 휘도 추세선의 적합성을 판단하는 단계(S232)를 더 포함할 수 있다.
도 10을 참조하면, 휘도 데이터의 분포를 복수의 함수 형태로 모델링하고(S221), 복수의 함수 형태 중 하나를 휘도 추세선으로 결정한다(S222). 휘도 데이터의 분포는 1차 내지 N차 함수 형태로 모델링되고, 이 중에서 휘도 데이터 분포와의 유사성 또는 패널의 균일도 등이 고려하여 하나의 함수 형태가 휘도 추세선으로 결정될 수 있다. 그리고, 휘도 추세선을 기초로 시각적으로 인지되지 않는 범위의 휘도 차이를 임계값으로 설정하고(S223), 휘도 추세선 및 임계값을 기초로 불량 화소를 검출한다(S231). 휘도 추세선으로부터 임계값을 초과하는 휘도 차이를 갖는 화소들이 불량 화소로 검출될 수 있다.
이후, 불량 화소 검출부(도 1의 310)는 검출된 불량 화소의 비율이 소정의 임계비율을 초과하는지 여부를 판단한다(S232). 불량 화소의 비율이 소정의 임계 비율을 초과하면, 휘도 추세선은 적합하지 않다고 판단될 수 있다. 예를 들어, 소정의 임계 비율이 30%로 설정되고, 휘도 추세선을 기초로 검출된 불량 화소 비율, 즉 불량 화소의 수가 전체 화소 수에 대하여 30%를 넘는 경우, 휘도 추세선은 적합하지 않다고 판단되고, 휘도 추세선을 결정하는 단계(S221, S222, S233)가 다시 수행되어 새로운 휘도 추세선이 결정될 수 있다. 이에 따라 검출된 불량 화소의 비율이 소정의 임계비율을 초과하지 않는 경우에, 불량 화소에 대한 보상 파라미터가 생성될 수 있다(S233).
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 장치(100)를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 11을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 장치(100)는 화상을 표시하는 디스플레이 패널(110) 및 상기 디스플레이 패널(110)을 구동하기 위한 구동 회로들(120)을 포함할 수 있다.
디스플레이 장치(100)는 각종 평판 디스플레이 장치 중 어느 하나가 적용될 수 있다. 예컨대, 평판 디스플레이 장치는 액정 표시 장치(liquid crystal display)(LCD), PDP(plasma display panel) 장치, 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display)(OLED), ECD(Electrochromic Display), DMD(Digital Mirror Device), AMD(Actuated Mirror Device), GLV(Grating Light Value), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display) 등을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은 행방향으로 주사신호를 전달하는 복수의 주사선(SL1~SLn), 열로 배열된 복수의 데이터선(DL1~DLm) 및 주사선(SL1~SLn)과 데이터선(DL1~DLm)이 교차하는 영역에 매트릭스 방식으로 배열된 복수의 화소(PX)를 포함한다.
복수의 화소(PX)는 상기 주사선들(SL1~ SLn) 및 상기 데이터선들(DL1~ DLn)로부터 각각 주사신호 및 데이터신호를 공급받아 동작한다.
구동 회로들(120)은 주사 구동부(121), 데이터 구동부(122) 및 타이밍 제어부(123)을 포함할 수 있다. 구동 회로들(120)은 각각 별개의 반도체 칩에 형성될 수도 있고, 하나의 반도체 칩에 집적될 수도 있다. 또한, 주사 구동부(121)는 디스플레이 패널(110)과 동일한 기판상에 형성될 수도 있다.
주사 구동부(121)는 타이밍 제어부(123)로부터 주사제어신호(SCS) 를 제공받아 주사신호를 생성한다. 주사 구동부(121)는 생성된 주사신호를 주사선(SL1~SLn)을 통해 화소들(PX)로 공급할 수 있다. 상기 주사신호에 따라 한 행씩의 화소들(PX)이 순차적으로 선택되어 데이터 신호가 제공될 수 있다.
데이터 구동부(122)는 타이밍 제어부(123)로부터 데이터 제어신호(DCS) 및 영상 데이터(DATA1)를 수신하고, 데이터 제어신호(DCS)에 응답하여, 영상 데이터(DATA1)를 전압 또는 전류 형태의 데이터 신호로 변환하여, 대응하는 데이터선들(DL1~DLm)을 통해 화소들(PX)로 공급한다.
타이밍 제어부(123)는 외부로부터 전송된 영상 데이터(DATA) 및 제어신호(CS)에 기초하여 주사 구동부(121) 및 데이터 구동부(122)을 제어하기 위한 신호들(SCS, DCS)을 생성하여 주사 구동부(121) 및 데이터 구동부(122)에 제공한다. 또한, 타이밍 제어부(123)는 외부로부터 수신된 영상 데이터(DATA)를 영상 처리하여, 변환된 영상 데이터(DATA1)를 데이터 구동부(1400)로 제공할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 장치(100)는 복수의 화소 각각의 특성에 따른 휘도 보상을 통하여 얼룩 결함이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 이를 위해, 타이밍 제어부(123)는 복수의 화소들 중, 복수의 화소의 휘도 추세선을 기초로 불량 화소로 검출된 화소들을 지정하는 불량 화소 정보(DPI) 및 상기 불량 화소에 대한 보상 파라미터(CPM)가 저장되는 저장부(11) 및 불량 화소 정보 및 보상 파라미터를 이용하여, 불량 화소에 대응하는 영상 데이터를 변환하는 휘도 보상부(12)를 포함할 수 있다.
저장부(11)는 보상 데이터 생성부(도 1의 300)로부터 제공된 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)를 저장한다. 저장부(11)는 비휘발성 메모리일 수 있다. 예를 들어, 저장부(11)는 OTP(one time programmable ROM), FLASH memory, EPROM(erasable programmable ROM), MRAM(magnetic random access memory), RRAM(Resistive random access memory) 등을 포함할 수 있다.
휘도 보상부(12)는 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)를 이용하여, 불량 화소의 휘도 보상을 수행한다. 디스플레이 장치 구동 시 저장부(11)에 저장된 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)가 휘도 보상부(12)로 로딩되어 휘도 보상에 이용될 수 있다. 휘도 보상부(12)는 불량 화소 정보(DPI)로부터 불량 화소를 판별하고 불량 화소에 대응하는 영상 데이터(DATA)에 보상 파라미터(CPM)를 적용하여 영상 데이터(DATA)를 변환할 수 있다. 이하, 도 12 및 도 13을 참조하여 영상 데이터 변환 방법에 대하여 자세히 설명하기로 한다.
도 12는 디스플레이 장치의 저장부(11) 및 휘도 보상부(12)를 나타낸 블록도이고, 도 13은 디스플레이 장치의 영상 데이터 변환단계를 나타낸 흐름도이다.
휘도 보상부(12)는 저장부(11)에 저장된 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)을 읽어온다(S151). 디스플레이 패널(110) 구동 시 불량 화소 정보(DPI) 및 보상 파라미터(CPM)는 휘도 보상부(12)로 로딩될 수 있다.
휘도 보상부(12)는 불량 화소 정보(DPI)에 기초하여 휘도 보상이 수행되어야 할 불량 화소를 판단한다(S152). 예를 들어, 불량 화소 정보(DPI)가 "000100011000..."의 인덱스 코드일 경우, 상기 인덱스 코드로부터 첫번째 행의 네번째 화소(PX14), 여덟번째 화소(PX18), 아홉번째 화소(PX19)가 불량 화소라고 판단될 수 있다. 이때, 불량 화소 정보(DPI)가 압축되어 있는 경우라면, 압축을 해제하여 인덱스 코드 또는 인덱스 맵으로 복구하는 단계를 더 포함할 수 있다.
휘도 보상부(12)는 영상 데이터(DATA)를 수신하고(S153), 보상 파라미터를 이용하여 불량 화소에 대응하는 데이터를 변환한다(S154). 예를 들어, 디스플레이 패널(110)의 한 행에 해당하는 데이터(D11, D12, D13, D14, ...,D1m)가 수신되고, 불량 화소 PX14, PX18 및 PX19에 대응하는 데이터 D14, D18 및 D19에 보상 파라미터 CPM1, CPM2 및 CPM3가 순차적으로 적용되어 데이터 변환이 수행될 수 있다.
불량 화소들의 데이터 변환이 수행되면, 휘도 보상부(12)는 변환된 영상 데이터(DATA1)를 전송한다(S155). 변환된 영상 데이터(DATA)는 불량 화소에 대응하는 변환된 데이터 CD14, CD18 및 CD19 노멀 화소에 대응하는 데이터 D11, D12, D13, ..., D1m이 포함될 수 있다. 변환된 영상 데이터(DATA1)는 데이터 구동부(도 11의 122)로 전송된다. 불량 화소에 대하여 휘도 보상이 수행된, 변환된 영상 데이터(DATA1)에 대응하는 계조 전압이 디스플레이 패널(110)에 제공됨으로써, 디스플레이 패널(110)에 얼룩 결함이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)의 불량 화소에 대해서만 휘도 보상을 수행하므로 디스플레이 장치(100)의 소비 전력이 감소될 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 광학 보상 시스템(도 1의 1000)은 디스플레이 패널(110)의 휘도 특성에 따라 효율적으로 불량 화소를 검출할 수 있다. 그리고, 불량 화소로 검출된 화소들에 대한 정보를 인덱스화하고, 불량 화소로 판단된 화소들에 대해서만 광학 보상 파라미터를 생성함으로써, 디스플레이 장치(100) 내의 불량 화소 정보 및 보상 파라미터의 저장 공간을 감소시킬 수 있다.
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시 예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
1000: 광학 보상 시스템 100: 디스플레이 장치
200: 촬상부 300: 보상 데이터 생성부
310: 불량 화소 검출부 320: 보상 파라미터 생성부

Claims (20)

  1. 복수의 화소를 포함하는 디스플레이 패널;
    상기 복수의 화소들 중, 상기 복수의 화소의 휘도 추세선을 기초로 불량 화소로 검출된 화소들을 지정하는 불량 화소 정보 및 상기 불량 화소에 대한 보상 파라미터가 저장되는 저장부; 및
    상기 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 이용하여, 영상 데이터 중 상기 불량 화소에 대응하는 데이터를 변환하는 휘도 보상부;를 포함하는 디스플레이 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 불량 화소는,
    화소의 측정된 휘도와 상기 휘도 추세선에서 상기 화소에 대응되는 위치의 휘도와의 차이가 임계값을 초과하는 화소인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 휘도 추세선은,
    상기 디스플레이 패널을 측정하여 획득된 상기 복수의 화소의 휘도 분포를 기초로 산출된 N차 함수 형태(N은 1 이상의 정수)인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 보상 파라미터는,
    상기 불량 화소로 검출된 화소들 중 대응되는 화소가 위치한 순서에 따라 상기 저장부에 저장되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  5. 제1 항에 있어서, 상기 보상 파라미터는,
    상기 불량 화소들 각각에 대응하는 휘도 보상 데이터인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 휘도 보상부는,
    상기 복수의 화소 각각에 대하여, 상기 불량 화소 정보를 기초로 불량 여부를 판단하고, 상기 보상 파라미터가 저장된 순서대로 상기 보상 파라미터를 적용하여 상기 영상 데이터를 변환하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  7. 제1 항에 있어서, 상기 불량 화소 정보는,
    상기 복수의 화소 각각에 대하여 불량 여부를 나타내는 인덱스를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  8. 제1 항에 있어서, 상기 불량 화소 정보는,
    불량을 나타내는 제1 인덱스 및 불량이 아님을 나타내는 제2 인덱스가, 대응되는 화소의 위치에 따라 순차적으로 정렬된 인덱스 코드를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  9. 제8 항에 있어서, 상기 인덱스 코드는,
    동일한 인덱스가 반복되는 개수에 기초하여 압축되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  10. 제8 항에 있어서, 상기 인덱스 코드는,
    동일한 인덱스가 반복되는 개수를 나타내는 수들 중 발생 횟수가 높은 수일수록 낮은 수의 비트가 할당되어 압축되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  11. 광학 보상을 통하여 디스플레이 패널에 발생하는 얼룩 결함을 방지하기 위한 광학 보상 시스템에 있어서;
    영상을 표시하는 디스플레이 패널;
    상기 디스플레이 패널에 표시된 영상을 촬상하는 촬상부;
    상기 촬상부에 의하여 촬상된 영상으로부터 획득된 휘도 데이터를 분석하여 상기 패널의 휘도 추세선을 생성하고, 상기 휘도 추세선을 기초로 불량 화소를 검출하는 불량 화소 검출부; 및
    상기 불량 화소의 휘도를 보상하기 위한 보상 파라미터를 생성하는 보상 파라미터 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 광학 보상 시스템.
  12. 제11 항에 있어서, 상기 휘도 추세선은,
    상기 디스플레이 패널상의 일 방향과 휘도 값을 축으로 한 N 차 함수 형태(N은 1 이상의 정수)인 것을 특징으로 하는 광학 보상 시스템.
  13. 제11 항에 있어서, 상기 불량 화소 검출부는,
    상기 디스플레이 패널 상의 동일한 라인에 위치하는 화소들의 휘도 데이터를 기초로 상기 휘도 추세선을 산출하는 것을 특징으로 하는 광학 보상 시스템.
  14. 제11항에 있어서, 상기 불량 화소 검출부는,
    상기 불량 화소의 비율이 소정 비율 이하가 되도록 상기 휘도 추세선을 산출하는 것을 특징으로 하는 광학 보상 시스템.
  15. 디스플레이 패널의 휘도 데이터를 획득하는 단계;
    상기 휘도 데이터의 분포에 따라 디스플레이 패널의 휘도 추세선을 결정하는 단계;
    상기 휘도 추세선을 기초로, 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정하는 단계; 및
    상기 디스플레이 구동 회로의 저장부에 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 저장하는 단계;를 포함하는 광학 보상 방법.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정하는 단계는,
    화소의 휘도가 상기 휘도 추세선에서 상기 화소에 대응되는 위치의 휘도로부터 임계값을 초과하는 차이를 갖는 경우, 상기 화소를 불량 화소로 검출하는 것을 특징으로 하는 광학 보상 방법.
  17. 제15 항에 있어서, 상기 불량 화소 및 보상 파라미터를 결정하는 단계는,
    상기 불량 화소의 측정된 휘도와 상기 휘도 추세선에서 상기 불량 화소에 대응되는 위치의 휘도의 차이에 기초하여 보상 파라미터를 생성하는 것을 특징으로 하는 광학 보상 방법.
  18. 제15 항에 있어서, 상기 휘도 추세선을 결정하는 단계는,
    상기 휘도 데이타의 휘도 분포를 N차 함수 형태(N은 1이상의 정수)로 모델링하고, 불량 화소 비율을 기초로 상기 N차 함수 형태의 적합성을 판별하여 상기 휘도 추세선으로 결정하는 것을 특징으로 하는 광학 보상 방법.
  19. 제15 항에 있어서, 상기 불량 화소 및 상기 보상 파라미터를 저장하는 단계는,
    상기 복수의 화소 각각에 대하여 불량 여부를 나타내는 인덱스를 부여하고, 상기 복수의 화소에 부여된 인덱스를 기초로 불량 화소 정보를 생성하는 단계를 포함하는 광학 보상 방법.
  20. 제 15항에 있어서,
    상기 불량 화소 정보 및 상기 보상 파라미터를 이용하여 상기 디스플레이 패널에 표시될 영상 데이터 중 상기 불량 화소에 대응하는 영상 데이터를 변환하는 단계를 더 포함하는 광학 보상 방법.
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