KR20190002622U - Prod Automatic Apparatus For Magnetic Particle Testing - Google Patents
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Abstract
자동 스위치를 포함하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비가 개시된다. 본 고안의 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비는, 일측에 전극봉 결속구가 형성되어 있고, 상기 전극봉 결속구에는 전극봉의 가압에 의해 작동되는 스위치가 내장되어 있는 본체부; 상기 전극봉 결속구에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조의 전극봉; 상기 전극봉 결속구에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉에 전달하는 전원공급단자; 및 상기 본체부의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성된 손잡이;를 포함하는 것을 구성의 요지로 한다.
본 고안에 따르면, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.Disclosed is a probe automatic equipment for magnetic particle inspection including an automatic switch. According to an embodiment of the present invention, the automatic probe device for magnetic particle inspection, the electrode binding sphere is formed on one side, the electrode binding sphere is a main body portion is built in the switch is activated by the pressure of the electrode rod; An electrode rod which is mounted to the electrode rod coupling tool so as to be slidably moved in a vertical direction by a predetermined distance and extends downward by a predetermined length; A power supply terminal mounted on the electrode binding sphere and receiving power supplied from the outside and transferring the received power to the electrode; And a handle mounted on an upper surface of the main body and made of a material having low thermal conductivity.
According to the present invention, it is possible to solve the fatigue of the operator during the magnetic particle inspection test, to simplify the inspection work, it is possible to provide a magnetic particle inspection test automatic device capable of implementing a stable and accurate inspection work.
Description
본 고안은 자분탐상검사용 프로드 자동장비에 관한 것으로, 보다 상세하게는 자분탐상검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있는 구성을 포함하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비에 관한 것이다.The present invention relates to a magnetic particle inspection test automatic equipment, and more particularly to a magnetic particle inspection test automatic equipment including a configuration that can improve the efficiency of the magnetic particle inspection work.
일반적으로, 자분 탐상 방법은 강자성체인 시험재의 표면 및 표면 바로 아래의 불연속(결함)을 검출하기 위하여 시험재에 자장을 걸어 자화시킨 후 자분을 시험재에 적용하여 누설자장으로 인해 형성된 자분지시를 관찰하여, 그 지시의 크기, 위치 및 형상 등을 검사하여 시험재에 불연속된 부분이 있는지를 검사하는 방법이다. In general, the magnetic particle inspection method uses a magnetic field applied to a test specimen to detect the surface of the test specimen, which is a ferromagnetic substance, and a discontinuity (defect) just below the surface. It is a method of examining whether there are any discontinuities in the test specimen by observing the size, position and shape of the instruction.
자분 탐상 검사 방법은, 미세한 표면균열검출에 가장 적합하며 검사품의 크기, 형상 등에 크게 구애됨이 없이 비교적 저렴한 비용으로 검사수행이 가능하고, 검사자가 쉽게 검사방법을 배울 수 있으며, 액체 침투 탐상 검사와 비교하였을 때 도장 된 제품의 표면 하부의 결함에 대해서도 어느 정도 결함 검출이 가능하다는 이점을 가지는 반면에, 자화가 가능한 강자성체만 적용할 수 있으며, 시험재의 내부전체에 걸친 건전성을 판별할 수 없을 뿐만 아니라, 전기접촉 부위의 아크발생으로 시험재가 손상될 우려가 있다는 결점이 존재한다. Magnetic particle inspection method is most suitable for the detection of fine surface cracks, and can be performed at a relatively low cost without being largely concerned with the size and shape of the inspection product, and the inspector can easily learn the inspection method. Compared with the above, it is possible to detect defects to some extent even on the defects on the lower surface of the coated product.Only, ferromagnetic materials that can be magnetized can be applied. However, there is a drawback that the test specimen may be damaged by arcing at the electrical contact site.
이러한 자분 탐상 방법은 자분의 자화 형상에 따라서 선형 자화 방법과 원형 자화 방법으로 구분될 수 있다. Such magnetic particle flaw detection methods may be classified into a linear magnetization method and a circular magnetization method according to the magnetic shape of magnetic particles.
선형 자화 방법의 예로서 요오크법(Yoke Method)을 들 수 있다. 요오크법은 U자형 철심에 코일을 감아 선형자장을 유도시킨 것으로 대형 또는 복잡한 부품의 국부검사에 용이하고, 자극의 배치를 90ㅀ씩 교대로 바꾸어 최소 2회 이상 자화하는 방법이다. As an example of the linear magnetization method, the yoke method is mentioned. The yoke method is a method of inducing a linear magnetic field by winding a coil around a U-shaped iron core, which facilitates local inspection of large or complex parts, and magnetizes at least twice by alternating the arrangement of magnetic poles by 90 mW.
원형자화 방법의 예로서 프로드법을 들 수 잇다. 프로드법은 시험재에 전극을 접촉시켜 직접 통전하거나 튜브와 같은 속이 빈 부품안에 전도체를 위치시켜 통전시키면 시험재에 원형자장이 형성하는 방법이다. As an example of the prototyping method, the prod method is mentioned. The PROD method is a method in which a circular magnetic field is formed in a test specimen when the electrode is directly energized by contacting the test specimen or when a conductor is placed in a hollow component such as a tube.
도 1에는 종래의 프로드 자분 탐상 검사 방법을 개략적으로 도시한 사시도가 도시되어 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 프로드형 자분 탐상 검사는 2명의 작업자가 각각 시험재(10)에 프로드 전극봉(101)을 접촉시킨 후, 한 쪽 작업자가 자장 형성 전류 스위치를 ON한 상태에서 자분을 시험재(10)의 표면에 분사를 한다. 이때, 다른 작업자는 시험재(10) 위를 백열전등을 사용하여 시험재(10)를 밝게 조명한 상태에서 자분을 분사한 작업자가 시험재(10) 표면의 결함 발생 유무를 관찰한다.
1 is a perspective view schematically showing a conventional prod magnetic particle inspection method. As shown in FIG. 1, in the probe type magnetic particle inspection test, two workers each contact the
그러나, 종래 기술에 따른 자분 탐상 검사 장비는 다수의 보조 부재가 필요하며 두 사람의 작업자가 동시에 검사 작업에 참여해야하는 문제점을 가지고 있다. However, the magnetic particle inspection equipment according to the prior art has a problem that a plurality of auxiliary members are required and two workers must participate in the inspection work at the same time.
또한, 종래 기술에 따른 자분 탐상 검사 장비는 장시간 사용시 손잡이에 과도한 열이 가해져 작업자의 검사 작업을 중단하게 하는 문제점을 가지고 있다. In addition, the magnetic particle inspection equipment according to the prior art has a problem that stops the inspection work of the operator when excessive heat is applied to the handle when used for a long time.
따라서, 상기 언급한 종래 기술에 따른 문제점을 해결할 수 있는 기술이 필요한 실정이다. Therefore, there is a need for a technique that can solve the problems according to the prior art mentioned above.
본 고안은, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The object of the present invention is to provide a self-test device for the magnetic particle inspection that can solve the fatigue of the operator during the magnetic particle inspection, can simplify the inspection work, and implement a stable and accurate inspection work.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 고안의 일 측면에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비는, 일측에 전극봉 결속구가 형성되어 있고, 상기 전극봉 결속구에는 전극봉의 가압에 의해 작동되는 스위치가 내장되어 있는 본체부; 상기 전극봉 결속구에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조의 전극봉; 상기 전극봉 결속구에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉에 전달하는 전원공급단자; 및 상기 본체부의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성된 손잡이;를 포함하는 구성일 수 있다.In accordance with an aspect of the present invention for achieving the above object, the automatic probe device for magnetic particle inspection is formed, the electrode binding sphere is formed on one side, the electrode binding sphere is a main body is built in the switch operated by the pressure of the electrode rod part; An electrode rod which is mounted to the electrode rod coupling tool so as to be slidably moved in a vertical direction by a predetermined distance and extends downward by a predetermined length; A power supply terminal mounted on the electrode binding sphere and receiving power supplied from the outside and transferring the received power to the electrode; And a handle mounted on an upper surface of the main body and made of a material having low thermal conductivity.
본 고안의 일 실시예에 있어서, 상기 전극봉 결속구는 전극봉의 상단부와 대응되는 구조로 상하방향으로 소정 길이만큼 연장된 중공형 실린던 구조이고, 상기 전극봉의 상단부는 전극봉 결속구에 슬라이딩 가능하도록 장착되며, 상기 전극봉의 상단부와 전극봉 결속구의 내측 상단면 사이에는, 전극봉의 상하 방향 슬라이딩 동작에 탄성복원력을 제공하는 탄성부재가 장착될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the electrode binding sphere is a hollow cylinder structure extending by a predetermined length in the vertical direction in a structure corresponding to the upper end of the electrode, the upper end of the electrode rod is mounted to be slidable to the electrode binding sphere The elastic member may be mounted between the upper end of the electrode and the inner top surface of the electrode binding hole to provide an elastic restoring force in the vertical sliding operation of the electrode.
이 경우, 상기 전극봉 결속구의 상단에는 전극봉의 상방 위치변경에 의해 스위칭 동작을 수행하는 마이크로 스위치가 장착되고, 상기 마이크로 스위치는 전원공급단자로부터 전달되는 전원을 전극봉에 인가하거나 차단할 수 있다.In this case, a micro switch for performing a switching operation by changing an upper position of the electrode is mounted on an upper end of the electrode binding sphere, and the micro switch may apply or block power transmitted from a power supply terminal to the electrode.
또한, 상기 전극봉 결속구의 내측 상부에는 전극봉의 외경보다 150 내지 200 % 큰 내경을 가지는 중공형 공간이 형성되어 있고, 상기 중공형 공간에 탄성부재가 장착될 수 있다.In addition, a hollow space having an
이때, 상기 전극봉 결속구의 상단에는 상기 중공형 공간과 대응되는 구조의 멈춤돌기가 장착될 수 있다.At this time, the stopper of the structure corresponding to the hollow space may be mounted on the upper end of the electrode binding sphere.
본 고안의 일 실시예에 있어서, 상기 전극봉은 상기 전극봉 결속구에 탈부착 가능한 구조로 장착될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the electrode can be mounted in a removable structure to the electrode binding sphere.
본 고안의 일 실시예에 있어서, 상기 전극봉의 하단부에는 나사산 체결구조가 형성되어 있고, 상기 전극봉의 하단부에 납 소재로 구성된 프로드 팁(Prod Tip)이 조립될 수 있다.In one embodiment of the present invention, a screw fastening structure is formed on the lower end of the electrode rod, the lead tip (Prod Tip) made of lead material can be assembled to the lower end of the electrode rod.
본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 본체부, 전극봉, 전원공급단자 및 손잡이를 구비함으로써, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by having a main body portion, an electrode, a power supply terminal and a handle of a specific structure, it is possible to solve the fatigue of the operator during the magnetic particle inspection, simplify the inspection work, stable and accurate inspection Provision can be made for an automatic particle inspection device that can implement the work.
또한, 본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 전극봉 결속구, 전극봉 상단부 구조 및 탄성부재를 구비함으로써, 별도의 스위치 조작없이 전극봉의 탐측면 접촉 시 자동으로 전극봉에 전원을 인가할 수 있고, 탐측면과 전극봉이 분리될 시 자동으로 전극봉에 전원을 차단할 수 있어, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있어, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, by providing the electrode binding sphere, the electrode upper end structure and the elastic member of a specific structure, it is possible to automatically apply power to the electrode when contacting the probe side without a separate switch operation, When the side and the electrode is separated, the power can be automatically cut off the electrode, making the inspection work easier, thereby improving the efficiency of the inspection work.
또한, 본 고안의 또 다른 실시 형태에 따르면, 전극봉 결속구에 탈부착 가능한 구조로 전극봉을 장착함으로써, 검사 대상물의 상태에 따라 전극봉의 종류 및 길이를 적절히 변경할 수 있어, 보다 안정적이고 정확한 검사 작업을 수행할 수 있다.In addition, according to another embodiment of the present invention, by mounting the electrode rod in a detachable structure to the electrode binding sphere, the type and length of the electrode rod can be appropriately changed according to the state of the inspection object, to perform a more stable and accurate inspection work can do.
도 1은 종래 기술에 따른 자분탐상검사 장면을 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 정면도이다.
도 3은 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 이용하여 검사하고자 하는 검사대상물의 표면에 전극봉을 가압하는 모습을 나타내는 단면도이다.1 is a perspective view showing a magnetic particle inspection scene according to the prior art.
Figure 2 is a front view showing a magnetic particle inspection inspection automatic equipment according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a cross-sectional view showing a magnetic particle inspection inspection automatic equipment according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a cross-sectional view showing a state of pressing the electrode rod on the surface of the inspection object to be tested using the magnetic particle inspection test automatic apparatus according to an embodiment of the present invention.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시예를 상세히 설명하지만 본 고안의 범주가 그것에 한정되는 것은 아니다. 본 고안을 설명함에 있어 공지된 구성에 대해서는 그 상세한 설명을 생략하며, 또한 고안의 요지를 불필요하게 흐릴 소지가 있는 구성에 대해서도 그 상세한 설명은 생략하기로 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the scope of the present invention is not limited thereto. In the description of the present invention, a detailed description of a known configuration will be omitted, and a detailed description of a configuration that may unnecessarily obscure the subject matter of the design will be omitted.
도 2에는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 정면도가 도시되어 있고, 도 3에는 본 고안의 일 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비를 나타내는 단면도가 도시되어 있다.Figure 2 is a front view showing the magnetic particle inspection test automatic equipment according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a cross-sectional view showing the magnetic particle inspection test automatic equipment according to an embodiment of the present invention have.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비(100)는, 특정 구조의 본체부(110), 전극봉(120), 전원공급단자(130) 및 손잡이(140)를 구비함으로써, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.Referring to these drawings, the magnetic particle inspection inspection
이하에서는 도면을 참조하여, 본 실시예에 따른 자분탐상검사용 프로드 자동장비(100)를 구성하는 각 구성에 대해 상세히 설명하기로 한다.
Hereinafter, with reference to the drawings, it will be described in detail with respect to each configuration constituting the automatic particle
본 실시예에 따른 본체부(110)는, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 일측에 전극봉 결속구(111)가 형성되어 있고, 상기 전극봉 결속구(111)에는 전극봉(120)의 가압에 의해 작동되는 스위치가 내장된 구조일 수 있다.
In the
전극봉(120)은, 전극봉 결속구(111)에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조일 수 있다.
The
본 실시예에 따른 전극봉 결속구(111)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극봉(120)의 상단부와 대응되는 구조로 상하방향으로 소정 길이만큼 연장된 중공형 실린던 구조이다. 또한, 전극봉(120)의 상단부는 전극봉 결속구(111)에 슬라이딩 가능하도록 장착되며, 상기 전극봉(120)의 상단부와 전극봉 결속구(111)의 내측 상단면 사이에는, 전극봉(120)의 상하 방향 슬라이딩 동작에 탄성복원력을 제공하는 탄성부재(112)가 장착된다.As shown in FIG. 3, the electrode engagement strap 111 according to the present exemplary embodiment has a hollow cylinder structure extending by a predetermined length in a vertical direction in a structure corresponding to an upper end of the
이때, 전극봉 결속구(111)의 상단에는, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극봉(120)의 상방 위치변경에 의해 스위칭 동작을 수행하는 마이크로 스위치(150)가 장착되고, 마이크로 스위치(150)는 전원공급단자(130)로부터 전달되는 전원을 전극봉(120)에 인가하거나 차단할 수 있다.At this time, as shown in Figure 3, the upper end of the electrode binding sphere 111, the
상기 언급한 마이크로 스위치(150)는, 손잡이 부분 내측에 안정적으로 내장되어 장착될 수 있는 크기의 스위치라면 특별히 제한되는 것은 아니며, 바람직하게는 적어도 2개의 접점(contact point)를 구비하는 스위치일 수 있다.The above-mentioned
대표적인 예로서, 상부나 하부를 통해 작동부재의 설치위치에 따라 손쉽게 연결할 수 있는 푸쉬스위치를 들 수 있다. 이러한 푸쉬스위치는, 전방의 노브, 상부에 가동접지판이 설치된 플런저, 케이스 상부로 결합되되 전원의 연결을 위한 연결단자를 포함하는 상부 덮개로 구성될 수 있다.As a representative example, there is a push switch that can be easily connected according to the installation position of the operating member through the upper or lower. Such a push switch may include a front cover, a plunger having a movable ground plate installed thereon, and an upper cover which is coupled to an upper case and includes a connection terminal for connection of power.
또한, 케이스의 내부 저면에는 판스프링과, 판스프링에 탄발지지되되 일측단은 회전작동케 지지되고 타측단은 플런저의 캠부를 따라 캠작동하는 캠작동바를 갖는 록킹수단을 더 포함하는 구성일 수 있다.In addition, the inner bottom of the case may be configured to further include a locking means having a leaf spring and a cam operating bar which is elastically supported by the leaf spring, one end of which is rotatably supported and the other end of which is cam operated along the cam portion of the plunger. .
이때, 본 실시예에 따른 마이크로 스위치(150)의 접점은 각각 1개의 가동 접촉자와 1개의 고정 접촉자를 지니며, 가동 접촉자는 접촉 브리지 상에 배열되고, 해당 접촉 브리지는 플런저(plunger)에 의해 이동 가능하며, 접점이 개방되어 있는 제1전환위치로부터 상기 접점이 폐쇄되어 있는 제2전환위치로 이행되는 구조일 수 있다.At this time, the contacts of the
상기 언급한 마이크로 스위치는, 플런저를 밀어주면, 플런저가 탄발스프링을 압축 전진하면서 캠작동바의 타측단이 캠부를 따라 캠작동하여 플런저가 전진 상태를 유지하 도록 함과 동시에 플런저의 가동접지판이 덮개의 고정접지판(미도시)에 접지되어 전원을 인가하여 온작동하게 된다.In the above-mentioned micro switch, when the plunger is pushed in, the plunger compresses and advances the ball spring, while the other end of the cam operation bar is cam-driven along the cam part to keep the plunger forward and at the same time the movable ground plate of the plunger It is grounded to a fixed ground plate (not shown) and is turned on by applying power.
이러한 구성을 포함하는 본 실시예에 따르면, 특정 구조의 전극봉 결속구(111), 전극봉 상단부 구조 및 탄성부재(112)를 구비함으로써, 별도의 스위치 조작없이 전극봉의 탐측면 접촉 시 자동으로 전극봉에 전원을 인가할 수 있고, 탐측면과 전극봉이 분리될 시 자동으로 전극봉에 전원을 차단할 수 있어, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있어, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.According to the present embodiment including such a configuration, by providing the electrode binding member 111, the electrode upper end structure and the
경우에 따라서, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극봉 결속구(111)의 내측 상부에는 전극봉(120)의 외경보다 150 내지 200 % 큰 내경을 가지는 중공형 공간(S)이 형성될 수 있다. 이때, 중공형 공간(S)에 탄성부재(112)가 장착될 수 있다.In some cases, as shown in FIG. 3, a hollow space S having an inner diameter of 150 to 200% larger than the outer diameter of the
또한, 전극봉 결속구(111)의 상단에는 상기 중공형 공간(S)과 대응되는 구조의 멈춤돌기(121)가 장착될 수 있다.In addition, a
경우에 따라서, 본 실시예에 따른 전극봉(120)은, 전극봉 결속구(111)에 탈부착 가능한 구조로 장착될 수 있다.In some cases, the
이 경우, 본 실시예에 따르면, 전극봉 결속구(111)에 탈부착 가능한 구조로 전극봉을 장착함으로써, 검사 대상물의 상태에 따라 전극봉의 종류 및 길이를 적절히 변경할 수 있어, 보다 안정적이고 정확한 검사 작업을 수행할 수 있다.In this case, according to the present embodiment, by mounting the electrode rod in the electrode binding hole 111 in a detachable structure, the type and length of the electrode rod can be appropriately changed according to the state of the inspection object, thereby performing more stable and accurate inspection work. can do.
또한, 전극봉(120)의 하단부에는 나사산 체결구조(122)가 형성되어 있고, 전극봉(120)의 하단부에 납 소재로 구성된 프로드 팁(Prod Tip, 123)이 조립될 수 있다.In addition, a
한편, 전원공급단자(130)는, 전극봉 결속구(111)에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉(120)에 전달할 수 있다.On the other hand, the
손잡이(140)는, 본체부(110)의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성될 수 있다.
The
경우에 따라서, 상기 언급한 손잡이(140)는, 작업자의 손에 파지하기 용이하도록 인체의 손 모양과 대응되는 구조로 형성될 수 있다.In some cases, the above-mentioned
구체적으로, 작업자는 작업용 장갑을 손에 착용한 상태로 자분탐상검사를 수행하게 된다. 이때 작업용 장갑을 착용한 상태의 손의 외부면 형상과 대응되는 구조로 손잡이(140)의 형상을 구성할 수 있다.Specifically, the worker is to perform the magnetic particle inspection while wearing the work glove on the hand. At this time, the shape of the
손의 외부면 형상과 대응되는 구조로 구성하는 방법으로는, 손잡이(140)를 사출성형 방법을 대표적인 예로 들 수 있다. 사출성형이 가능한 수지제로 손잡이(140)를 구성함으로써, 다양한 형상과 크기의 손잡이(140)를 제작할 수 있다.As a method of constructing a structure corresponding to the shape of the outer surface of the hand, the
또한, 다각기둥 형상 또는 원기둥 형상으로 손잡이(140)를 제작한 후, 외주면에 작업자의 손 모양과 대응되는 형상을 가지는 외피를 덧씌우는 방식으로 손잡이(140)를 구성할 수 있다.In addition, after the
이 경우, 손잡이(140)의 외주면에 덧씌워지는 구성은 사출성형 또는 압출성형 방법에 의해 제작될 수 있으며 이에 한정되는 것은 아니다.In this case, the configuration overlaid on the outer circumferential surface of the
이때, 손잡이(140)의 외주면에 덧씌워지는 구성은 열을 전달하지 않는 수지제 또는 고무제로 제작됨이 바람직하다.At this time, the configuration that is overlaid on the outer circumferential surface of the
경우에 따라서, 손잡이(140)에는 작업자의 손으로부터 발생하는 열기 및 땀을 흡수할 수 있는 구성이 더 장착될 수 있다.In some cases, the
구체적으로, 손잡이(140)에 작업자의 손으로부터 발생되는 열을 흡수한 후 손잡이(140)의 일측부로 배출할 수 있는 열교환부재가 장착될 수 있다. 이때, 채택될 수 있는 열교환부재의 대표적인 예로서 펠티어소자(Peltier electric element)를 들 수 있다.Specifically, the heat exchange member may be mounted to the
상기 언급한 펠티어소자(Peltier electric element)는, 전류를 흘려주면 전도성 물질 여러 층의 양끝에 온도차이가 지속되는 현상을 이용한 전기 소자로서, 저온 냉각을 필요로 하는 반대편의 고온부분을 강제 냉각시키면 저온부의 열이 고온쪽으로 전달되는 소자이다.The above-mentioned Peltier electric element is an electric element using a phenomenon in which a temperature difference is maintained at both ends of several layers of conductive materials when a current flows, and a low temperature part is caused by forcibly cooling the high temperature part of the opposite side that requires low temperature cooling. The heat is transferred to the high temperature side.
구체적으로, 펠티어소자는 서로 다른 전자 밀도가 필요하기 때문에 n 형과 p형 하나씩 두개의 특수한 반도체로 구성된다. 반도체는 열적으로 서로 평행하고 전기적으로 직렬로 배치 된 다음 각 면에 있는 열 전도판과 결합된다. 전압이 두 반도체의 자유 단에 가해지면 온도차를 발생시키는 반도체 접합부를 가로 지르는 직류 전류가 흐른다. 냉각 판이 있는 면은 열을 흡수 하고 방열판이 있는 다른 면으로 열이 이동한다. 열전냉각기는 일반적으로 나란히 연결되어 있으며 두 개의 세라믹 판 사이에 끼워져 있다.Specifically, since the Peltier element requires different electron densities, the Peltier element is composed of two special semiconductors, one for n type and one for p type. The semiconductors are thermally parallel to each other and electrically arranged in series and then combined with the heat conduction plates on each side. When a voltage is applied to the free ends of the two semiconductors, a direct current flows across the semiconductor junction, which produces a temperature difference. The side with the cooling plate absorbs heat and transfers heat to the other side with the heat sink. Thermoelectric coolers are generally connected side by side and sandwiched between two ceramic plates.
본 실시예에 따른 펠티어 소자의 냉각 판이 있는 면은 손잡이(140)에서 작업자의 손과 접촉하는 방향으로 위치하도록 하고, 반대쪽 방열판이 있는 열 발생 면은 작업자의 손과 접촉하지 않는 타방향으로 위치하도록 함이 바람직하다. 이때, 열 발생 면에는 히트싱크와 같은 열교환 부재(H)를 장착할 수 있다.The surface with the cooling plate of the Peltier element according to the present embodiment is to be located in the direction in contact with the hand of the worker in the
이 경우, 작업자의 손으로부터 발생하는 열을 손쉽게 제거할 수 있어, 작업자로 하여금 쾌적한 작업 환경을 제공할 수 있다. 결과적으로, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있고, 결과적으로 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.In this case, heat generated from the hand of the worker can be easily removed, thereby providing a comfortable working environment for the worker. As a result, inspection can be performed more easily, and as a result, the efficiency of inspection can be improved.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 본체부, 전극봉, 전원공급단자 및 손잡이를 구비함으로써, 자분탐상검사 수행 중 작업자의 피로도를 해결할 수 있고, 검사작업을 간소화할 수 있으며, 안정적이고 정확한 검사작업을 구현할 수 있는 자분탐상검사용 프로드 자동장치를 제공할 수 있다.As described above, according to the embodiment of the present invention, by having a main body portion, an electrode, a power supply terminal and a handle of a specific structure, it is possible to solve the fatigue of the operator during the magnetic particle inspection, and simplify the inspection work In addition, it is possible to provide a automatic fraud detection device for magnetic particle inspection that can implement a stable and accurate inspection work.
또한, 본 고안의 실시 형태에 따르면, 특정 구조의 전극봉 결속구, 전극봉 상단부 구조 및 탄성부재를 구비함으로써, 별도의 스위치 조작없이 전극봉의 탐측면 접촉 시 자동으로 전극봉에 전원을 인가할 수 있고, 탐측면과 전극봉이 분리될 시 자동으로 전극봉에 전원을 차단할 수 있어, 검사 작업을 더욱 손쉽게 수행할 수 있어, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, by providing the electrode binding sphere, the electrode upper end structure and the elastic member of a specific structure, it is possible to automatically apply power to the electrode when contacting the probe side without a separate switch operation, When the side and the electrode is separated, the power can be automatically cut off the electrode, making the inspection work easier, thereby improving the efficiency of the inspection work.
또한, 본 고안의 또 다른 실시 형태에 따르면, 전극봉 결속구에 탈부착 가능한 구조로 전극봉을 장착함으로써, 검사 대상물의 상태에 따라 전극봉의 종류 및 길이를 적절히 변경할 수 있어, 보다 안정적이고 정확한 검사 작업을 수행할 수 있다.In addition, according to another embodiment of the present invention, by mounting the electrode rod in a detachable structure to the electrode binding sphere, the type and length of the electrode rod can be appropriately changed according to the state of the inspection object, to perform a more stable and accurate inspection work can do.
이상의 본 고안의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 고안은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 고안의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. In the detailed description of the present invention, only specific embodiments thereof have been described. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the description, but rather includes all modifications, equivalents, and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Should be.
100: 자분탐상검사용 프로드 자동장비
101: 전원공급 케이블
110: 본체부
111: 전극봉 결속구
112: 탄성부재
120: 전극봉
121: 멈춤돌기
122: 나사산 체결구조
123: 프로드 팁(Prod Tip)
130: 전원공급단자
140: 손잡이
150: 마이크로 스위치
S: 중공형 공간100: Automatic fraudulent equipment for magnetic particle inspection
101: power supply cable
110: main body
111: electrode binding sphere
112: elastic member
120: electrode
121: stopper
122: thread fastening structure
123: Prod Tip
130: power supply terminal
140: handle
150: micro switch
S: hollow space
Claims (7)
상기 전극봉 결속구(111)에 상하방향으로 소정 거리만큼 슬라이딩 이동 가능하도록 장착되고, 하방으로 소정 길이만큼 연장된 구조의 전극봉(120);
상기 전극봉 결속구(111)에 장착되고, 외부로부터 공급되는 전원을 받아 전극봉(120)에 전달하는 전원공급단자(130); 및
상기 본체부(110)의 상부면에 장착되고, 열전도율이 낮은 소재로 구성된 손잡이(140);
를 포함하는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
Electrode binding sphere 111 is formed on one side, the electrode binding sphere 111 is the main body portion 110 is built-in switch that is operated by the pressure of the electrode rod (120);
An electrode rod (120) mounted to the electrode engagement hole (111) to be slidably movable in a vertical distance by a predetermined distance and extending downward by a predetermined length;
A power supply terminal 130 mounted on the electrode engagement port 111 and receiving power supplied from the outside and transferring the power to the electrode 120; And
A handle 140 mounted on an upper surface of the main body 110 and made of a material having low thermal conductivity;
Prod automatic detection device for magnetic particle detection, characterized in that it comprises a.
상기 전극봉 결속구(111)는 전극봉(120)의 상단부와 대응되는 구조로 상하방향으로 소정 길이만큼 연장된 중공형 실린던 구조이고,
상기 전극봉(120)의 상단부는 전극봉 결속구(111)에 슬라이딩 가능하도록 장착되며,
상기 전극봉(120)의 상단부와 전극봉 결속구(111)의 내측 상단면 사이에는, 전극봉(120)의 상하 방향 슬라이딩 동작에 탄성복원력을 제공하는 탄성부재(112)가 장착되는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The method of claim 1,
The electrode binding sphere 111 is a hollow cylinder structure extending by a predetermined length in the vertical direction in a structure corresponding to the upper end of the electrode 120,
The upper end of the electrode 120 is mounted to be slidable to the electrode binding sphere 111,
Between the upper end of the electrode 120 and the inner top surface of the electrode binding sphere 111, the magnetic particle detection, characterized in that the elastic member 112 is provided to provide an elastic restoring force in the vertical sliding operation of the electrode 120 Inspection automatic equipment.
상기 전극봉 결속구(111)의 상단에는 전극봉(120)의 상방 위치변경에 의해 스위칭 동작을 수행하는 마이크로 스위치(150)가 장착되고,
상기 마이크로 스위치(150)는 전원공급단자(130)로부터 전달되는 전원을 전극봉(120)에 인가하거나 차단하는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The method of claim 2,
The upper end of the electrode binding sphere 111 is equipped with a micro switch 150 for performing a switching operation by changing the upper position of the electrode 120,
The micro switch 150 is a magnetic particle inspection test automatic equipment, characterized in that for applying or blocking the power transmitted from the power supply terminal 130 to the electrode 120.
상기 전극봉 결속구(111)의 내측 상부에는 전극봉(120)의 외경보다 150 내지 200 % 큰 내경을 가지는 중공형 공간(S)이 형성되어 있고,
상기 중공형 공간(S)에 탄성부재(112)가 장착되는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The method of claim 2,
A hollow space S having an inner diameter 150 to 200% larger than an outer diameter of the electrode 120 is formed at an inner upper portion of the electrode binding hole 111.
Magnetic particle inspection inspection automatic equipment, characterized in that the elastic member 112 is mounted in the hollow space (S).
상기 전극봉 결속구(111)의 상단에는 상기 중공형 공간(S)과 대응되는 구조의 멈춤돌기(121)가 장착되는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The method of claim 4, wherein
At the upper end of the electrode binding sphere 111, the automatic stop for the magnetic particle inspection test, characterized in that the stopper 121 of the structure corresponding to the hollow space (S) is mounted.
상기 전극봉(120)은 상기 전극봉 결속구(111)에 탈부착 가능한 구조로 장착되는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The method of claim 1,
The electrode rod 120 is a magnetic particle inspection inspection automatic equipment, characterized in that the mounting structure is detachable to the electrode binding port 111.
상기 전극봉(120)의 하단부에는 나사산 체결구조(122)가 형성되어 있고,
상기 전극봉(120)의 하단부에 납 소재로 구성된 프로드 팁(Prod Tip, 123)이 조립되는 것을 특징으로 하는 자분탐상검사용 프로드 자동장비.
The method of claim 1,
Threaded fastening structure 122 is formed at the lower end of the electrode 120,
Prod tip (Prod Tip, 123) consisting of a lead material is assembled to the lower end of the electrode 120, the automatic particle inspection test for automatic equipment.
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