CN112255204B - 显示面板的检测方法、显示面板及显示装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims abstract description 40
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 29
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/20—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of structured data, e.g. relational data
- G06F16/24—Querying
- G06F16/245—Query processing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
- G06T7/62—Analysis of geometric attributes of area, perimeter, diameter or volume
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
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- Computational Linguistics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract
本公开的显示面板的检测方法包括:利用图像采集装置获取第一显示区的面积、各个第一像素单元的面积及坐标;利用具有第一亮度的标准光源照射各个第一像素单元,并利用图像采集装置获取透过各个第一像素单元的第二亮度;根据公式T=K*(LV2/LV1)*(A2(x,y)/A1),计算各个第一像素单元的光线透过率,并将各个第一像素单元与光线透过率的映射关系存储为查找表,以调用查找表,对显示面板对应的光学器件的参数进行光学补偿;其中,T表示光线透过率,K表示修正系数,LV1表示第一亮度,LV2表示第二亮度,A1表示第一显示区的面积,(x,y)表示各个第一像素单元的坐标,A2表示坐标为(x,y)的第一像素单元的面积。
Description
技术领域
本公开属于显示技术领域,具体涉及一种显示面板的检测方法、显示面板及显示装置。
背景技术
随着显示技术的不断发展,全面屏显示产品也逐渐成为显示产品市场的主流,尤其是智能手机市场。目前全面屏显示产品的边距已经做到了极限的窄,为了进一步提高用户的使用体验感,屏下摄像头的概念应运而生。屏下摄像头是指将自拍摄像头嵌入到产品里,同时在摄像头不打开的时候不影响产品的显示。也就是说,在摄像头的上面部分是存在像素单元,像素单元中具有用于驱动发光器件发光的像素电路等。为了不影响摄像头的正常使用,因此摄像头上面的像素电路等需要具有相当的光线透过率,才能保证摄像头的光能正常发出并获取到图像。在智能手机等全面屏显示产品的组装过程中,需要充分考虑到显示面板的光线透过率和光源的配合,需要大量的设备和计算以及调试来实现。由于每一片显示面板的工艺不一致,光线透过率会存在差异,需要将每一片显示面板的光线透过率等参数与摄像头的参数进行匹配并进行调试,这样需要巨大的工作量及成本投入,影响了组装效率。
发明内容
本公开旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种显示面板的检测方法、显示面板及显示装置。
第一方面,本公开实施例提供一种显示面板的检测方法,用于检测显示基板的光线透过率;所述显示面板具有第一显示区和围绕所述第一显示区的第二显示区;所述显示面板包括:设置于所述第一显示区的多个第一像素单元;所述第一像素单元为透明像素单元;所述显示面板的检测方法包括:
利用图像采集装置获取所述第一显示区的面积、各个所述第一像素单元的面积及坐标;
利用具有第一亮度的标准光源照射各个所述第一像素单元,并利用图像采集装置获取透过各个所述第一像素单元的第二亮度;
根据公式T=K*(LV2/LV1)*(A2(x,y)/A1),计算各个所述第一像素单元的光线透过率,并将各个所述第一像素单元与所述光线透过率的映射关系存储为查找表,以调用所述查找表,对所述显示面板对应的光学器件的参数进行光学补偿;
其中,T表示光线透过率,K表示修正系数,LV1表示第一亮度,LV2表示第二亮度,A1表示第一显示区的面积,(x,y)表示各个第一像素单元的坐标,A2表示坐标为(x,y)的第一像素单元的面积。
可选地,所述利用图像采集获取所述第一显示区的面积,包括:
在显示状态下,利用所述图像采集装置获取所述第一显示区的第三亮度和所述第二显示区的第四亮度;
根据所述第三亮度、所述第四亮度和各个所述第一像素单元的坐标,获取所述第一显示区的边界;
根据所述第一显示区的边界,计算所述第一显示区的面积。
可选地,所述图像采集装置包括电荷耦合器件。
可选地,所述利用图像采集装置获取透过各个所述第一像素单元的第二亮度,包括:
利用所述图像采集装置获取透过各个所述第一像素单元的初始第二亮度;
根据预设算法,对所述初始第二亮度中的环境光亮度进行去噪处理,获得所述第二亮度。
第二方面,本公开实施例提供一种显示面板,具有第一显示区和围绕所述第一显示区的第二显示区;所述显示面板包括:设置于所述第一显示区的多个第一像素单元;所述第一像素单元为透明像素单元;其特征在于,所述显示面板还包括:存储模块;所述存储模块存储有利用如上述提供的显示面板的检查方法获取的查找表;所述查找表包括各个所述第一像素单元对应的所述光线透过率。
可选地,所述显示面板还包括:设置于所述第二显示区的多个第二像素单元;
所述第一像素单元的密度小于所述第二像素单元的密度。
可选地,所述第一像素单元和所述第二像素单元均包括有机电致发光器件。
第三方面,本公开实施例提供一种显示装置,包括如上述提供的显示面板。
可选地,所述显示装置还包括:与所述显示面板的所述第一显示区对应设置的光学器件;
所述光学器件位于背离所述第一像素单元出光方向的一侧。
可选地,所述光学器件包括摄像头。
附图说明
图1为一种示例性的显示面板的结构示意图;
图2为一种示例性的像素电路的结构示意图;
图3为本公开实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图;
图4为本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本公开的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本公开作进一步详细描述。
除非另外定义,本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
图1为一种示例性的显示面板的结构示意图,如图1所示,该显示基板具有第一显示区和围绕第一显示区的第二显示区,在第一显示区内设置有多个阵列排布的第一像素单元101,在第二显示区内设置有多个阵列排布的第二像素单元102。在全面屏显示产品中,可以将摄像头、光线传感器等器件嵌入到第一显示区的位置,在本公开中将以摄像头为例进行说明。在显示过程中,第一显示区的第一像素单元101和第二显示区的第二像素单元102可以均被点亮,实现显示功能。在拍摄过程中,第一显示区的第一像素单元101可以关闭,第一像素单元101可以为透明像素单元,光线可以透过并入射至摄像头中,实现拍摄功能。这样,既不影响第一显示区的第一像素单元101的显示功能,也不影响摄像头的拍摄功能,从而实现真正意义上的全面屏显示效果。在实际应用中,第一显示区的第一像素单元101和第二显示区的第二像素单元102中一般均包括像素电路,且两个区域中的像素电路的结构相同,在本公开中将以基础的2T1C像素电路为例进行说明。图2为一种示例性的像素电路的结构示意图,如图2所示,该像素电路包括:开关晶体管T1、驱动晶体管T2和存储电容C;其中,开关晶体管T1的控制极连接控制极信号线Gate,第一极连接数据信号线Data,第二极连接第一节点N,其中,第一节点N为开关晶体管T1的第二极、驱动晶体管T2的控制极和存储电容C的一端之间的连接点。驱动晶体管T2的控制极连接第一节点N,第一极连接第一电源线VDD,第二极连接发光器件D的第一极。存储电容C的一端连接第一节点N,另一端连接第一电源线VDD。发光器件D的第一极连接驱动晶体管T2的第二极,第二极连接第二电源线VSS。需要说明的是,第一电源线VDD输入的第一电源信号的电位大于第二电源线VSS输入的第二电源信号的电位,这样可以使得有发光器件D两端形成压差而导通,以进行发光。其中,发光器件D可以为有机发光二极管、微发光二极管、无机发光二极管等,在本公开中将以发光器件D为有机发光二极管为例进行说明。在实际应用中,为了保证显示面板中的第一像素单元101具有良好的光线透过率,第一像素单元101一般为透明像素单元,可以将像素电路中晶体管及电容等器件的各个膜层采用透明材料制成,然而,局限于目前各个膜层的材料性能,每个第一像素单元101的光线透过率不可能完全达到100%。在智能手机等全面屏显示产品的组装过程中,需要充分考虑到显示面板的光线透过率和光源的配合,需要大量的设备和计算以及调试来实现。由于每一片显示面板的工艺不一致,光线透过率会存在差异,需要将每一片显示面板的光线透过率等参数与摄像头的参数进行匹配并进行调试,这样需要巨大的工作量及成本投入,影响了组装效率。为了解决上述技术问题,本公开提供了一种显示面板的检测方法、显示面板及显示装置,下面将结合附图和具体实施方式对本公开提供的显示面板的检测方法、显示面板及显示装置作进一步详细描述。
实施例一
图3为本公开实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图,如图3所示,该显示面板的检测方法包括如下步骤:
步骤S301,利用图像采集装置获取第一显示区的面积、各个第一像素单元的面积及坐标。
需要说明的是,图像采集装置的分辨率一般明显高于显示面板中的第一像素单元101的分辨率,并且图像采集装置的分辨率可以进行适当地调节。在显示面板中的各个第一像素单元101均被点亮时,各个第一像素单元101可以进行显示,形成显示画面,此时,图像采集装置可以拍摄各个第一像素单元101形成的显示画面,并根据显示画面可以获取第一显示区的面积。同时,对应图像采集装置中的坐标系,可以获取各个第一像素单101的面积及坐标。进一步需要说明的是,第一像素单元101的坐标可以用该第一像素单元101的中心点所在的坐标来表示,也可以用该第一像素单元101所在的行数和列数来表示,例如该第一像素单元101的坐标为(6,7),即表示该第一像素单元101位于显示面板的像素阵列中的第6行第7列。可以理解的是,在获取第一显示区的面积和第一像素单元101的面积时,由于二者的大小具有明显的差异,可以通过调节图像采集装置的分辨率来与所测量的参数相匹配,来提高测量的精确度,并提升测量的效率。
步骤S302,利用具有第一亮度的标准光源照射各个第一像素单元,并利用图像采集装置获取透过各个第一像素单元的第二亮度。
需要说明的是,将各个第一像素单元101关闭,各个第一像素单元101中的发光器件不进行发光。将标准光源放置在背离显示面板的显示侧的一侧,即背离第一像素单元101的出光方向的一侧,标准光源的亮度信息是确定的,该标准光源可以发出具有第一亮度的光线,利用该标准光源照射各个第一像素单元101,在显示面板的显示侧,图像采集装置可以获取透过各个第一像素单元的第二亮度。可以理解的是,由于第一像素单元101中膜层的遮挡作用,第二亮度一般小于第一亮度。
步骤S3013,根据公式T=K*(LV2/LV1)*(A2(x,y)/A1),计算各个第一像素单元的光线透过率,并将各个第一像素单元与光线透过率的映射关系存储为查找表,以调用查找表,对显示面板对应的摄像头的参数进行光学补偿;其中,T表示光线透过率,K表示修正系数,LV1表示第一亮度,LV2表示第二亮度,A1表示第一显示区的面积,(x,y)表示各个第一像素单元的坐标,A2表示坐标为(x,y)的第一像素单元的面积。
需要说明的是,由于第一显示区中的各个第一像素单元101的面积可以各不相同,并且光线透过率与第一像素单元101的透过率与第一显示区的面积、第一像素单元的面积、照射第一像素单元的第一亮度和透过第一像素单元的第二亮度有关,可以利用上述公式来计算出不同坐标的各个第一像素单元101的光线透过率。并将各个第一像素单元101与光线透过率的映射关系存储为查找表,利用烧录设备将形成的查找表烧录至存储介质中,存储介质可以为闪存、软盘、光盘等,以用于在显示面板与对应的光学器件组装过程中,调取查找表中的数据来对光学器件进行光学补偿。
本公开实施例提供的显示面板的检测方法中,可以利用图像采集装置,获取并根据第一显示区的面积、第一像素单元的面积、照射第一像素单元的第一亮度和透过第一像素单元的第二亮度,计算不同坐标的第一像素单元101的光线透过率,并将各个第一像素单元101与对应的光线透过率存储为查找表。这样,在每一片显示面板制备完后即获取到了其中的第一像素单元101的光线透过率,在显示面板与对应的光学器件组装过程中,可以从存储的查找表中直接获取到各个第一像素单元101的光线透过率,再参考光学器件的参数进行匹配,可以对光学器件实现像素级别的光学补偿,因此可以大大节省光学器件调试的时间和人工及设备成本,从而可以提升组装效率。
在一些实施例中,上述步骤S301中,利用图像采集获取第一显示区的面积,具体可以通过如下方式实现:在显示状态下,利用图像采集装置获取第一显示区的第三亮度和第二显示区的第四亮度;根据第三亮度、第四亮度和各个第一像素单元的坐标,获取第一显示区的边界;根据第一显示区的边界,计算第一显示区的面积。
需要说明的是,由于第一显示区对应的位置需要放置光学器件,为了不影响透过第一显示区中的第一像素单元101入射至光学器件中的光线,以及为了提高第二显示区中显示画面的显示效果,第一显示区中的第一像素单元101的密度一般小于第二显示区中的第二像素单元102的密度,这样,第一显示区的亮度与第二显示区的亮度存在一定的差异。将显示面板中第一显示区和第二显示区中的像素单元均点亮,同时将图像采集装置的分辨率进行调节,在显示状态下,首先可以利用图像采集装置,获取第一显示区的第三亮度和第二显示区的第四亮度,第三亮度的亮度值低于第四亮度的亮度值,并结合各个第一像素单元101的坐标,利用图像采集装置可以精确获取第一显示区的边界,从而计算出第一显示区的面积。
在一些实施例中,图像采集装置包括电荷耦合器件。
需要说明的是,在本公开实施例中,图像采集装置可以采用电荷耦合器件(Charge-coupled Device,CCD)或者互补金属氧化物(Complementary Metal OxideSemiconductor,CMOS)摄像头等,在本公开实施例中,以图像采集装置为CCD进行说明,该图像采集装置可以为Demura工位上的CCD,不要采用新的设备,从而可以降低检测成本。当然,这里的图像采集装置还可以为其他的具有高分辨率及高精度摄像设备,在此不再一一列举。
在一些实施例中,上述步骤S302中,利用图像采集装置获取透过各个第一像素单元的第二亮度,具体可以通过如下方式实现:利用图像采集装置获取透过各个第一像素单元的初始第二亮度;根据预设算法,对初始第二亮度中的环境光亮度进行去噪处理,获得第二亮度。
需要说明的是,在各个第一像素单元101关闭的状体下,利用图像采集装置获取透过各个第一像素单元的初始第二亮度,由于环境光的影响,获取的初始第二亮度中具有一定的噪声,并且在不能环境中所测量的结果也不同。因此,需要对获取的透过各个第一像素单元101的初始第二亮度进行去噪处理,去除其中的环境光因素,从而获取精确的第二亮度,进而提高最终计算的光线透过率的精确度,避免环境光线的影响。
实施例二
本公开实施例提供了一种显示面板,图4为本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图,如图4所示,该显示面板具有第一显示区和围绕第一显示区的第二显示区;显示面板包括:设置于第一显示区的多个第一像素单元101;第一像素单元101为透明像素单元;显示面板还包括:存储模块103;存储模块103存储有利用如上述实施例提供的显示面板的检查方法获取的查找表;查找表包括各个第一像素单元对应的光线透过率。
需要说明的是,本公开实施例提供的显示面板与上述的示例性的显示面板不同的是,本公开实施例提供的显示面板中的存储模块103中存储有查找表,查找表包括各个第一像素单元101对应的光线透过率。可以理解的是,该存储模块103具体可以为闪存、软盘、光盘等,也可以为显示装置用原有的具有存储功能的器件,在实际应用过程中,只需在原有的结构中写入各个第一像素单元的透过率的相关数据即可,以节约成本。这样,在每一片显示面板制备完后即获取到了其中的第一像素单元101的光线透过率,在显示面板与对应的光学器件组装过程中,可以从存储的查找表中直接获取到各个第一像素单元101的光线透过率,再参考光学器件的参数进行匹配,可以对光学器件实现像素级别的光学补偿,因此可以大大节省光学器件调试的时间和人工及设备成本,从而可以提升组装效率。
在一些实施例中,显示面板还包括:设置于第二显示区的多个第二像素单元102;第一像素单元101的密度小于第二像素单元102的密度。
需要说明的是,在实际应用中,第一显示区中的第一像素单元101的密度可以小于第二显示区中的第二像素单元102的密度,这样,可以提高整个第一显示区光线透过率,从而可以避免第一显示区中的第一像素单元101对光线的遮挡,同时可以保证第二显示区中的第二像素单元102具有较高的分辨率,提高显示效果。
在一些实施例中,第一像素单元101和第二像素单元102均包括有机电致发光器件。
需要说明的是,在实际应用中,第一像素单元101与第二像素单元102采用同样的发光器件制成,以利于显示面板的显示效果,二者均可以为有机电致发光器件。可以理解的是,第一像素单元101和第二像素单元102还可以采用其他类型的发光器件制成,在此不再一一列举。
实施例三
本公开实施例提供了一种显示装置,该显示装置包括如上述任一实施例提供的显示面板。该显示装置可以为手机、平板电脑、智能电视、智能手表等终端设备,其实现原理与上述实施例提供的显示面板的实现原理相同,在此不再赘述。
在一些实施例中,显示装置还包括:与显示面板的第一显示区对应设置的光学器件;光学器件位于背离第一像素单元出光方向的一侧。
需要说明的是,光学器件位于背离第一像素单元的出光方向的一侧,即位于显示面板的底部,这样可以不必占用显示面板的空间,提升显示面板的屏占比,实现真正意义上的全面屏,从而提升显示效果。
在一些实施例中,该光学器件包括摄像头。
需要说明的是,光学器件可以具体为摄像头,形成全面屏显示产品中的屏下摄像头,从而提升显示效果。可以理解的是,该光学器件还可以为光线传感器等其他器件,在此不再一一列举。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本公开的原理而采用的示例性实施方式,然而本公开并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本公开的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本公开的保护范围。
Claims (10)
1.一种显示面板的检测方法,用于检测显示基板的光线透过率;所述显示面板具有第一显示区和围绕所述第一显示区的第二显示区;所述显示面板包括:设置于所述第一显示区的多个第一像素单元;所述第一像素单元为透明像素单元;其特征在于,所述显示面板的检测方法包括:
利用图像采集装置获取所述第一显示区的面积、各个所述第一像素单元的面积及坐标;
利用具有第一亮度的标准光源照射各个所述第一像素单元,并利用图像采集装置获取透过各个所述第一像素单元的第二亮度;
根据公式T=K*(LV2/LV1)*(A2(x,y)/A1),计算各个所述第一像素单元的光线透过率,并将各个所述第一像素单元与所述光线透过率的映射关系存储为查找表,以调用所述查找表,对所述显示面板对应的光学器件的参数进行光学补偿;
其中,T表示光线透过率,K表示修正系数,LV1表示第一亮度,LV2表示第二亮度,A1表示第一显示区的面积,(x,y)表示各个第一像素单元的坐标,A2表示坐标为(x,y)的第一像素单元的面积。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述利用图像采集获取所述第一显示区的面积,包括:
在显示状态下,利用所述图像采集装置获取所述第一显示区的第三亮度和所述第二显示区的第四亮度;
根据所述第三亮度、所述第四亮度和各个所述第一像素单元的坐标,获取所述第一显示区的边界;
根据所述第一显示区的边界,计算所述第一显示区的面积。
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述图像采集装置包括电荷耦合器件。
4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述利用图像采集装置获取透过各个所述第一像素单元的第二亮度,包括:
利用所述图像采集装置获取透过各个所述第一像素单元的初始第二亮度;
根据预设算法,对所述初始第二亮度中的环境光亮度进行去噪处理,获得所述第二亮度。
5.一种显示面板,具有第一显示区和围绕所述第一显示区的第二显示区;所述显示面板包括:设置于所述第一显示区的多个第一像素单元;所述第一像素单元为透明像素单元;其特征在于,所述显示面板还包括:存储模块;所述存储模块存储有利用如权利要求1-4任一项所述的显示面板的检查方法获取的查找表;所述查找表包括各个所述第一像素单元对应的所述光线透过率。
6.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板还包括:设置于所述第二显示区的多个第二像素单元;
所述第一像素单元的密度小于所述第二像素单元的密度。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第一像素单元和所述第二像素单元均包括有机电致发光器件。
8.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求5-7任一项所述的显示面板。
9.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,所述显示装置还包括:与所述显示面板的所述第一显示区对应设置的光学器件;
所述光学器件位于背离所述第一像素单元出光方向的一侧。
10.根据权利要求9所述的显示装置,其特征在于,所述光学器件包括摄像头。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011134483.6A CN112255204B (zh) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 显示面板的检测方法、显示面板及显示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011134483.6A CN112255204B (zh) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 显示面板的检测方法、显示面板及显示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112255204A CN112255204A (zh) | 2021-01-22 |
CN112255204B true CN112255204B (zh) | 2024-03-15 |
Family
ID=74263327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011134483.6A Active CN112255204B (zh) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 显示面板的检测方法、显示面板及显示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112255204B (zh) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140086619A (ko) * | 2012-12-28 | 2014-07-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 |
CN111564133A (zh) * | 2020-06-12 | 2020-08-21 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板的驱动方法、驱动装置及显示装置 |
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