JP6520127B2 - 基板検査装置、基板検査方法及び基板検査用治具 - Google Patents
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Description
請求項2記載の発明は、前記測定手段が測定する反射信号を時間情報とともに格納する記憶手段を備え、前記判定手段は、前記反射信号の異常を検出した際に、該異常と前記記憶手段に格納される時間情報を特定し、該時間情報から検査対象の複数の配線から一の配線を特定することを特徴とする請求項1の基板検査装置を提供する。
請求項3記載の発明は、基板に形成された配線の良否を検査する方法であって、検査対象となる複数の配線を直列接続し、前記直列接続された配線の一端から、TDR測定を実施するための検査信号を入力し、前記配線の一端から前記検査信号の反射信号を検出し、前記反射信号を基に、前記直列接続された配線の良否を判定する基板検査方法を提供する。
請求項4記載の発明は、基板に形成された配線の良否を検査する基板検査装置と基板を電気的に接続する治具であって、前記検査を実施するためのTDR測定用の検査信号を前記基板の配線の一端へ供給する第一接続部と、前記配線の一端と他の配線の一端を導通接続する第二接続部を有することを特徴とする基板検査用治具を提供する。
図1は、本発明に係る基板検査装置の一実施形態を示す概略図である。本発明に係る基板検査装置1は、電源手段2、測定手段3、判定手段4、記憶手段5、接続手段6、制御手段7を少なくとも備えている。本発明の基板検査装置1は、上記の如く、基板に設けられる配線の良否を判定するために用いられるが、基板の配線に限定されず、TDR測定方法を用いて導通状態の良否を判定することができる検査対象物に適用することができる。
以上が本発明に係る基板検査装置の概略構成の説明である。
2・・・・・電源手段
3・・・・・測定手段
4・・・・・判定手段
5・・・・・記憶手段
6・・・・・接続手段
61・・・・第一接続部
62・・・・第二接続部
7・・・・・制御手段
8・・・・・治具
CB・・・・基板
Claims (4)
- 基板に形成された配線の良否を検査する基板検査装置であって、
前記検査を実施するために、TDR測定用の検査信号を供給する電源手段と、
前記検査信号の反射された反射信号を測定する測定手段と、
前記測定手段で測定された反射信号を基に、検査対象の配線の良否を判定する判定手段と、
前記検査が実施される際に、検査対象となる複数の配線を直列接続させるとともに該直列接続された配線の一端と、前記電源手段及び前記測定手段とを接続する接続手段と、
前記測定手段が測定する反射信号を時間情報とともに格納する記憶手段とを備え、
前記判定手段は、前記反射信号の異常を検出した際に、該異常と前記記憶手段に格納される時間情報を特定し、該時間情報から検査対象の複数の配線から一の配線を特定することを特徴とする基板検査装置。 - 基板に形成された配線の良否を検査する方法であって、
検査対象となる複数の配線を直列接続し、
前記直列接続された配線の一端から、TDR測定を実施するための検査信号を入力し、
前記配線の一端から前記検査信号の反射信号を検出し、
前記反射信号を基に、前記直列接続された配線の良否を判定し、
前記反射信号を時間情報とともに記憶手段に格納し、
前記判定において前記反射信号の異常を検出した際に、該異常と前記記憶手段に格納される時間情報を特定し、該時間情報から検査対象の複数の配線から一の配線を特定する基板検査方法。 - 基板に形成された配線の良否を検査する基板検査装置であって、
前記検査を実施するために、TDR測定用の検査信号を供給する電源手段と、
前記検査信号の反射された反射信号を測定する測定手段と、
前記測定手段で測定された反射信号を基に、検査対象の配線の良否を判定する判定手段と、
前記検査が実施される際に、検査対象となる複数の配線を直列接続させるとともに該直列接続された配線の一端と、前記電源手段及び前記測定手段とを接続する接続手段とを有し、
前記接続手段は、
前記直列接続された配線の一端と前記電源手段及び前記測定手段とを接続する第一接続部と、
前記検査対象となる複数の配線を直列接続する第二接続部とを有し、
前記第一接続部と前記第二接続部とは、夫々インピーダンスが一定であることを特徴とする基板検査装置。 - 基板に形成された配線の良否を検査する基板検査装置と基板を電気的に接続する治具であって、
前記検査を実施するためのTDR測定用の検査信号を前記基板の配線の一端へ供給する第一接続部と、
前記配線の他端と他の配線の一端を導通接続することにより複数の配線を直列接続する第二接続部とを有し、
前記第一接続部と前記第二接続部とは、夫々インピーダンスが一定であることを特徴とする基板検査用治具。
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