KR20060119387A - 이매검지방법 - Google Patents

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KR20060119387A
KR20060119387A KR1020050042362A KR20050042362A KR20060119387A KR 20060119387 A KR20060119387 A KR 20060119387A KR 1020050042362 A KR1020050042362 A KR 1020050042362A KR 20050042362 A KR20050042362 A KR 20050042362A KR 20060119387 A KR20060119387 A KR 20060119387A
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Abstract

본 발명은 이매 검지 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 지폐가 투입될 때 움직이는 슬롯의 개수를 계수하여 지폐의 이매 여부를 판단하는 이매검지방법에 있어서, 추출된 데이터의 파형에서 극소점 및 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 찾아 보정값을 계산하고 이로부터 보정 면적 및 평균 높이를 계산하여 계산된 평균 높이가 정상 범위에 포함되는 지를 확인하여 이매 여부를 판단하는 새로운 이매검지 알고리즘을 적용함으로써 일반적인 지폐뿐 아니라 은선이 삽입된 지폐가 투입되더라도 적용 가능하여 보다 정확하고 신뢰성 있는 이매 검지가 가능하도록 한 이매검지방법에 관한 것이다.
상기와 같은 이매검지 알고리즘은 기존의 이매검지방법에 비해서 지폐의 두께나 길이에 영향을 적게 받아 향후 새로운 형태의 지폐가 투입되더라도 이에 대한 빠르게 대응할 수 있고, 또한, 통합된 로직을 사용할 수 있어 쉽게 적용이 가능하다는 점에서 더욱 유리한 효과를 가진다.
현금입출금기, 이매검지, 극소점, 극대점, 보상값, 은선

Description

이매검지방법 {Method for Detecting Two Papers}
도 1a 내지 도 1c는 종래의 현금입출금기의 이매검지장치의 내부 구성을 도시한 블록도와, 이매검지방법을 나타낸 순서도 및 정상 지폐의 파형을 나타낸 그래프이다.
도 2는 정상 지폐 및 이매 지폐, 은선 지폐의 획득된 데이터로부터 파형을 도시한 그래프이다.
도 3은 본 발명에 따른 이매검지 알고리즘을 도시한 순서도이다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명에 따른 이매검지방법을 순차적으로 나타낸 그래프이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
10 : 지류이송수단 11 : 지류가이드
12 : 컨베어벨트 13 : 상부지류가이드
14 : 하부지류가이드 15 : 상부컨베어벨트
16 : 하부컨베어벨트 17 : 지류이송통로
20 : 선회부재 21 : 접촉부
22 : 인코더부 22a : 슬릿
23 : 회전축 30 : 슬릿개수센서
본 발명은 이매 검지 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 지폐가 투입될 때 움직이는 슬롯의 개수를 계수하여 지폐의 이매 여부를 판단하는 이매검지방법에 있어서, 추출된 데이터의 파형에서 극소점 및 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 찾아 보정값을 계산하고 이로부터 보정 면적 및 평균 높이를 계산하여 계산된 평균 높이가 정상 범위에 포함되는 지를 확인하여 이매 여부를 판단하는 새로운 이매검지 알고리즘을 적용함으로써 보다 정확하고 신뢰성 있는 이매 검지가 가능하도록 한 이매검지방법에 관한 것이다.
일반적으로 현금입출금기에서 현금의 입출금을 위하여 지폐의 수량을 계수할 때, 두 장 이상의 지폐가 한 장으로 계수되는 것을 검지하기 위해 이매검지장치가 구비된다.
상기 이매검지장치는 크게 투입된 지폐의 길이를 측정하여 이매를 검지하기 위한 길이 센서와, 투입되는 지폐의 두께를 측정하여 이매를 검지하기 위한 두께 센서로 나뉠 수 있다.
일반적으로 이매검지장치의 검지 방법은, 먼저, 광센서나 이미지 센서 등으로 구현된 길이 센서를 이용하여 지폐의 길이와 지폐의 크기를 감별하여 지폐의 이매를 판단하고, 다음으로 이로 검지되지 않은 이매에 대해서 슬롯개수센서를 이용하여 구현된 두께 센서로 두께를 검출하는 방식으로 이매를 검지할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 현금입출금기의 이매검지장치를 설명한다.
도 1a는 일반적인 현금입출금기의 이매검지장치 중 슬롯개수센서를 이용하여 구현된 두께 센서를 도시한 사시도이다.
도면을 참조하면, 선회부재(20)는 일측이 지류이송통로(17)측으로 연장 형성되어 이송되는 지폐류의 상면과 접촉되도록 되어 있고, 상부지류가이드(13)의 관통공을 관통하여 저단이 하부지류가이드(14)의 상면에 접촉되는 접촉부(21)와, 상기 접촉부(21)가 형성된 대향측에 복수개의 슬릿(22a)이 형성되는 인코더부(22)로 이루어진다.
지폐류가 지류이송통로(17)로 이송되어 접촉부(21)에 접촉 통과되면, 회전축(23)을 중심으로 선회된다. 이 때, 선회부재(20)는 상부지류가이드(13)의 돌출고정부에 형성된 회전축(23)에 회전 가능하도록 결합되어, 지폐류가 지류이송통로(17)로 이송되어 접촉부(21)에 접촉 통과되면 회전축(23)을 중심으로 선회된다.
또한, 선회부재(20)의 인코더부(22)는 지류가 접촉부(21)와 접촉 통과되면 회전축(23)을 중심으로 선회된다. 선회부재(20)의 접촉부(21)가 지폐류와 접촉하여 회전축(23)을 중심으로 선회되면 슬릿개수센서(30)가 선회되는 인코더부(22)의 슬릿(22a)을 계수하여 인코더부(22)의 변위량을 측정하게 되는 것이다.
상기에서, 만약, 제어부는 슬릿개수센서(30)에서 1매의 지류가 통과될 때 3개의 슬릿의 개수를 계수하는 것을 기준으로 가정한다면 지류가 2매 또는 그 이상이 통과될 시에 3개를 초과하는 슬릿의 개수를 감지하게 될 것이고 이를 지류의 겹침이송으로 판단하게 되는 것이다.
보다 상세하게, 도 1b는 상기 슬릿개수센서로 이매를 검지하는 알고리즘을 설명하기 위한 순서도이다.
도면을 참조하면, 지폐류가 이매검지장치로 투입되면(S102), 선회부재의 접촉부가 지폐류와 접촉하여 회전축을 중심으로 선회하고, 슬릿개수센서는 선회되는 인코더부의 슬릿을 계수하고(S104), 상기의 슬릿 개수의 계수 작업을 반복하여 데이터를 획득한다(S106).
상기에서, 예를 들어, 지폐 한 장이 투입될 때 기준치 이상의 값이 나오면 데이터로 카운트를 시작하여, 상기의 데이터의 개수가 목표 개수를 만족할 때까지 데이터 획득을 반복한다.
좀 더 상세하게, 도 1c는 한 장의 지폐가 투입될 때 획득된 데이터의 파형이다.
도면을 참조하면, 한 장의 지폐가 투입되어 카운트되는 구간은 ℓ 구간이고, 기준치를 M, 데이터 획득 목표 개수가 n개라면, 데이터가 기준치 M에 도달하는 시점부터 카운트를 시작하여 데이터 개수가 n개가 될 때까지 데이터를 획득할 수가 있다. 또한, 다음 지폐가 투입될 때까지를 휴면기로 두고, 다음 지폐가 투입되면 다시 기준치 M에 도달하는 시점부터 카운트를 시작할 수 있다.
상기와 같은 과정을 거쳐, 획득한 데이터로부터 목표 개수만큼의 데이터를 카운트한 다음(S108), 카운트된 데이터에서 정상 범위에 해당하는 데이터를 추출한다(S110). 만약, 정상 범위에 포함되는 데이터의 개수가 기준치 이상이면(S112), 정상 지폐로 판단하여(S114), 지폐를 계수하고(S116), 정상 범위에 포함되는 데이터의 개수가 기준치 이하이면(S112), 이매로 판단하여(S118), 지폐를 리젝트 박스로 반송시켜(S120) 이매 검지 작업을 완료할 수 있다.
하지만, 최근에는 지폐의 위조를 방지하기 위해 은선이 투입된 지폐가 사용되고 있어, 상기와 같은 종래의 이매검지방법을 가지고는 이를 검지하는데 한계점을 가진다.
도 2를 참조하여 상술하면, 도 2에는 한 장짜리 정상 지폐가 이매검지장치의 슬릿개수센서를 통과할 때의 '정상지폐' 데이터 파형과, 정상지폐의 1.6배의 두께를 가지는 지폐가 이매검지장치의 슬릿개수센서를 통과할 때의 '이매지폐' 데이터 파형과, 은선이 삽입된 지폐가 이매검지장치의 슬릿개수센서를 통과할 때의 '은선지폐'데이터 파형이 도시되어 있다.
도 2의 '정상지폐'와 '이매지폐'데이터 파형은 처음 지폐가 투입되었을 때만 발진하다가 점차로 안정되어 일정한 안정화 구간을 가지는 파형으로 정상범위에 속하는 데이터의 개수가 많은 차이를 보이게 된다. 따라서 상기에서 설명된 종래의 방법을 적용하면 '정상지폐'와 '이매지폐'를 쉽게 구분할 수 있다.
한편, '은선지페'일 경우에는 상기 '정상지폐'와'이매지폐'의 경우와는 달리 안정화 구간을 가지지 않고 계속 발진하는 파형을 그리고 있어, 한 장만 투입된 경우에도 상기와 같은 종래의 이매검지방법으로는 '은선지폐'가 '이매지폐'로 판단되는 경우가 많아 이매를 검지하는데 한계점을 가지게 된다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하고자 제안된 것으로서, 지폐가 투입될 때 움직이는 슬롯의 개수를 계수하여 지폐의 이매 여부를 판단하는 이매검지방법에 있어서, 추출된 데이터의 파형에서 극소점 및 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 찾아 보정값을 계산하고 이로부터 보정 면적 및 평균 높이를 계산하여 계산된 평균 높이가 정상 범위에 포함되는 지를 확인하여 이매 여부를 판단하는 새로운 이매검지 알고리즘을 적용함으로써 일반적인 지폐뿐 아니라 은선이 삽입된 지폐가 투입되더라도 적용 가능하여 보다 정확하고 신뢰성 있는 이매 검지가 가능하도록 한 이매검지방법을 제공함을 목적으로 가진다.
상기와 같은 이매검지 알고리즘은 기존의 이매검지방법에 비해서 지폐의 두께나 길이에 영향을 적게 받아 향후 새로운 형태의 지폐가 투입되더라도 이에 대한 빠르게 대응할 수 있고, 또한, 통합된 로직을 사용할 수 있어 쉽게 적용이 가능하 다는 장점을 가진다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 일반 지폐에 대한 이매 검지뿐만 아니라 은선이 투입된 지폐류에 대한 이매도 검지할 수 있는 이매검지 알고리즘을 제안한다.
이매검지를 위하여 본 발명은, 투입된 지폐류와 접촉하여 그의 두께 변화에 의해 선회하는 선회부재의 선회각도에 따라 움직이는 선회부재에 형성된 슬릿의 개수를 각 카운트마다 계수하여 이매를 검지하는 이매검지방법에 있어서, 상기 소정 시간 간격에 따라 슬릿의 개수를 계수하여 계수된 슬릿 개수 데이터를 획득하는 단계와, 상기 획득된 데이터로부터 극소점을 구하고, 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 구하는 단계와, 상기에서 구한 극소점과 극대점의 쌍들로부터 각각의 극소점에 대한 보정값을 구하는 단계와, 상기의 보정값으로부터 보정면적(S보정면적)을 구하고, 이로부터 평균 높이(havg)를 구하는 단계와, 상기의 평균 높이(havg)가 정상 범위에 포함되면 정상 지폐로, 포함되지 않으면 이매로 판단하는 단계를 구비한다.
바람직하게도, 상기 극소점은 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 음(Negative)에서 양(Positive)으로 넘어갈 때의 값이며, 상기 극대점은 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 양(Positive)에서 음(Negative)으로 넘어갈 때의 값일 수 있다. 또한, 연속 4개 이상 에서 동일한 슬릿 개수의 데이터 값을 가지는 극소점이 나오면, 해당하는 데이터 값을 보정값으로 하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명에 따른 은선이 삽입된 지폐의 이매 검지 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도면을 참조하면, 지폐류가 이매검지장치로 투입되면(S202), 선회부재의 접촉부가 지폐류와 접촉하여 회전축을 중심으로 선회하고, 슬릿개수센서는 선회되는 인코더부의 슬릿의 개수를 계수하고(S204), 상기의 슬릿 개수의 계수 작업을 반복하여 데이터를 획득한다(S206).
보다 상세한 설명을 위해, 이하 도 4a 내지 도 4d를 참조하여 설명하고자 한다. 도면에서 x 축은 슬릿개수센서의 카운트한 횟수를 의미하며, y 축은 슬릿개수센서가 지폐류와 접촉하여 회전축을 중심으로 선회되어 계수된 슬릿 수를 의미한다.
도 4a는 도 2에서 은선이 삽입된 지폐의 파형을 예로 들어 설명하기 위해 은선 지폐의 파형만을 도시해 놓은 것이다.
상기의 과정(S202 ~ S206)을 거쳐 도 4a와 같은 파형을 이루는 데이터를 획 득한 다음, 획득된 데이터에서 극소점을 추출한다(S208). 상기에서 극소점은 인접한 점보다 낮은 점이나 점들을 의미하며, 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 음(Negative)에서 양(Positive)으로 넘어갈 때의 값이 될 수 있다.
도 4a의 파형에서는 카운트 횟수인 x 축의 값이 각각 11, 20, 30, 42, 52, 62, 73~77(4개 이상의 동일값), 85 일 때 도 4b와 같이 극소점이 발생하게 된다. 상기에서 극소점에서 계수된 슬릿 개수인 y 축의 값은 각각 4(x=11)(①), 2(x=20)(②), 2(x=30)(③), 2(x=42)(④), 2(x=52)(⑤), 3(x=62)(⑥), 6(x=73~77)(⑦), 7(x=85)(⑨)이 된다.
상기의 과정을 통해 극소점의 x값 및 y값을 구한 후에는, 각각의 극소점에 대해 바로 이전의 극대점을 구한다(S210). 상기에서 극대점은 인접한 점보다 높은 점이나 점들을 의미하며, 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 양(Positive)에서 음(Negative)으로 넘어갈 때의 값이 될 수 있다.
도 4b의 파형에서 구해진 각각의 극소점에서의 이전 극대점의 x 값은, 도 4c와 같이, 각각 6, 16, 25, 37, 47, 57, 68, 82가 될 수 있고, 이 때 극대점에서의 y 축의 값은 각각 27(x=6)(ⓐ), 13(x=16)(ⓑ), 20(x=25)(ⓒ), 24(x=37)(ⓓ), 19(x=47)(ⓔ), 18(x=57)(ⓕ), 11(x=68)(ⓖ), 14(x=82)(ⓗ)가 된다.
상기의 과정을 통해 극소점의 x, y 값 및 각각의 극소점에 해당하는 이전 극대점의 x, y 값을 구한 다음, 이로부터 보정값(y보정값)을 구할 수 있다(S212). 상기 의 보정값은 아래의 수학식 1을 적용하여 구할 수 있다.
Figure 112005026463033-PAT00001
n은 4 이상의 정수가 될 수 있으며, 본 발명에서는 여러 가지 변수를 적용한 실험 결과, n이 5~7 사이의 값을 가질 때, 이매 검지에 가장 우수한 특성을 보임을 알 수 있었다. 또한, 상기에서 연속 4개 이상에서 동일한 슬릿 개수의 데이터 값을 가지는 극소점이 나오면, 해당하는 데이터 값을 보정값으로 한다.
예를 들어, 상기에서 n = 6일 때, 상기의 수학식을 적용하여 구한 보정값(y보정값)은 다음과 같다.
- x = 11 : y보정값 = 4 + 27/6 = 4 + 4 = 8
- x = 20 : y보정값 = 2 + 13/6 = 2 + 2 = 4
- x = 30 : y보정값 = 2 + 20/6 = 2 + 3 = 5
- x = 42 : y보정값 = 2 + 24/6 = 2 + 4 = 6
- x = 52 : y보정값 = 2 + 19/6 = 2 + 3 = 5
- x = 62 : y보정값 = 3 + 18/6 = 3 + 3 = 6
- x = 73~77 : y보정값 = 6
- x = 85 : y보정값 = 7 + 14/6 = 7 + 2 = 9
상기에서 구한 보정값을 이용하여, 도 4d와 같은, 최초 극소점(x최초극소점) 11과 최후 극소점(x최후극소점) 85 사이의 보정 면적(S보정면적)을 구할 수 있다(S214). 도 4d의 그래프에서 보정 면적은 401이 된다. 상기 구해진 보정 면적은 아래의 수학식 2를 이용하여 평균 높이(havg)를 구할 수 있다(S216). 수학식 2를 적용하여 도 4d에서의 평균 높이(havg)를 구하면 401/(85-11) ≒ 5.42 가 된다.
Figure 112005026463033-PAT00002
상기와 같은 과정으로 구한 평균 높이가 지폐 한 장의 두께인 정상 범위에 해당되는지 아닌지를 확인한다(S218). 상기의 평균 높이가 기준 범위에 포함된다면, 정상지폐로 판단하고(S220), 지폐를 계수한 다음(S222), 다음 지폐에 대한 이매 검지 작업을 계속하고, 상기의 평균 높이가 정상 범위에 포함되지 않는다면, 이매로 판단하여(S224), 지폐를 리젝트 박스로 반송시켜(S226) 이매 검지 작업을 완료할 수 있다.
본 발명에 따른 슬릿개수센서에서는 일반적인 지폐 한 장의 두께가 5 ~ 7 정도이므로, 상기에서 구한 평균 높이 5.93은 기준 범위에 포함되어 상기 도 4a의 파형은 정상 지폐로 판단되어 계수할 수 있다.
본 발명에서는 상기와 같은 과정을 통해 은선이 투입된 지폐에 대해 이매를 검지할 수 있다. 뿐만 아니라, 본 발명에서는 은선이 투입되지 않은 일반 지폐에도 상기의 방법을 적용하여 지폐의 두께를 계산하여 이로부터 지폐의 이매 여부를 판단할 수 있다.
이상, 본 발명을 바람직한 실시예를 사용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허 청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술 분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않으면서도 많은 수정과 변형이 가능함을 이해하여야 할 것이다.
상기에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 지폐가 투입될 때 움직이는 슬롯의 개수를 계수하여 지폐의 이매 여부를 판단하는 이매검지방법에 있어서, 추출된 데이터의 파형에서 극소점 및 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 찾아 보정값을 계산하고 이로부터 보정 면적 및 평균 높이를 계산하여 계산된 평균 높이가 정상 범위에 포함되는 지를 확인하여 이매 여부를 판단하는 새로운 이매검지 알고리 즘을 적용함으로써 일반적인 지폐뿐 아니라 은선이 삽입된 지폐가 투입되더라도 적용 가능하도록 함으로써 보다 정확하고 신뢰성 있는 이매 검지가 가능하도록 하는 장점을 가진다.
또한 상기와 같은 이매검지 알고리즘은 기존의 이매검지방법에 비해서 지폐의 두께나 길이에 영향을 적게 받아 향후 새로운 형태의 지폐가 투입되더라도 이에 대한 빠르게 대응할 수 있고, 또한, 통합된 로직을 사용할 수 있어 쉽게 적용이 가능하다는 점에서 더욱 유리한 효과를 가진다.

Claims (7)

  1. 투입된 지폐류와 접촉하여 그의 두께 변화에 의해 선회하는 선회부재의 선회각도에 따라 움직이는 선회부재에 형성된 슬릿의 개수를 각 카운트마다 계수하여 이매를 검지하는 이매검지방법에 있어서,
    상기 소정 시간 간격에 따라 슬릿의 개수를 계수하여 계수된 슬릿 개수 데이터를 획득하는 제1단계,
    상기 획득된 데이터로부터 극소점을 구하고, 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 구하는 제2단계;
    상기에서 구한 극소점과 극대점의 쌍들로부터 각각의 극소점에 대한 보정값을 구하는 제3단계;
    상기의 보정값으로부터 보정면적(S보정면적)을 구하고, 이로부터 평균 높이(havg)를 구하는 제4단계;
    상기의 평균 높이(havg)가 정상 범위에 포함되면 정상 지폐로, 포함되지 않으면 이매로 판단하는 제5단계
    로 이루어진 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 제1단계에서
    지폐 한 장이 투입될 때 움직이는 슬릿의 개수를 계수하는 1-1단계;
    계수된 슬릿의 개수가 일정한 값 이상일 때 카운트를 시작하는 1-2단계;
    카운트된 횟수가 목표 개수에 이르면 카운트를 종료하는 1-3단계
    로 이루어진 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제2단계에서
    상기 극소점은 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 음(Negative)에서 양(Positive)으로 넘어갈 때의 값인 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
  4. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제2단계에서
    상기 극대점은 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 양(Positive)에서 음(Negative)으로 넘어갈 때의 값인 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
  5. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제3단계에서
    연속 4개 이상에서 동일한 슬릿 개수의 데이터 값을 가지는 극소점이 나오 면, 해당하는 데이터 값을 보정값으로 하는 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
  6. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제3단계에서
    상기 보정값은 수학식
    Figure 112005026463033-PAT00003
    (n은 4 이상의 정수)
    로부터 얻어지는 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
  7. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제4단계에서
    상기 평균 높이(havg)는 수학식
    Figure 112005026463033-PAT00004
    로부터 얻어지는 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
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