KR20120122545A - Test Handler for Memory Card - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 메모리카드를 테스트장비에 접속시키고, 테스트된 메모리카드를 테스트 결과에 따라 분류하는 메모리카드용 테스트 핸들러에 관한 것이다.The present invention relates to a memory card test handler for connecting a memory card to a test device and classifying the tested memory card according to the test result.
SD(Secure Digital) 카드, 컴팩트 플레시(Compact Flash, CF) 카드, 멀티미디어카드(Multi Media Card, MMC), 메모리스틱(Memory Stick), 스마트미디어(Smart Media) 카드, xD 픽쳐(Extreme Digital Picture) 카드 등의 메모리카드(Memory Card)는 휴대가 간편하면서도 대용량의 데이터를 저장할 수 있는 매체로 널리 사용되고 있다. 예컨대, 상기 메모리카드는 디지털 카메라, 휴대폰, PDA(Personal Digital Assistants) 등의 전자제품 등에 사용되고 있다.SD (Secure Digital) card, Compact Flash (CF) card, Multimedia card (Multi Media Card, MMC), Memory Stick, Smart Media card, xD Picture (Extreme Digital Picture) card Memory cards such as are widely used as a medium for storing a large amount of data while being portable. For example, the memory card is used for electronic products such as digital cameras, mobile phones, and personal digital assistants (PDAs).
상기 메모리카드는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이 공정에는 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정, 메모리카드를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 분류공정 등이 포함된다. 이러한 공정들을 거쳐 정상적으로 작동되지 않는 메모리카드와 정상적으로 작동되는 메모리카드를 분류한 후, 정상적으로 작동되는 메모리카드를 출하하게 된다.The memory card is manufactured through various processes, which include a test process for testing the performance of the memory card, a classification process for classifying the memory cards by grades according to test results, and the like. Through these processes, memory cards that do not operate normally and memory cards that operate normally are classified, and then the memory cards that operate normally are shipped.
종래에는 상기 테스트공정 및 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어졌다. 이에 따라, 메모리카드를 제품화하는데 오랜 시간이 걸리고, 생산성이 저하되는 문제가 있다. 또한, 상기 테스트공정 및 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어짐에 따라, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성이 저하되는 문제가 있다.In the related art, the test process and the sorting process were performed by manual work by an operator. Accordingly, it takes a long time to commercialize the memory card, there is a problem that the productivity is lowered. In addition, as the test process and the sorting process are performed by a manual operation by an operator, there is a problem that the reliability of the performance of the memory card is degraded.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제를 해결하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행할 수 있는 메모리카드용 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a memory card capable of automatically performing a test process for testing the performance of a memory card and a classification process for classifying the memory card into test results. Is to provide a test handler for
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.In order to achieve the object as described above, the present invention includes the following configuration.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러는 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이 및 테스트된 메모리카드가 테스트 결과에 따라 분류되어 수납되기 위한 복수개의 수납트레이가 위치하는 트레이부; 메모리카드를 테스트하기 위한 테스트유닛을 복수개 포함하고, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정이 이루어지는 제1테스트영역과 제2테스트영역에 각각에 상기 테스트유닛이 복수개 설치된 테스트부; 상기 트레이부가 위치한 트레이영역과 상기 제1테스트영역 간에 메모리카드를 운반하기 위해 이동하는 제1버퍼기구, 및 상기 트레이영역과 상기 제2테스트영역 간에 메모리카드를 운반하기 위해 이동하는 제2버퍼기구를 포함하고, 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및 상기 제1버퍼기구와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하고, 상기 제2버퍼기구와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함할 수 있다. 상기 테스트부는 상기 테스트유닛들과 상기 버퍼부 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커를 복수개 포함하되, 상기 제1테스트영역에 설치된 테스트유닛들과 상기 제1버퍼기구 간에 메모리카드를 이송하는 제1테스트픽커, 및 상기 제2테스트영역에 설치된 테스트유닛들과 상기 제2버퍼기구 간에 메모리카드를 이송하는 제2테스트픽커를 포함할 수 있다.The test handler for a memory card according to the present invention includes a tray having a supply tray in which a memory card to be tested is stored and a plurality of storage trays for sorting and storing the tested memory card according to a test result; A test unit including a plurality of test units for testing a memory card, the test unit being provided in a plurality of test units in each of the first test area and the second test area in which a test process for testing the memory card is performed; A first buffer mechanism for moving the memory card between the tray area where the tray part is located and the first test area, and a second buffer mechanism for moving the memory card between the tray area and the second test area; A buffer unit disposed between the tray unit and the test unit; And a transfer picker for transferring a memory card between the first buffer mechanism and the tray portion, and transferring the memory card between the second buffer mechanism and the tray portion. The test unit includes a plurality of test pickers for transferring a memory card between the test units and the buffer unit, wherein the first test picker transfers the memory card between the test units installed in the first test area and the first buffer mechanism. And a second test picker for transferring a memory card between the test units installed in the second test area and the second buffer mechanism.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러는 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이 및 테스트된 메모리카드가 테스트 결과에 따라 분류되어 수납되기 위한 복수개의 수납트레이가 위치하는 트레이부; 메모리카드를 테스트하기 위한 테스트유닛을 복수개 포함하는 테스트부; 메모리카드를 운반하기 위해 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및 상기 버퍼부와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함할 수 있다. 상기 테스트부는 상기 테스트유닛들과 상기 버퍼부 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커를 복수개 포함할 수 있다.The test handler for a memory card according to the present invention includes a tray having a supply tray in which a memory card to be tested is stored and a plurality of storage trays for sorting and storing the tested memory card according to a test result; A test unit including a plurality of test units for testing a memory card; A buffer unit installed between the tray unit and the test unit for carrying a memory card; And a transfer picker for transferring a memory card between the buffer unit and the tray unit. The test unit may include a plurality of test pickers for transferring a memory card between the test units and the buffer unit.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.According to the present invention, the following effects can be achieved.
본 발명은 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행함으로써, 메모리카드에 대한 테스트공정과 분류공정을 수행하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The present invention can automatically perform the test process for testing the performance of the memory card and the classification process for classifying the memory card in the test results, thereby reducing the time taken to perform the test process and the classification process for the memory card, The reliability of the performance of the card can be improved.
도 1은 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 2는 본 발명에 따른 트레이영역 및 테스트영역을 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 이송픽커의 개략적인 측면도
도 5는 본 발명에 따른 테스트픽커의 개략적인 사시도
도 6은 본 발명에 따른 버퍼부의 개략적인 평면도
도 7은 본 발명에 따른 테스트유닛과 개폐유닛의 개략적인 사시도
도 8 내지 도 10은 본 발명에 따른 테스트유닛과 개폐유닛의 작동관계를 설명하기 위한 도 7의 I-I선을 기준으로 한 개략적인 측단면도
도 11은 본 발명에 따른 판독부를 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 12는 본 발명에 따른 비젼부를 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 13은 본 발명에 따른 센서부를 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 14는 본 발명에 따른 센서부의 작동관계를 설명하기 위한 개략적인 측단면도1 is a schematic plan view of a test handler for a memory card according to the present invention
2 is a conceptual plan view illustrating a tray area and a test area according to the present invention;
3 and 4 are schematic side views of a transport picker according to the present invention;
5 is a schematic perspective view of a test picker according to the present invention;
6 is a schematic plan view of a buffer unit according to the present invention;
Figure 7 is a schematic perspective view of the test unit and the opening and closing unit according to the present invention
8 to 10 is a schematic side cross-sectional view based on the line II of Figure 7 for explaining the operation relationship between the test unit and the opening and closing unit according to the present invention
11 is a conceptual plan view for explaining a reading unit according to the present invention;
12 is a conceptual plan view illustrating a vision unit according to the present invention.
13 is a conceptual plan view for explaining a sensor unit according to the present invention.
14 is a schematic side cross-sectional view for explaining the operation relationship of the sensor unit according to the present invention.
이하에서는 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the test handler for a memory card according to the present invention will be described in detail.
도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드를 테스트장비에 접속시키고, 테스트된 메모리카드를 테스트 결과에 따라 분류한다. 상기 메모리카드는 SD(Secure Digital) 카드, 컴팩트 플레시(Compact Flash, CF) 카드, 멀티미디어카드(Multi Media Card, MMC), 메모리스틱(Memory Stick), 스마트미디어(Smart Media) 카드, xD 픽쳐(Extreme Digital Picture) 카드 등일 수 있다.Referring to FIG. 1, the test handler 1 for a memory card according to the present invention connects a memory card to a test equipment, and classifies the tested memory card according to a test result. The memory card may be an SD (Secure Digital) card, a Compact Flash (CF) card, a multimedia card (Multi Media Card, MMC), a memory stick, a smart media card, an xD picture (Extreme). Digital Picture) card or the like.
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드가 위치하기 위한 트레이부(2), 메모리카드를 이송하기 위한 이송픽커(3), 메모리카드를 운반하기 위한 버퍼부(4), 및 메모리카드를 테스트하는 공정이 이루어지는 테스트부(5)를 포함한다. 상기 테스트부(5)는 메모리카드를 테스트하기 위한 복수개의 테스트유닛(51) 및 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51) 간에 메모리카드를 이송하기 위한 복수개의 테스트픽커(52)를 포함한다. 상기 테스트유닛(51)에는 메모리카드를 테스트하는 테스트장비가 설치된다.The test handler 1 for a memory card according to the present invention includes a
상기 이송픽커(3)가 테스트될 메모리카드를 상기 트레이부(2)에서 상기 버퍼부(4)로 이송하면, 상기 버퍼부(4)는 테스트될 메모리카드를 상기 테스트부(5) 쪽으로 운반한다. 상기 테스트픽커(52)가 테스트될 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 상기 테스트유닛(51)으로 이송하면, 상기 테스트유닛(51)은 테스트될 메모리카드를 상기 테스트장비에 접속시킨다. 메모리카드에 대한 테스트가 완료되면, 상기 테스트픽커(52)는 테스트된 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에서 상기 버퍼부(4)로 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 테스트 결과에 따라 등급별로 구분하여 상기 트레이부(2)로 이송한다.When the
상술한 바와 같은 공정들을 거쳐, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드가 갖는 성능을 테스트하는 테스트공정과 메모리카드를 테스트 결과에 분류하는 분류공정을 자동으로 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 종래 기술에 있어서 상기 테스트공정과 상기 분류공정이 작업자에 의한 수동 작업으로 이루어지는 것에 비교할 때, 상기 테스트공정과 상기 분류공정에 걸리는 시간을 줄임으로써 생산성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 종래 기술과 비교할 때, 메모리카드를 테스트 결과에 따라 분류하는 분류공정에 대한 정확성을 향상시킴으로써, 메모리카드가 갖는 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Through the above processes, the memory card test handler 1 according to the present invention can automatically perform a test process for testing the performance of the memory card and a classification process for classifying the memory card into the test results. Therefore, the test handler 1 for the memory card according to the present invention reduces the time taken for the test process and the sorting process, compared to the test process and the sorting process, which are performed by manual operation by an operator in the prior art. This can improve productivity. In addition, the test handler 1 for the memory card according to the present invention improves the accuracy of the sorting process of classifying the memory card according to the test result in comparison with the prior art, thereby improving the reliability of the performance of the memory card. Can be.
이하에서는 상기 트레이부(2), 상기 이송픽커(3), 상기 버퍼부(4), 및 상기 테스트부(5)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the
도 1을 참고하면, 상기 트레이부(2)는 테스트될 메모리카드가 수납된 공급트레이가 위치하는 로딩스택커(21) 및 테스트된 메모리카드가 수납되기 위한 수납트레이가 위치하는 언로딩스택커(22)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the
상기 로딩스택커(21)는 테스트될 메모리카드가 수납된 복수개의 공급트레이를 저장한다. 상기 공급트레이에는 테스트될 메모리카드가 수납되기 위한 복수개의 수납홈(미도시)이 형성되어 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 공급트레이에서 테스트될 메모리카드를 픽업하고, 픽업한 메모리카드를 상기 버퍼부(4)로 이송한다. The
상기 언로딩스택커(22)는 테스트된 메모리카드가 수납되기 위한 복수개의 수납트레이를 저장한다. 상기 수납트레이에는 테스트된 메모리카드가 수납되기 위한 복수개의 수납홈(미도시)이 형성되어 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼부(4)에서 테스트된 메모리카드를 픽업하고, 픽업한 메모리카드를 테스트 결과에 따라 상기 수납트레이들 중 어느 하나로 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 제1축방향(Y축 방향)과 제2축방향(X축 방향)으로 이동하면서, 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 언로딩스택커(22)는 상기 제2축방향(X축 방향)으로 상기 로딩스택커(21)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 언로딩스택커(22)에는 복수개의 수납트레이들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 위치된다. 상기 로딩스택커(21)에는 복수개의 공급트레이들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 위치된다.The
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드를 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트될 메모리카드를 상기 트레이부(2)에서 상기 버퍼부(4)로 이송한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 상기 트레이부(2)로 이송한다. 1 and 2, the
상기 이송픽커(3)는 메모리카드를 이송하는 공정을 수행하기 위해 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 트레이영역(A) 내에서 이동할 수 있다. 상기 트레이영역(A) 내에는 상기 트레이부(2)가 위치한다. 상기 이송픽커(3)는 테스트될 메모리카드를 상기 공급트레이에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 트레이영역(A) 내에 위치한 버퍼부(4)에 수납시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드를 상기 트레이영역(A) 내에 위치한 버퍼부(4)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 수납트레이에 수납시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 메모리카드를 픽업하는 공정 및 메모리카드를 수납시키는 공정을 수행하기 위해 승강(昇降)할 수 있다. 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)를 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동시키고, 상기 이송픽커(3)를 승강시키는 구동수단(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 구동수단은 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 이송픽커(3)를 이동시킬 수 있고, 승강시킬 수 있다. The
여기서, 상기 트레이부(2) 및 상기 테스트부(5)에는 각각 메모리카드들이 서로 다른 간격으로 이격되어서 행렬을 이루면서 수납된다. 상기 테스트부(5)에 수납된 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 트레이부(2)에 수납된 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 서로 이격된 간격보다 넓다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 공급트레이와 상기 수납트레이 각각의 크기를 줄이면서도, 상기 공급트레이와 상기 수납트레이 각각에 더 많은 메모리카드들이 수납되도록 구현될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(5)에서 메모리카드들이 더 넓은 간격으로 수납되도록 할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(5)에서 메모리카드들이 서로 간섭되는 것을 방지함으로써, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.Here, the memory unit is stored in the
이를 위해, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드를 이송하는 과정에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 이격된 간격을 조절한다. 메모리카드들이 서로 이격된 간격을 조절하는데 걸리는 시간을 줄이기 위해, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 버퍼부(4)를 포함한다.To this end, the test handler 1 for a memory card according to the present invention is a memory card in the first axis direction (Y axis direction) in the process of transferring the memory card between the
상기 버퍼부(4)는 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 사이에 설치된다. 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트부(5)에 수납되는 메모리카드들은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격이 동일하다. 상기 버퍼부(4)와 상기 트레이부(2)에 수납되는 메모리카드들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 이격된 간격이 동일하다. 상기 버퍼부(4)에는 메모리카드들이 상기 트레이부(2)에 비해 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 더 넓은 간격을 이루며 수납된다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드들을 이송하는 과정에서 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 간격을 조절한다. 이를 위해, 상기 이송픽커(3)는 이송노즐(31, 도 3에 도시됨) 및 행간격조절유닛(32, 도 3에 도시됨)을 포함한다.The
도 1, 도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 이송노즐(31)은 메모리카드를 흡착할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 이송노즐(31)을 복수개 포함한다. 상기 이송노즐(31)들은 상기 이송픽커(3)의 본체(33)에 행렬을 이루면서 복수개가 설치된다. 상기 이송노즐(31)들은 상기 이송픽커(3)의 본체(33)에 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동 가능하게 설치된다. 상기 이송노즐(31)들은 상기 본체(33)에 승강 가능하게 설치될 수도 있다.1, 3, and 4, the
도 1, 도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 행간격조절유닛(32)은 상기 이송노즐(31)들의 상기 제1축방향(Y축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 메모리카드들이 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4)에서 행렬을 이루며 수납될 때, 상기 제1축방향(Y축 방향)은 행방향과 동일한 방향이다. 즉, 상기 행간격조절유닛(32)은 상기 이송노즐(31)들의 행방향(Y축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 상기 행간격조절유닛(32)은 제1캠판(321) 및 제1승강유닛(322)을 포함한다.1, 3 and 4, the row
상기 제1캠판(321)은 상기 본체(33)에 승강 가능하게 설치된다. 상기 제1캠판(321)에는 복수개의 제1캠홈(3211)이 형성된다. 상기 제1캠홈(3211)들에는 각각 상기 이송노즐(31)들이 이동 가능하게 결합된다. 상기 제1캠홈(3211)들은 각각 상기 제1캠판(321)이 승강하는 방향(Z축 방향)으로 서로 다른 경사각으로 기울어지게 형성된다. 상기 제1캠홈(3211)들은 각각 상기 제1캠판(321)이 하강하는 방향을 향할수록 서로 간의 간격이 좁혀지게 형성될 수 있다. 상기 제1캠홈(3211)들은 상기 이송노즐(31)들이 동일한 간격으로 벌어지거나 좁혀질 수 있도록 안내한다.The
상기 제1승강유닛(322)은 상기 제1캠판(321)을 승강시킬 수 있다. 상기 제1승강유닛(322)이 상기 제1캠판(321)을 승강시키면, 상기 이송노즐(31)들은 상기 제1캠홈(3211)을 따라 이동되어서 상기 행방향(Y축 방향)으로 간격이 조절될 수 있다.The first elevating
도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1승강유닛(322)이 상기 제1캠판(321)을 상승시키면, 상기 이송노즐(31)들은 상기 제1캠홈(3211)들을 따라 이동되어서 상기 행방향(Y축 방향)으로 간격이 좁혀지게 된다. 상기 이송노즐(31)들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 좁혀진 간격은, 트레이부(2)에서 메모리카드들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 이송노즐(31)들은 상기 트레이부(2)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 이송픽커(3)는 상기 공급트레이로부터 테스트될 메모리카드들을 픽업할 수 있고, 상기 수납트레이에 테스트된 메모리카드들을 수납시킬 수 있다.As shown in FIG. 3, when the first elevating
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1승강유닛(322)이 상기 제1캠판(321)을 하강시키면, 상기 이송노즐(31)들은 상기 제1캠홈(3211)들을 따라 이동되어서 상기 행방향(Y축 방향)으로 간격이 벌어지게 된다. 상기 이송노즐(31)들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 벌어진 간격은, 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트부(5)에서 메모리카드들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 이송노즐(31)들은 상기 버퍼부(4)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼부(4)에 테스트될 메모리카드들을 수납시킬 수 있고, 상기 버퍼부(4)로부터 테스트된 메모리카드들을 픽업할 수 있다. As shown in FIG. 4, when the first elevating
따라서, 상기 이송픽커(3)는 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 픽업할 수 있고, 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 수납시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2)와 상기 버퍼부(4) 간에 메모리카드들을 이송하는 공정에 걸리는 시간을 단축시킬 수 있다. 상기 제1승강유닛(322)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제1캠판(321)을 승강시킬 수 있다.Accordingly, the
도 1 및 도 5를 참고하면, 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51)들에 수납되는 메모리카드들은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격이 동일하다. 상기 테스트유닛(51)들에는 메모리카드들이 상기 버퍼부(4)에 비해 상기 제2축방향(X축 방향)으로 더 넓은 간격을 이루며 수납된다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51)들 간에 메모리카드들을 이송하는 과정에서 상기 제2축방향(X축 방향)으로 간격을 조절한다. 이를 위해, 상기 테스트픽커(52)는 테스트노즐(521, 도 5에 도시됨) 및 열간격조절유닛(522, 도 5에 도시됨)을 포함한다.1 and 5, the memory cards accommodated in the
도 1 및 도 5를 참고하면, 상기 테스트노즐(521)은 메모리카드를 흡착할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트노즐(521)을 복수개 포함한다. 상기 테스트노즐(521)들은 상기 테스트픽커(52)의 본체(523)에 행렬을 이루면서 복수개가 설치된다. 상기 테스트노즐(521)들은 상기 본체(523)에 승강 가능하게 설치될 수도 있다.1 and 5, the
도 1 및 도 5를 참고하면, 상기 열간격조절유닛(522)은 상기 테스트노즐(521)들의 상기 제2축방향(X축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 메모리카드들이 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51)에서 행렬을 이루며 수납될 때, 상기 제2축방향(X축 방향)은 열방향과 동일한 방향이다. 즉, 상기 열간격조절유닛(522)은 상기 테스트노즐(521)들의 열방향(X축 방향) 간격을 조절할 수 있다. 상기 열간격조절유닛(522)은 제2캠판(5221, 도 5에 도시됨) 및 제2승강유닛(5222, 도 5에 도시됨)을 포함한다.1 and 5, the thermal
상기 제2캠판(5221)은 상기 본체(523)에 승강 가능하게 설치된다. 상기 제2캠판(5221)에는 복수개의 제2캠홈(5221a)이 형성된다. 상기 제2캠홈(5221a)들에는 각각 상기 테스트노즐(521)들이 이동 가능하게 결합된다. 상기 제2캠홈(5221a)들은 각각 상기 제2캠판(5221)이 승강하는 방향(Z축 방향)으로 서로 다른 경사각으로 기울어지게 형성된다. 상기 제2캠홈(5221a)들은 각각 상기 제2캠판(5221)이 하강하는 방향을 향할수록 서로 간의 간격이 벌어지게 형성될 수 있다. 상기 제2캠홈(5221a)들은 상기 테스트노즐(521)들이 동일한 간격으로 벌어지거나 좁혀질 수 있도록 안내한다.The
상기 제2승강유닛(5222)은 상기 제2캠판(5221)을 승강시킬 수 있다. 상기 제2승강유닛(5222)이 상기 제2캠판(5221)을 승강시키면, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 제2캠홈(5221a)을 따라 이동되어서 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 조절될 수 있다. The second elevating
예컨대, 상기 제2승강유닛(5222)이 상기 제2캠판(5221)을 하강시키면, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 제2캠홈(5221a)들을 따라 이동되어서 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 좁혀지게 된다. 상기 테스트노즐(521)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 좁혀진 간격은, 상기 버퍼부(4)에서 메모리카드들이 상기 열방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 버퍼부(4)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 버퍼부(4)로부터 테스트될 메모리카드들을 픽업할 수 있고, 상기 버퍼부(4)에 테스트된 메모리카드들을 수납시킬 수 있다.For example, when the second elevating
예컨대, 상기 제2승강유닛(5222)이 상기 제2캠판(5221)을 상승시키면, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 제2캠홈(5221a)들을 따라 이동되어서 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 벌어지게 된다. 도 5는 상기 테스트노즐(521)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 간격이 벌어진 상태를 나타낸 것이다. 상기 테스트노즐(521)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 벌어진 간격은, 상기 테스트유닛(51)에서 메모리카드들이 상기 열방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 이 경우, 상기 테스트노즐(521)들은 상기 테스트유닛(51)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일한 간격으로 조절된다. 이 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트유닛(51)에 테스트될 메모리카드들을 수납시킬 수 있고, 상기 테스트유닛(51)으로부터 테스트된 메모리카드들을 픽업할 수 있다.For example, when the second elevating
따라서, 상기 테스트픽커(52)는 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 픽업할 수 있고, 한번에 복수개의 메모리카드들을 행렬 단위로 수납시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드들을 이송하는 공정에 걸리는 시간을 단축시킬 수 있다. 상기 제2승강유닛(5222)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제2캠판(5221)을 승강시킬 수 있다.Therefore, the
도 1, 도 2 및 도 6을 참고하면, 상기 버퍼부(4)는 메모리카드를 운반한다. 상기 버퍼부(4)는 복수개의 메모리카드가 수납되기 위한 버퍼기구(41, 도 6에 도시됨) 및 상기 버퍼기구(41)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시키는 구동기구(42, 도 6에 도시됨)를 포함한다.1, 2 and 6, the
상기 버퍼기구(41)에는 메모리카드가 수납되는 버퍼홈(411, 도 6에 도시됨)이 형성된다. 상기 버퍼홈(411)들은 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되어 행렬을 이루며 형성될 수 있다. 상기 버퍼홈(411)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 테스트유닛(51, 도 1에 도시됨)에서 메모리카드들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다. 상기 버퍼홈(411)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 공급트레이와 수납트레이에서 메모리카드들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이격되게 수납되는 간격과 동일하다.The
상기 구동기구(42)는 상기 버퍼기구(41)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킨다. 상기 구동기구(42)는 상기 버퍼기구(41)가 상기 트레이영역(A) 또는 테스트영역(B)에 위치되게 상기 버퍼기구(41)를 이동시킨다. 상기 테스트영역(B)은 상기 테스트유닛(51)들이 설치된 영역이다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이영역(A)에 위치한 버퍼기구(41)와 상기 트레이부(2) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트영역(B)에 위치한 버퍼기구(41)와 상기 테스트유닛(51) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 이에 따라, 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)는 서로 다른 위치에 위치된 버퍼기구(41)에 대해 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 메모리카드를 이송하는 과정에서 서로 충돌하는 것을 방지할 수 있다.The
상기 구동기구(42)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 버퍼기구(41)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다.The
상기 버퍼부(4)는 상기 버퍼기구(41) 및 상기 구동기구(42)를 각각 복수개 포함할 수 있다. 상기 버퍼기구(41)들은 서로 개별적으로 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼기구(41)들 중에서 상기 트레이영역(A)에 위치한 버퍼기구(41)에 대해 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 또한, 상기 테스트픽커(52)는 상기 버퍼기구(41)들 중에서 상기 테스트영역(B)에 위치한 버퍼기구(41)에 대해 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 메모리카드를 이송하는 공정을 동시에 수행할 수 있으므로, 상기 테스트공정과 상기 분류공정에 걸리는 시간을 단축할 수 있다.The
도 1, 도 2, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 테스트유닛(51) 및 상기 테스트픽커(52)를 포함한다.1, 2, 7 and 8, the
상기 테스트유닛(51)에는 상기 테스트장비(T, 도 7에 도시됨)가 연결된다. 상기 테스트장비(T)는 상기 테스트유닛(51)에 수납된 메모리카드들을 테스트한다. 상기 테스트유닛(51)은 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결되기 위한 접속핀(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(51)은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트소켓(511, 도 8에 도시됨), 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드를 상기 테스트장비(T)에 접속시키기 위한 랫치(512, 도 8에 도시됨), 및 상기 테스트소켓(511)이 복수개 설치되는 테스트보드(513, 도 7에 도시됨)를 포함한다.The
상기 테스트소켓(511)은 메모리카드가 수납되기 위한 테스트홈(5111)을 포함한다. 상기 테스트소켓(511)은 상기 테스트홈(5111)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되어 행렬을 이루도록 상기 테스트보드(513)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 테스트홈(5111)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격은, 상기 버퍼홈(411, 도 6에 도시됨)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격된 간격과 동일하다.The
상기 테스트소켓(511)은 제1소켓본체(5112, 도 8에 도시됨) 및 제2소켓본체(5113, 도 8에 도시됨)를 포함한다. The
상기 제1소켓본체(5112)는 상기 제2소켓본체(5113)에 승강 가능하게 결합된다. 상기 제1소켓본체(5112)에는 상기 테스트홈(5111)이 형성된다. 상기 제1소켓본체(5112)에는 상기 랫치(512)가 결합된다. 상기 제1소켓본체(5112)는 스프링(미도시)을 매개로 하여 상기 제2소켓본체(5113)에 탄성적으로 승강 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)에 외력이 가해지지 않은 경우, 상기 제1소켓본체(5112)는 상기 스프링이 갖는 탄성력에 의해 상승될 수 있다.The
상기 제2소켓본체(5113)는 상기 테스트보드(513)에 결합된다. 도 8을 참고하면, 상기 제2소켓본체(5113)에는 지지부재(5114), 탄성부재(5115) 및 접속부재(5116)가 설치된다.The
상기 지지부재(5114)에는 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드가 안착된다. 상기 지지부재(5114)는 상기 탄성부재(5115)를 매개로 하여 상기 제2소켓본체(5113)에 탄성적으로 승강 가능하게 결합된다. 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드는 상기 접속부재(5116)에 전기적으로 연결된다.The memory card accommodated in the
상기 탄성부재(5115)는 상기 지지부재(5114)와 상기 제2소켓본체(5113) 사이에 위치되게 결합된다. 상기 탄성부재(5115)는 일측이 상기 지지부재(5114)에 결합되고, 타측이 상기 제2소켓본체(5113)에 결합된다. 상기 랫치(512)가 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드를 누르면, 상기 탄성부재(5115)는 상기 지지부재(5114)에 눌려서 압축될 수 있다. 상기 랫치(512)가 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드로부터 이격되면, 상기 탄성부재(5115)는 인장되면서 상기 지지부재(5114)를 상승시킬 수 있다. 상기 테스트소켓(511)은 상기 탄성부재(5115)를 복수개 포함할 수 있다.The
상기 접속부재(5116)는 일측이 상기 지지부재(5114)에 결합되고, 타측이 상기 제2소켓본체(5113)에 결합된다. 상기 접속부재(5116)는 일측이 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 접속부재(5116)는 타측이 상기 테스트보드(513, 도 7에 도시됨)에 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 지지부재(5114)에 안착된 메모리카드는 상기 접속부재(5116) 및 상기 테스트보드(513)를 통해 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 테스트소켓(511)은 상기 접속부재(5116)를 복수개 포함할 수 있다.One side of the
도 1, 도 2, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 랫치(512, 도 8에 도시됨)는 상기 테스트소켓(511)에 이동 가능하게 설치된다. 상기 테스트홈(5111)에 메모리카드가 수납될 때, 상기 랫치(512)는 메모리카드가 상기 테스트홈(5111)에 수납되는 것에 방해되지 않는 위치로 회전할 수 있다. 상기 테스트홈(5111)에 메모리카드가 수납되면, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누를 수 있는 위치로 회전할 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드는 상기 테스트장비(T)에 접속될 수 있다. 상기 랫치(512)는 상기 제1소켓본체(5112)에 회전 가능하게 설치될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)에는 상기 랫치(512)가 복수개 결합될 수 있다. 상기 랫치(512)는 스프링(미도시)을 매개로 하여 상기 제1소켓본체(5112)에 탄성적으로 회전 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)가 상승되면, 상기 랫치(512)는 상기 스프링이 갖는 탄성력에 의해 상기 테스트홈(5111)에 수납된 메모리카드를 누를 수 있도록 회전될 수 있다. 상기 제1소켓본체(5112)가 하강되면, 상기 랫치(512)는 메모리카드가 상기 테스트홈(5111)에 수납되는 것에 방해되지 않는 위치로 회전할 수 있다.1, 2, 7 and 8, the latches 512 (shown in FIG. 8) are movably installed in the
상기 테스트보드(513, 도 7에 도시됨)에는 상기 테스트소켓(511)이 복수개 설치된다. 상기 테스트소켓(511)들은 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 상기 테스트보드(513)에 설치될 수 있다. 상기 테스트보드(513)에는 상기 테스트장비(T)에 전기적으로 연결되기 위한 접속핀(미도시)이 설치된다. 상기 테스트보드(513)는 상기 테스트소켓(511)이 갖는 접속부재(5116)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 상기 테스트장비(T)는 상기 접속부재(5116) 및 상기 접속핀을 통해 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드를 테스트할 수 있다. 상기 테스트보드(513)는 전체적으로 사각판형으로 형성될 수 있다.A plurality of
도 1, 도 2, 도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 테스트픽커(52, 도 1에 도시됨)는 상기 버퍼부(4)와 상기 테스트유닛(51) 간에 메모리카드를 이송한다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트될 메모리카드를 상기 버퍼부(4)에서 상기 테스트유닛(51)으로 이송한다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트된 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에서 상기 버퍼부(4)로 이송한다. 1, 2, 7 and 8, the test picker 52 (shown in FIG. 1) transfers a memory card between the
상기 테스트픽커(52)는 메모리카드를 이송하는 공정을 수행하기 위해 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트영역(B, 도 2에 도시됨) 내에서 이동할 수 있다. 상기 테스트영역(B) 내에는 상기 테스트유닛(51)이 위치한다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트될 메모리카드를 상기 테스트영역(B) 내에 위치한 버퍼부(4)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에 수납시킬 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 테스트된 메모리카드를 상기 테스트유닛(51)에서 픽업한 후, 픽업한 메모리카드를 상기 테스트영역(B) 내에 위치한 버퍼부(4)에 수납시킬 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 메모리카드를 픽업하는 공정 및 메모리카드를 수납시키는 공정을 수행하기 위해 승강할 수 있다. 상기 테스트부(5)는 상기 테스트픽커(52)를 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 이동시키고, 상기 테스트픽커(52)를 승강시키는 구동수단(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 구동수단은 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 테스트픽커(52)를 이동시킬 수 있고, 승강시킬 수 있다. The
도 1, 도 2, 도 7 내지 도 10을 참고하면, 상기 테스트부(5)는 상기 랫치(512, 도 8에 도시됨)를 이동시키기 위한 개폐유닛(53, 도 7에 도시됨)을 포함한다.1, 2, 7 to 10, the
상기 개폐유닛(53)은 상기 테스트홈(5111)이 개방(開放)되도록 상기 랫치(512)를 이동시킬 수 있다. 상기 테스트홈(5111)이 개방된 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트소켓(511)에 테스트될 메모리카드(M, 도 9에 도시됨)를 수납시킬 수 있고, 상기 테스트소켓(511)으로부터 테스트된 메모리카드(M)를 픽업할 수 있다. 상기 개폐유닛(53)은 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄(閉鎖)되도록 상기 랫치(512)를 이동시킬 수 있다. 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄된 상태에서, 상기 랫치(512)는 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드(M)를 누를 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드(M)는 상기 테스트장비(T, 도 7에 도시됨)에 접속되어 테스트될 수 있다. 상기 개폐유닛(53)은 개폐기구(531), 제1이동기구(532, 도 7에 도시됨) 및 제2이동기구(533, 도 7에 도시됨)를 포함한다.The opening and
상기 개폐기구(531)는 상기 제1소켓본체(5112)를 승강시킬 수 있다. 도 9에 도시된 바와 같이 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시키면, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 개방되도록 회전할 수 있다. 도 10에 도시된 바와 같이 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)로부터 이격되면, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄되도록 회전할 수 있다. 상기 개폐기구(531)에는 복수개의 관통공(5311)이 형성될 수 있다. 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시킬 때, 상기 관통공(5311)들은 각각 상기 테스트홈(5111)에 대응되는 위치에 위치된다. 이에 따라, 상기 개폐기구(531)가 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시킨 상태에서, 상기 테스트픽커(52)는 상기 관통공(5311)을 통해 상기 테스트소켓(511)에 메모리카드(M)를 수납시킬 수 있고, 상기 관통공(5311)을 통해 상기 테스트소켓(511)으로부터 메모리카드(M)를 픽업할 수 있다. 상기 개폐기구(531)는 전체적으로 사각판형으로 형성될 수 있다.The opening and
상기 제1이동기구(532, 도 7에 도시됨)는 상기 개폐기구(531)를 승강시킨다. 상기 제1이동기구(532)가 상기 개폐기구(531)를 하강시키면, 상기 개폐기구(531)는 상기 제1소켓본체(5112)를 하강시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 개방되도록 회전할 수 있다. 상기 제1이동기구(532)가 상기 개폐기구(531)를 상승시키면, 상기 개폐기구(531)는 상기 제1소켓본체(5112)로부터 이격될 수 있다. 이에 따라, 상기 랫치(512)는 상기 테스트홈(5111)이 폐쇄되도록 회전할 수 있다. 상기 제1이동기구(532)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 개폐기구(531)를 승강시킬 수 있다.The first moving mechanism 532 (shown in FIG. 7) lifts the opening and
상기 제2이동기구(533, 도 7에 도시됨)는 상기 개폐기구(531)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킨다. 상기 테스트보드(513)에는 상기 테스트유닛(51)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 복수개가 결합된다. 상기 제2이동기구(533)는 상기 개폐기구(531)가 상기 테스트유닛(51)들 중 일부를 선택적으로 개폐시키도록 상기 개폐기구(531)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트유닛(51)들 중 일부에 수납된 메모리카드(M)들에 대해 테스트공정이 이루어지는 동안, 다른 테스트유닛(51)들에 대해 메모리카드(M)를 수납시키는 공정과 메모리카드를 픽업하는 공정이 이루어질 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 복수개의 테스트유닛(51)들에 대해 하나의 개폐기구(531)가 공용으로 사용되도록 함으로써, 상기 개폐기구(531)의 개수를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 재료비를 줄임으로써, 장비 전체에 대한 제조단가를 낮출 수 있다.The second moving mechanism 533 (shown in FIG. 7) moves the opening and
상기 제2이동기구(533)에는 상기 제1이동기구(532)가 결합될 수 있다. 상기 제2이동기구(533)는 상기 제1이동기구(532)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킴으로써, 상기 개폐기구(531)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다. 상기 제2이동기구(533)는 유압실린더 또는 공압실린더 등을 이용한 실린더방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터를 이용한 방식 등을 이용하여 상기 제1이동기구(532)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다.The
여기서, 도 2 및 도 7을 참고하면 상기 테스트부(5)는 제1테스트영역(B1, 도 2에 도시됨)과 제2테스트영역(B2, 도 2에 도시됨) 각각에 상기 테스트유닛(51)이 복수개가 설치될 수 있다. 상기 제1테스트영역(B1)과 상기 제2테스트영역(B2)은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 위치된다. 상기 버퍼부(4)는 상기 트레이영역(A)과 상기 제1테스트영역(B1) 간에 메모리카드를 운반하기 위한 제1버퍼기구(41a, 도 2에 도시됨), 및 상기 트레이영역(A)과 상기 제2테스트영역(B2) 간에 메모리카드를 운반하기 위한 제2버퍼기구(41b, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 상기 테스트부(5)는 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들과 상기 제1버퍼기구(41a) 간에 메모리카드를 이송하는 제1테스트픽커(52a, 도 2에 도시됨), 및 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들과 상기 제2버퍼기구(41b) 간에 메모리카드를 이송하는 제2테스트픽커(52b, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.2 and 7, the
첫째, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 하나의 트레이부(2)에 대해 상기 제1테스트영역(B1)과 상기 제2테스트영역(B2) 각각에 설치된 테스트유닛(51)들이 개별적으로 메모리카드에 대한 테스트공정을 수행할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 또는 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 중에서 어느 하나에 오작동이 발생하더라도, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 또는 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 중에서 오작동이 발생하지 않은 어느 하나를 이용하여 메모리카드에 대한 테스트공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드에 대한 테스트공정이 연속적으로 수행되도록 함으로써, 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대한 테스트공정을 수행할 수 있다.First, the test handler 1 for a memory card according to the present invention includes
둘째, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 하나의 트레이부(2)에 대해 상기 제1버퍼기구(41a)와 상기 제1테스트픽커(52a)가 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있고, 이와 개별적으로 상기 제2버퍼기구(41b)와 상기 제2테스트픽커(52b)가 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1버퍼기구(41a)와 상기 제1테스트픽커(52a) 또는 상기 제2버퍼기구(41b)와 상기 제2테스트픽커(52b) 중에서 어느 하나에 오작동이 발생하더라도, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제1버퍼기구(41a)와 상기 제1테스트픽커(52a) 또는 상기 제2버퍼기구(41b)와 상기 제2테스트픽커(52b) 중에서 오작동이 발생하지 않은 어느 하나를 이용하여 메모리카드를 이송하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2), 상기 버퍼부(4), 및 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드를 이송하는 공정이 연속적으로 수행되도록 함으로써, 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대해 상기 테스트공정과 상기 분류공정을 수행할 수 있다.Second, the test handler 1 for a memory card according to the present invention performs a process of transferring the memory card by the
셋째, 상기 테스트장비(T)가 메모리카드를 테스트하는데 걸리는 시간은, 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 상기 트레이부(2), 상기 버퍼부(4), 및 상기 테스트부(5) 간에 메모리카드를 이송하는데 걸리는 시간보다 길다. 따라서, 하나의 트레이부(2)에 대해 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 또는 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(52)들 중 어느 하나만 구비된 경우, 상기 테스트장치(T)가 메모리카드에 대한 테스트를 완료할 때까지 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 대기하는 시간이 발생하게 된다.Third, the time it takes for the test equipment T to test the memory card is such that the
본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제1버퍼기구(41a), 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트유닛(51)들 및 상기 제1테스트픽커(52a)가 하나의 세트를 이루며 메모리카드를 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 간에 이송하는 공정 및 메모리카드를 테스트하는 공정을 수행할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 제2버퍼기구(42a), 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트유닛(51)들 및 상기 제2테스트픽커(52b)가 하나의 세트를 이루며 메모리카드를 상기 트레이부(2)와 상기 테스트부(5) 간에 이송하는 공정 및 메모리카드를 테스트하는 공정을 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 이송픽커(3)와 상기 테스트픽커(52)가 대기하는 시간을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 짧은 시간에 더 많은 메모리카드에 대해 상기 테스트공정과 상기 분류공정을 수행할 수 있다.In the memory card test handler 1 according to the present invention, the
도 2 및 도 7을 참고하면, 상기 제1테스트영역(B1)에는 상기 테스트보드(513)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 이에 따라, 상기 제1테스트영역(B1)에는 상기 테스트유닛(51)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 설치된다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 상기 제1테스트영역(B1) 내에서 이동할 수 있다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 상기 제1버퍼기구(41a) 및 상기 제1테스트영역(B1) 내에 설치된 테스트유닛(51)들 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제1버퍼기구(41a)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제1버퍼기구(41a)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제1버퍼기구(41a)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시키는 제1구동기구(42a)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제1구동기구(42a)들은 상기 제1버퍼기구(41a)들을 상기 트레이영역(A)과 상기 제1테스트영역(B1) 간에 이동시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 트레이영역(A)에 위치한 제1버퍼기구(41a) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 상기 제1테스트영역(B1)에 위치한 테스트유닛(51)들과 상기 제1테스트영역(B1)에 위치한 제1버퍼기구(41a) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제1테스트픽커(52a)는 메모리카드를 흡착하기 위한 제1테스트노즐(미도시), 및 상기 제1테스트노즐들의 열방향(X축 방향) 간격을 조절하는 제1열간격조절유닛(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제1테스트영역(B1)에 설치된 테스트보드(513)들 각각에는 상기 개폐유닛(53)이 설치될 수 있다.2 and 7, the
도 2 및 도 7을 참고하면, 상기 제2테스트영역(B2)에는 상기 테스트보드(513)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 설치된다. 이에 따라, 상기 제2테스트영역(B2)에는 상기 테스트유닛(51)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 설치된다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 상기 제2테스트영역(B2) 내에서 이동할 수 있다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 상기 제2버퍼기구(41b) 및 상기 제2테스트영역(B2) 내에 설치된 테스트유닛(51)들 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제2버퍼기구(41b)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제2버퍼기구(41b)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 버퍼부(4)는 상기 제2버퍼기구(41b)를 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시키는 제2구동기구(42b)를 복수개 포함할 수 있다. 상기 제2구동기구(42b)들은 상기 제2버퍼기구(41b)들을 상기 트레이영역(A)과 상기 제2테스트영역(B2) 간에 이동시킬 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 트레이부(2)와 상기 트레이영역(A)에 위치한 제2버퍼기구(41b) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 상기 제2테스트영역(B2)에 위치한 테스트유닛(51)들과 상기 제2테스트영역(B2)에 위치한 제2버퍼기구(41b) 간에 메모리카드를 이송할 수 있다. 상기 제2테스트픽커(52b)는 메모리카드를 흡착하기 위한 제2테스트노즐(미도시), 및 상기 제2테스트노즐들의 열방향(X축 방향) 간격을 조절하는 제2열간격조절유닛(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제2테스트영역(B2)에 설치된 테스트보드(513)들 각각에는 상기 개폐유닛(53)이 설치될 수 있다.2 and 7, the
여기서, 메모리카드들은 제품정보별로 서로 다른 공급트레이들에 수납되어 상기 트레이부(2)에 공급될 수 있다. 상기 제품정보는 메모리카드가 납품될 고객사정보, 메모리카드의 종류, 및 메모리카드의 사양 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 트레이부(2)에는 제1제품정보를 갖는 메모리카드들이 우선하여 상기 트레이부(2)에서 상기 테스트부(5)로 이송된 후, 제2제품정보를 갖는 메모리카드들이 상기 트레이부(2)에서 상기 테스트부(5)로 이송되도록 상기 공급트레이들이 구분되어 공급된다. 이에 따라, 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드들이 우선하여 상기 수납트레이에 테스트 결과에 따라 등급별로 구분되어 수납된 후, 상기 제2제품정보를 갖는 메모리카드들이 상기 수납트레이에 테스트 결과에 따라 등급별로 구분되어 수납될 수 있다. 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드들과 상기 제2제품정보를 갖는 메모리카드들은 수납트레이별로 구분되어 출하될 수 있도록 서로 다른 수납트레이에 수납된다. 여기서, 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드를 테스트하는데 걸리는 시간이, 상기 제2제품정보를 갖는 메모리카드를 테스트하는데 걸리는 시간보다 긴 경우, 상기 버퍼부(4)에는 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드들과 상기 제2제품정보를 갖는 메모리카드들이 섞여서 수납될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드들과 상기 제2제품정보를 갖는 메모리카드들이 섞여서 출하될 수 있는 문제가 있다. 이를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드(M)의 제품정보를 획득하기 위한 판독부(6, 도 11에 도시됨)를 포함한다.Here, the memory cards may be stored in different supply trays for each product information and supplied to the
도 11을 참고하면, 상기 판독부(6)는 메모리카드(M)에 형성된 바코드(미도시)를 판독하여 메모리카드(M)의 제품정보를 획득할 수 있다. 상기 판독부(6)는 획득한 제품정보를 상기 이송픽커(3)에 제공할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 제품정보를 이용하여 상기 버퍼부(4)에 수납된 테스트된 메모리카드(M)를 상기 버퍼부(2)에서 상기 수납트레이로 이송할 수 있다.Referring to FIG. 11, the
예컨대, 상기 이송픽커(3)는 테스트된 메모리카드(M)를 중에서 제1제품정보를 갖는 메모리카드(M)들 전부를 우선하여 상기 수납트레이에 수납시킨 후에, 제2제품정보를 갖는 메모리카드(M)들을 상기 수납트레이에 수납시킬 수 있다. 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 상기 트레이부(2)에 공급된 메모리카드들의 제품정보와 제품정보별 개수를 저장하는 메모리부(미도시)를 포함한다. 상기 이송픽커(3)는 상기 수납트레이로 이송한 제1제품정보를 갖는 메모리카드(M)들의 개수가 상기 메모리부에 저장된 제1제품정보를 갖는 메모리카드(M)들의 개수에 도달할 때까지 테스트된 메모리카드(M)들 중에서 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드(M)들을 우선하여 상기 버퍼부(4)에서 상기 수납트레이로 이송할 수 있다. 상기 제1제품정보를 갖는 메모리카드(M)들 전부가 테스트 결과에 따라 등급별로 구분되어 상기 수납트레이들에 수납되면, 해당 수납트레이들은 비어있는 수납트레이들로 교체된다. 그 후, 상기 이송픽커(3)는 교체된 수납트레이들에 상기 제2제품정보를 갖는 메모리카드(M)들을 수납시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 서로 다른 제품정보를 갖는 메모리카드(M)들이 수납트레이별로 구분되어 출하되도록 할 수 있다. For example, the
도 11을 참고하면, 상기 판독부(6)는 상기 이송픽커(3)에 설치될 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 버퍼부(4)에 수납된 메모리카드(M)들을 픽업하기 전에, 상기 판독부(6)가 상기 버퍼부(4)에 수납된 메모리카드(M)들로부터 제품정보를 획득하도록 이동할 수 있다. 상기 이송픽커(3)에는 메모리카드(M)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 상기 버퍼부(4)에 수납되는 개수와 일치하는 개수의 판독부(6)가 설치될 수 있다. 예컨대, 도 11에 도시된 바와 같이 메모리카드(M)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 8개씩 상기 버퍼부(4)에 수납되고, 상기 이송픽커(3)에는 상기 판독부(6)가 상기 제2축방향(X축 방향)으로 8개가 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 이송픽커(3)가 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하면, 상기 판독부(6)들은 상기 버퍼부(4)에 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 수납된 메모리카드(M)들이 갖는 제품정보들을 획득할 수 있다. 상기 판독부(6)들은 상기 이송노즐(31)들로부터 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 소정 거리 이격되게 상기 이송픽커(3)에 설치될 수 있다.Referring to FIG. 11, the
도 12를 참고하면, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드(M)에 대한 외관검사를 수행하기 위한 비젼부(7)를 포함한다.Referring to FIG. 12, the test handler 1 for a memory card according to the present invention includes a
상기 비젼부(7)는 상기 테스트유닛(51)에 위치된 메모리카드(M)를 촬영하여 메모리카드(M)에 대한 검사이미지를 획득할 수 있다. 상기 비젼부(7)는 획득한 검사이미지와 기준이미지를 비교함으로써 메모리카드(M)에 대한 외관검사를 수행할 수 있다. 상기 기준이미지는 정상적인 상태의 메모리카드(M)에 대한 이미지이다. 상기 비젼부(7)에는 상기 기준이미지가 저장되어 있다. 상기 비젼부(7)는 상기 테스트유닛(51)에 위치한 메모리카드(M)를 촬영하기 위한 CCD(Charge-coupled device) 카메라를 포함할 수 있다. 상기 비젼부(7)는 상기 테스트소켓(511)에 설치된 랫치(512, 도 8에 도시됨)를 촬영하여 상기 랫치(512)에 대한 검사이미지를 획득할 수도 있다. 이에 따라, 상기 비젼부(7)는 상기 랫치(512)의 손상 여부에 대한 외관검사를 수행할 수도 있다. 상기 비젼부(7)는 상기 랫치(512)와 해당 랫치(512)가 누르고 있는 메모리카드(M)가 포함된 검사이미지를 획득할 수도 있다.The
도 12를 참고하면, 상기 비젼부(7)는 상기 테스트픽커(52)에 설치될 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트유닛(51)에 수납된 메모리카드(M)들을 픽업하기 전에, 상기 비젼부(7)가 상기 테스트유닛(51)에 수납된 메모리카드(M)들로부터 검사이미지를 획득하도록 이동할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)에는 메모리카드(M)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 상기 테스트유닛(51)에 수납되는 개수와 일치하는 개수의 비젼부(7)가 설치될 수 있다. 예컨대, 도 12에 도시된 바와 같이 메모리카드(M)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 8개씩 상기 테스트유닛(51)에 수납되고, 상기 테스트픽커(52)에는 상기 비젼부(7)가 상기 제2축방향(X축 방향)으로 8개가 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트픽커(52)가 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하면, 상기 비젼부(7)들은 상기 테스트유닛(51)에 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 수납된 메모리카드(M)들에 대한 검사이미지들을 획득할 수 있다. 상기 비젼부(7)들은 상기 테스트노즐(521)들로부터 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 소정 거리 이격되게 상기 테스트픽커(52)에 설치될 수 있다. 상기 테스트부(5)가 복수개의 테스트픽커(52)를 포함하는 경우, 상기 테스트픽커(52)들 각각에 상기 비젼부(7)가 설치될 수 있다. 상기 비젼부(7)는 상기 메모리카드(M)에 대한 검사 결과를 상기 이송픽커(3)에 제공할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 상기 비젼부(7)로부터 제공된 검사 결과에 따라 메모리카드(M)를 상기 수납트레이에 구분하여 수납시킬 수 있다.Referring to FIG. 12, the
도 13 및 도 14를 참고하면, 본 발명에 따른 메모리카드용 테스트 핸들러(1)는 메모리카드(M)가 상기 테스트유닛(51)에 위치한 상태정보를 획득하기 위한 센서부(8)를 포함한다.Referring to FIGS. 13 and 14, the test handler 1 for a memory card according to the present invention includes a
상기 센서부(8)는 상기 테스트유닛(51)에 메모리카드(M)가 수납되어 있는 상태정보를 획득할 수 있다. 상기 상태정보는 상기 테스트유닛(51)에 2개 이상이 서로 결합된 메모리카드(M)가 수납된 상태, 상기 테스트유닛(51)에 메모리카드(M)가 기울어져 수납된 상태 등일 수 있다. 도 14에 도시된 바와 같이 상기 테스트소켓(511)에 2개 이상이 서로 결합된 메모리카드(M)가 수납된 경우, 상기 테스트픽커(52, 도 13에 도시됨)는 해당 메모리카드(M)에 대한 테스트공정이 수행되지 않도록 해당 메모리카드(M)를 상기 테스트소켓(511)으로부터 픽업하여 상기 버퍼부(4, 도 1에 도시됨)로 이송할 수 있다. 상기 이송픽커(3)는 2개 이상이 서로 결합된 메모리카드(M)를 별도의 수납트레이에 수납시킬 수 있다. 도시되지 않았지만 상기 테스트소켓(511)에 상기 메모리카드(M)가 기울어져 수납된 경우, 상기 테스트픽커(52)는 해당 메모리카드(M)를 픽업한 후, 해당 테스트소켓(511)에 다시 수납시킬 수 있다.The
도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 센서부(8)는 상기 테스트픽커(52)에 설치될 수 있다. 상기 테스트픽커(52)는 상기 테스트유닛(51)에 수납된 메모리카드(M)들에 대한 테스트공정이 수행되기 전에, 상기 센서부(8)가 상기 테스트유닛(51)에 수납된 메모리카드(M)들에 대한 상태정보를 획득하도록 이동할 수 있다. 상기 테스트픽커(52)에는 메모리카드(M)들이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 상기 테스트유닛(51)에 수납되는 개수와 일치하는 개수의 센서부(8)가 설치될 수 있다. 예컨대, 도 13에 도시된 바와 같이 메모리카드(M)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 8개씩 상기 테스트유닛(51)에 수납되고, 상기 테스트픽커(52)에는 상기 센서부(8)가 상기 제2축방향(X축 방향)으로 8개가 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트픽커(52)가 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하면, 상기 센서부(8)들은 상기 테스트유닛(51)에 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 행렬을 이루며 수납된 메모리카드(M)들에 대한 상태정보를 획득할 수 있다. 상기 센서부(8)들은 상기 테스트노즐(521)들로부터 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 소정 거리 이격되게 상기 테스트픽커(52)에 설치될 수 있다. 상기 테스트부(5)가 복수개의 테스트픽커(52)를 포함하는 경우, 상기 테스트픽커(52)들 각각에 상기 센서부(8)가 설치될 수 있다. 상기 센서부(8)는 상기 메모리카드(M)에 대한 상태정보를 상기 테스트픽커(52)에 제공할 수 있다.13 and 14, the
도 13 및 도 14를 참고하면, 상기 센서부(8)는 상기 테스트유닛(51)에 위치한 메모리카드(M)를 향해 광(光)을 방출하는 발광센서(81, 도 14에 도시됨), 상기 발광센서(81)가 방출한 광을 수광하기 위한 수광센서(82, 도 14에 도시됨), 및 상기 수광센서(82)에 수광된 광을 이용하여 상기 테스트유닛(51)에 위치한 메모리카드(M)의 상태정보를 획득하는 검출유닛(83)을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 13 and 14, the
상기 발광센서(81)와 상기 수광센서(82)는 서로 소정 거리 이격되어 설치될 수 있다. 상기 발광센서(81)가 방출한 광은 상기 메모리카드(M)에 반사되어 상기 수광센서(82)에 수광될 수 있다. 상기 검출유닛(83)은 상기 발광센서(81)가 방출한 광이 상기 수광센서(82)에 수광될 때까지 걸린 시간을 이용하여 상기 메모리카드(M)의 상태정보를 획득할 수 있다. 상기 테스트소켓(511)에 2개 이상이 서로 결합된 메모리카드(M)가 수납된 경우 상기 테스트소켓(511)에 1개의 메모리카드(M)가 수납된 경우와 비교할 때, 상기 수광센서(82)에 상기 발광센서(81)가 방출한 광이 수광될 때까지 걸리는 시간이 감소한다. 이로부터, 상기 검출유닛(83)은 상기 테스트소켓(511)에 2개 이상이 서로 결합된 메모리카드(M)가 수납된 상태임을 확인할 수 있다. 상기 검출유닛(83)은 상기 수광센서(82)에 수광된 광량(光量)을 이용하여 상기 테스트소켓(511)에 수납된 메모리카드(M)에 대한 상태정보를 획득할 수도 있다. 상기 테스트소켓(511)에 메모리카드(M)가 기울어져 수납된 경우 상기 테스트소켓(511)에 메모리카드(M)가 정상적으로 수납된 경우와 비교할 때, 상기 수광센서(82)에 상기 발광센서(81)가 방출한 광이 수광되는 양이 감소한다. 이로부터, 상기 검출유닛(83)은 상기 테스트소켓(511)에 메모리카드(M)가 기울어져 수납된 상태임을 확인할 수 있다. 상기 검출유닛(83)은 상기 메모리카드(M)에 대한 상태정보를 상기 테스트픽커(52)에 제공할 수 있다.The
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and alterations are possible within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those who have knowledge.
1 : 메모리카드용 테스트 핸들러 2 : 트레이부 3 : 이송픽커
4 : 버퍼부 5 : 테스트부 6 : 판독부 7 : 비젼부 8 : 센서부1: Test handler for memory card 2: Tray 3: Transfer picker
Claims (9)
메모리카드를 테스트하기 위한 테스트유닛을 복수개 포함하고, 메모리카드를 테스트하는 테스트공정이 이루어지는 제1테스트영역과 제2테스트영역에 각각에 상기 테스트유닛이 복수개 설치된 테스트부;
상기 트레이부가 위치한 트레이영역과 상기 제1테스트영역 간에 메모리카드를 운반하기 위해 이동하는 제1버퍼기구, 및 상기 트레이영역과 상기 제2테스트영역 간에 메모리카드를 운반하기 위해 이동하는 제2버퍼기구를 포함하고, 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및
상기 제1버퍼기구와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하고, 상기 제2버퍼기구와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함하고,
상기 테스트부는 상기 테스트유닛들과 상기 버퍼부 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커를 복수개 포함하되, 상기 제1테스트영역에 설치된 테스트유닛들과 상기 제1버퍼기구 간에 메모리카드를 이송하는 제1테스트픽커, 및 상기 제2테스트영역에 설치된 테스트유닛들과 상기 제2버퍼기구 간에 메모리카드를 이송하는 제2테스트픽커를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.A tray unit in which a supply tray in which a memory card to be tested is stored and a plurality of storage trays for sorting and storing the tested memory card according to a test result are located;
A test unit including a plurality of test units for testing a memory card, the test unit being provided in a plurality of test units in each of the first test area and the second test area in which a test process for testing the memory card is performed;
A first buffer mechanism for moving the memory card between the tray area where the tray part is located and the first test area, and a second buffer mechanism for moving the memory card between the tray area and the second test area; A buffer unit disposed between the tray unit and the test unit; And
A transfer picker for transferring a memory card between the first buffer mechanism and the tray portion, and transferring a memory card between the second buffer mechanism and the tray portion,
The test unit includes a plurality of test pickers for transferring a memory card between the test units and the buffer unit, wherein the first test picker transfers the memory card between the test units installed in the first test area and the first buffer mechanism. And a second test picker for transferring the memory card between the test units provided in the second test area and the second buffer mechanism.
상기 이송픽커는 메모리카드를 흡착하기 위한 복수개의 이송노즐, 및 상기 이송노즐들의 행방향 간격을 조절하는 행간격조절유닛을 포함하고;
상기 제1테스트픽커는 메모리카드를 흡착하기 위한 복수개의 제1테스트노즐, 및 상기 제1테스트노즐들의 열방향 간격을 조절하는 제1열간격조절유닛을 포함하고;
상기 제2테스트픽커는 메모리카드를 흡착하기 위한 복수개의 제2테스트노즐, 및 상기 제2테스트노즐들의 열방향 간격을 조절하는 제2열간격조절유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method of claim 1,
The transfer picker includes a plurality of transfer nozzles for adsorbing a memory card, and a row interval adjusting unit for adjusting a row interval of the transfer nozzles;
The first test picker includes a plurality of first test nozzles for adsorbing a memory card, and a first thermal spacing adjusting unit for adjusting a thermal spacing of the first test nozzles;
The second test picker includes a plurality of second test nozzles for adsorbing a memory card, and a second thermal spacing adjusting unit for adjusting a column spacing of the second test nozzles. .
메모리카드를 테스트하기 위한 테스트유닛을 복수개 포함하는 테스트부;
메모리카드를 운반하기 위해 상기 트레이부와 상기 테스트부 사이에 설치된 버퍼부; 및
상기 버퍼부와 상기 트레이부 간에 메모리카드를 이송하는 이송픽커를 포함하고,
상기 테스트부는 상기 테스트유닛들과 상기 버퍼부 간에 메모리카드를 이송하는 테스트픽커를 복수개 포함하는 메모리카드용 테스트 핸들러.A tray unit in which a supply tray in which a memory card to be tested is stored and a plurality of storage trays for sorting and storing the tested memory card according to a test result are located;
A test unit including a plurality of test units for testing a memory card;
A buffer unit installed between the tray unit and the test unit for carrying a memory card; And
A transfer picker for transferring a memory card between the buffer unit and the tray unit;
And the test unit comprises a plurality of test pickers for transferring a memory card between the test units and the buffer unit.
상기 이송픽커는 메모리카드를 흡착하기 위한 복수개의 이송노즐, 및 상기 이송노즐들의 행방향 간격을 조절하는 행간격조절유닛을 포함하고;
상기 테스트픽커들은 각각 메모리카드를 흡착하기 위한 복수개의 테스트노즐, 및 상기 테스트노즐들의 열방향 간격을 조절하는 열간격조절유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method of claim 3,
The transfer picker includes a plurality of transfer nozzles for adsorbing a memory card, and a row interval adjusting unit for adjusting a row interval of the transfer nozzles;
Wherein the test pickers each include a plurality of test nozzles for adsorbing a memory card, and a thermal interval adjusting unit for adjusting a thermal gap of the test nozzles.
상기 이송픽커에 설치되고, 메모리카드에 형성된 바코드를 판독하여 메모리카드의 제품정보를 획득하기 위한 판독부를 포함하고;
상기 이송픽커는 상기 판독부가 획득한 제품정보를 이용하여 상기 버퍼부에 수납된 테스트된 메모리카드를 상기 버퍼부에서 상기 수납트레이로 이송하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method according to claim 1 or 3,
A reading unit installed in the transfer picker and reading a barcode formed on the memory card to obtain product information of the memory card;
The transfer picker transfers the tested memory card stored in the buffer unit from the buffer unit to the storage tray by using the product information obtained by the reading unit.
상기 판독부는 메모리카드가 납품될 고객사정보, 메모리카드의 종류, 및 메모리카드의 사양 중에서 적어도 하나가 포함된 제품정보를 획득하고;
상기 이송픽커는 테스트된 메모리카드가 상기 제품정보별로 상기 수납트레이에 수납되도록 테스트된 메모리카드를 상기 버퍼부에서 상기 수납트레이로 이송하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method of claim 5,
The reading unit obtains product information including at least one of customer company information to which the memory card is to be delivered, a type of memory card, and specifications of the memory card;
The transfer picker transfers the tested memory card from the buffer unit to the storage tray so that the tested memory card is stored in the storage tray for each product information.
메모리카드에 대한 외관검사를 수행하기 위해 상기 테스트유닛에 위치된 메모리카드를 촬영하는 비젼부를 포함하고;
상기 비젼부는 상기 테스트픽커들 각각에 설치된 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method according to claim 1 or 3,
A vision unit for photographing the memory card located in the test unit to perform a visual inspection on the memory card;
And the vision unit is installed in each of the test pickers.
메모리카드가 상기 테스트유닛에 위치한 상태정보를 획득하기 위한 센서부를 포함하고;
상기 센서부는 상기 테스트픽커들 각각에 설치된 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method according to claim 1 or 3,
A memory card includes a sensor unit for obtaining status information located in the test unit;
And the sensor unit is installed in each of the test pickers.
상기 테스트유닛에 위치한 메모리카드를 향해 광(光)을 방출하는 발광센서;
상기 발광센서가 방출한 광을 수광하기 위한 수광센서; 및
상기 수광센서에 수광된 광을 이용하여 상기 테스트유닛에 위치한 메모리카드의 상태정보를 획득하는 검출유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드용 테스트 핸들러.The method of claim 8, wherein the sensor unit
A light emitting sensor emitting light toward a memory card located in the test unit;
A light receiving sensor for receiving the light emitted by the light emitting sensor; And
And a detection unit for acquiring status information of the memory card located in the test unit by using the light received by the light receiving sensor.
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200472122Y1 (en) * | 2012-12-11 | 2014-04-22 | 혼. 테크놀로지스, 인코포레이티드 | Face to face type working equipment for electronic unit |
| KR20150140889A (en) * | 2014-06-07 | 2015-12-17 | 미래산업 주식회사 | Apparatus for Transferring Tray and Test Handler for Electronic Component |
| KR20170087750A (en) * | 2016-01-21 | 2017-07-31 | (주)테크윙 | Handler for testing semiconductor |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103977964B (en) * | 2013-02-07 | 2017-04-12 | 泰克元有限公司 | Pressure applying device for testing sorting machine |
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| JP6688912B1 (en) * | 2019-01-11 | 2020-04-28 | Dmg森精機株式会社 | Pallet transfer system, pallet transfer method, and pallet transfer program |
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Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002174658A (en) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Advantest Corp | Handler, and testing device for electronic component |
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| KR100857911B1 (en) * | 2007-02-01 | 2008-09-10 | 미래산업 주식회사 | Sorting Apparatus for Semiconductor Test Handler and Sorting Method |
| KR100894734B1 (en) * | 2007-04-18 | 2009-04-24 | 미래산업 주식회사 | A receiver of an electronic element and handler including the same |
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| KR100959372B1 (en) * | 2008-03-24 | 2010-05-24 | 미래산업 주식회사 | Transferring Semiconductor, Handler having the same, and Method of Manufacturing Semiconductor using the same |
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Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200472122Y1 (en) * | 2012-12-11 | 2014-04-22 | 혼. 테크놀로지스, 인코포레이티드 | Face to face type working equipment for electronic unit |
| KR20150140889A (en) * | 2014-06-07 | 2015-12-17 | 미래산업 주식회사 | Apparatus for Transferring Tray and Test Handler for Electronic Component |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
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