KR200491284Y1 - Prod Automatic Apparatus For Magnetic Particle Testing - Google Patents
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Abstract
자동 스위치를 포함하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비가 개시된다. 본 고안의 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비는, 일측에 전극봉 결속구가 형성되어 있고, 상기 전극봉 결속구에는 전극봉의 가압에 의해 작동되는 스위치가 내장되어 있는 본체부; 상기 전극봉 결속구에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조의 전극봉; 상기 전극봉 결속구에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉에 전달하는 전원공급단자; 및 상기 본체부의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성된 손잡이;를 포함하는 것을 구성의 요지로 한다.
본 고안에 따르면, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.Disclosed is a prod automatic equipment for magnetic particle inspection including an automatic switch. Prod automatic equipment for magnetic particle inspection according to an embodiment of the present invention, the electrode portion is formed on one side of the electrode, the electrode binding portion, the body portion is built in a switch that is operated by pressing the electrode; An electrode rod having a structure, which is mounted to the electrode binding hole to be slidable by a predetermined distance in the vertical direction, and extends downward by a predetermined length; A power supply terminal mounted on the electrode binding unit and receiving power supplied from the outside and transmitting it to the electrode; And it is mounted on the upper surface of the main body portion, the handle made of a material having a low thermal conductivity; to include the gist of the configuration.
According to the present invention, it is possible to provide an automatic device for magnetic particle inspection inspection that can solve the fatigue of workers during the magnetic particle inspection test, simplify the inspection task, and implement a stable and accurate inspection task.
Description
본 고안은 자분탐상검사용 프로드 자동장비에 관한 것으로, 보다 상세하게는 자분탐상검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있는 구성을 포함하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비에 관한 것이다.The present invention relates to a probe automatic equipment for magnetic particle inspection, and more particularly, to a probe automatic equipment for magnetic particle inspection including a configuration capable of improving the efficiency of the magnetic particle inspection inspection.
일반적으로, 자분 탐상 방법은 강자성체인 시험재의 표면 및 표면 바로 아래의 불연속(결함)을 검출하기 위하여 시험재에 자장을 걸어 자화시킨 후 자분을 시험재에 적용하여 누설자장으로 인해 형성된 자분지시를 관찰하여, 그 지시의 크기, 위치 및 형상 등을 검사하여 시험재에 불연속된 부분이 있는지를 검사하는 방법이다.In general, the magnetic particle inspection method applies a magnetic field to the test material to magnetize it by applying a magnetic field to the test material to detect the discontinuities (defects) on the surface of the test material that is a ferromagnetic material and immediately below the surface. It is a method of inspecting the size, position, and shape of the instruction to check whether there are any discontinuities in the test material.
자분 탐상 검사 방법은, 미세한 표면균열검출에 가장 적합하며 검사품의 크기, 형상 등에 크게 구애됨이 없이 비교적 저렴한 비용으로 검사수행이 가능하고, 검사자가 쉽게 검사방법을 배울 수 있으며, 액체 침투 탐상 검사와 비교하였을 때 도장 된 제품의 표면 하부의 결함에 대해서도 어느 정도 결함 검출이 가능하다는 이점을 가지는 반면에, 자화가 가능한 강자성체만 적용할 수 있으며, 시험재의 내부전체에 걸친 건전성을 판별할 수 없을 뿐만 아니라, 전기접촉 부위의 아크발생으로 시험재가 손상될 우려가 있다는 결점이 존재한다.The magnetic particle inspection method is most suitable for fine surface crack detection, and it is possible to perform inspection at a relatively low cost without being particularly concerned with the size, shape, etc. of the inspected product, and the inspector can easily learn the inspection method. Compared to this, it has the advantage that defects can be detected to some extent even on defects on the lower part of the painted product, while only ferromagnetic materials that can be magnetized can be applied. However, there is a drawback that the test material may be damaged due to arcing in the electrical contact area.
이러한 자분 탐상 방법은 자분의 자화 형상에 따라서 선형 자화 방법과 원형 자화 방법으로 구분될 수 있다.The magnetic particle detection method may be divided into a linear magnetization method and a circular magnetization method according to the magnetization shape of the magnetic particle.
선형 자화 방법의 예로서 요오크법(Yoke Method)을 들 수 있다. 요오크법은 U자형 철심에 코일을 감아 선형자장을 유도시킨 것으로 대형 또는 복잡한 부품의 국부검사에 용이하고, 자극의 배치를 90도씩 교대로 바꾸어 최소 2회 이상 자화하는 방법이다.An example of the linear magnetization method is the Yoke method. The yoke method is a method of inducing a linear magnetic field by winding a coil around a U-shaped iron core, which is easy for local inspection of large or complex parts, and is a method of magnetizing at least two times by alternately changing the arrangement of magnetic poles by 90 degrees.
원형자화 방법의 예로서 프로드법을 들 수 잇다. 프로드법은 시험재에 전극을 접촉시켜 직접 통전하거나 튜브와 같은 속이 빈 부품안에 전도체를 위치시켜 통전시키면 시험재에 원형자장이 형성하는 방법이다.A prod method is an example of a circular magnetization method. The Prod method is a method in which a circular magnetic field is formed in a test material when the electrode is brought into direct contact with the test material or when a conductor is placed in a hollow part such as a tube to conduct electricity.
도 1에는 종래의 프로드 자분 탐상 검사 방법을 개략적으로 도시한 사시도가 도시되어 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 프로드형 자분 탐상 검사는 2명의 작업자가 각각 시험재(10)에 프로드 전극봉(101)을 접촉시킨 후, 한 쪽 작업자가 자장 형성 전류 스위치를 ON한 상태에서 자분을 시험재(10)의 표면에 분사를 한다. 이때, 다른 작업자는 시험재(10) 위를 백열전등을 사용하여 시험재(10)를 밝게 조명한 상태에서 자분을 분사한 작업자가 시험재(10) 표면의 결함 발생 유무를 관찰한다.1 is a perspective view schematically showing a conventional probe magnetic particle inspection method. As shown in FIG. 1, the probe-type magnetic particle inspection test is performed by two workers contacting the
그러나, 종래 기술에 따른 자분 탐상 검사 장비는 다수의 보조 부재가 필요하며 두 사람의 작업자가 동시에 검사 작업에 참여해야하는 문제점을 가지고 있다.However, the magnetic particle inspection inspection equipment according to the prior art requires a plurality of auxiliary members and has a problem in that two workers must simultaneously participate in the inspection work.
또한, 종래 기술에 따른 자분 탐상 검사 장비는 장시간 사용시 손잡이에 과도한 열이 가해져 작업자의 검사 작업을 중단하게 하는 문제점을 가지고 있다.In addition, the magnetic particle inspection inspection equipment according to the prior art has a problem in that excessive heat is applied to the handle when used for a long time to stop the inspection work of the operator.
따라서, 상기 언급한 종래 기술에 따른 문제점을 해결할 수 있는 기술이 필요한 실정이다.Therefore, there is a need for a technology capable of solving the problems according to the above-mentioned conventional technology.
본 고안은, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The object of the present invention is to provide an automated probe detection device for magnetic particle inspection, which can solve a worker's fatigue during the magnetic particle inspection test, simplify the inspection task, and implement a stable and accurate inspection task.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 고안의 일 측면에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비는, 일측에 전극봉 결속구가 형성되어 있고, 상기 전극봉 결속구에는 전극봉의 가압에 의해 작동되는 스위치가 내장되어 있는 본체부; 상기 전극봉 결속구에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조의 전극봉; 상기 전극봉 결속구에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉에 전달하는 전원공급단자; 및 상기 본체부의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성된 손잡이;를 포함하는 구성일 수 있다.In order to achieve this object, the automatic equipment for magnetic particle inspection according to an aspect of the present invention is formed with a electrode binding hole on one side, and a switch body operated by pressurization of the electrode is built in the electrode binding device. part; An electrode rod having a structure that is mounted to the electrode binding hole to be slidable by a predetermined distance in the vertical direction and extends downward by a predetermined length; A power supply terminal mounted on the electrode binding unit and receiving power supplied from the outside and transmitting it to the electrode; And a handle mounted on an upper surface of the main body and made of a material having low thermal conductivity.
본 고안의 일 실시예에 있어서, 상기 전극봉 결속구는 전극봉의 상단부와 대응되는 구조로 상하방향으로 소정 길이만큼 연장된 중공형 실린던 구조이고, 상기 전극봉의 상단부는 전극봉 결속구에 슬라이딩 가능하도록 장착되며, 상기 전극봉의 상단부와 전극봉 결속구의 내측 상단면 사이에는, 전극봉의 상하 방향 슬라이딩 동작에 탄성복원력을 제공하는 탄성부재가 장착될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the electrode binding mechanism is a hollow cylinder structure extending a predetermined length in the vertical direction in a structure corresponding to the upper end of the electrode rod, and the upper end of the electrode rod is mounted to be slidable to the electrode binding mechanism , Between the upper end of the electrode bar and the inner upper surface of the electrode binding hole, an elastic member that provides elastic restoring force to the vertical sliding motion of the electrode bar may be mounted.
이 경우, 상기 전극봉 결속구의 상단에는 전극봉의 상방 위치변경에 의해 스위칭 동작을 수행하는 마이크로 스위치가 장착되고, 상기 마이크로 스위치는 전원공급단자로부터 전달되는 전원을 전극봉에 인가하거나 차단할 수 있다.In this case, a micro switch that performs a switching operation by changing the upper position of the electrode is mounted on the upper end of the electrode binding hole, and the micro switch can apply or block power transmitted from the power supply terminal to the electrode.
또한, 상기 전극봉 결속구의 내측 상부에는 전극봉의 외경보다 150 내지 200 % 큰 내경을 가지는 중공형 공간이 형성되어 있고, 상기 중공형 공간에 탄성부재가 장착될 수 있다.In addition, a hollow space having an inner diameter of 150 to 200% larger than an outer diameter of the electrode rod is formed on an inner upper portion of the electrode binding hole, and an elastic member may be mounted in the hollow space.
이때, 상기 전극봉 결속구의 상단에는 상기 중공형 공간과 대응되는 구조의 멈춤돌기가 장착될 수 있다.At this time, a stop protrusion having a structure corresponding to the hollow space may be mounted on an upper end of the electrode rod binding opening.
본 고안의 일 실시예에 있어서, 상기 전극봉은 상기 전극봉 결속구에 탈부착 가능한 구조로 장착될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the electrode rod may be mounted in a detachable structure to the electrode binding mechanism.
본 고안의 일 실시예에 있어서, 상기 전극봉의 하단부에는 나사산 체결구조가 형성되어 있고, 상기 전극봉의 하단부에 납 소재로 구성된 프로드 팁(Prod Tip)이 조립될 수 있다.In one embodiment of the present invention, a threaded fastening structure is formed at the lower end of the electrode, and a prod tip made of lead material may be assembled at the lower end of the electrode.
본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 본체부, 전극봉, 전원공급단자 및 손잡이를 구비함으로써, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by providing a body portion, an electrode rod, a power supply terminal and a handle of a specific structure, it is possible to solve the fatigue of the operator during the magnetic particle inspection test, simplify the inspection work, stable and accurate inspection It is possible to provide a prod automatic device for magnetic particle inspection that can implement a task.
또한, 본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 전극봉 결속구, 전극봉 상단부 구조 및 탄성부재를 구비함으로써, 별도의 스위치 조작없이 전극봉의 탐측면 접촉 시 자동으로 전극봉에 전원을 인가할 수 있고, 탐측면과 전극봉이 분리될 시 자동으로 전극봉에 전원을 차단할 수 있어, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있어, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.In addition, according to the embodiment of the present invention, by providing the electrode structure of the specific structure, the electrode structure and the upper end of the electrode, it is possible to automatically apply power to the electrode when contacting the probe surface without additional switch operation, When the side and the electrode are separated, power can be automatically cut off to the electrode, making it easier to perform the inspection work, thereby improving the efficiency of the inspection work.
또한, 본 고안의 또 다른 실시 형태에 따르면, 전극봉 결속구에 탈부착 가능한 구조로 전극봉을 장착함으로써, 검사 대상물의 상태에 따라 전극봉의 종류 및 길이를 적절히 변경할 수 있어, 보다 안정적이고 정확한 검사 작업을 수행할 수 있다.In addition, according to another embodiment of the present invention, by mounting the electrode in a detachable structure to the electrode binding hole, it is possible to appropriately change the type and length of the electrode according to the state of the inspection object, to perform a more stable and accurate inspection work can do.
도 1은 종래 기술에 따른 자분탐상검사 장면을 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 정면도이다.
도 3은 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 이용하여 검사하고자 하는 검사대상물의 표면에 전극봉을 가압하는 모습을 나타내는 단면도이다.1 is a perspective view showing a magnetic particle inspection scene according to the prior art.
Figure 2 is a front view showing a probe automatic equipment for magnetic particle inspection according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a cross-sectional view showing a probe automatic equipment for magnetic particle inspection according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a cross-sectional view showing a state of pressing the electrode to the surface of the inspection object to be inspected using the automatic probe for magnetic particle inspection according to an embodiment of the present invention.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시예를 상세히 설명하지만 본 고안의 범주가 그것에 한정되는 것은 아니다. 본 고안을 설명함에 있어 공지된 구성에 대해서는 그 상세한 설명을 생략하며, 또한 고안의 요지를 불필요하게 흐릴 소지가 있는 구성에 대해서도 그 상세한 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the scope of the present invention is not limited thereto. In the description of the present invention, detailed descriptions of known components will be omitted, and detailed descriptions of components that may unnecessarily obscure the subject matter of the invention will be omitted.
도 2에는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 정면도가 도시되어 있고, 도 3에는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 단면도가 도시되어 있다.FIG. 2 is a front view showing a probe automatic equipment for magnetic particle inspection according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view showing a probe automatic equipment for magnetic particle inspection according to an embodiment of the present invention. have.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비(100)는, 특정 구조의 본체부(110), 전극봉(120), 전원공급단자(130) 및 손잡이(140)를 구비함으로써, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.Referring to these drawings, the automatic self-
이하에서는 도면을 참조하여, 본 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비(100)를 구성하는 각 구성에 대해 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the drawings, each configuration constituting the
본 실시예에 따른 본체부(110)는, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 일측에 전극봉 결속구(111)가 형성되어 있고, 상기 전극봉 결속구(111)에는 전극봉(120)의 가압에 의해 작동되는 스위치가 내장된 구조일 수 있다.The
전극봉(120)은, 전극봉 결속구(111)에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조일 수 있다.The
본 실시예에 따른 전극봉 결속구(111)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극봉(120)의 상단부와 대응되는 구조로 상하방향으로 소정 길이만큼 연장된 중공형 실린던 구조이다. 또한, 전극봉(120)의 상단부는 전극봉 결속구(111)에 슬라이딩 가능하도록 장착되며, 상기 전극봉(120)의 상단부와 전극봉 결속구(111)의 내측 상단면 사이에는, 전극봉(120)의 상하 방향 슬라이딩 동작에 탄성복원력을 제공하는 탄성부재(112)가 장착된다.The electrode rod binding opening 111 according to the present embodiment is a hollow cylinder structure that extends a predetermined length in the vertical direction in a structure corresponding to the upper end of the
이때, 전극봉 결속구(111)의 상단에는, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극봉(120)의 상방 위치변경에 의해 스위칭 동작을 수행하는 마이크로 스위치(150)가 장착되고, 마이크로 스위치(150)는 전원공급단자(130)로부터 전달되는 전원을 전극봉(120)에 인가하거나 차단할 수 있다.At this time, a
상기 언급한 마이크로 스위치(150)는, 손잡이 부분 내측에 안정적으로 내장되어 장착될 수 있는 크기의 스위치라면 특별히 제한되는 것은 아니며, 바람직하게는 적어도 2개의 접점(contact point)를 구비하는 스위치일 수 있다.The above-mentioned
대표적인 예로서, 상부나 하부를 통해 작동부재의 설치위치에 따라 손쉽게 연결할 수 있는 푸쉬스위치를 들 수 있다. 이러한 푸쉬스위치는, 전방의 노브, 상부에 가동접지판이 설치된 플런저, 케이스 상부로 결합되되 전원의 연결을 위한 연결단자를 포함하는 상부 덮개로 구성될 수 있다.A typical example is a push switch that can be easily connected according to the installation position of the operating member through the upper or lower portion. Such a push switch, the front knob, a movable ground plate is installed on the upper plunger, the case is coupled to the upper portion may be composed of an upper cover including a connection terminal for connection of power.
또한, 케이스의 내부 저면에는 판스프링과, 판스프링에 탄발지지되되 일측단은 회전작동케 지지되고 타측단은 플런저의 캠부를 따라 캠작동하는 캠작동바를 갖는 록킹수단을 더 포함하는 구성일 수 있다.In addition, the inner bottom surface of the case may be configured to further include a locking means having a plate spring and a cam operation bar which is supported on the plate spring while the one end is rotationally supported and the other end is cam operated along the cam portion of the plunger. .
이때, 본 실시예에 따른 마이크로 스위치(150)의 접점은 각각 1개의 가동 접촉자와 1개의 고정 접촉자를 지니며, 가동 접촉자는 접촉 브리지 상에 배열되고, 해당 접촉 브리지는 플런저(plunger)에 의해 이동 가능하며, 접점이 개방되어 있는 제1전환위치로부터 상기 접점이 폐쇄되어 있는 제2전환위치로 이행되는 구조일 수 있다.At this time, the contact of the
상기 언급한 마이크로 스위치는, 플런저를 밀어주면, 플런저가 탄발스프링을 압축 전진하면서 캠작동바의 타측단이 캠부를 따라 캠작동하여 플런저가 전진 상태를 유지하 도록 함과 동시에 플런저의 가동접지판이 덮개의 고정접지판(미도시)에 접지되어 전원을 인가하여 온작동하게 된다.In the aforementioned micro switch, when the plunger is pushed, the other end of the cam operating bar cam operates along the cam portion while the plunger compresses and advances the carbon spring, so that the plunger maintains the advancing state, and the movable ground plate of the plunger covers the cover. It is grounded on a fixed grounding plate (not shown) to apply power and operate on.
이러한 구성을 포함하는 본 실시예에 따르면, 특정 구조의 전극봉 결속구(111), 전극봉 상단부 구조 및 탄성부재(112)를 구비함으로써, 별도의 스위치 조작없이 전극봉의 탐측면 접촉 시 자동으로 전극봉에 전원을 인가할 수 있고, 탐측면과 전극봉이 분리될 시 자동으로 전극봉에 전원을 차단할 수 있어, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있어, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.According to this embodiment including such a configuration, by providing the electrode structure of the
경우에 따라서, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극봉 결속구(111)의 내측 상부에는 전극봉(120)의 외경보다 150 내지 200 % 큰 내경을 가지는 중공형 공간(S)이 형성될 수 있다. 이때, 중공형 공간(S)에 탄성부재(112)가 장착될 수 있다.In some cases, as illustrated in FIG. 3, a hollow space S having an inner diameter of 150 to 200% larger than the outer diameter of the
또한, 전극봉 결속구(111)의 상단에는 상기 중공형 공간(S)과 대응되는 구조의 멈춤돌기(121)가 장착될 수 있다.In addition, a
경우에 따라서, 본 실시예에 따른 전극봉(120)은, 전극봉 결속구(111)에 탈부착 가능한 구조로 장착될 수 있다.In some cases, the
이 경우, 본 실시예에 따르면, 전극봉 결속구(111)에 탈부착 가능한 구조로 전극봉을 장착함으로써, 검사 대상물의 상태에 따라 전극봉의 종류 및 길이를 적절히 변경할 수 있어, 보다 안정적이고 정확한 검사 작업을 수행할 수 있다.In this case, according to the present embodiment, by mounting the electrode in a detachable structure on the electrode
또한, 전극봉(120)의 하단부에는 나사산 체결구조(122)가 형성되어 있고, 전극봉(120)의 하단부에 납 소재로 구성된 프로드 팁(Prod Tip, 123)이 조립될 수 있다.In addition, a threaded
한편, 전원공급단자(130)는, 전극봉 결속구(111)에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉(120)에 전달할 수 있다.Meanwhile, the
손잡이(140)는, 본체부(110)의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성될 수 있다.The
경우에 따라서, 상기 언급한 손잡이(140)는, 작업자의 손에 파지하기 용이하도록 인체의 손 모양과 대응되는 구조로 형성될 수 있다.In some cases, the above-mentioned
구체적으로, 작업자는 작업용 장갑을 손에 착용한 상태로 자분탐상검사를 수행하게 된다. 이때 작업용 장갑을 착용한 상태의 손의 외부면 형상과 대응되는 구조로 손잡이(140)의 형상을 구성할 수 있다.Specifically, the worker performs a magnetic particle inspection test while wearing a work glove on his hand. At this time, the shape of the
손의 외부면 형상과 대응되는 구조로 구성하는 방법으로는, 손잡이(140)를 사출성형 방법을 대표적인 예로 들 수 있다. 사출성형이 가능한 수지제로 손잡이(140)를 구성함으로써, 다양한 형상과 크기의 손잡이(140)를 제작할 수 있다.As a method of constructing a structure corresponding to the shape of the outer surface of the hand, the injection molding method of the
또한, 다각기둥 형상 또는 원기둥 형상으로 손잡이(140)를 제작한 후, 외주면에 작업자의 손 모양과 대응되는 형상을 가지는 외피를 덧씌우는 방식으로 손잡이(140)를 구성할 수 있다.In addition, after manufacturing the
이 경우, 손잡이(140)의 외주면에 덧씌워지는 구성은 사출성형 또는 압출성형 방법에 의해 제작될 수 있으며 이에 한정되는 것은 아니다.In this case, the configuration overlaid on the outer circumferential surface of the
이때, 손잡이(140)의 외주면에 덧씌워지는 구성은 열을 전달하지 않는 수지제 또는 고무제로 제작됨이 바람직하다.At this time, the configuration overlaid on the outer circumferential surface of the
경우에 따라서, 손잡이(140)에는 작업자의 손으로부터 발생하는 열기 및 땀을 흡수할 수 있는 구성이 더 장착될 수 있다.In some cases, the
구체적으로, 손잡이(140)에 작업자의 손으로부터 발생되는 열을 흡수한 후 손잡이(140)의 일측부로 배출할 수 있는 열교환부재가 장착될 수 있다. 이때, 채택될 수 있는 열교환부재의 대표적인 예로서 펠티어소자(Peltier electric element)를 들 수 있다.Specifically, a heat exchange member capable of absorbing heat generated from an operator's hand and discharging it to one side of the
상기 언급한 펠티어소자(Peltier electric element)는, 전류를 흘려주면 전도성 물질 여러 층의 양끝에 온도차이가 지속되는 현상을 이용한 전기 소자로서, 저온 냉각을 필요로 하는 반대편의 고온부분을 강제 냉각시키면 저온부의 열이 고온쪽으로 전달되는 소자이다.The above-mentioned Peltier electric element is an electric element using a phenomenon in which a temperature difference persists at both ends of several layers of a conductive material when an electric current is passed, and when a high temperature portion on the opposite side requiring low temperature cooling is forcedly cooled, the low temperature part It is a device that transfers heat to the high temperature.
구체적으로, 펠티어소자는 서로 다른 전자 밀도가 필요하기 때문에 n 형과 p형 하나씩 두개의 특수한 반도체로 구성된다. 반도체는 열적으로 서로 평행하고 전기적으로 직렬로 배치 된 다음 각 면에 있는 열 전도판과 결합된다. 전압이 두 반도체의 자유 단에 가해지면 온도차를 발생시키는 반도체 접합부를 가로 지르는 직류 전류가 흐른다. 냉각 판이 있는 면은 열을 흡수 하고 방열판이 있는 다른 면으로 열이 이동한다. 열전냉각기는 일반적으로 나란히 연결되어 있으며 두 개의 세라믹 판 사이에 끼워져 있다.Specifically, the Peltier device is composed of two special semiconductors, one of n-type and one of p-type, because different electron densities are required. The semiconductors are thermally parallel to each other and placed electrically in series and then bonded to the heat conduction plates on each side. When a voltage is applied to the free ends of the two semiconductors, a direct current flows across the semiconductor junction, which produces a temperature difference. The side with the cooling plate absorbs heat and the heat moves to the other side with the heat sink. Thermoelectric coolers are generally connected side by side and sandwiched between two ceramic plates.
본 실시예에 따른 펠티어 소자의 냉각 판이 있는 면은 손잡이(140)에서 작업자의 손과 접촉하는 방향으로 위치하도록 하고, 반대쪽 방열판이 있는 열 발생 면은 작업자의 손과 접촉하지 않는 타방향으로 위치하도록 함이 바람직하다. 이때, 열 발생 면에는 히트싱크와 같은 열교환 부재(H)를 장착할 수 있다.The surface with the cooling plate of the Peltier element according to the present embodiment is positioned at the
이 경우, 작업자의 손으로부터 발생하는 열을 손쉽게 제거할 수 있어, 작업자로 하여금 쾌적한 작업 환경을 제공할 수 있다. 결과적으로, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있고, 결과적으로 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.In this case, heat generated from the operator's hand can be easily removed, thereby providing a comfortable working environment for the operator. As a result, the inspection operation can be performed more easily, and as a result, the efficiency of the inspection operation can be improved.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 본체부, 전극봉, 전원공급단자 및 손잡이를 구비함으로써, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.As described above, according to the embodiment of the present invention, by providing a body portion, an electrode rod, a power supply terminal and a handle of a specific structure, it is possible to solve the fatigue of the operator during the magnetic particle inspection test, and simplify the inspection work In addition, it is possible to provide an automatic probe for magnetic particle inspection that can implement stable and accurate inspection work.
또한, 본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 전극봉 결속구, 전극봉 상단부 구조 및 탄성부재를 구비함으로써, 별도의 스위치 조작없이 전극봉의 탐측면 접촉 시 자동으로 전극봉에 전원을 인가할 수 있고, 탐측면과 전극봉이 분리될 시 자동으로 전극봉에 전원을 차단할 수 있어, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있어, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.In addition, according to the embodiment of the present invention, by providing the electrode structure of the electrode structure, the upper electrode structure and the elastic member of a specific structure, it is possible to automatically apply power to the electrode when contacting the probe surface of the electrode without a separate switch operation, When the side and the electrode are separated, power can be automatically cut off to the electrode, making it easier to perform the inspection work, thereby improving the efficiency of the inspection work.
또한, 본 고안의 또 다른 실시 형태에 따르면, 전극봉 결속구에 탈부착 가능한 구조로 전극봉을 장착함으로써, 검사 대상물의 상태에 따라 전극봉의 종류 및 길이를 적절히 변경할 수 있어, 보다 안정적이고 정확한 검사 작업을 수행할 수 있다.In addition, according to another embodiment of the present invention, by mounting the electrode in a detachable structure to the electrode binding hole, it is possible to appropriately change the type and length of the electrode according to the state of the inspection object, to perform a more stable and accurate inspection work can do.
이상의 본 고안의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 고안은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 고안의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.In the detailed description of the present invention described above, only specific embodiments thereof have been described. However, it is to be understood that the present invention is not limited to the specific forms mentioned in the detailed description, but rather is understood to include all modifications, equivalents, and substitutes within the spirit and scope of the present invention as defined by the appended claims. Should be.
100: 자분탐상검사용 프로드 자동장비
101: 전원공급 케이블
110: 본체부
111: 전극봉 결속구
112: 탄성부재
120: 전극봉
121: 멈춤돌기
122: 나사산 체결구조
123: 프로드 팁(Prod Tip)
130: 전원공급단자
140: 손잡이
150: 마이크로 스위치
S: 중공형 공간100: Prod automatic equipment for magnetic particle inspection
101: power supply cable
110: main body
111: electrode rod binding opening
112: elastic member
120: electrode
121: Pause
122: thread fastening structure
123: Prod Tip
130: power supply terminal
140: handle
150: micro switch
S: hollow space
Claims (7)
상기 전극봉 결속구(111)에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 탈부착 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조이며, 하단부에는 나사산 체결구조(122)가 형성되며, 나사산 체결구조(122)에 납 소재로 구성된 프로드 팁(Prod Tip, 123)이 조립되는 전극봉(120);
상기 전극봉 결속구(111)에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉(120)에 전달하는 전원공급단자(130);
상기 본체부(110)의 상부면에 장착되고, 열을 전달하지 않는 수지제 또는 고무제로 제작된 손잡이(140); 및
손잡이(140)에 장착되고, 작업자의 손으로부터 발생하는 열기 및 땀을 흡수하도록 펠티어소자를 포함하고, 상기 펠티어 소자의 냉각 판이 있는 면은 손잡이(140)에서 작업자의 손과 접촉하는 방향으로 위치하도록 하고, 상기 펠티어 소자의 반대쪽 방열판이 있는 열 발생 면은 작업자의 손과 접촉하지 않는 타방향으로 위치하도록 하는 열교환부재;
를 포함하고,
상기 전극봉 결속구(111)는 전극봉(120)의 상단부와 대응되는 구조로 상하방향으로 소정 길이만큼 연장된 중공형 실린던 구조이고, 상기 전극봉(120)의 상단부는 전극봉 결속구(111)에 슬라이딩 가능하도록 장착되며,
상기 전극봉(120)의 상단부와 전극봉 결속구(111)의 내측 상단면 사이에는, 전극봉(120)의 상하 방향 슬라이딩 동작에 탄성복원력을 제공하는 탄성부재(112)가 장착되고,
상기 전극봉 결속구(111)의 상단에는 전극봉(120)의 상방 위치변경에 의해 스위칭 동작을 수행하는 마이크로 스위치(150)가 장착되고, 상기 마이크로 스위치(150)는 전원공급단자(130)로부터 전달되는 전원을 전극봉(120)에 인가하거나 차단하며,
상기 전극봉 결속구(111)의 내측 상부에는 전극봉(120)의 외경보다 150 내지 200 % 큰 내경을 가지는 중공형 공간(S)이 형성되어 있고, 상기 중공형 공간(S)에 탄성부재(112)가 장착되고,
상기 전극봉 결속구(111)의 상단에는 상기 중공형 공간(S)과 대응되는 구조의 멈춤돌기(121)가 장착되는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The electrode portion binding opening 111 is formed on one side, the electrode binding portion 111, the main body portion 110 is provided with a switch that is operated by the pressure of the electrode 120;
It is mounted to be detachably attached to the electrode rod binding opening 111 so as to be slidable by a predetermined distance in the vertical direction, and has a structure extending downward for a predetermined length, and a threaded fastening structure 122 is formed at the lower end, 122) the electrode electrode 120 is assembled with a prod tip (Prod Tip, 123) made of lead material;
A power supply terminal 130 mounted to the electrode binding unit 111 and receiving power supplied from the outside and transmitting the power to the electrode 120;
A handle 140 mounted on the upper surface of the body portion 110 and made of resin or rubber that does not transfer heat; And
It is mounted on the handle 140, and includes a Peltier element to absorb heat and sweat generated from the operator's hand, and the surface with the cooling plate of the Peltier element is positioned in the direction in which the handle 140 contacts the operator's hand. And, the heat generating surface with the heat sink on the opposite side of the Peltier element is a heat exchange member to be located in the other direction that does not contact the operator's hand;
Including,
The electrode binding unit 111 is a hollow cylindrical structure extending in a vertical direction in a vertical direction in a structure corresponding to the upper end of the electrode 120, and the upper end of the electrode 120 is sliding to the electrode binding unit 111 Equipped to be possible,
Between the upper end of the electrode rod 120 and the inner top surface of the electrode binding hole 111, an elastic member 112 is provided to provide elastic restoring force in the vertical sliding motion of the electrode rod 120,
A micro switch 150 that performs a switching operation by changing the upper position of the electrode rod 120 is mounted on the upper end of the electrode binding hole 111, and the micro switch 150 is transmitted from the power supply terminal 130. Apply or cut off the power to the electrode rod 120,
A hollow space (S) having an inner diameter of 150 to 200% larger than the outer diameter of the electrode rod (120) is formed inside the electrode rod binding opening (111), and the elastic member (112) is provided in the hollow space (S). Is fitted,
Automated probe inspection equipment for magnetic particle inspection, characterized in that a stopper (121) of a structure corresponding to the hollow space (S) is mounted on the upper end of the electrode binding unit (111).
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