KR20110092006A - 조도센서를 이용한 엘이디 밝기 검사장치 및 검사방법 - Google Patents
조도센서를 이용한 엘이디 밝기 검사장치 및 검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20110092006A KR20110092006A KR1020100011411A KR20100011411A KR20110092006A KR 20110092006 A KR20110092006 A KR 20110092006A KR 1020100011411 A KR1020100011411 A KR 1020100011411A KR 20100011411 A KR20100011411 A KR 20100011411A KR 20110092006 A KR20110092006 A KR 20110092006A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- led
- brightness
- sensor
- value
- resistance
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims description 20
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 7
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 5
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 238000010835 comparative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4228—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
- G01J2001/083—Testing response of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
- G01J2001/4252—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources for testing LED's
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/446—Photodiode
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사장치의 개략적인 구성도.
도 3은 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 밝기 측정장치의 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 밝기 측정장치의 정면도.
도 5는 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 밝기 측정장치의 평면도.
도 6은 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 밝기 측정장치의 측면도.
도 7은 본 발명에 따른 이송 플레이트 및 볼스크류의 내부 구성을 나타낸 도면.
도 8은 본 발명에 따른 이송 플레이트의 상하 이송상태를 나타낸 도면.
도 9는 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사방법의 순서도.
도 10은 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 각 LED의 밝기 값 측정시 일련번호를 부여하는 실시 예.
도 11은 본 발명에 따른 조도센서를 이용한 LED 모듈의 밝기 테스트 결과를 나타낸 참고도.
120 : 기둥 130 : LM가이드
131 : 가이드홈 140 : 고정플레이트
141 : 탑재판넬 150 : 모터
151 : 모터축 152 : 베어링
160 : 볼스크류 161 : 고정블럭
162 : 베어링 163 : 이송블럭
164 : 충격흡수부재 165 : 체결공
170 : 구동벨트 180 : 이송 플레이트
181 : 가이드부재 181a : 돌출구
182 : 센서고정부 183 : 칸막이
184 : 투과율조정덮개 185 : 조도센서
186 : 체결공 190 : 장착지그
200 : Mux 회로부 300 : 저항측정 Meter
400 : 컴퓨터 410 : 데이타베이스
420 : 통신부 430 : Mux 제어부
440 : 조도환산부 450 : 비교분석부
700 : LED 모듈 B : 볼트
Claims (7)
- 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사장치에 있어서,
LED가 다수 구비되는 LED 모듈(700)이 탑재되며, 상기 LED 모듈(700)에 구비되는 각 LED의 밝기를 측정하는 측정장치(100)와;
상기 측정된 각 LED 밝기의 저항출력을 스캔하여 읽어드리는 Mux 회로부(200)와;
상기 각 LED 저항값을 측정하는 저항측정 Meter(300)와;
LED 빛 밝기가 정상인 콘덕턴스 값 범위가 사전에 입력되며, 상기 측정된 저항값을 콘덕턴스 값으로 환산하여 상기 정상 범위의 값과 비교하여 합격 또는 불량을 판정하는 컴퓨터(400)로 구성되는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사장치. - 제 1항에 있어서, 상기 측정장치(100)는
바닥면에 구비되는 베이스 플레이트(110)와;
상기 베이스 플레이트(110)의 상부면 좌우단에 수직으로 고정되는 기둥(120)과;
상기 좌우단 기둥(120) 전면에 가이드홈(131)이 양측면 수직방향으로 형성되어 볼트(B)로 각각 체결되는 LM가이드(130)와;
상기 좌우단 기둥(120) 배면에 볼트(B)로 양단이 체결되며, 후면 중앙부 일측에 탑재판넬(141)이 돌출되는 고정플레이트(140)와;
상기 탑재판넬(141) 상부면에 탑재되며, 상부로 베어링(152)이 삽입된 모터축(151)이 돌출되는 모터(150)와;
상기 고정플레이트(140) 전면 중앙부 상단에 고정블럭(161)이 볼트(B) 체결되며, 상기 고정블럭(161)에 수직방향으로 삽입되어 충격흡수부재(164)를 상단에 구비하여 상하 이송되는 이송블럭(163)에 삽입되고, 상기 고정블럭(161) 상단 돌출부에는 베어링(162)이 삽입되는 볼스크류(160)와;
상기 모터(150)와 볼스크류(160)의 베어링(152,162) 외주면에 양단이 고정되는 구동벨트(170)와;
상기 이송블럭(163) 전면에 볼트(B)로 체결되어 상하 이송 가능하도록 구성되며, 좌우단 배면에 가이드부재(181)가 각각 구비되어, 상기 LM가이드(130)의 가이드홈(131)에 돌출구(181a)가 삽입되며, 하단 전면으로는 센서고정부(182)가 구비되고, 상기 센서고정부(182) 하부면에는 LED 모듈(700)에 구비되는 각 LED의 밝기를 측정하도록 조도센서(185)가 일정 간격으로 구비되는 이송 플레이트(180)와;
상기 조도센서(185)가 구비되는 센서고정부(182) 하단에는 상기 LED 모듈(700)이 탑재되도록 기둥(120)에 양단이 고정되는 장착지그(190)로 구성되는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사장치. - 제 2항에 있어서,
상기 조도센서(185)가 구비되는 센서고정부(182) 하단에는 각 조도센서(185)마다 칸막이(183)로 구획되어져, LED의 밝기를 측정시 인접된 좌우 LED의 빛을 차단하며, 상기 조도센서(185) 하부 일측의 좌우 칸막이(183)에는 투과율조정덮개(184)가 더 구비되어, 너무 밝은 LED 빛이 발생되면 밝기를 줄여주는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사장치. - 제 1항에 있어서, 상기 컴퓨터(400)는
정상 범위의 콘덕턴스 값과 LED 모듈(700)에서 측정된 각 LED에 대한 저항값이 저장되는 데이타베이스(410)와;
상기 저항측정 Meter(300)로부터 측정된 저항값을 전송받는 통신부(420)와;
상기 Mux 회로부(200)를 구동하는 Mux 제어부(430)와;
상기 전송된 저항값을 콘덕턴스 값으로 환산하는 조도환산부(440)와;
상기 환산된 콘덕턴스 값을 데이타베이스(410)에 저장된 정상 범위의 콘덕턴스 값과 비교하여 합격 또는 불량을 판정하는 비교분석부(450)로 구성되는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사장치. - 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사방법에 있어서,
컴퓨터(400)의 데이타베이스(410)에 LED 빛 밝기가 정상인 콘덕턴스 값 범위가 입력단말기로 입력되는 제10단계(S10)와;
장착지그(190)에 탑재된 LED 모듈(700)에 전원을 인가하여 각 LED가 빛을 발생시키도록 하여, 각 LED 상부에 구비되는 조도센서(185)가 빛 밝기를 측정하는 제20단계(S20)와;
상기 조도센서(185)와 전기적으로 연결되는 Mux 회로부(200)에서 측정된 각 LED 밝기의 저항출력을 스캔하여 읽어드리는 제30단계(S30)와;
상기 각 LED 저항값을 저항측정 Meter(300)에서 측정한 후, 컴퓨터(400)의 데이타베이스(410)로 각 LED 저항값이 통신을 이용하여 전송되는 제40단계(S40)와;
상기 데이타베이스(410)로 각 LED 저항값에 대한 입력신호 발생시 조도환산부(440)에서 전송된 저항값을 콘덕턴스 값으로 환산하는 제50단계(S50)와;
상기 환산된 콘덕턴스 값을 비교분석부(450)에서 데이타베이스(410)에 저장된 정상 범위의 콘덕턴스 값과 비교하여 LED 모듈(700)에 구비되는 각 LED별로 합격 또는 불량을 판정하여 컴퓨터(400) 화면 또는 소리로 출력시키는 제60단계(S60)를 포함하는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사방법. - 제 5항에 있어서,
상기 제20단계(S20)는 측정하고자 하는 LED의 밝기 정도에 따라 조도센서(185)와 LED 모듈(700)간 높이 조절이 모터(150)로 구동되는 볼스크류(160)의 회전 방향에 의해 상하로 이송되는 이송블럭(163)에 고정된 이송 플레이트(180)의 높이 조절로 이루어지는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사방법. - 제 5항에 있어서,
상기 제50단계(S50)는 전송된 LED 저항값 또는 환산된 콘덕턴스 값이 다소 떨림이 있을 경우 평균값으로 사용하거나 또는 필터링 하여 사용하는 것을 특징으로 하는 조도센서를 이용한 LED 밝기 검사방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100011411A KR101097048B1 (ko) | 2010-02-08 | 2010-02-08 | 조도센서를 이용한 엘이디 밝기 검사장치 및 검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100011411A KR101097048B1 (ko) | 2010-02-08 | 2010-02-08 | 조도센서를 이용한 엘이디 밝기 검사장치 및 검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110092006A true KR20110092006A (ko) | 2011-08-17 |
KR101097048B1 KR101097048B1 (ko) | 2011-12-22 |
Family
ID=44929025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100011411A KR101097048B1 (ko) | 2010-02-08 | 2010-02-08 | 조도센서를 이용한 엘이디 밝기 검사장치 및 검사방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101097048B1 (ko) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101448022B1 (ko) * | 2014-05-26 | 2014-10-08 | 한국건설기술연구원 | 터널 휘도계 이상 판별 시스템 및 방법 |
KR20200008912A (ko) * | 2018-07-17 | 2020-01-29 | 재단법인 한국기계전기전자시험연구원 | 조도 센서 평가 장치 |
KR102107186B1 (ko) * | 2018-12-07 | 2020-05-06 | 에코엘이디(주) | 멀티밴드채널로 광특성을 측정 및 분석하는 led바의 광특성 검사장치 |
EP2592400B1 (en) * | 2011-11-14 | 2021-12-22 | Feasa Enterprises Limited | Analysing light sources |
KR20230152907A (ko) | 2022-04-28 | 2023-11-06 | 신선영 | 엘이디 조명등의 조도 제어장치 |
-
2010
- 2010-02-08 KR KR1020100011411A patent/KR101097048B1/ko active IP Right Grant
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2592400B1 (en) * | 2011-11-14 | 2021-12-22 | Feasa Enterprises Limited | Analysing light sources |
KR101448022B1 (ko) * | 2014-05-26 | 2014-10-08 | 한국건설기술연구원 | 터널 휘도계 이상 판별 시스템 및 방법 |
KR20200008912A (ko) * | 2018-07-17 | 2020-01-29 | 재단법인 한국기계전기전자시험연구원 | 조도 센서 평가 장치 |
KR102107186B1 (ko) * | 2018-12-07 | 2020-05-06 | 에코엘이디(주) | 멀티밴드채널로 광특성을 측정 및 분석하는 led바의 광특성 검사장치 |
KR20230152907A (ko) | 2022-04-28 | 2023-11-06 | 신선영 | 엘이디 조명등의 조도 제어장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101097048B1 (ko) | 2011-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI445929B (zh) | A light emission measuring device, a light emission measuring method, a control program, and a readable recording medium | |
KR101097048B1 (ko) | 조도센서를 이용한 엘이디 밝기 검사장치 및 검사방법 | |
US7023232B2 (en) | Image display device, drive circuit device and defect detection method of light-emitting diode | |
CN201575974U (zh) | 电路板图像及激光检测设备 | |
KR100863140B1 (ko) | 반도체 웨이퍼의 이물 검사 및 리페어 시스템과 그 방법 | |
KR101489948B1 (ko) | Led 소자와 led모듈의 불량 검사방법 및 led 소자와 led모듈의 불량 검사장치 | |
CN1254689C (zh) | 检测丢失元件的方法和装置以及固定装置 | |
CN1896754A (zh) | 对电路器件进行不加电测试的方法和装置 | |
KR101201487B1 (ko) | 엘이디 검사장치 | |
EP1356309B1 (en) | Method and apparatus for verifying a color of a led in a printed circuit board | |
CN209198340U (zh) | 电子元器件检测设备 | |
KR101374880B1 (ko) | 엘이디 검사장치 | |
JP2020201086A (ja) | Led搭載基板の検査装置 | |
CN202221452U (zh) | 自动测试*** | |
CN115938255A (zh) | 显示检测装置、检测方法及检测*** | |
KR101376537B1 (ko) | 인라인 타입의 엘이디 검사시스템 | |
JP2012503758A (ja) | ソーラーモジュールを備える発光素子の測定装置及びその測定方法 | |
CN101881660B (zh) | 产品的表面亮度的检测治具及检测方法 | |
JP2011095116A (ja) | 点灯検査装置、方法、及び、プログラム | |
CN109282972B (zh) | 一种测定特种灯具光强参数的装置和方法 | |
KR101041460B1 (ko) | 엘이디 검사장치 및 이를 이용한 엘이디 검사방법 | |
KR101049097B1 (ko) | 광원특성 검사 시스템 및 이를 이용한 검사방법 | |
TW201013165A (en) | Inspection machine for lighting assembly with plural lighting parts and inspection method thereof | |
CN109283190A (zh) | 电子元器件检测设备 | |
CN113295389B (zh) | 光电参数多应力在线测试平台 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141210 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151210 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161205 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171017 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181001 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190930 Year of fee payment: 9 |