KR20060119387A - 이매검지방법 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 투입된 지폐류와 접촉하여 그의 두께 변화에 의해 선회하는 선회부재의 선회각도에 따라 움직이는 선회부재에 형성된 슬릿의 개수를 각 카운트마다 계수하여 이매를 검지하는 이매검지방법에 있어서,상기 소정 시간 간격에 따라 슬릿의 개수를 계수하여 계수된 슬릿 개수 데이터를 획득하는 제1단계,상기 획득된 데이터로부터 극소점을 구하고, 각각의 극소점 이전에 존재하는 극대점을 구하는 제2단계;상기에서 구한 극소점과 극대점의 쌍들로부터 각각의 극소점에 대한 보정값을 구하는 제3단계;상기의 보정값으로부터 보정면적(S보정면적)을 구하고, 이로부터 평균 높이(havg)를 구하는 제4단계;상기의 평균 높이(havg)가 정상 범위에 포함되면 정상 지폐로, 포함되지 않으면 이매로 판단하는 제5단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
- 청구항 1에 있어서, 상기 제1단계에서지폐 한 장이 투입될 때 움직이는 슬릿의 개수를 계수하는 1-1단계;계수된 슬릿의 개수가 일정한 값 이상일 때 카운트를 시작하는 1-2단계;카운트된 횟수가 목표 개수에 이르면 카운트를 종료하는 1-3단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제2단계에서상기 극소점은 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 음(Negative)에서 양(Positive)으로 넘어갈 때의 값인 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제2단계에서상기 극대점은 계수된 슬릿 개수의 현재 데이터 값에서 이전 데이터 값을 뺀 값이 양(Positive)에서 음(Negative)으로 넘어갈 때의 값인 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 제3단계에서연속 4개 이상에서 동일한 슬릿 개수의 데이터 값을 가지는 극소점이 나오 면, 해당하는 데이터 값을 보정값으로 하는 것을 특징으로 하는 이매검지방법.
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