KR20090014379A - 광학주사장치 - Google Patents

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KR20090014379A
KR20090014379A KR1020087030330A KR20087030330A KR20090014379A KR 20090014379 A KR20090014379 A KR 20090014379A KR 1020087030330 A KR1020087030330 A KR 1020087030330A KR 20087030330 A KR20087030330 A KR 20087030330A KR 20090014379 A KR20090014379 A KR 20090014379A
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KR
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radiation beam
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tilt
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radiation detector
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KR1020087030330A
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페리 제이프
코엔 에이. 페르슈렌
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코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

기록매체(2)를 주사하는 광학주사장치(3)는, 대물부(20)와 회절소자(14)를 구비한다. 상기 대물부(20)는, 판독 및/또는 기록 동작을 위해 사용된 주 방사빔(6)에 더하여 디포커싱된 모드에서 보조 방사빔(21)을 상기 기록매체(2)를 향해 투과시키도록 구성된다. 상기 회절소자(14)는, 반사된 상기 주 방사빔(6)에 보조 방사빔(21)이 영향을 미치지 않도록 주 방사빔(6)의 스폿(44)에 대해 측정영역(60)을 정의한다. 따라서, 판독 및/또는 기록 동작의 성능은 향상된다.
Figure P1020087030330
광학주사장치, 회절소자, 대물부, 기록매체.

Description

광학주사장치{Optical scanning device}
본 발명은, 방사선의 감쇄결합을 사용하여 기록매체를 주사하는 광학주사장치에 관한 것이다.
(발명의 배경)
특별한 형태의 고밀도 광학주사장치에 있어서, 고체침지렌즈(SIL)를 사용하여 주사 스폿에의 방사빔을 기록매체의 정보층에 포커싱한다. 상기 SIL의 출사면과 기록매체의 외부면 사이의 특정 거리, 예를 들면 25nm는, SIL로부터 기록매체까지의 방사빔의 감쇄 결합을 가능하게 하는 것이 바람직하다. 그렇지 않은 경우, 감쇄결합은, 감쇠 전반사(frustrated total internal reflection; FTIR)라고도 한다. 이러한 시스템은, SIL의 출사면에서의 감쇄파에 의해 형성된 근시야로부터 그 이름을 얻는 근시야 시스템으로서 공지되어 있다. 광학주사장치는, 파장이 약 405nm인 방사빔을 방출하는 방사원으로서 블루 반도체 레이저를 사용하여도 된다.
기록매체의 주사시에, 상기 SIL의 출사면과 기록매체의 외부면간의 감쇄결합을 유지해야 한다. 이러한 감쇄 결합의 효율은, 상기 출사면과 외부면 사이의 갭의 거리의 변화에 따라 변화한다. 원하는 갭 거리로부터 떨어져 증가함으로써, 상기 감쇄 효율은 저하하게 되어서 상기 주사 스폿의 품질도 저하할 것이다. 그 주사기능이 기록매체로부터 데이터를 판독하는 것을 포함하는 경우, 예를 들면, 상기 효 율의 저하에 의해 오류가 데이터 신호에 도입할 가능성이 있는 판독되는 데이터의 품질이 저하하게 될 것이다.
원시야(비 근시야) 시스템, 이를테면 콤팩트 디스크(CD), 디지털 다기능 디스크(DVD) 또는 블루레이 디스크(BD)에서 알려진 것은, 대물렌즈계의 광축에 대한 기록매체의 틸트 오정렬이 정보층에 기록할 때와 정보층으로부터 판독할 때 주사 스폿의 품질에 악영향을 줄 수 있다는 것이다.
틸트 오정렬의 변화는, 기록매체의 평탄성의 요철에 기인한다. 이것은, 시간에 대한 고온 등의 환경요인이나, 기록매체의 저품질 제조공정에 기인할 가능성이 있는 디스크의 휨에 기인하기도 한다. 이와는 달리, 또는 추가로, 주사장치 내의 기록매체의 고정 불량으로 인해 틸트 오정렬이 생기도 한다.
근시야 형태가 아닌 광학주사장치에 대해, 기록매체의 틸트 오정렬이 측정되어 보정될 수 있는 시스템이 공지되어 있다. 종래의 일 시스템은, 틸트 검출기를 사용하여 기록매체의 틸트 오정렬을 검출하여 그 검출된 틸트 오정렬의 범위에 의거하여 그 틸트 오정렬을 보정하는 것을 포함한다. 이와 다른 종래의 시스템은, 먼저 데이터를 기록매체에 기록한 후 판독하는 동안 최적화 루틴을 수행하는 것을 포함한다. 그리고 나서, 판독된 데이터의 품질은, 틸트 오정렬의 기능으로서 결정된다. 이에 따라, 필요한 경우, 틸트 오정렬이 보정될 수 있다.
기록매체의 틸트 오정렬을 검출하는 종래의 틸트 검출기를 사용하면 관계된 매우 작은 허용오차에 의한 근시야 시스템에서의 충분한 수준의 정확성을 제공하지 않을 것이고, 또한 틸트 검출기에 대한 대물렌즈계의 고정렬도를 필요로 할 것이 다. 상기와 같은 작은 허용오차를 초과함으로써 SIL과 기록매체간에 접촉하게 되어, SIL 및/또는 기록매체에 손상을 줄 가능성이 있다.
근시야 시스템에서의 틸트 오정렬을 측정 및 예측하기 위한 종래의 시스템과 유사한 최적화 루틴의 사용은 실용적이지 않을 것이다.
(발명의 요약)
본 발명의 목적은, 광학주사장치와, 그 광학주사장치와 기록매체간의 틸트 오정렬을 검출하여 보정 가능하게 하여서, 구체적으로는 광학주사장치의 정상 동작시에 광학주사장치와 기록매체간의 틸트 오정렬을 검출하여 보정 가능하게 하여 감쇄 결합을 사용하여 정확하고 효율적으로 기록매체를 주사하는 방법을 제공하는데 있다.
본 발명에서는, 청구항 1에 기재된 기록매체를 주사하는 광학주사장치와, 청구항 16에 기재된 광학기록장치와, 청구항 17에 기재된 기록매체 주사방법을 제공한다. 본 발명의 바람직한 확장은 종속항에 기재되어 있다.
이와 같은 틸트 제어는, 판독 또는 기록동작과 독립적으로 사용되어도 된다는 것을 주목한다. 예를 들면, 틸트 제어도 대물렌즈가 기록매체에 접근할 때 수행되어도 된다. 하지만, 측정 영역은, 틸트 제어가 판독 및/또는 기록동작시에도 가능하게 되도록 정의된다.
감쇄결합을 사용하여 기록매체를 주사하는 근시야 시스템에 대해, 틸트 오정렬의 원하는 수준으로부터의 편차는, 기록매체의 주사시에 기록 및/또는 판독되는 데이터의 품질 및 정확성에 치명적인 영향을 준다. 감쇄결합을 이용하는 근시야 시스템은 상대적으로 작은 기계적인 허용오차의 마진을 갖고, 이 마진 외부는 감쇄결합의 효율을 떨어뜨린다. 상기 허용오차 마진을 초과하는 상기 원하는 수준의 틸트 오정렬로부터의 편차에 의해, 효율이 저하하므로 데이터 품질과 정확성에 치명적인 영향을 미친다. 더욱이, 상기와 같은 편차에 의해, SIL가 기록매체에 접촉하게 되어, 상기 시스템의 손상 및/또는 고장이 날 가능성이 있다.
틸트 오정렬의 변동으로, 상기 갭을 가로질러서 감쇄결합의 효율이 출사면을 가로질러서 변화한다. 이에 따라서, 제 1 출사면 영역에서 상기 갭을 가로지르는 감쇄결합의 효율은, 제 2 출사면 영역에서 상기 갭을 가로지르는 감쇄결합의 효율과 서로 다르다. 상기 출사면 영역을 가로지르는 효율의 변동을 나타낸 정보를 검출함으로써, 틸트 오차신호를 생성하기도 한다.
틸트 오정렬과 갭 폭 양쪽의 동시 검출로 상기 틸트 오정렬과 갭 폭의 오차와 제어를 동시에 보정할 수 있다. 이것은, 광학주사장치의 주사성능을 향상시키고 상기 대물렌즈계와 기록매체 표면간의 물리적 접촉의 위험을 줄여서, 기록매체 및/또는 대물렌즈계를 손상시킬 수도 있다.
본 발명의 실시예들에서, 광학주사장치는, 틸트 오차신호에 따라 틸트 오정렬을 조정하도록 구성된 틸트 오정렬 제어시스템을 구비한다.
상기 틸트 오차신호를 사용하여 틸트 오정렬을 보정할 수 있어 대물부의 대물렌즈의 총 출사면 영역을 가로지르는 감쇄결합의 효율을 향상시킬 수도 있다. 따라서, 기록매체는, 상대적으로 고품질 및 고수준의 정확성으로 주사될 수도 있다. 추가로, 틸트 오정렬 자체의 검출 및 보정은 포함하지 않지만, 디스크에 데이터를 기록하는 것과 동시에 일어나기도 한다. 따라서, 틸트 오정렬 보정과정은, 상대적으로 빠르고, 반드시 기록매체의 데이터 용량의 사용을 필요로 하지 않는다.
본 발명의 실시예들에서는, 제 1 틸트축과 제 2 틸트축 양쪽에 관한 틸트 오정렬을 검출하여 조정하기도 한다. 이것은, 상기 측정 영역의 서로 다른 일부분에서 상기 갭을 가로지르는 감쇄결합의 효율 검출에 의해 이루어진다. 방사선 검출기는, 복수의 보조 방사선 검출기 소자로 이루어져 상기 측정영역의 상기 일부분들 각각에 대해 대물렌즈의 출사면에서 반사된 상기 보조 방사빔의 강도를 측정한다. 이에 따라, 상기 반사된 방사빔의 강도의 측정은, 상기 갭을 가로지르는 감쇄 결합의 효율을 측정하는 일 방식이다.
본 발명의 일부의 실시예들에서는, 방사원 시스템에서 발생된 방사선이 방사빔이고, 이 방사빔으로부터 보조 빔이 발생되고, 상기 장치는 그 보조 방사빔에 디포커스가 일어나도록 구성되어 상기 보조 방사빔은 기록매체의 외부면에 포커싱되지 않음에 따라서, 대물렌즈의 출사면에서 상기 빔의 지름을 크게 한다.
이들 실시예에서, 상기 장치는, 보조 방사빔에 디포커스가 일어나도록 구성되어, 상기 출사면에서의 보조 방사빔의 단면 영역 또는 빔 프로파일은 상기 출사면의 총 영역의 적어도 1/4을 커버한다.
상기 출사면에서의 방사빔의 지름이 증가되어서, 상기 보조 방사빔의 단면영역이 상기 출사면의 총 영역의 적어도 1/4을 커버한다. 이렇게 지름이 증가되어서 예를 들면 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 출사면 영역이 증가하게 된다. 이에 따라 상 기 출사면을 가로지르는 감쇄결합의 효율에 관한 대량의 정보가 검출될 수 있음에 따라 틸트 오정렬이 보다 정확하게 조정될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 틸트 오정렬의 조정은, 기록매체가 상기 장치 내에 설치된 후 개시과정동안 수행되어 보정된 틸트 정렬을 생성하고, 이 때의 보정된 틸트 정렬은, 개시 후 유지되고, 상기 기록매체를 가로지르는 서로 다른 점에서 기록매체를 주사할 때 사용된다.
상기 개시과정동안 보정된 틸트 정렬을 생성하고 개시 후 상기 보정된 틸트 정렬을 유지함으로써, 상기 기록매체는, 상기 개시과정 후 기록매체의 주사시에 틸트 오정렬을 조정할 필요없이 정확히 주사되어도 된다.
본 발명의 다른 실시예에서, 상기 틸트 오정렬의 조정은, 상기 장치 내에 기록매체를 설치한 후 수행되고, 상기 틸트 오정렬은, 상기 기록매체를 가로지르는 서로 다른 점에서 기록매체를 주사할 때 조정된다.
상기 기록매체를 가로지르는 서로 다른 점에서 틸트 오정렬을 조정함으로써, 기록매체가 디스크일 경우에 예를 들면, 반경을 가로지르는 표면 틸트가 가변하는 기록매체를 정확히 주사하는 것이 가능하다. 이러한 기록매체는, 나쁜 수준의 품질로 제작되어도 되거나, 환경조건으로 인해 휨이 나타남으로써 저하되기도 한다.
회절소자가 주 방사빔으로부터 보조 방사빔을 발생하는 것이 바람직하고, 그 회절소자는, 대물부에 의해 상기 기록매체의 일 층에 포커싱된 주 방사빔을 발생하는 중심에서 완전히 투과적이고 비구조화된 것을 의미하는 애포다이즈(apodize)된 동심의(블레이즈드) 회절격자인 것이 바람직하다. 이러한 회절소자의 이점은, 높은 판독/기록 성능이 달성되는 것과, 작은 부분, 예를 들면 방사빔 강도의 10%를 사용하여 보조 방사빔을 발생한다.
주 방사빔의 빔 프로파일 또는 단면영역은 분리영역에 의해 상기 측정 영역으로부터 분리되는 것이 바람직하다. 그리고, 판독 및/또는 기록동작의 신뢰성은, 상기와 같은 동작시에 틸트 보정을 수행하는 경우라도 높다. 이에 따라, 상기 회절소자는, 상기 측정영역이 바람직하게는 원형 영역을 포함하도록 구성되고, 또 상기 주 방사빔의 빔 프로파일이 원형이고 그 영역 안쪽에 배치되도록 상기 대물부가 구성되도록 구성되어도 된다.
또한, 상기 측정영역의 경계가, 광학주사장치의 제약, 구체적으로는 대물부의 특징적인 특징에 대해 결정되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 상기 대물부의 대물렌즈는, 기록매체의 대향하는 전면의 평탄한 표면에 평행하게 배치되어야 하는 평탄한 영역을 갖는 팁을 구비하기도 한다. 이러한 경우에, 상기 측정영역의 경계는, 에지 간격을 갖는 대물렌즈의 팁의 평탄한 영역 안쪽에 배치되는 것이 바람직하다.
광학주사장치는, 1차원 틸트 보정을 가능하게 하도록, 2개의 검출기 소자를 갖는 방사선 검출기를 구비한다. 또 다른 예의 방사선 검출기는, 4개의 서로 다른 보조 방사선 검출기 소자를 구비한 방사선 검출기가 있고, 이 보조 방사선 검출기 소자 각각은, 상기 측정 영역의 특정 부분에 대해 대물렌즈의 출사면에서 반사된 상기 보조 방사빔의 강도를 검출하도록 구성된다. 이것에 의해 2차원 틸트 보정이 가능하다. 상기 출원에 따라, 상기 방사선 검출기도, 상기 대물렌즈의 출사면에서 반사된 주 방사빔의 강도를 검출하여 갭 오차신호를 생성하기 위한 주 방사선 검출기 소자를 구비하기도 한다.
본 발명의 또 다른 특징 및 이점은, 첨부도면을 참조한 예시로만 나타낸 본 발명의 바람직한 실시예들의 이하의 설명으로부터 명백해질 것이다.
본 발명은, 첨부도면들을 참조한 바람직한 실시예들의 이하의 설명으로부터 용이하게 이해될 것이고, 여기서 동일한 부분은 동일한 참조부호로 나타내고, 또한
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 로딩된 기록매체를 갖는 광 기록장치를 도시한 것이고,
도 2는 도 1에 도시된 광학기록장치의 광학주사장치의 기록매체와 대물부를 도시한 것이고,
도 3은 도 1에 도시된 광학기록장치의 광학주사장치의 방사선 검출기를 도시한 것이고,
도 4는 도 1에 도시된 광학기록장치의 광학주사장치의 대물부의 대물렌즈의 출사면에 대해 틸트 제어를 하기 위한 측정영역의 배치를 나타내고,
도 5는 본 발명의 또 다른 바람직한 실시예에 따른 광학기록장치의 광학주사장치의 방사선 검출기 배치를 도시한 것이다.
(본 발명의 상세한 설명)
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 기록매체(2)를 주사하기 위한 광 학기록장치의 개략적인 도면을 도시한 것이다. 광학기록장치(1)는, 광학주사장치(3)와, 장착부재(4), 특히 기록매체(2)를 회전시키는 회전 샤프트(4)를 구비한다. 광학기록장치(1)와 광학주사장치(3)는, 구체적으로는 고밀도 광학주사 응용을 위한 고체침지렌즈와 결합하여 사용된다. 하지만, 광학기록장치(1)와 광학주사장치(3)도, 기타 응용에서 또한, 다른 광학 또는 비광학 판독 및/또는 기록과정과 결합하여 사용되어도 된다.
광학주사장치는, 방사빔(6)을 발생하도록 구성된 방사원 시스템(5)을 구비한다. 이러한 실시예에서, 상기 방사원 시스템(5)은 레이저(5)이고, 방사빔(6)은 소정의 파장λ, 예를 들면 405nm 정도를 갖는 레이저 빔(6)이다. 광학주사장치의 개시과정 및 기록매체 주사과정 양쪽 동안에, 광학주사장치(3)의 광축 OA(도 2)을 따라 지나가는 방사빔(6)은, 시준렌즈(7)에 의해 시준되고 그것의 단면 강도 분포는 빔 성형기(8)에 의해 성형된다. 그 후, 방사빔(6)은, 편광 빔 스플리터(10)이 후속되는 비편광 빔 스플리터(9)를 통과한 후, λ/4파장판(12)과 회절소자(14)를 지나가고 있다. 상기 회절소자(14)는, 대물부(20)에 의해 기록매체(2)의 일 층에 포커싱된 주 방사빔을 발생하기 위한 투과적이고 비구조화된 중심(15)을 구비한다. 또한, 상기 회절소자(14)는, 보조 방사빔(21)을 발생하는 동심의 회절격자(16)를 구비한다(도 2). 이에 따라, 상기 대물부(20)는, 주 방사빔(6)에 더하여 보조 방사빔(21)을 디포커싱된 모드에서 기록매체(2)로 투과하고, 여기서 그 주 방사빔(6)은, 판독 및/또는 기록동작을 위해 기록매체(2)에 입사되는 것이다. 이때, 주 방사빔은 기록매체(2)의 특정 층에 포커싱되고, 상기 기록매체(2)가 2개 이상의 층을 구비하는 경우에, 대물부(20)도 기록매체(2)의 서로 다른 층 사이에서 초점을 전환하기도 한다. 광학주사장치의 대물부(20)는, 주 방사빔(3)에 포커싱 파면을 일으키게 하는 대물렌즈(17)를 구비한다. 대물계(20)는, 대물렌즈(18), 구체적으로는 고체침지렌즈(SIL)(18)를 더 구비하고, 이 고체침지렌즈는 지지 프레임(19)에 의해 대물렌즈(17)에 고정된다. 상기 지지 프레임(19)은, SIL(18)과 대물렌즈(17)의 정렬 및 이격 거리를 확실하게 유지한다. 대물계는, 평탄하고, 상기 SIL(18)의 팁(23)의 출사면(22)인 출사면(22)을 갖는다.
광학주사장치(3)에 의해 주사되는 기록매체(2)는, 상기 광학주사장치(3) 내의 상기 장착부재(4) 위에 배치된다. 상기 장착부재(4)는, 주사시에 상기 장착부재(4) 위의 적소에 기록매체를 굳게 그리고 정확하게 유지하는 것을 확보하는 고정 장치(미도시된)를 구비한다. 기록매체(2)가 굳게 적소에 유지됨으로써, 상기 장착부재(4)는, 기록매체(2)의 데이터 트랙들을 주사하는데 사용되는 방사 주사스폿과 관련하여 상기 기록매체(2)의 회전의 본 실시예에서 병진운동을 제공한다. 본 실시예에서는, 트랙들을 광축 OA에 수직한 방향으로 회전시킨다. 기록매체(2)의 외부면(24)은 SIL(18)의 출사면(22)에 대향한다. 본 실시예에서, 기록매체(2)는 실리콘으로 형성되고, 상기 외부면(24)은, 방사빔이 기록매체(2)를 입사하는 기록매체(2)의 정보층의 표면이다.
광학주사장치(3)는 (미도시된) 광축을 갖고, 상기 대물부(20)는 레이저(5)와 기록매체(2) 사이의 광축에 배치된다. 대물부(20)는, SIL(18)의 출사면(22)과 기록매체(2)의 외부면(24) 사이의 갭을 가로지르는 방사빔(3)의 감쇄결합을 제공한다. 상기 SIL(18)의 출사면(22)과 기록매체(2)의 외부면(24)간에 틸트 오정렬이 있기도 하다.
예를 들면, 기록매체(2)에 기록될 수 있는 최대 정보 밀도는, 정보층 상의 주사 위치에 포커싱되는 방사 스폿의 크기와 역으로 스케일링한다. 최소 스폿 크기는, 2개의 광학 파라미터: 방사선의 파장 λ과 대물부(20)의 개구수(NA)의 비율로 결정된다. SIL 등의 대물렌즈(18)의 NA는 NA=n sin(θ)로서 정의되고, 여기서 n은 방사빔이 포커싱되는 상기 매체의 굴절률이고, θ는 그 매체에서 방사선의 포커싱된 콘(cone)의 절반각이다. 공기중에서 포커싱하거나 평면 기록매체 등의 평면 평행판에서 공기를 통해 포커싱하는 대물렌즈의 NA에 대한 상한치가 유니티하다는 것은 명백하다. 렌즈의 NA는, 방사빔(6)이 고 인덱스 매체에서 포커싱되고 렌즈와 물체 사이의 매체 공기-매체 경계에서 굴절없이 물체(2)를 지나가는 경우 유니티를 초과할 수 있다. 이것은, 예를 들면 반구형상을 갖고 상기 물체(2)에 근접하여 있는 SIL(18)의 출사면(22)의 중심에서 포커싱함으로써 달성될 수 있다. 이러한 경우에, 유효 NA는, n이 반구형 렌즈(18)의 굴절률이고 NA0가 포커싱 렌즈의 공기중의 NA인, NAeff=nNA0이다. 그 NA를 더욱 증가시킬 가능성은, 초 반구형 SIL(18)이 방사빔(6)을 광축을 향해 굴절시켜 초 반구의 중심 아래에 포커싱하는 초반구 형상을 갖는 SIL(18)의 사용이다. 후자의 경우에, 유효 NA는 NAeff=n2NA0이다. 이때 중요한 것은, 유니티보다 큰 유효 NAeff는, SIL(18)의 출사면(22)으로부터 매우 짧은 거리 (또한 근시야라고도 함) 내에 존재할 뿐이다는 것이고, 여기서 결합파는 존재한다. 본 실시예에서, 상기 출사면(22)은, 방사선이 상기 물체(2)에 충돌하기 전에 상기 대물부(20)의 최종 굴절표면이다. 상기 짧은 거리는, 일반적으로 방사빔(6)의 파장 λ의 1/10미만이다.
상기 물체(2)가 광 기록매체(2)이고 그 광 기록매체(2)의 외부면(24)이 상기 짧은 거리 내에 배치되는 경우, 방사선은 SIL(18)로부터 기록매체(2)로 감쇄 결합에 의해 투과된다. 이것이 의미하는 것은, 기록매체(2)의 기록 또는 판독시에, 갭 크기라고도 불리는 SIL(18)과 기록매체(2) 사이의 거리는, 수십 나노미터, 예를 들면 블루레이저 방사원을 사용하여 파장이 405nm인 파장 λ와 대물계의 NA가 1.9인 방사빔(6)을 발생하는 장치(1)를 위해, 25nm정도보다 작은 것이 바람직하다.
광학주사장치(3)는, 제 1 검출 경로와 제 2 검출 경로를 갖고, 이 검출 경로 양쪽은 기록매체(2)에서의 반사가 뒤따르는 방사빔(6)의 일 경로에 배치된다.
또한, 광학주사장치(3)는, 콘덴서 렌즈(25)와 전방향 감지 검출기(26)로 이루어진 전방향 감지 검출 경로를 갖는다.
광학주사장치(3)의 제 1 검출 경로는, 편광 빔 스플리터(10)로부터 분기하고, 빔 스플리터(27)를 구비한다. 그 빔 스플리터(27)로부터, 상기 기록매체(2)로부터 반사된 방사빔의 일부분은, 콘덴서 렌즈(28)를 통과하여 무선 주파수 데이터 검출기(29)로 진행한다. 반사된 방사빔(6)의 또 다른 부분은 또 다른 콘덴서 렌즈(30)를 통과하여 제어부(32)와 연결된 트랙킹 검출기(31)로 진행해서 기록매체(2)의 특정 트랙에 대해 기록매체(2)의 방사빔(6)의 스폿의 트랙킹을 위한 푸시 및 풀 동작을 가능하게 한다. 따라서, 상기 제어부(32)는, 상기 지지 프레임(19)과 연결된다.
제 2 검출 경로는, 비편광 빔 스플리터(9)로부터 분기한다. 광학주사장치(3)의 제 2 검출 경로에는, 콘덴서 렌즈(33)와 방사선 검출기(34)가 배치되어 있고, 여기서 상기 콘덴서 렌즈(33)는 상기 방사선 검출기(34) 상에서 반사된 보조 방사빔의 적어도 일부분을 포커싱하도록 구성된다. 상기 방사선 검출기(34)는, 대물렌즈(18)의 출사면(22)과 기록매체(2)의 외부면(24) 사이의 틸트 오정렬에 대한 틸트 오차신호들을 생성하도록 구성된다. 이에 따라, 신호처리회로(43)는, 방사선 검출기(34)의 일부이어도 된다. 상기 틸트 오차신호들은, 상기 반사된 보조 방사빔(21)의 강도의 출사면(22)을 가로지르는 분포의 검출 방사빔에서의 정보 검출에 의해 생성된다. 이러한 강도의 분포는, 도 2를 참조하여 더욱 상세히 설명한 것처럼, 상기 출사면(22)을 가로지르는 감쇄결합의 효율 변화를 나타낸다.
신호처리회로(43)는, 상기 제어부(32)와 연결되고, 그 틸트 오차신호를 제어부(32)에 보낸다. 제어부(32)는, 방사선 검출기(34)로부터 수신된 틸트 오차신호들에 의거하여 틸트 오정렬 보정과정을 제공한다. 따라서, 상기 제어부(32)는, 상기 대물부(20)를 경사지게 하는 상기 지지 프레임(19)의 액추에이터 부재 및/또는 상기 장착부재(4)를 경사지게 하는 액추에이터 부재와 함께 기록매체(2)를 제어한다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학기록장치(1)의 대물부를 도시한 것이다. 데이터를 판독 및 기록 가능하도록 상기 대물렌즈(18)의 출사면(22)과 기록매체(2)의 외부면(24) 사이의 갭의 거리를 제어해야 한다.
상기 갭의 거리를 제어 가능하도록, 적절한 오차신호가 필요하다. 소니 및 여기서 참조로 한(T.Ishimoto et al., Proceedings of Optical Data Storage 2001 in Santa Fe)에 상세하게 나타낸 것처럼, 양호한 갭신호(GS)는, 기록매체에 포커싱된 방사빔의 편광상태와 수직한 편광상태를 갖는 반사된 방사선으로부터 얻어진다. 방사빔의 방사선의 중요한 일부는, 상기 출사면과 상기 외부면에서 반사 후 타원 편광된다. 이것은, 상기 반사된 방사선이 편광기를 통해 관측된 경우 공지의 말테스(Maltese) 크로스를 생성한다. GS는 편광 광학 및 단일의 광검출기를 사용하여 상기 말테스 크로스의 모든 광을 적분하여서 발생된다. 상기 GS는, 저주파, 예를 들면 약 30kHz까지의 DC로부터, 즉 방사선 검출기(34)에도 포커싱된 검출 방사빔의 일부로부터 얻어진다.
이때, 주 빔의 원형 편광에 대해, 상기 반사된 광도 타원형이 되지만, 상기 말테스 크로스는, 회전하는 광학 주파수로 인해 육안으로 확인할 수 없다.
주사 기능에 있어서, 예를 들면 데이터 기록에 있어서, 매우 짧은 고파워 레이저 펄스는, 레이저(5)에 의해 방출된다. 이들 펄스는 (평균) 레이저 파워를 동적으로 변화시켜서, 상기 출사면(22)과 외부면(24) 사이의 갭의 크기에 대응한 GS에 있어서와, 갭 서보 시스템에 기인하여, 상기 광학주사장치의 갭에 있어서, 대응하게 변화된다. 예를 들면, 레이저 파워가 갑작스럽게 증가하면, 상기 GS도 증가할 것이다. 그렇지만, 상기 갭 서보 시스템은, 다시 원하는 갭 크기에 도달하도록 상기 공기 갭 크기를 감소시킬 것이다. 유사한 효과는, 레이저 파워가 예를 들면 온도 드리프트로 인해 변화하는 경우 데이터 판독시에 일어난다. 이러한 GS 정규화는 상기 전방향 감지 검출기(26)를 사용한다.
푸시풀 검출기(31)는, 검출 방사빔으로부터 기록매체(2)의 정보층의 일 트랙에 방사빔 스폿의 반경방향 트랙킹 오차를 검출한다. 상기 푸시풀 검출기(31)는, 기록매체(2)에 포커싱된 방사빔의 편광방향에 평행하게 편광된 방사선을 검출한다.
이제 도 3을 참조하면, 방사선 검출기(34)는, 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4의 검출 4분면 영역 A,B,C,D 각각을 갖게 도시되어 있다. 틸트 오정렬 검출과정동안, 상기 검출 보조 방사빔 스폿(40)은, 방사선 검출기(34)에 입사된다. 상기 검출 보조 방사빔 스폿(40)은, 아래에 설명된 것처럼, 소정의 레벨의 디포커스를 갖는다.
상기 틸트 오정렬은, (도 2에 도시된 것처럼) 광축 OA에 수직한 제 1 틸트 축(41)에 관한 틸트 오정렬을 포함한다. 상기 틸트 오정렬은, 광축 OA와 제 1 틸트축(41)에 실질적으로 수직한 제 2 틸트축(42)에 관한 틸트 오정렬을 더 포함한다.
4분면 검출기(34)인 방사선 검출기(34)는, 제 2 및 제 4의 검출 4분면 영역 B,D로 이루어진 제 1 검출영역과, 제 1 및 제 3의 검출 4분면 영역 A,C로 이루어진 제 2 검출영역과, 제 1 및 제 2의 검출 4분면 영역 A,B로 이루어진 제 3 검출영역과, 제 3 및 제 4의 검출 4분면 영역 C,D로 이루어진 제 4 검출영역을 구비한다. 도 4를 참조하면, 출사면(22)(도 4에 도시되고 기록매체(22)로부터 대물부(20)까지 광축 OA에 따른 방향으로 보여짐)은, 상기 제 1 틸트축(41)의 반대측에 상호 변위된 제 1 출사면 영역 E와 제 2 출사면 영역 F를 구비한다. 상기 출사면(22)은, 상기 제 2 틸트축(42)의 반대측에 상호 변위된 제 3 출사면 영역 G와 제 4 출사면 영역 H를 더 구비한다.
상기 틸트 오정렬 검출 과정시에, 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 검출영역 A,B,C,D는 각각 상기 출사면(22)과 상기 외부면(24) 사이의 감쇄결합의 효율을 나타내는 상기 검출 방사빔 스폿(40)에서의 정보를 검출하도록 구성된다. 상기 방사선 검출기(34)에 연결된 신호처리회로(43)는, 상기 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 감쇄결합의 효율을 나타낸 제 1 검출기 신호 α1을 생성하도록 구성된다. 마찬가지로, 상기 신호처리회로(43)는, 상기 제 2 출사면 영역 F를 가로지르는 감쇄결합의 효율을 나타낸 제 2 검출기 신호 α2을 생성하고, 상기 제 3 출사면 영역 G를 가로지르는 감쇄결합의 효율을 나타낸 제 3 검출기 신호 β1을 생성하고, 상기 제 4 출사면 영역 H를 가로지르는 감쇄결합의 효율을 나타낸 제 4 검출기 신호 β2을 생성하도록 구성된다.
상기 제 1 검출기 신호 α1은, 상기 제 2의 4분면 영역에서 생성된 제 2의 4분면 영역 신호와, 상기 제 4의 4분면 영역에서 생성된 제4의 4분면 영역신호의 합이다. 상기 제 2 검출기 신호 α2는, 상기 제 1의 4분면 영역에서 생성된 제 1의 4분면 영역 신호와, 상기 제 3의 4분면 영역에서 생성된 제3의 4분면 영역신호의 합이다. 상기 제 3 검출기 신호 β1은 상기 제 1의 4분면 영역에서 생성된 제 1의 4분면 영역 신호와, 상기 제 2의 4분면 영역에서 생성된 제2의 4분면 영역신호의 합이다. 상기 제 4 검출기 신호 β2는 상기 제 3의 4분면 영역에서 생성된 제 3의 4분면 영역 신호와, 상기 제 4의 4분면 영역에서 생성된 제4의 4분면 영역신호의 합이다.
검출영역마다, 출사면 영역, 예를 들면 상기 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 감쇄결합의 효율은, 대응한 검출영역, 예를 들면 제 1 검출영역에 입사하는 검출 방사빔 스폿(40)의 방사선의 강도를 검출함으로써 검출된다. 상기 검출영역에 입사하는 상대적으로 높은 강도의 방사선은, 상기 대응한 출사면 영역을 가로지르는 감쇄결합의 상대적으로 낮은 효율을 나타낸다. 이에 대해, 상기 검출영역에 입사하는 상대적으로 낮은 강도의 방사선은, 상기 대응한 출사면 영역을 가로지르는 감쇄결합의 상대적으로 높은 효율을 나타낸다.
상기 신호처리회로(43)는, 식 1 및 2의 관계에 따라 제 1 틸트 오차신호 α를 생성하도록 구성된다:
Figure 112008085599301-PCT00001
추가로, 상기 신호처리회로(43)는, 식 3 및 4의 관계에 따라 제 2 틸트 오차신호 β를 생성하도록 구성된다:
Figure 112008085599301-PCT00002
상기 제어부(32)는, 상기 제 1 틸트 오차신호 α에 따라 상기 제 1 틸트 축(41)을 중심으로 한 틸트 오정렬을 변화시키고, 상기 제 2 틸트 오차신호 β에 따라 상기 제 2 틸트 축(42)을 중심으로 한 틸트 오정렬을 변화시키도록 구성된다.
도 3에 도시된 것처럼, 상기 검출 방사빔 스폿(40)의 단면 영역이 원하는 틸트 오정렬의 특징인 균일한 방사선 강도를 갖는 경우, 상기 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 검출기 신호 α1,α2,β1,β2는, 대략 같아서, 제어부(68)가 틸트 오정렬을 변화시킬 필요가 없는 상기 제 1 및 제 2 틸트 오차신호 α,β이다.
도 2에 도시된 실시예에서 대물부(20)의 SIL(18)은, 출사면(22)이 외부면(24)에 대향하는 원뿔 초반구 형상을 갖는다. 상기 출사면(22)의 지름은, 약 40㎛이고, SIL의 NA는 1.9이다. 원하는 틸트 오정렬은 도 2에 도시되고, 여기서, 출사면(22)이 실질적으로 외부면(24)에 평행하고 상기 출사면(22)과 상기 외부면(24) 양쪽이 실질적으로 광축 OA에 수직한다.
도 2는 광학주사장치의 주사기능 동안, 예를 들면 데이터 기록 과정동안, 기록매체(22)의 정보층(24)의 스폿(44)에 주사용 주 방사빔을 포커싱하도록 원하는 틸트 오정렬을 갖는 대물부(20)와 기록매체(22)를 도시한 것이다. 이것은, 상기 외부면(24)과 상기 출사면(22) 사이의 갭을 가로지르는 거리가 방사빔의 파장 λ의 약 1/10미만인 경우 달성된다. 이것으로 확실한 것은, 상기 출사면(22)의 총 영역에 대한 상기 갭을 가로지르는 감쇄결합을 효율적으로 달성한다는 것이다. 데이터 기록의 예에 있어서, 상기 포커싱된 스폿(44)에 의해, 데이터를 정보층(24)에 정확하게 기록할 수 있을 것이다. 상기 원하는 틸트 오정렬이 존재하지 않는 경우, 기 록매체의 정보층(24) 상의 스폿(44)의 품질에 영향을 미친다.
도 3은 기록매체(2)가, 도 2에 도시된 것처럼, 상기 제 1 틸트축(41)에 대해 기록매체(2)가 경사지는 경우에 불균일한 강도 분포를 나타낸 상기 검출용 보조 방사빔 스폿(40)에서의 패턴을 도시한 것이다. 이 경우에, 상기 틸트 오정렬은 제 1 틸트축(41)을 중심으로 한다. 따라서, 이 경우는, 상기 제 1 틸트 축(41)을 중심으로 한 틸트 오정렬이 일 방향의 상태에 있는 상황을 나타낸다. 이에 따라서, 상기 제 2 틸트 축(42)을 중심으로 한 틸트 오정렬이 일 방향의 상태에 있는 경우에, 아래의 설명을 적용한다. 또한, 2개의 치수 또는 2개의 방향의 틸트 오정렬인 임의의 틸트 오정렬은, 상기 제 1 틸트축(41)을 중심으로 한 틸트 오정렬과 상기 제 2 틸트축(42)을 중심으로 한 틸트 오정렬의 조합으로서 도시되기도 한다. 원하지 않는 틸트 오정렬에 따라, 상기 출사면(22)과 상기 외부면(24)은 실질적으로 서로 평행하지 않고, 상기 외부면(24) 및/또는 상기 출사면(22)은 실질적으로 광축 OA에 수직하지 않는다.
틸트 오정렬 보정 과정시에, 광학주사장치(3)는, 기록매체(2) 내에 보조 방사빔(21)을 포커싱하지 않도록 상기 보조 방사빔(21)에 디포커스를 일으키도록 구성되어서, 상기 출사면(22)에서의 보조 방사빔(21)의 스폿(46)(도 4)의 지름을 증가시킨다. 상기 디포커스가 보조 방사빔(21)에 일어나서, 상기 출사면(22)에서의 보조 방사빔(21)의 단면 영역은, 출사면(22)의 총 영역의 적어도 1/4, 바람직하게는 그 총 영역의 적어도 1/2, 보다 바람직하게는 대략 상기 출사면(22)의 총 영역 모두를 커버한다. 본 실시예에서는, 상기 출사면(22)에서 상기 디포커싱된 스폿의 지름을 최소한 10㎛, 바람직하게는 약 20㎛이다.
도 2, 도 3 및 도 4를 참조하면, 상기 틸트 오정렬 검출 과정시에, 상기 보조 방사빔(21)의 광선(47)은, 대물부(20)를 통과하여 기록매체(2)의 외부면(24)에 충돌한다. 기록매체(2)의 상기 방향(45)으로 경사짐으로 인해, 상기 제 1 출사면 영역 E에 대응하는 광축 OA의 좌측의 출사면(22)과 외부면(24) 사이의 갭은, 제 2 출사면 영역 F에 대응하는 광축 OA의 우측의 갭보다 상대적으로 작다. 본 실시예에서의 기록매체(22)는, 외부면(24)의 평면에 있고 기록매체(2)의 중심점으로부터 바깥쪽으로 연장되는 반경 r을 갖는다. 상기 중심점은, 상기 제 1 틸트축(41)과 상기 제 2 틸트축(42) 사이의 교점과 일치한다. 상기 갭은, 상기 반경 r을 따라 중심점으로부터 바깥쪽 방향으로 상기 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 크기에 있어서 보다 작게 된다. 상기 갭은, 상기 반경 r을 따라 중심점으로부터 바깥쪽 방향으로 상기 제 2 출사면 영역 F를 가로지르는 크기에 있어서 보다 크게 된다. 상기 외부면(24)에 충돌할 때, 상기 광선(47)의 일부가 상기 외부면(24)에서 투과되어서 기록매체(2) 내에서 흡수 및 반사되어, 일부가 그 외부면(24)에서 반사된다. 추가로, 광선(84)은, SIL(18)의 출사면(22)에서 전체적으로 내부 반사되기도 한다.
반사 및 흡수되는 광선(47)의 비율은, 상기 갭의 크기에 의존한다. 상기 갭이 원하는 것보다 큰 경우, 상기 갭을 가로지르는 감쇄결합의 효율은 상대적으로 낮고, 그 광선(47)의 소수가 갭을 가로질러 외부면(24)으로 투과된다. 이것에 의해 상기 출사면(22)의 안쪽면에서 내부 반사되는 광선(47)의 비율이 보다 커지게 된다. 상기 외부면(24)에 도달하는 광선(47)의 일부는 외부면(24)에서 반사되고, 일 부는 외부면(24)에서 투과된다. 상기 광선은, 기록매체(2) 및/또는 외부면(24)으로 형성된 재료에 의해서, 또는, 피트 및 부조 등의 입사층(24) 및/또는 정보층의 구조적인 특징과의 상호작용시에 그 광선의 상쇄 간섭에 의해서, 흡수되기도 한다.
상기 제 2 출사면 영역 F를 가로지르는 갭이 원하는 갭보다 큼으로써, 상기 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 갭이 원하는 갭보다 작다. 이러한 경우에, 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 상기 감쇄결합의 효율이 상대적으로 높고, 상기 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 보다 큰 비율의 상기 광선(47)은 외부면(24)을 투과한다. 이 때문에, 상기 제 1 출사면 영역 E를 가로지르는 광선(47)의 보다 큰 비율은 외부면(24)과 기록매체(2) 내에서 흡수된다. 따라서, 광선(47)은 상기 외부면(24)과 상기 출사면(22)의 내측면에서 별로 반사되지 않는다.
대물부(20)의 SIL(18)의 출사면(22)과 상기 외부면(24)에 의한 광선(47)의 반사는, 대물부(20)와 기록매체(2) 사이의 방사선의 감쇄결합의 효율을 나타내는 대물부(20)에서 반사된 방사선에서의 정보를 도입한다. 상기 반사된 광선(47)은, 편광 빔 스플리터(10), 비편광 빔 스플리터(8)를 통해 광축 OA를 따라 지나간 후 제 2 검출 경로를 따라 상기 콘덴서 렌즈(33)를 거쳐 상기 4분면 검출기(34)로 지나가는 검출 방사빔으로 이루어진다.
도 3은 제 1 틸트 축(41)을 중심으로 일방향으로 상기 틸트 오정렬에 따라 상기 4분면 검출기(34)에 입사하는 상기 검출 보조 방사빔 스폿(40)을 도시한 것이다. 상기 제 1 검출 영역(50)을 가로질러서, 상대적으로 낮은 전반적인 강도의 검출 방사빔은, 상기 출사면(22)의 내측면과 상기 외부면(24) 양쪽에서 반사되는 상 기 제 1 출사면 영역 E의 영역을 가로지르는 상기 광선(47)의 저비율에 해당하도록 검출된다. 제 2 검출영역(52)을 가로질러서, 상대적으로 높은 전반적인 강도의 검출 방사빔은, 상기 출사면(22)의 내측면과 상기 외부면(24) 양쪽에서 반사되는 상기 제 2 출사면 영역 F를 가로지르는 상기 광선(47)의 상대적으로 고비율에 해당하도록 검출된다.
상기 제 1 검출영역(50)을 가로지르는 상대적으로 낮은 전반적인 강도의 방사선을 검출함으로써, 상대적으로 낮은 크기를 갖는 제 1 검출기 신호 α1을 생성한다. 상기 제 2 검출영역(52)을 가로지르는 상대적으로 높은 전반적인 강도의 방사선을 검출함으로써, 상대적으로 높은 크기를 갖는 제 2 검출기 신호 α2를 생성한다. 상기 신호처리회로(43)는, 식 1 및 2에 따라 상기 제 1 틸트 오차신호 α를 생성한다. 상기 제어부(32)는 상기 제 1 틸트 오차신호 α를 수신하여, 액추에이터를 제어하여 상기 대물부(20)의 틸트를, 도 2에 도시된 것처럼, 변화시켜서, 이전에 설명된 것처럼 원하는 틸트 오정렬을 달성하고, 이때 상기 출사면(22)과 상기 외부면(24)은 서로 실질적으로 평행하다. 상기 대물부(20)의 틸트의 변화시에, 상기 제 1 및 제 2 검출기 신호 α1,α2의 크기는, 상기 제 1 검출기 영역(50)과 상기 제 2 검출기 영역(52) 양쪽에 의해 검출되는 방사선의 강도가 변함에 따라 변화한다. 그 결과, 상기 제 1 틸트 오차신호 α는 변화하고, 상기 제어부(32)는 이러한 변화를 감시한다. 상기 제어부(32)가 제 1 틸트 오차신호 α가 상기 원하는 틸트 오정렬의 특징을 갖는 제 1 틸트 오차신호 α와 최소한 대략 같은 것을 식별하면, 상기 제어 부(32)는, 대물부(20)의 틸트의 액추에이터의 변화를 정지시킨다. 이 때에, 상기 제 1 틸트 축(41)에 대한 틸트 오정렬을 보정한다.
상기 제어부(32)는, 도 2에 도시된 것처럼, 제 1 틸트 오차신호 α를 수신하고, 액추에이터를 제어하여 틸트 오정렬 보정방향(54)으로 대물부(20)의 틸트를 변화시켜, 원하는 틸트 오정렬을 달성한다. 이것은, 이전에 설명된 것처럼, 제 1 틸트 오차신호 α가 상기 원하는 틸트 정렬의 특징을 갖는 제 1 틸트 오차신호 α와 같을 경우를 식별하여 이 시점에 대물부(20)의 틸트의 그 액추에이터의 변화를 정지시키는 상기 제어부(32)를 포함한다.
상기 제 1 틸트 축(41)을 중심으로 한 틸트 오정렬을 검출하여 보정하는 것과 아울러, 상기 틸트 오정렬 보정과정도, 이전에 설명된 것과 같은 상기 제 1 틸트 축(41)을 중심으로 한 틸트 오정렬을 검출하여 보정하는 것과 마찬가지의 방식으로, 상기 제 2 틸트 축(42)을 중심으로 한 틸트 오정렬을 검출하여 보정하는 것을 포함한다.
상기 신호처리회로(43)는, 제 3 및 제 4 검출기 신호 β1과 β2의 크기에 좌우되는 식 3 및 4에 따라, 상기 제 2 틸트 오차신호 β를 생성한다. 상기 제 3 및 제 4 검출기 신호 β1과 β2의 크기는 상기 제 3 및 제 4 검출 영역 각각에 입사하는 상기 검출 방사빔의 반사된 광선들의 방사선 강도에 의존한다. 이전에 설명된 것처럼, 상기 검출영역에 입사하는 방사선의 강도는, 상기 갭을 가로지르는 감쇄결합의 효율에 의존한다. 상기 액추에이터는, 제 2 틸트 오차신호 β가 상기 원하는 틸트 오정렬의 특징을 갖는 제 2 틸트 오차신호 β와 같을 때까지 상기 제 2 틸트 축(42)을 중심으로 한 틸트 오정렬 보정방향으로 상기 대물부(20)의 틸트를 변화시킨다.
상기 틸트 오정렬 보정과정 다음에, 상기 광학주사장치(3)는, 주사기능, 예를 들면 기록매체(2)에 데이터의 기록 또는 기록매체로부터 데이터의 판독을 수행한다.
도 1 내지 4를 사용하여 나타낸 것과 같은 본 발명의 상기 기재된 실시예에서는, 원하는 틸트 정렬을 이루기 위해서 대물계의 틸트를 조정한다. 광축 OA에 대한 대물계의 틸트 변화의 최대 범위는, 약 0.07°내지 0.28°이고 이때의 대물계의 틸트는 상기 범위 내에 있고, 상기 갭 크기는, 방사빔의 파장λ의 약 1/10이다. 이러한 범위 내의 상기 틸트각은, 약 0.5°의 광축 OA에 대해 대물계의 최대 가능한 틸트각보다 낮다. 이와는 달리, 본 발명의 또 다른 실시예에서는, 기록매체의 틸트를 조정하여서 틸트를 변화시킨다. 이것은, 상기 제 1 및 제 2 틸트 오차신호에 따라 상기 기록매체를 홀딩하는 상기 장착부재의 틸트를 변화시켜서 이루어진다. 이 경우에, 상기 액추에이터는, 상기의 방식으로 기록매체의 틸트를 변화시키도록 구성된다. 추가로 고찰된 것은, 상기 틸트 오정렬이 대물계의 틸트와 상기 기록매체의 틸트 양쪽을 동시에 조정하여서 보정된다는 것이다.
본 발명의 상술한 실시예에서는, 광학주사장치의 개시과정동안, 예를 들면 광 기록매체로부터 데이터의 실제 주사에 앞서, 초기의 틸트 오정렬 보정과정을 수행한다. 상기 틸트 오정렬을 보정하면, 즉, 상기 출사면(22)과 상기 외부면(24)이 원하는 수준의 틸트 정렬을 갖는다면, 상기 보정된 틸트 정렬을 사용하고, 상기 주사 기능동안 상기 개시 과정 후 틸트를 추가로 제어할 수 있다.
도 4는 원형 출사면(22)을 도시한 것이다. 상기 보조 방사빔(21)의 측정영역은, 상기 회절소자(14)의 특정 배치에 의해 결정된다. 상기 회절소자(14)는, 상기 투명하고 비구조화된 중심(15)을 포함하여, 상기 측정영역(60)은 상기 측정영역(60)에서의 원형 영역(62)을 정의하는 내부 경계(61)를 포함한다. 주 방사빔(6)의 스폿은, 원형 형상으로 이루어지고, 여기서 상기 스폿(44)의 프로파일 또는 단면 영역은 상기 내부 경계(61) 안쪽과 상기 측정영역(60)의 원형영역(62)에 배치되고, 도 4의 스폿(44)로 도시된 것처럼, 주 방사빔(66)의 빔 프로파일은 분리영역(63)에 의해 측정영역(60)으로부터 이격되어 판독 또는 기록동작 상의 보조 방사빔(21)의 영향을 받지 않는다.
또한, 상기 측정영역(60)의 외부 경계(64)는, 에지 간격을 갖는 대물렌즈(18)의 출사면(22) 안쪽인, 대물렌즈(18)의 팁의 평탄한 영역 안쪽에 배치된다. 도 4에는, 바람직하게는 작은 에지 간격 링(65)에 의해 에지 간격이 도시되어 있다. 바람직하게는, 상기 외부 경계(64)는, 대물렌즈(18)의 출사면(22)의 에지에 가능한 가깝지만, 그래도 상기 평탄한 출사면(22) 안쪽이고, 여기서 상기 에지 간격 링(65)에서는 제조 허용오차를 고려한다.
바람직하게는, 상기 반사된 방사선의 동일한 편광상태를 사용하여 상기 갭 오차신호 발생에 관해서 틸트 검출을 하고, 그 만큼 상기 반사된 방사선의 일부는 기록매체(2)의 데이터 패턴에 영향을 받지 않는다. 따라서, 상기 방사선 검출 기(34)는, 도 5에 도시된 것처럼, 상기 스폿(46)의 강도 분포의 검출과 상기 갭 오차신호 발생을 위한 반사된 방사선의 강도의 검출을 제공하도록 구성되어도 된다.
도 5에서, 상기 방사선 검출기(34)는, 보조 방사선 검출기 소자 A,B,C,D와, 주 방사선 검출기 소자(66)를 구비하여서 대물렌즈(18)의 출사면(22)에서 반사된 주 방사빔의 강도를 검출하여 갭 오차신호를 생성한다. 이것의 이점은, 상기 반사된 보조 방사빔(21)과 반사된 방사빔(6) 양쪽의 검출하여 갭 오차신호를 생성하기 위해 하나의 방사선 검출기(34)만이 필요하다는 것이다. 하지만, 응용에 따라, 또 다른 검출기를 구비하여 갭 오차신호를 발생하도록 또 다른 경로를 설치하여도 된다.
또한, 도 3에 도시된 것처럼, 검출기 소자(34)는, 상기 반사된 보조 방사빔(21)의 강도 분포의 검출을 위한 일 시간과, 상기 서로 다른 검출기 소자 A,B,C,D에서 측정된 강도를 결합하여서 상기 갭 오차신호를 발생하도록 반사된 주 방사빔(6)의 강도의 검출을 위한 또 다른 시간에 사용되어도 된다.
상술한 본 발명의 실시예에서, 기록매체(2)는 정보층을 갖고, 외부면(24)은 이 정보층의 표면이다. 이와는 다르게 고안된 것은, 기록매체(2)가 정보층과 커버층을 갖는다. 상기 커버층의 일 표면은 외부면(24)인 반면에, 상기 정보층은 상기 커버층의 다른 표면에 배치된다. 상기와 다른 실시예에서, 광학주사장치는, 주사기능 동안, 주 방사빔이 커버층을 통해 그 정보층의 스폿에 포커싱되도록 구성된다. 이러한 일 구성은, 광축을 따라서의 SIL의 두께의 변화이다.
상술한 본 발명의 실시예는, 4분면 검출기(34)를 포함하는 것으로서 방사선 검출기 장치를 상세히 설명한다. 각 검출 4분면 영역은 포토다이오드이다. 이와는 달리 고안된 것은, 상기 검출기 장치가, 카메라 검출기, 예를 들면, 전하결합소자(CCD)와 유사한 검출기를 구비한다는 것이다.
상기 상세히 설명된 본 발명의 실시예에 기재된 것과 같은 기록매체(2)는, 실리콘으로 형성된다. 또 고안된 것은, 기록매체(2)는 서로 다른 구성을 갖고, 예를 들면 판독전용 디스크, 폴리카보네이트층 및 금속층 또는 유전층의 적층체와 같은 복수의 층으로 형성된다는 것이다. 기록 가능형 디스크의 경우, 상기 복수의 층은, 폴리카보네이트층과, 변경 가능한 상태 또는 광자기층 또는 염료층을 갖는 물질로 형성된 층을, 구비하도록 구성되었다. 기록매체는, 하나보다 많은 정보층, 예를 들면, 2개, 3개, 4개 이상의 층을 포함하기도 한다.
상술한 본 발명의 실시예는, 특정 파장의 방사빔(6)을 상세히 설명한다. 고안된 것은, 방사빔(6)이 서로 다른 특정 파장을 갖고, 광학주사장치(3)와 기록매체(2)가 이 서로 다른 특정 파장에서 적절하게 작동하도록 구성된다는 것이다. 상술한 본 발명의 실시예에서의 기록매체(2)는 광 기록매체이지만, 또 다른 실시예에서 고안된 것은, 광학주사장치(3)가 열지원 자기 기록(HAMR) 등의 하이브리드 기록을 이용하는 디스크나, 컴퓨터 하드디스크 드라이브(HDD)의 디스크와 같은 디스크를 포함한 서로 다른 형태의 기록매체(2)를 주사하도록 구성된다는 것이다.
상술한 본 발명의 실시예에서는, 틸트 오정렬 보정과정과 주사기능 양쪽에서 단일 방사빔(6)을 사용한다. 이와는 달리 고안된 것은, 서로 다른 방사원에서 발생된 서로 다른 방사빔이, 틸트 오정렬 보정과정과 주사기능마다 사용되어도 된다는 것이다. 상기 서로 다른 방사원을 사용하여 상술한 실시예의 것에 대해 서로 다른 형태의 기록매체를 주사하기 위한 방사선을 발생하기도 한다.
상술한 본 발명의 실시예에서, 상기 제 1 틸트축(41)은 광축OA에 수직하고, 상기 제 2 틸트축(42)은 광축 OA와 제 1 틸트축(41) 양쪽에 수직한다. 또 다른 본 발명의 실시예에서, 상기 제 1 틸트축(41)과 상기 제 2 틸트축(42)은, 서로에 대해 또한 광축 OA에 대해 공간적으로 서로 다른 배치를 하도록 고안된다.
임의의 하나의 실시예와 관련지어 설명된 임의의 특징만을 사용하여도 되거나, 상기 설명된 특징과 조합하여 사용하여도 되고, 또한 상기 실시예들의 임의의 다른 것의 하나 이상의 특징과 결합하거나, 상기 실시예들의 임의의 다른 것의 임의의 조합과 결합하여, 사용되어도 된다는 것을 알 수 있을 것이다. 또한, 상기 설명하지 않은 동등한 것과 변형은, 첨부하는 청구항들에 기재된 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 이용되어도 된다.

Claims (17)

  1. 기록매체(2)를 주사하기 위한 광학주사장치(3)로서,
    판독 및/또는 기록 동작을 위해 상기 기록매체(2)에 입사하는 적어도 주 방사빔(6)에 더하여 디포커싱된 모드에서 보조 방사빔(21)을 상기 기록매체(2)를 향해 투과시키도록 구성된 대물부(20)와,
    상기 보조 방사빔(21)에 대한 측정영역(60)을 적어도 정의하도록 상기 보조 방사빔(21)을 회절시키도록 구성된 회절소자(14)를 구비하고,
    상기 측정영역(60)은, 상기 대물부의 대물렌즈와 상기 기록매체(2) 사이의 갭을 가로지르는 상기 보조 방사빔(21)의 감쇄결합에 대해 상기 기록매체(2)에 대한 틸트 제어를 가능하게 하도록 상기 회절소자(14)에 의해 정의되고, 상기 주 방사빔(6)은 판독 및/또는 기록 동작을 위해 사용되는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 회절소자(14)는, 상기 주 방사빔(6)으로부터 상기 보조 방사빔(21)을 발생하는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 회절소자(14)는, 상기 대물부(20)에 의해 상기 기록매체(2)의 일 층에 포커싱된 상기 주 방사빔(6)을 발생하기 위한 투명하고 비구조화된 중심(15)과, 상기 보조 방사빔(21)을 발생하는 회절격자(16)를 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 회절격자(16)는 동심의 회절격자인 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 주 방사빔(6)의 빔 프로파일(44)은, 상기 측정영역(60)으로부터 최소한 이격된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 회절소자(14)는 상기 측정영역(60)이 일 영역(62)을 포함하도록 구성되고, 상기 대물부(20)는 상기 주 방사빔(6)의 상기 빔 프로파일(44)이 적어도 상기 영역(62) 안쪽에 배치되도록 구성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 회절소자(14)는, 상기 주 방사빔(6)의 상기 빔 프로파일(44)이 상기 측정영역(60)으로부터 분리영역(63)에 의해 분리되도록 구성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 대물렌즈는 팁(23)을 구비하고, 상기 회절소자(14)는 상기 측정영역의 경계(64)가 상기 대물렌즈의 상기 팁(23)의 평탄한 영역(22) 적어도 안쪽에 배치된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 측정영역(60)의 상기 경계(64)는, 에지 간격(65)을 포함하는 상기 대물렌즈(18)의 상기 팁(23)의 상기 평탄한 영역(22) 안쪽에 배치되는 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 측정영역(60)은, 적어도 거의 링 형상의 측정영역인 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 대물부(20)의 상기 대물렌즈(18)의 출사면(22)에서 반사된 상기 보조 방사빔(21)의 강도 분포를 검출하여서 틸트 오차신호를 생성하도록 구성된 방사선 검출기(34)를 특징으로 하는 광학주사장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 방사선 검출기(34)는, 상기 대물렌즈(17)의 상기 출사면에서 반사된 상기 주 방사빔(6)의 강도를 검출하여서 상기 틸트 오차신호와 갭 오차신호를 동시에 발생하도록 구성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 방사선 검출기(34)는, 상기 대물렌즈(18)의 상기 출사면(22)에서 반사된 상기 주 방사빔(6)의 강도를 검출하기 위한 적어도 주 방사선 검출기 소자(66) 를 구비한 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  14. 제 11 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방사선 검출기(34)는, 제 1 보조 방사선 검출기 소자와, 적어도 제 2 보조 방사선 검출기 소자를 구비하고,
    상기 제 1 보조 방사선 검출기 소자는, 상기 측정영역(60)의 제 1 부분에 대해 상기 대물렌즈(18)의 상기 출사면(22)에서 반사된 상기 보조 방사빔(21)의 강도를 검출하도록 구성되고,
    상기 제 2 보조 방사선 검출기 소자는, 상기 측정영역(60)의 제 2 부분에 대해 상기 대물렌즈(18)의 상기 출사면(22)에서 반사된 상기 보조 방사빔(21)의 강도를 검출하도록 구성되고,
    상기 방사선 검출기(34)는, 상기 제 1 보조 방사선 검출기 소자에 의해 검출된 상기 강도와, 상기 제 2 보조 방사선 검출기 소자에 의해 검출된 상기 강도에 의거하여 틸트 오차신호를 생성하도록 구성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 방사선 검출기(34)는, 제 3 보조 방사선 검출기 소자와, 적어도 제 4 보조 방사선 검출기 소자를 구비하고,
    상기 제 3 보조 방사선 검출기 소자는, 상기 측정영역(60)의 제 3 부분에 대해 상기 대물렌즈(18)의 상기 출사면(22)에서 반사된 상기 보조 방사빔의 강도를 검출하도록 구성되고,
    상기 제 4 보조 방사선 검출기 소자는, 상기 측정영역의 제 4 부분에 대해 상기 대물렌즈(18)의 상기 출사면(22)에서 반사된 상기 보조 방사빔의 강도를 검출하도록 구성되고, 상기 방사선 검출기(34)는, 상기 제 1 보조 방사선 검출기 소자에 의해 검출된 상기 강도와, 상기 제 2 보조 방사선 검출기 소자에 의해 검출된 상기 강도와, 상기 제 3 보조 방사선 검출기 소자에 의해 검출된 상기 강도와, 상기 제 4 보조 방사선 검출기 소자에 의해 검출된 상기 강도에 의거하여 상기 대물렌즈(18)의 상기 출사면과 상기 기록매체(2)의 외부면(24)간의 2차원 틸트 오정렬을 나타낸 틸트 오차신호를 생성하도록 구성된 것을 특징으로 하는 광학주사장치.
  16. 청구항 1 내지 15 중 어느 한 항에 따른 광학주사장치를 구비하여 기록매체(2)의 주사시에 갭 거리 보정과 틸트 오정렬 보정을 동시에 수행하도록 구성된 것을 특징으로 하는 광학기록장치.
  17. 기록매체(2) 주사방법으로서,
    판독 및/또는 기록 동작을 위해 상기 기록매체(2)에 적어도 주 방사빔(6)에 더하여 디포커싱된 모드에서 보조 방사빔(21)을 상기 기록매체(2)를 향해 투과시키는 단계와,
    상기 보조 방사빔(21)에 대한 측정영역(60)을 적어도 정의하도록 상기 보조 방사빔(21)을 회절시키는 단계를 포함하고,
    상기 측정영역(60)은, 상기 기록매체(2)를 주사하는데 사용된 대물부(20)의 대물렌즈(18) 사이의 갭을 가로지르는 상기 보조 방사빔(21)의 감쇄결합에 대해 상기 기록매체(2)에 대한 틸트 제어를 가능하게 하도록 정의되고, 상기 주 방사빔(6)은 판독 및/또는 기록 동작을 위해 사용되는 것을 특징으로 하는 기록매체 주사방법.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100902170B1 (ko) * 2008-05-19 2009-06-10 (주)펨트론 표면형상 측정장치
EP2287839A4 (en) * 2008-05-23 2012-05-02 Panasonic Corp OPTICAL INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, OPTICAL INFORMATION INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING METHOD, OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND SOLID IMMERSION LENS

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0311340B1 (en) * 1987-10-05 1993-08-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical pickup head
JP3507632B2 (ja) * 1996-09-17 2004-03-15 株式会社東芝 回折格子レンズ
US6396789B1 (en) * 1998-02-27 2002-05-28 Calimetrics, Inc. Data storage system and methods using diffractive near-field optics
JP3916200B2 (ja) * 2000-03-24 2007-05-16 フジノン株式会社 回折型レンズおよびこれを用いた光ピックアップ装置
JP2002277732A (ja) * 2001-03-14 2002-09-25 Fuji Photo Optical Co Ltd 回折型光ピックアップレンズおよびこれを用いた光ピックアップ装置
KR20050091756A (ko) * 2002-12-30 2005-09-15 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 광학 주사 장치용의 디스크 드라이브
US8023368B2 (en) * 2003-10-16 2011-09-20 Panasonic Corporation Tilt sensor and optical disk drive
JP2006004596A (ja) * 2004-05-18 2006-01-05 Sony Corp 光学ピックアップ装置、光記録再生装置及びギャップ検出方法
US7613082B2 (en) * 2004-05-18 2009-11-03 Sony Corporation Optical pickup device, optical recording and reproducing apparatus and gap detection method
CN101006500A (zh) * 2004-08-20 2007-07-25 皇家飞利浦电子股份有限公司 光学扫描设备

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