KR20080044445A - 표시 장치용 모기판 - Google Patents

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KR20080044445A
KR20080044445A KR1020060113317A KR20060113317A KR20080044445A KR 20080044445 A KR20080044445 A KR 20080044445A KR 1020060113317 A KR1020060113317 A KR 1020060113317A KR 20060113317 A KR20060113317 A KR 20060113317A KR 20080044445 A KR20080044445 A KR 20080044445A
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안병재
김범준
이종혁
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삼성전자주식회사
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Abstract

제조공정 중 발생되는 정전기에 의한 불량을 개선하기 위한 표시 장치용 모기판이 개시된다. 표시 장치용 모기판은 화소부들, 어레이 검사부, 정전기 분산 배선, 제1 더미 화소 패턴들, 정전 부재를 포함한다. 화소부들은 신호 배선들에 의해 정의되고, 어레이 검사부는 화소부들이 형성된 셀 영역을 둘러싸는 주변 영역에 형성되어 신호 배선들의 테스트 신호를 인가 받는다. 정전기 분산 배선은 주변 영역에 형성되며, 셀 영역 및 어레이 검사부를 둘러싼다. 제1 더미 화소 패턴들은 어레이 검사부와 정전기 분산 배선 사이에 형성된다. 정전 부재는 정전기 분산 배선에 나란한 제1 더미 화소 패턴들을 전기적으로 연결한다. 이에 따라, 정전기 분산 배선을 통해 검사 패드로 유입되는 정전기를 차단하여 불량을 개선한다.
모기판, 정전기, 검사 패드, 어레이 검사

Description

표시 장치용 모기판{MOTHER GLASS SUBSTRATE FOR DISPLAY APPARATUS}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치용 모기판을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치용 모기판에서 더미 화소 패턴들의 형성 영역을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 정전 부재의 제1 실시예에 따른 구성을 개념적으로 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 정전 부재의 제1 실시예에 따른 구성을 개념적으로 도시한 도면이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100: 모기판 110: 게이트 구동회로
122: 게이트 구동 패드 124: 데이터 구동 패드
212: 제1 검사 패드 214: 제1 검사 배선
222: 제2 검사 패드 224: 제2 검사 배선
300: 정전기 분산 배선 400: 정전 부재
GL: 게이트 배선 DL:데이터 배선
TFT: 박막트랜지스터 PE: 화소 전극
DA: 표시 영역 SA: 신호인가 영역
PA: 주변 영역 SCL: 절단선
CEL: 셀 영역
본 발명은 표시 장치용 모기판에 관한 것으로, 보다 상세하게는 공정 진행시 발생되는 정전기에 의한 불량을 개선하기 위한 표시 장치용 모기판에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치는 어레이 기판, 어레이 기판과 마주하는 대향 기판 및 두 기판 사이에 개재된 액정층으로 이루어진다. 어레이 기판은 표시 영역과 표시 영역을 둘러싸는 신호인가 영역으로 구분된다.
표시 영역은 일방향으로 형성된 게이트 배선들과, 게이트 배선들과 교차하는 방향으로 형성된 데이터 배선들에 의해 복수의 화소부가 형성되고, 화소부마다 박막트랜지스터 및 화소 전극이 형성된다.
이와 같은, 어레이 기판이 형성되면 신호 배선들에 대한 전기적인 동작 상태를 점검하기 위한 어레이 검사 공정을 수행하며, 이를 위해 어레이 기판을 포함하는 모기판에는 어레이 검사 공정을 위한 검사 패드들 및 검사 배선들이 구비된다.
어레이 검사용 검사 패드들 및 검사 배선들은 모기판에서 어레이 기판을 정의하는 절단선의 외부의 주변 영역에 형성된다.
한편, 검사 패드들 및 검사 배선들이 형성된 모기판의 주변 영역에는 정전기 방지를 위한 정전기 분산 배선이 형성되고, 3마스크 공정 등에서 공정을 보다 용이하게 하기 위하여 더미 화소 패턴들이 형성된다.
이와 같이, 더미 화소 패턴들이 형성됨에 따라서 제조 공정 중에 정전기 분산 배선으로 유입된 정전기가 더미 화소 패턴들을 징검다리 삼아 검사 패드 및 검사 배선으로 유입되어 불량이 발생되는 문제점이 있다.
이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 공정 진행시 발생되는 정전기에 의한 불량을 개선하기 위한 표시 장치용 모기판을 제공하는 것이다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 표시 장치용 모기판은 화소부들, 어레이 검사부, 정전기 분산 배선, 화소 패턴들 및 정전 부재를 포함한다. 상기 화소부들은 신호 배선들에 의해 정의되며, 상기 어레이 검사부는 상기 화소부들이 형성된 셀 영역을 둘러싸는 주변 영역에 형성되며, 상기 신호 배선들의 테스트 신호를 인가 받는다. 상기 정전기 분산 배선은 상기 주변 영역에 형성되며, 상기 셀 영역 및 어레이 검사부를 둘러싼다. 상기 제1 더미 화소 패턴들은 상기 어레이 검사부와 정전기 분산 배선 사이에 형성된다. 상기 정전 부재는 상기 정전기 분산 배선에 나란한 상기 제1 더미 화소 패턴들을 전기적으로 연결한다.
이러한 표시 장치용 모기판에 의하면, 제조공정 중에 정전기 분산 배선으로부터 더미 화소 패턴으로 유입되는 정전기는 정전 부재에 의해 인접 더미 화소 패 턴들로 유도되어 방전됨으로써, 검사 패드들로의 정전기 유입을 차단하여 정전기에 의한 불량을 개선할 수 있다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치용 모기판을 개략적으로 도시한 평면도이며, 도 2는 도 1의 표시 장치용 모기판에서 더미 화소 패턴들의 형성 영역을 설명하기 위한 도면이다.
여기서, 도 2에 도시된 모기판(100)은 도 1에 도시된 모기판(100)과 동일 모기판이므로, 도 2에서는 중요 부재에 대해서만 도면 부호를 표시하였다.
도 1 및 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치용 모기판(100)은 절단선(SCL)에 의해 정의되는 셀 영역(CEL)과, 셀 영역(CEL)을 둘러싸는 주변 영역(PA)으로 이루어진다. 모기판(100)은 절단선(SCL)을 따라 절단되고, 셀 영역(CEL) 별로 분리되어 표시 장치용 어레이 기판을 형성한다. 즉, 모기판(100)에 정의된 각각의 셀 영역(CEL)은 표시 장치의 어레이 기판에 대응된다. 이러한, 셀 영역(CEL)은 모기판(100)에 적어도 하나 이상 정의되며, 도 1의 도면에서는 설명의 편의를 위하여 하나의 셀 영역(CEL)만 도시하였다.
모기판(100)에 정의된 셀 영역(CEL)은 신호 배선(GL, DL)들에 의해 복수의 화소부가 매트릭스(Matrix) 형태로 정의된 표시 영역(DA)과, 표시 영역(DA)을 둘러싸고, 화소부 구동을 위한 구동신호를 신호 배선(GL, DL)들을 통해 화소부에 제공하는 구동 회로부가 실장 되거나 집적되는 신호인가 영역(SA)으로 구분된다.
표시 영역(DA)에 형성된 신호 배선(GL, DL)들은 일방향으로 연장 형성된 게이트 배선(GL)들과, 게이트 배선(GL)들과 교차하는 방향으로 연장 형성된 데이터 배선(DL)들을 포함한다. 즉, 게이트 배선(GL)들 및 데이터 배선(DL)들에 의해 복수의 화소부가 정의된다. 각 화소부에는 게이트 배선(GL) 및 데이터 배선(DL)에 연결되는 박막트랜지스터(TFT)가 형성되고, 박막트랜지스터(TFT)에 전기적으로 연결되어 액정 커패시터의 제1 전극으로 정의되는 화소 전극(PE) 및 스토리지 커패시터(미도시)가 형성된다.
표시 영역(DA)을 둘러싸는 신호인가 영역(SA)에는 게이트 배선(GL)들에 게이트 신호를 인가하는 게이트 구동회로(110)가 집적회로 형태로 형성되고, 복수개의 구동 패드(120)들이 형성된다. 구동 패드(120)들은 게이트 구동 패드(122)들과 데이터 구동 패드(144)들을 포함한다. 게이트 구동 패드(122)들은 게이트 구동회로(110)를 구동하기 위한 제어신호를 제공하는 구동 칩(chip) 또는 연성회로기판(Flexible Printed Circuit:FPC) 등을 실장하기 위한 패드이다. 데이터 구동 패드(124)들은 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동칩(미도시)을 실장하기 위한 패드로서, 소정 단위로 그룹핑된 데이터 배선(DL)들의 집합이다. 도면에서는 데이터 배선(DL)들이 2개로 그룹핑된 경우이다.
모기판(100) 셀 영역(CEL)을 둘러싸는 주변 영역(PA)에는 어레이 검사부, 정전기 분산 배선(300), 더미 화소 패턴(미도시)들 및 정전 부재(400)가 형성된다.
어레이 검사부는 제1 검사 배선(214) 및 제2 검사 배선(224)과, 제1 검사 배선(214)을 통해 게이트 구동 패드(122)들과 전기적으로 연결되는 제1 검사 패 드(212) 및 제2 검사 배선(224)을 통해 데이터 구동 패드(124)들과 전기적으로 연결되는 제2 검사 패드(214)들을 포함한다.
제1 검사 패드(212)들은 셀 영역(CEL) 상에 형성된 게이트 배선(GL)들의 전기적인 동작 상태를 검사하는 테스트 신호가 인가된다. 제1 검사 패드(212)들에 인가된 테스트 신호는 해당하는 제1 검사 배선(214)들을 통해 해당 게이트 구동 패드(122)들에 제공된다. 제1 검사 패드(212)들에 인가되는 테스트 신호는 게이트 배선(GL)들의 일측에 형성된 게이트 구동회로(110)를 구동시키는 제어신호로 정의할 수 있다.
제2 검사 패드(222)들은 셀 영역(CEL) 상에 형성된 데이터 배선(DL)들의 전기적인 동작 상태를 검사하는 테스트 신호가 인가된다. 제2 검사 패드(222)들에 인가된 테스트 신호는 해당하는 제2 검사 배선(224)들을 통해 해당 데이터 구동 패드(124)들에 제공된다.
일 예로, 2D 방식에 따라서 형성된 제2 검사 패드(222)들은 홀수 번째 데이터 배선(DL)들의 테스트 신호를 인가 받는 제2 검사 패드(222a)와, 짝수 번째 데이터 배선(DL)들의 테스트 신호를 인가 받는 제2 검사 패드(222b)를 포함한다. 또한, 2D 방식에 따라서 형성된 제2 검사 배선(224)들은 홀수 번째 데이터 배선(DL)들과 연결되는 제2 검사 배선(224a)과, 짝수 번째 데이터 배선(DL)들과 연결되는 제2 검사 배선(224b)을 포함한다. 즉, 2D 방식에 따라서 형성된 제2 검사 패드(222)들과 제2 검사 배선(224)들은 홀수 번째 데이터 배선(DL)들과 짝수 번째 데이터 배선(DL)들로 구분하여 테스트 신호를 인가하도록 형성된다.
정전기 분산 배선(300)은 모기판(100)의 주변 영역(PA)에서 어레이 검사부의 바깥 영역에 형성된다. 즉, 정전기 분산 배선(300)은 내부에 셀 영역(CEL) 및 어레이 검사부가 내부에 배치되어, 셀 영역(CEL)과 어레이 검사부는 정전기 분산 배선(300)에 둘러싸인다. 이러한, 정전기 분산 배선(300)은 단일 배선으로 형성할 수도 있고, 몇 개의 배선으로 나누어 형성할 수도 있다. 일 예로, 정전기 분산 배선(300)은 게이트 배선(GL)들과 나란한 방향으로 연장된 구역과, 데이터 배선(DL)들과 나란한 방향으로 형성된 구역으로 나누어 형성할 수 있다. 이렇게, 형성된 정전기 분산 배선(300)은 셀 영역(CEL)에 형성된 게이트 배선(GL)들 및 데이터 배선(DL)들에 외부의 정전기가 직접적으로 유입되는 것을 차단하는 기능을 수행한다.
더미 화소 패턴(미도시)들은 도 2에 도시된 바와 같이, 모기판(100)의 주변 영역(PA) 매트릭스 형태로 형성된다. 더미 화소 패턴(미도시)들은 제1 검사 패드(212)들 및 제2 검사 패드(222)들과 제1 검사 배선(214)들 및 제2 검사 배선(224)과는 중첩되지 않으며, 제1 검사 패드(212)들, 제2 검사 패드(222)들, 제1 검사 배선(214)들 및 제2 검사 배선(224)들 사이의 빈 공간을 비롯하여, 모기판(100)의 주변 영역(PA)에 두루 형성된다.
여기서, 정전기 분산 배선(300)과 어레이 검사부 사이에 형성된 더미 화소 패턴들은 제1 더미 화소 패턴들로 정의되고, 어레이 검사부와 셀 영역(CEL) 사이에 형성된 더미 화소 패턴들은 제2 더미 화소 패턴들로 정의된다.
이러한, 더미 화소 패턴들은 화소부의 화소 전극(PE) 형성시에 함께 형성되며, 투명 도전성 금속 물질로 이루어진다.
한편, 도면에서는 더미 화소 패턴들이 주변 영역(PA)에만 형성되는 것으로 도시하였으나, 경우에 따라서 셀 영역(CEL)의 신호인가 영역(SA)에도 형성될 수 있다.
정전 부재(400)는 정전기 분산 배선(300)의 안쪽(내부) 영역에 형성되어 정전기 분산 배선(300)과 나란하게 형성된 더미 화소 패턴들을 전기적으로 연결하며, 정전기 분산 배선(300)과 어레이 검사부 사이에 위치한다.
즉, 정전 부재(400)는 제1 검사 패드(212)들, 제2 검사 패드(222)들, 제1 검사 배선(214)들 및 제2 검사 배선(224)들을 포함하는 어레이 검사부와 정전기 분산 배선(300) 사이에 정전기 분산 배선(300)에 나란하게 배치된 제1 더미 화소 패턴(미도시)들을 전기적으로 연결한다. 일 예로, 정전 부재(400)는 정전기 분산 배선(300)에 인접하여 형성되며, 어레이 검사부가 정전 부재(400)에 의해 정전기 분산 배선(300)과 차단되도록 어레이 검사부가 형성된 구간에 대응하는 영역에만 형성하거나, 정전기 분산 배선(300)에 대응하는 모든 영역에 형성한다. 한편, 정전 부재(400)는 정전기 분산 배선(300)과 마찬가지로 단일 구간 또는 복수의 구간으로 나누어 형성될 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 정전 부재의 제1 실시예에 따른 구성을 개념적으로 도시한 도면이다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 정전 부재(400)는 정전 다이오드로 이루어지며, 적어도 1열 이상 형성된다. 구체적으로, 제1 실시예에 따른 정전 부재(400)는 정전기 분산 배선(300)에 나란한 방향으로 인접한 제1 더미 화소 패턴(230) 사이마다 형성된 제1 다이오드(400a) 및 제2 다이오드(400b)를 포함한다.
제1 다이오드(400a)는 정전기 분산 배선(300)에 나란한 방향으로 인접한 제1 더미 화소 패턴(230) 사이마다 형성되며, 캐소드(cathode)가 일방향에 위치한 제1 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결되고, 애노드(anode)가 역방향에 위치한 제1 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결된다.
제2 다이오드(400b)는 캐소드(cathode) 및 애노드(anode)가 제1 다이오드(400a)와 반대 방향으로 연결되다. 즉, 애노드가 일방향에 위치한 제1 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결되고, 캐소드가 역방향에 위치한 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결된다.
이러한 구성에 의해서, 정전기 분산 배선(300)으로부터 임의의 제1 더미 화소 패턴(230)으로 정전기가 유입되면, 전기적 저항이 적은 제1 다이오드(400a)들 및 제2 다이오드(400b)들을 통해 인접한 더미 화소 패턴(230)들로 단계적으로 유도되어 분산되고, 줄(Joule)열로 소모되어 방전시킴으로써, 제1 및 제2 검사 패드(212, 222)로의 정전기 유입을 차단하여 정전기에 의한 불량을 개선한다. 또한, 정전 부재(400)를 복수열로 구성함으로써, 정전기가 강하여 제1 열에서 제2 열로 유입되더라도 제2 열에서 추가적으로 분산, 소모되어 방전시킴으로써, 정전기에 의한 불량을 효과적으로 개선한다.
도 4는 본 발명에 따른 정전 부재의 제1 실시예에 따른 구성을 개념적으로 도시한 도면이다.
도 1 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 정전 부재(400)는 정전 박막트랜지스터로 이루어지며, 적어도 1열 이상 형성된다. 구체적으로, 제2 실시예에 따른 정전 부재(400)는 정전기 분산 배선(300)에 나란한 방향으로 인접한 제1 더미 화소 패턴(230) 사이마다 형성된 제1 박막트랜지스터(400c) 및 제2 박막트랜지스터(400d)를 포함한다. 여기서, 제1 박막트랜지스터(400c) 및 제2 박막트랜지스터(400d)의 경우 셀 영역(CEL)의 표시 영역(DA)에 형성된 박막트랜지스터(TFT) 형성시에 함께 형성된다.
제1 박막트랜지스터(400c)들은 인접한 제1 더미 화소 패턴(230) 사이마다 형성되어 제1 더미 화소 패턴(230)들을 전기적으로 연결하며, 드레인 전극이 일방향에 위치한 제1 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결되고, 소스 전극 및 게이트 전극이 역방향에 위치한 제1 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결된다.
제2 박막트랜지스터(400d)들은 인접한 제1 더미 화소 패턴(230) 사이마다 형성되어 제1 더미 화소 패턴(230)들을 전기적으로 연결하며, 제1 박막트랜지스터(400c)들과는 반대 방향으로 형성된다. 즉, 드레인 전극이 역방향에 위치한 제1 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결되고, 소스 전극 및 게이트 전극이 일방향에 위치한 더미 화소 패턴(230)에 전기적으로 연결된다.
이러한 구성에 의해서, 정전기 분산 배선(300)으로부터 유입되는 정전기를 분산 및 줄 열로 소모시켜 방전시킴으로써, 제1 검사 패드(212) 및 제2 검사 패드(212, 222)로의 정전기 유입을 차단하여 불량을 개선한다.
도시하진 않았지만 본 발명에 따른 정전 부재(400)의 다른 실시예로 정전기 분산 배선(300)에 나란한 제1 더미 화소 패턴(230)들을 전기적으로 연결하는 저항을 들 수 있다. 일 예로, 저항은 금속 배선으로 형성할 수 있으며, 금속 배선으로 이루어진 정전 부재(400)의 경우 표시 영역(DA)에 형성된 게이트 배선(GL) 또는 데이터 배선(DL) 형성시 함께 형성된다.
한편, 더미 화소 패턴(230)들의 사이즈가 작을수록 줄 열이 상승하므로 정전 부재(400)가 형성되는 정전기 분산 배선(300)과 어레이 검사부 사이의 더미 화소 패턴(230)들의 사이즈를 줄이는 것이 정전기 방지에 더욱 유리하다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 제조 공정 중에 정전기 분산 배선으로 유입된 정전기가 더미 화소 패턴으로 유입되면, 정전 부재에 의해 정전기 분산 배선에 나란한 더미 화소 패턴들로 유도되어 분산 및 줄 열로 소모되어 방전됨으로써, 어레이 검사부를 비롯한 셀 영역으로의 정전기 유입을 차단하여 정전기에 의한 불량을 개선할 수 있다.
이상에서는 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (8)

  1. 신호 배선들에 의해 정의되는 복수의 화소부들;
    상기 화소부들이 형성된 셀 영역을 둘러싸는 주변 영역에 형성되며, 상기 신호 배선들의 테스트 신호를 인가 받는 어레이 검사부;
    상기 주변 영역에 형성되며, 상기 셀 영역 및 어레이 검사부를 둘러싸는 정전기 분산 배선;
    상기 어레이 검사부와 정전기 분산 배선 사이에 형성된 제1 더미 화소 패턴들; 및
    상기 정전기 분산 배선에 나란한 상기 제1 더미 화소 패턴들을 전기적으로 연결하는 정전 부재를 포함하는 표시 장치용 모기판.
  2. 제1항에 있어서, 상기 정전 부재는 적어도 1열 이상 형성되며, 정전 다이오드, 정전 박막트랜지스터 및 금속 배선 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 표시 장치용 모기판.
  3. 제2항에 있어서, 상기 정전 다이오드는
    상기 정전기 분산 배선에 나란한 상기 제1 더미 화소 패턴 사이마다 일방향으로 형성된 제1 다이오드; 및
    상기 정전기 분산 배선에 나라한 상기 제1 더미 화소 패턴 사이마다 상기 제 1 다이오드와 반대 방향으로 형성된 제2 다이오드를 포함하는 표시 장치용 모기판.
  4. 제2항에 있어서, 상기 정전 박막트랜지스터는
    상기 정전기 분산 배선에 나란한 상기 제1 더미 화소 패턴 사이마다 형성되며, 게이트 전극 및 소스 전극이 공통으로 일방향의 제1 더미 화소 패턴에 연결되고, 드레인 전극은 반대 방향의 제1 더미 화소 패턴에 연결되는 제1 박막트랜지스터; 및
    상기 정전기 분산 배선에 나란한 상기 제1 더미 화소 패턴 사이마다 형성되며, 게이트 전극 및 소스 전극이 공통으로 상기 반대 방향의 제1 더미 화소 패턴에 연결되고, 드레인 전극은 상기 일방향의 제1 더미 화소 패턴에 연결되는 제2 박막트랜지스터를 포함하는 표시 장치용 모기판.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1 박막트랜지스터 및 제2 박막트랜지스터는 상기 화소부에 형성된 박막트랜지스터 형성시에 함께 형성된 것을 특징으로 하는 표시 장치용 모기판.
  6. 제2항에 있어서, 상기 어레이 검사부는
    상기 신호 배선들의 전기적인 동작 상태를 검사하는 테스트 신호를 인가 받는 검사 패드들; 및
    상기 검사 패드들과 신호 배선들을 전기적으로 연결하여 상기 테스트 신호를 전달하는 검사 배선들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치용 모기판.
  7. 제6항에 있어서, 상기 신호 배선들은
    게이트 배선들; 및
    상기 게이트 배선들과 교차하는 방향으로 형성된 데이터 배선들을 포함하며,
    상기 검사 패드들 및 검사 배선들은
    상기 게이트 배선들의 전기적인 동작 상태를 검사하기 위한 제1 검사 패드들 및 제1 검사 배선들; 및
    상기 데이터 배선들의 전기적인 동작 상태를 검사하기 위한 제2 검사 패드들 및 제2 검사 배선들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치용 모기판.
  8. 제6항에 있어서, 상기 어레이 검사부와 상기 셀 영역 사이에 형성된 제2 더미 화소 패턴들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치용 모기판.
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