KR20090109700A - 메모리 테스트 보드의 동기화 장치 - Google Patents
메모리 테스트 보드의 동기화 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (8)
- 메모리 테스트 보드에 장착된 다수의 테스트 소자로부터 테스트하고자 하는 메모리로 출력되는 각 테스트 신호 사이의 시간 지연을 동기화하는 장치에 있어서,상기 다수의 테스트 소자의 출력단 각각에 접속되어 있는 제 1 라인;상기 제1 라인과 병렬로 상기 다수의 테스트 소자의 출력단 각각에 접속되어 있는 제2 라인; 및상기 다수의 테스트 소자들 중 선택된 2개의 테스트 소자로부터 출력되는 테스트 신호를 상기 제1 라인 또는 제2 라인을 통해 입력받으며, 상기 입력된 테스트 신호들의 시간 지연 차이를 비교하는 비교부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제1 라인과 제2 라인 상에는상기 다수의 테스트 소자들 중 동기화하고자 하는 테스트 소자를 선택적으로 상기 비교부와 접속되도록 제어하는 릴레이가 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 제1 라인과 제2 라인은상기 다수의 테스트 소자와 상기 테스트 소자의 성능 파라미터를 측정하기 위한 유닛(parametric measurement unit)을 서로 접속하기 위한 라인이며,상기 비교부는 상기 성능 파마리터를 측정하기 위한 유닛과 병렬로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
- 메모리 테스트 보드에 장착된 다수의 테스트 소자로부터 테스트하고자 하는 메모리로 출력되는 각 테스트 신호 사이의 시간 지연을 동기화하는 장치에 있어서,상기 다수의 테스트 소자들 중 선택된 2개의 테스트 소자로부터 출력되는 테스트 신호의 시간 지연 차이를 비교하는 비교부;상기 비교한 시간 지연 차이가 상기 선택된 2개의 테스트 소자와 상기 비교부 사이의 거리 차이를 감안하여 결정되는 임계 오차 범위인지 판단하는 판단부; 및상기 판단부의 판단 결과 상기 테스트 신호의 시간 지연 차이가 상기 임계 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 선택된 2개의 테스트 소자들 중 하나의 테스트 소자로부터 출력되는 테스트 신호를 기준 신호로 하여 나머지 다른 하나의 테스트 소자로부터 출력되는 테스트 신호를 상기 기준 신호에 동기화되도록 제어하는 동기화 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 테스트 소자의 출력단에는 제1 라인과 제2 라인이 접속되어 있으며,상기 테스트 소자로부터 출력되는 테스트 신호는 상기 제1 라인 또는 제2 라인을 통해 상기 비교부로 입력되는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기 화 장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 선택된 2개의 테스트 소자로부터 출력되는 테스트 신호들 중 상기 기준 신호는 상기 제1 라인을 통해 상기 비교부로 입력되며, 나머지 테스트 신호는 상기 제2 라인을 통해 상기 비교부로 입력되는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
- 제 5 항에 있어서, 상기 제1 라인과 제2 라인 상에는상기 다수의 테스트 소자들 중 동기화하고자 하는 테스트 소자를 선택적으로 상기 비교부와 접속되도록 제어하는 릴레이가 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
- 제 5 항에 있어서, 상기 제1 라인과 제2 라인은상기 다수의 테스트 소자와 상기 테스트 소자의 성능 파라미터를 측정하기 위한 유닛(parametric measurement unit, PMU)을 서로 접속하기 위한 라인이며,상기 비교부는 상기 성능 파마리터를 측정하기 위한 유닛(PMU)과 병렬로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 보드의 동기화 장치.
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2008
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