KR20030085370A - Preparation of low melting crystallized solder glasses - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 TV 브라운관의 전면과 후면 유리, 반도체 팩키지(package), 평판 디스플레이 봉착(PDP sealing) 등을 봉착하는데 사용되는 저융점 결정성 봉착용 프리트 유리의 제조방법에 관한 것으로, 특히 420 ∼ 440℃ 저온에서 15분이내에 신속하게 결정화하여 우수한 접착강도와 열팽창 계수가 일치하도록 형성할 수 있음은 물론, 고가의 산화납(PbO)과 산화바륨(BaO)의 일부를 무알카리계 폐유리로 치환하여 사용할 수 있도록 함으로써 생산공정 시간의 단축과 저렴한 원료의 사용으로 생산원가를 절감할 수 있도록 한, 저융점 결정성 봉착유리의 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a low melting point crystalline sealing frit glass used for sealing the front and rear glass of a TV CRT, a semiconductor package, a flat panel display sealing, and the like, in particular 420 to 440 ° C. Crystallized quickly within 15 minutes at low temperature, it can be formed to match excellent adhesive strength and thermal expansion coefficient, and it is possible to replace some of expensive lead oxide (PbO) and barium oxide (BaO ) with alkali-free waste glass. The present invention relates to a method for manufacturing a low melting point crystalline encapsulated glass, which reduces the production process time and reduces production costs by using inexpensive raw materials.
일반적으로 TV 브라운관의 전면과 후면 유리인 봉착용 결정성 프리트 유리는 과량의 산화납(PbO)과 산화바륨(BaO)의 함량이 약 79wt% 이상으로서 팽창계수가 약간 높을 뿐 아니라 온도 역시 약 440 ∼ 450℃에서 35-40분 이상 유지되어야만 충분한 결정화가 일어나게 된다. 그런데 신속하게 봉착하여야 하고 또 생산 속도를 증가시켜야 하는 최근의 흐름하에서는 약 420 ∼ 440℃ 내외의 온도범위내에서 약 15분이내에 봉착 결정화가 되어야 야만이 경제성이 있다고 할 수 있다.Generally, the crystalline frit glass for sealing, which is the front and rear glass of TV CRT, has an excessive amount of lead oxide (PbO) and barium oxide (BaO) of about 79 wt% or more. Sufficient crystallization will occur only if it is maintained at 450 ° C for at least 35-40 minutes. However, under the recent flow of sealing rapidly and increasing production speed, it is economical only if sealing crystallization is performed within about 15 minutes within a temperature range of about 420 to 440 ° C.
그러나 종래의 TV 브라운관 등을 봉착하는데 사용되는 결정성 프리트 유리는 팽창계수를 낮추기 위하여 산화납의 일부를 산화바륨(BaO)이나 산화스트론륨(SrO)으로 치환하기도 하지만 산화바륨(BaO)량이 증가하게 되면 연화 및 결정화 온도가 올라가게 되므로 3%이상 첨가는 효과가 없게 된다. 그리고 다른 대체 산화물이 일부 첨가되거나 상기 프리트(frit)에 내화성 및 결정도가 높은 필러(filler ; 산화지르콘,산화규소, 산화티탄 등) 등을 첨가하여 제조하더라도 약 440℃의 온도범위에서 30분이내에 봉착 결정화되지는 못하는 폐단이 있고, 또 고가의 산화납과 산화바륨(BaO)을 원료로 사용하게 되므로 생산원가가 높아지는 폐단이 있다.However, crystalline frit glass used to seal conventional TV CRTs may replace a part of lead oxide with barium oxide (BaO) or strontium oxide (SrO) in order to lower the expansion coefficient, but increase the amount of barium oxide (BaO). If the softening and crystallization temperature rises, the addition of more than 3% is not effective. And replacements oxide or a part added to the frit (frit) fire resistance and crystallinity is high filler; even if prepared by the addition of (filler zircon, silicon oxide, titanium oxide, etc.), and the like sealing at a temperature range of about 440 ℃ for 30 min. There are waste stages that cannot be crystallized, and since expensive lead oxide and barium oxide (BaO) are used as raw materials, there are waste stages where production costs are increased.
이에, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 산화납(PbO)의 함량을 약 72wt% 정도 이하로 낮추고, 그 대신에 산화납(PbO)보다 팽창계수가 낮고 연화점이 낮으면서 점성은 높은, 저가의 무알카리계 폐유리 약 4 ∼ 20wt%와 결정화 속도의 가속을 위한 핵형성제를 약 0.2 ∼ 6wt% 정도 첨가 배합함으로써 결정되는상이 침상의 2산화납 아연 붕소계(2PbO·ZnO·B2O3)계 결정으로 나타나는 저융점 결정성 봉착용 프리트 유리를 형성하도록 함을 그 목적으로 한다. 이로 인해 결정도가 기존의 결정성 봉착유리보다 우수하고 접착강도와 전기적 특성이 양호하며, 또 고가의 산화납을 저가의 무알카리계 폐유리로 치환하여 생산원가를 낮출 수 있고, 결정화 봉착 온도 또한 종래에 비해 10 ∼ 20℃ 낮아지면서도 결정화의 열처리 시간은 약 20분이상 단축할 수 있어 TV 브라운관의 생산공정에 따른 시간 단축과 생산비 절감 등을 도모할 수 있도록 한다. 이외에도 평판 디스플레이(PDP) 봉착용 유리 및 반도체 패키지(package)용 등 각종의 저융점 결정성 봉착용 프리트 유리에도 사용할 수 있도록 함에 본 발명의 또 다른 목적이 있다.Thus, in order to solve the above problems, the present invention lowers the content of lead oxide (PbO) to about 72 wt% or less, and instead, the expansion coefficient is lower than that of lead oxide (PbO) and the softening point is low, and the viscosity is high, Low-alkaline, non-alkali waste glass 4-20 wt% and the addition of about 0.2-6 wt% of a nucleating agent for accelerating the crystallization rate is determined by the combination of acicular lead zinc boron dioxide (2PbO, ZnO, B 2 O 3 ) It aims at forming the frit glass for low melting crystalline sealing represented by system crystal | crystallization. As a result, the crystallinity is better than that of the existing crystalline sealing glass, the adhesive strength and electrical properties are good, and the production cost can be reduced by replacing the expensive lead oxide with the low-alkali-free waste glass, and the crystallization sealing temperature is also The heat treatment time of the crystallization can be reduced by about 20 minutes or more while being lowered by 10 to 20 ° C., thereby reducing the time and cost of production according to the production process of the TV CRT. In addition, another object of the present invention is to be able to use a variety of low melting point crystalline sealing frit glass such as a flat panel display (PDP) sealing glass and a semiconductor package.
도 1은 종래의 유리질내에 침상의 결정이 석출된 결정성 프리트 유리의 전자현미경 분석사진1 is an electron micrograph of a crystalline frit glass in which needle crystals are deposited in a conventional glass material
도 2는 본 발명에 따른 일실시예로서 유리질내에 침상의 결정이 석출된 결정성 프리트 유리의 전자현미경 분석사진2 is an electron micrograph of a crystalline frit glass in which acicular crystals are precipitated in glass as an example according to the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 일실시예로서 종래의 봉착용 프리트 유리와 본 발명에 따른 프리트 유리의 열적특성을 비교 나타낸 열분석 곡선도3 is a thermal analysis curve comparing the thermal properties of the conventional frit glass and the frit glass according to the present invention as an embodiment according to the present invention
이하, 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 일실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 일실시예로서 유리질내에 침상의 결정이 석출된 결정성 프리트 유리의 전자현미경 분석사진이고, 도 3은 본 발명에 따른 일실시예로서 종래의 봉착용 프리트 유리와 본 발명에 따른 프리트 유리의 열적특성을 비교 나타낸 열분석 곡선도이다.2 is an electron micrograph of a crystalline frit glass in which acicular crystals are deposited in glass as an example according to the present invention, and FIG. 3 is a conventional sealing frit glass and the present invention as an embodiment according to the present invention. Is a thermal analysis curve comparing the thermal properties of frit glass.
그리고 본 발명의 목적을 달성하기 위한 기술적 구성을 구체적으로 설명하여 보면,And in detail the technical configuration for achieving the object of the present invention,
도 2와 도 3에 도시된 바와 같이 저융점 결정성 봉착용 프리트 유리를 형성함에 있어서,In forming the low melting point crystalline sealing frit glass as shown in Figure 2 and 3,
산화납과 산화바륨(PbO+BaO) 66∼75wt%, 산화붕소(B2O3) 6.5∼13wt%, 산화아연(ZnO) 6.5∼18.5wt%, 산화규소와 오산화인(SiO2+P2O5) 0.1∼4.5wt%, 산화티탄과 산화지르콘(TiO2+ZrO2) 0.2∼6wt%, 무알카리계 페유리 4.0∼20wt% 등으로 유리조성비를 설정하는 단계와 ;66 to 75 wt% of lead oxide and barium oxide (PbO + BaO), 6.5 to 13 wt% of boron oxide (B 2 O 3 ), 6.5 to 18.5 wt% of zinc oxide (ZnO), silicon oxide and phosphorus pentoxide (SiO 2 + P 2) O 5 ) setting the glass composition ratio to 0.1 to 4.5 wt%, 0.2 to 6 wt% of titanium oxide and zircon oxide (TiO 2 + ZrO 2 ), and 4.0 to 20 wt% of alkali-free pew glass;
상기 단계에 의해 설정된 조성범위내에서 원료를 혼합하여 알루미나(Alumina) 도가니에 담아 실리코니트(siliconit) 전기로에 넣어 약 900∼1000℃로 조정된 온도에서 용융시킨 후, 롤러 퀀칭(Roller quenching ; 쌍 롤러 급냉식 방법)이나 수중 급냉에 의하여 프리트 유리를 형성한 뒤, 약 5∼20㎛크기의 미분말 상태인 프리트(frit)유리로 미분쇄하는 단계와 ;After mixing the raw materials within the composition range set by the above step, put them in an alumina crucible, put them in a silicon furnace and melt them at a temperature adjusted to about 900 to 1000 ° C., and then roller quenching (double roller). Forming a frit glass by a quenching method) or quenching in water, and then pulverizing the frit glass into a frit glass having a fine powder size of about 5 to 20 µm;
상기 단계에 의해 조성된 프리트 유리 분말을 열팽창 계수가 약 85∼92×10-7/℃정도의 α값을 가지는 유리판(slide glass)위에 놓고 건식 코팅(coating)시킨 뒤, 약 2∼10℃/min의 일정한 가열속도로 가열하여 420∼440℃에서 10∼15분간을 유지시키면서 신속하게 결정화시켜 저융점 결정성 봉착용 유리를 제조하는 단계로 진행된다.The frit glass powder prepared by the above step is placed on a slide glass having an α value of about 85 to 92 × 10 −7 / ° C., and then dry coated, and then about 2 to 10 ° C. / It is heated to a constant heating rate of min and rapidly crystallized while maintaining for 10 to 15 minutes at 420 ~ 440 ℃ proceeds to the step of producing a low melting point crystalline sealing glass.
그리고 본 발명에 따라 조성되고 있는 산화납과 산화바륨(PbO+BaO), 산화붕소(B2O3), 산화아연(ZnO), 산화규소와 오산화인(SiO2+P2O5), 산화티탄과 산화지르콘(TiO2+ZrO2), 무알카리계 페유리 등의 조성 범위는 다음과 같다.And lead oxide and barium oxide (PbO + BaO), boron oxide (B 2 O 3 ), zinc oxide (ZnO), silicon oxide and phosphorus pentoxide (SiO 2 + P 2 O 5 ) and oxide Composition ranges of titanium, zircon oxide (TiO 2 + ZrO 2 ), and alkali-free phe glass are as follows.
[1] 산화납과 산화바륨(PbO+BaO)[1] lead oxide and barium oxide (PbO + BaO)
산화납과 산화바륨(PbO+BaO)의 함량이 65wt% 이하에서는 유리의 점성이 높아 연화점이 올라가므로 약 420∼440℃의 온도 영역에서는 충분한 유리화가 일어나서 융착력을 갖기가 힘들게 되고,If the content of lead oxide and barium oxide (PbO + BaO) is 65wt% or less, the viscosity of the glass is high and the softening point is increased. Therefore, sufficient vitrification occurs in the temperature range of about 420 to 440 ° C, making it difficult to have fusion.
반면에 76wt% 이상에서는 너무 과도한 연화로 인하여 유리화는 좋으나 결정화 속도가 느리므로 결정성 프리트 유리가 되기 어려워 적절한 산화납과 산화바륨의 함량 범위는 66∼75wt% 정도가 바람직하며, 그런 가운데서도 산화납(Pbo)의 비율은 60wt% 이상이어야 한다.On the other hand, over 76wt% of vitrification is good due to excessive softening, but the crystallization rate is low, making it difficult to form crystalline frit glass. Therefore, the proper content of lead oxide and barium oxide is preferably 66-75wt%, and among them, lead oxide The proportion of (Pbo) should be at least 60wt%.
이렇게 되면 결정성 프리트가 기존의 결정성 프리트보다 낮은 약 420∼440℃의 온도 범위내에서 결정화 열처리가 충분하게 되는 것이다.In this case, the crystallization heat treatment is sufficient in the temperature range of about 420 to 440 ° C. where the crystalline frit is lower than the existing crystalline frit.
그리고 상기한 산화바륨(BaO) 대신에 탄산바륨(BaCO3)를 대체 투입할 수도 있음을 첨언한다.And it is added that barium carbonate (BaCO 3 ) may be added instead of the barium oxide (BaO) described above.
[2] 산화붕소(B2O3)[2] boron oxide (B 2 O 3 )
저융점 유리형성 산화물로 첨가되는 산화붕소(B2O3)는 6wt% 이하에서는 효과가 적고 실투가 잘 일어나게 되며, 14wt%이상에서는 유리의 점성이 너무 낮아 420∼440℃의 온도 영역에서 결정성 프리트가 되는데 장애요인이 될 뿐 아니라, 냉각 시 과량의 저점성 유리질은 팽창계수의 증가로 크랙(crack)발생을 유발시키게 된다. 따라서 산화붕소(B2O3)의 적절량 범위는 6.5∼13wt% 이내로 함이 바람직하다. 그리고 상기한 산화붕소(B2O3) 대신에 붕산(H3BO3)으로 대체 투입이 가능함을 부연한다.Boron oxide (B 2 O 3 ) added as a low melting point glass forming oxide is less effective at 6wt% and devitrification well, and at 14wt% or higher, the viscosity of the glass is too low to be crystalline in the temperature range of 420-440 ° C. In addition to being a barrier to frit, excessive low viscosity glass during cooling causes cracks due to an increase in the coefficient of expansion. Therefore, the appropriate amount of boron oxide (B 2 O 3 ) is preferably within the range of 6.5 to 13wt%. And it is possible to substitute the boric acid (H 3 BO 3 ) in place of the above-described boron oxide (B 2 O 3 ).
[3] 산화아연(ZnO)[3] zinc oxide (ZnO)
아연화는 유리의 내구성을 향상키고 유리질 막(glass matrix)으로부터 PbO-ZnO-B2O3계 결정을 석출 시키는데 결정적인 역할을 하게 된다.Zincation plays a decisive role in improving glass durability and in depositing PbO-ZnO-B 2 O 3 -based crystals from the glass matrix.
그러나 조성되는 산화아연(ZnO)이 6.5wt%이하가 될 경우에는 그 효과가 미미하고 석출되는 결정량이 너무 적어 열팽창 계수를 낮추는데는 영향을 주지 못하게 되고, 반면에 18.5wt% 이상에서는 너무 과대한 산화납 - 아연 - 붕소계(2PbO·ZnO·B2O3) 결정의 석출로 유리질 막(glass matrix)의 량이 모자라 연화온도가 올라가고, 유리의 점성이 너무 높아 420∼440℃의 온도범위내에서 연화 및 융착에 문제가 된다.However, when the amount of zinc oxide (ZnO) is less than 6.5wt%, the effect is negligible and the amount of precipitated crystal is too small to affect the coefficient of thermal expansion. On the other hand, the excessive amount of oxidation is more than 18.5wt%. Due to the precipitation of lead-zinc-boron (2PbO, ZnO, B 2 O 3 ) crystals, the amount of glass matrix is insufficient and the softening temperature rises and the glass viscosity is too high, softening within the temperature range of 420 ~ 440 ℃. And fusion problems.
따라서 420∼440℃의 온도범위내에서 15-20분이내에 결정화가 이루어지는 동시에 융착이 되기 위한 산화아연의 최적범위로는 6.5∼18.5wt% 이내이다.Therefore, within the temperature range of 420 to 440 DEG C, crystallization takes place within 15-20 minutes, and the optimum range of zinc oxide for fusion is within 6.5 to 18.5 wt%.
[4] 산화규소와 오산화인(SiO2+P2O5)[4] silicon oxide and phosphorus pentoxide (SiO 2 + P 2 O 5 )
무알카리계 폐유리가 1wt%이상 첨가될 때는 산화규소와 오산화인(SiO2+P2O5)을 첨가시키지 않아도 상관 없다. 그러나 원재료비를 감안할 때 무알카리보다 산화규소(SiO2)성분의 원료인 규사가 가격이 월등하게 낮기 때문에 산화규소(SiO2)를 0.1∼1.5wt% 정도 첨가시키는 것이 효과적이다.When more than 1 wt% of alkali-free waste glass is added, it is not necessary to add silicon oxide and phosphorus pentoxide (SiO 2 + P 2 O 5 ). However, considering the cost of raw materials, silicon oxide (SiO 2), which is a raw material of silicon oxide (SiO 2) , is significantly lower in price than silicon-free (SiO 2 ).
그런데 산화규소(SiO2)를 1.5wt% 이상 첨가되면 점성이 너무 높아서 상기 구성요소의 일부를 오산화인(P2O5)으로 첨가시켜야 이러한 문제를 조절할 수 있다.However, when more than 1.5wt% of silicon oxide (SiO 2 ) is added, the viscosity is so high that some of the components must be added to phosphorus pentoxide (P 2 O 5 ) to control this problem.
따라서 산화규소와 오산화인(SiO2+P2O5)이 투입될 수 있는 최적의 범위는 폐유리를 1wt%이하로 첨가시키는 경우에 0.1∼4.5wt% 내외이다.Therefore, the optimum range in which silicon oxide and phosphorus pentoxide (SiO 2 + P 2 O 5 ) can be added is about 0.1 to 4.5 wt% when the waste glass is added below 1 wt%.
[5] 산화티탄과 산화지르콘(TiO2+ZrO2)[5] titanium oxide and zircon oxide (TiO 2 + ZrO 2 )
산화티탄(TiO2)과 산화지르콘(ZrO2)은 모두 핵 형성제로 첨가되며, 특히 2산화납 아연 붕소계(2PbO·ZnO·B2O3)의 결정을 신속하게 석출시키는데 효과가 크다. 그런데 산화티탄과 산화지르콘(TiO2+ZrO2)의 함량이 0.2wt% 미만에서는 효과가 거의 없다.Titanium oxide (TiO 2 ) and zircon oxide (ZrO 2 ) are both added as nucleating agents, and are particularly effective for rapidly depositing crystals of lead zinc boron dioxide (2PbO.ZnO.B 2 O 3 ). However, when the content of titanium oxide and zircon oxide (TiO 2 + ZrO 2 ) is less than 0.2wt%, there is little effect.
따라서, 산화티탄(TiO2)은 최소 0.2wt% 이상은 되어야 하되, 6wt% 이상에서는 점성이 너무 커서 오히려 산화티탄(TiO2)과 산화지르콘(ZrO2)이 함유된 제 2산화납 아연 붕소계(2PbO·ZnO·B2O3)의 결정을 석출시켜 팽창계수가 너무 낮아지거나 전기적 특성의 변화를 유발시킬수 있으므로, 산화티탄과 산화지르콘(TiO2+ZrO2)이 투입될 수 있는 최적의 범위는 0.2∼6wt% 정도이다. 그리고 상기한 산화지르콘(ZrO2) 대신에 산화비스무스(Bi2O3)나 산화안티몬(Sb2O3)을 대체 투입할 수도 있다.Therefore, titanium oxide (TiO 2 ) should be at least 0.2 wt% or more, but at 6 wt% or more, the viscosity is too large, but rather, lead zinc-boron oxide based on titanium oxide (TiO 2 ) and zircon oxide (ZrO 2 ) Optimum range of titanium oxide and zirconium oxide (TiO 2 + ZrO 2 ) can be injected since precipitation of (2PbO · ZnO · B 2 O 3 ) crystals can cause the expansion coefficient to be too low or change the electrical properties. Is about 0.2 to 6 wt%. Instead of the zircon oxide (ZrO 2 ) described above, bismuth oxide (Bi 2 O 3 ) or antimony oxide (Sb 2 O 3 ) may be substituted.
[6] 무알카리계 폐유리[6] glass, non-alkali
무알카리계 폐유리는 알카리금속 산화물이 포함되지 않은 유리로서 한번 유리화가 되었던 파쇄유리(glass cullet)이므로 천연 원료보다 연화가 잘되어 열팽창 계수의 변화없이 프리트 유리 자체의 점성을 낮출 수 있다. 그리고 무알카리계 폐유리가 지니고 있는 화학분석치를 살펴 보면 아래의 도표 1과 같다.Alkali-based waste glass is a glass that does not contain an alkali metal oxide, because the glass cullet was once vitrified (soft cullet) is softer than natural raw materials can lower the viscosity of the frit glass itself without changing the coefficient of thermal expansion. In addition, the chemical analysis of the alkali-free waste glass is shown in Table 1 below.
〈도표 1 ; 무알카리계 폐유리의 화학분석치, 단위 ; wt·%〉<Table 1; Chemical analysis of alkali-free waste glass, unit; wt%
상기한 바와 같은 화학분석치를 가지고 있는 무알카리계 폐유리는 값이 비싼 산화납(PbO)과 산화바륨(BaO)의 함량을 줄여주거나 대체 사용됨으로서 팽창계수를 일부 낮출 수 있는데, 이러한 무알카리계 폐유리가 투입될 수 있는 최적의 범위는 4∼20wt%이다.Alkali-based waste glass having the chemical analysis as described above can reduce the expansion coefficient of some of the expensive lead oxide (PbO) and barium oxide (BaO), thereby lowering some of the coefficient of expansion. The optimum range for the glass can be added is 4 to 20 wt%.
이하, 본 발명의 일실시예(제 1 실시예)에 대한 설명을 첨부된 도 2와 도 3을 참조하여 기술하면 다음과 같다.Hereinafter, a description of one embodiment (first embodiment) of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 and 3.
상기한 [1]∼[6]까지의 원재료 조성범위에서 원료를 배합하되, 아래의 도표 2에 도시되어 있는 S-1 또는 S-2의 유리조성비와 같이 원료를 배합한 뒤, 이를 30분이상 혼련기에서 충분히 혼합시킨 다음 알루미나(Alumina) 도가니에 담고서는 이를 다시 전기로에 넣고 약 900∼1000℃의 온도범위내에서 1시간 정도 용융시켜서 균질한 용융물을 만든다.Mix the raw materials in the raw material composition range from the above [1] to [6], and mix the raw materials with the glass composition ratio of S-1 or S-2 shown in Table 2 below, and then mix them for 30 minutes or more. After mixing sufficiently in a kneader, put it in an alumina crucible, put it back in an electric furnace, and melt it for about 1 hour in a temperature range of about 900 to 1000 ° C. to form a homogeneous melt.
즉, 아래의 도표 2에서 보는 바와 같이 산화납(PbO), 산화바륨(BaO), 산화붕소(B2O3), 산화아연(ZnO), 산화규소(SiO2),오산화인(P2O5), 산화티탄(TiO2), 산화지르콘(ZrO2) 등의 원료를 조합하여 충분히 혼합시키고 알루미나(Alumina)도가니에 이러한 조성물의 원료를 담은 뒤, 약 900∼1000℃로 설정된 전기가마에서 충분히 용융시킨 상태에서 수중 급냉시켜 봉착용 프리트 유리를 만든다.That is, as shown in Table 2 below, lead oxide (PbO), barium oxide (BaO), boron oxide (B 2 O 3 ), zinc oxide (ZnO), silicon oxide (SiO 2), phosphorus pentoxide (P 2 O) 5 ), a mixture of raw materials such as titanium oxide (TiO 2 ), zircon oxide (ZrO 2 ) and the like are sufficiently mixed, and the raw materials of these compositions are contained in an alumina crucible, and then sufficiently prepared in an electric kiln set at about 900 to 1000 ° C. It is quenched in water in a molten state to make a sealing frit glass.
〈도표 2 ; 제 1 실시예의 유리 조성비〉<Table 2; Glass Composition Ratio of First Embodiment>
상기와 같이 조성되고 용해된 프리트(frit)유리 용융물을 습식(수중 급냉) 혹은 건식(쌍 Roller 급냉식)방법으로 급냉시킨 후 볼밀(ball mill)에서 미분쇄하여 평균 입경 5∼20㎛의 범위로 입도 조정한다.The frit glass melt prepared and dissolved as described above is quenched by a wet (water quench) or dry (pair roller quench) method, and then pulverized in a ball mill to have an average particle diameter in the range of 5 to 20 μm. Adjust the particle size.
입도 조정된 프리트 유리의 일부 시료를 열분석(DTA)시험을 행하여 열적 특성 및 결정화 열처리 영역을 설정한다.Some samples of particle size-adjusted frit glass are subjected to a thermal analysis (DTA) test to establish thermal properties and crystallization heat treatment regions.
아래의 도표 3은 일부 시편의 용융물을 동판 프레스(press)로 성형하여 전기적 특성 및 물리적 특성을 분석하여 표로 나타낸 것이다.Table 3 below is a table of the melt of some of the specimens by molding a copper press (press) to analyze the electrical and physical properties.
〈도표 3 ; 각 시편들의 열적특성및 물성치표〉<Table 3; Thermal Characteristics and Properties of Each Specimen>
그리고 상기 도표 3에서 보는 바처럼 일부 시료를 열분석한 S-1과 S-2의 경우, 연화온도가 376℃ 부근이고 결정화 온도가 410∼490℃ 부근이므로, 결정화의 열처리 영역을 440℃의 온도근처로 충분히 설정할 수 있음을 알 수 있다.As shown in Table 3, in the case of S-1 and S-2 which thermally analyzed some samples, the softening temperature was around 376 ° C and the crystallization temperature was around 410 ~ 490 ° C. It can be seen that it can be set near enough.
한편, 상기한 방법을 통해 얻은 저 융점 프리트 유리를 미분쇄(5 ∼ 30??m)한 뒤, 이를 열팽창계수 α= 85 ∼ 90×10-7/℃에 속하는 유리판(slide glass) 위에 압착하여 건식 코팅(coating)하고는 이를 전기가마에 다시 넣어 2∼5℃/min 속도로 440℃까지 가열시키고 10분 정도 유지하다가, 약 200℃까지 다시 냉각시킨 뒤 유리판(slide glass)의 크랙(Crack) 유무와 저융점 프리트 유리의 결정화에 대한 크랙(crack)유무를 확인하여 본 결과 이상이 없었음을 알 수 있었다.On the other hand, the low-melting frit glass obtained through the above method is pulverized (5 ~ 30 ?? m), and then pressed on a glass plate (slide glass) belonging to the coefficient of thermal expansion α = 85 ~ 90 × 10 -7 / ℃ Dry coating (coating) and put it back in the electric kiln, heated to 440 ℃ at a rate of 2 ~ 5 ℃ / min, and maintained for 10 minutes, then cooled to about 200 ℃ again cracks of the slide glass The presence or absence of cracks on the crystallization of the low melting point frit glass showed that there was no abnormality.
이는 본 발명에 따른 저융점 프리트 유리를 결정화 하였을 경우에는 유리판(slide glass)의 팽창계수와 거의 일치한다는 것을 일깨워 주고 있다. 또한 결정상의 확인을 전자현미경(SEM)으로 분석해 본 결과, 도 2에서와 같이 유리질 막(glass matrix)내에 침상의 균일한 결정성장을 확인 할 수 있었다.This reminds us that when the low melting frit glass according to the present invention is crystallized, it almost coincides with the expansion coefficient of the slide glass. In addition, as a result of analyzing the crystal phase with an electron microscope (SEM), it was confirmed that the uniform crystal growth of acicular phase in the glass matrix as shown in FIG.
그리고 상기한 원재료 조성물의 영역에서 제조된 저융점 결정성 봉착용 유리를 약 420∼430℃에서 10∼15분간 열처리하여 결정화시킨 결과, 침상의 2산화납 아연 붕소(2PbO·ZnO·B2O3)계 결정이 도 2와 같이 충분히 성장되었으며, 또한 열팽창계수가 88 ∼ 97×10-7/℃로 기존 CRT용으로 이용되던 봉착용 유리보다 3 ∼ 4 ×10-7/℃정도 낮은, 안정된 값을 가지게 됨을 확인하였다. 그리고 물성은 유전율 20∼24, 곡강도(접착강도) 450kg/㎠, 연화점 372℃로 기존의 CRT용으로 사용되는봉착용 유리와 극히 유사하였다.And the low melting point crystalline sealing glass prepared in the region of the raw material composition was crystallized by heat treatment at about 420 to 430 ° C for 10 to 15 minutes, and as a result, acicular lead zinc boron dioxide (2PbO, ZnO, B 2 O 3 ) type crystals also been sufficiently grown, such as 2, and a thermal expansion coefficient 88 ~ 97 × 10 about a -7 / ℃ 3 ~ 4 × 10 -7 / ℃ than the release rod wear glass used for the conventional CRT low, stable value, It was confirmed that you have. And the physical properties were very similar to the sealing glass used for the existing CRT with the dielectric constant of 20 ~ 24, the bending strength (adhesive strength) 450kg / ㎠ and the softening point of 372 ℃.
따라서, 본 발명에 따른 저융점 결정성 프리트 유리는 봉착공정의 온도를 약 20℃이 상 낮추면서 열처리 시간까지도 단축시켜 생산 공정의 속도를 단축하게 되므로 결과적으로 생산단가를 훨씬 낮출 수 있게 된다.Therefore, the low melting point crystalline frit glass according to the present invention reduces the temperature of the sealing process by about 20 ° C. or more and shortens the heat treatment time, thereby shortening the speed of the production process, resulting in a much lower production cost.
한편, 본 발명의 또 다른 실시예(제 2 실시예)를 아래의 도표 4를 참조하여 설명한다.Meanwhile, another embodiment (second embodiment) of the present invention will be described with reference to Table 4 below.
본 발명에 따른 제 2 실시예는 산화납(PbO) 일부와 산화바륨(BaO) 대신에 무알카리계 폐유리를 대치시켜 상기한 [1]∼[6]까지의 원재료 조성범위에서 원료를 배합 조성하되, 아래의 도표 4에 도시되어 있는 S-3 또는 S-4의 유리조성비와 같이 원료를 배합한 뒤, 이를 30분이상 혼련기에서 충분히 혼합시킨 후 알루미나(Alumina) 도가니에 담고서는 이를 다시 전기로에 넣고 약 950∼1000??의 온도범위내에서 1시간 정도 용융시켜서 균질한 용융물을 만든다.According to the second embodiment of the present invention, a raw material is blended in the raw material composition range of [1] to [6] by replacing an alkali-free waste glass instead of a part of lead oxide (PbO) and barium oxide (BaO). However, after mixing the raw materials with the glass composition ratio of S-3 or S-4 shown in Table 4 below, and mixing them in a kneading machine for at least 30 minutes, put them in an alumina crucible and then again And melt for about 1 hour in the temperature range of about 950-1000 ?? to form a homogeneous melt.
즉, 아래의 도표 4에서 보는 바와 같이 산화납(PbO), 폐유리, 산화붕소(B2O3), 산화아연(ZnO), 산화규소(SiO2),산화티탄(TiO2), 산화안티몬(Sb2O3) 등의 원료를 조합하여 충분히 혼합시키고 알루미나(Alumina) 도가니에 이러한 조성물의 원료를 담은 뒤, 약 900∼1000℃로 설정된 전기가마에서 충분히 용융시킨 상태에서 수중 급냉시켜 봉착용 프리트 유리를 만든다.That is, as shown in Table 4 below, lead oxide (PbO), waste glass, boron oxide (B 2 O 3 ), zinc oxide (ZnO), silicon oxide (SiO 2 ), titanium oxide (TiO 2 ), antimony oxide Raw materials such as (Sb 2 O 3 ) are sufficiently mixed, and the raw materials of such compositions are contained in an alumina crucible, and then quenched in water while sufficiently melted in an electric kiln set at about 900 to 1000 ° C. to seal the frit. Make glass.
〈도표 4 ; 핵형성제와 무알카리계 폐유리를 투입한 제 2 실시예의 유리조성비〉<Table 4; Glass Composition Ratio of Example 2 Incorporating Nucleating Agent and Alkali Waste Glass>
이처럼 제 2 실시예의 경우, 산화납(PbO) 일부와 산화바륨(BaO) 대신에 무알카리계 폐유리를 대치시킨 결과, 용융속도가 빠르고 결정화 후 열팽창계수가 전술한 도표 3에서 보듯이 S-1 및 S-2의 경우보다 3 내지 5 정도가 낮아졌다. 따라서 값이 비싼 산화납(PbO)과 산화바륨BaO)의 원료가 줄어든 관계로 원료 코스트 비용이 제법 낮아질 것으로 평가된다. 그리고 상기한 제 2 실시예의 제조방법은 전술한 제 1 실시예와 동일하다. 다만, 결정화 조건을 약 430??의 온도에서 10∼15분간 처리한 결과, 열팽창 계수가 일치하면서도 충분한 연화 결정화가 되었음을 확인하였다.As described above, in the case of the second embodiment, as a result of substituting part of lead oxide (PbO) and non-alkali-based waste glass instead of barium oxide (BaO), the melting rate is high and the coefficient of thermal expansion after crystallization is shown in Table 3 above. And about 3 to 5 lower than in the case of S-2. Therefore, the cost of raw material costs is expected to be lowered due to the reduction of raw materials of expensive lead oxide (PbO) and barium oxide BaO. The manufacturing method of the second embodiment is the same as that of the first embodiment. However, as a result of treating the crystallization conditions at a temperature of about 430 ° for 10 to 15 minutes, it was confirmed that sufficient softening crystallization was achieved while the thermal expansion coefficient was identical.
또한 제 2 실시예를 통해 얻은 조성물을 전자 현미경(SEM)으로 분석해 본 결과, 도 2에서와 같이 유리질 막(glass matrix)내에 성장이 우수하고 균일한 것으로 판명되었으며, 또 도표 3에서 보는 바와 같이 물성치도 매우 우수한 것으로 나타나고 있다. 참고로 도표 3에서는 제 2 실시예를 통해 얻은 각 시편들의 열적특성 및 물성치도 함께 도시되어져 있음을 첨언한다.In addition, as a result of analyzing the composition obtained by the second embodiment with an electron microscope (SEM), it was found that the growth in the glass matrix (excellent) and uniform as shown in Figure 2, and as shown in Table 3 It is also shown to be very good. For reference, Table 3 also shows the thermal properties and physical properties of each specimen obtained through the second embodiment.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 저융점 결정성 봉착용 프리트유리는 기존의 과도한 산화납(PbO)의 함량을 산화바륨(BaO)과 무 알카리계 폐유리로 대체함으로써 연화 및 결정화 시간이 단축되어 열처리 시간을 종래보다 절반 이상줄일 수 있고, 특히 제 2 실시예에서 보는 바처럼 저가의 무 알카리계 폐유리를 사용함으로써 원료 코스트를 절감할 수 있는 이점까지도 있다. 그리고 평판 디스플레이 (PDP sealing) 및 반도체 패키지(package) 등을 봉착하는데 사용되는 저융점 결정성 프리트 유리에도 적합하게 이용될 수 있는, 유용한 효과가 있다 할 것이다.As described above, the low melting point crystalline sealing frit glass according to the present invention replaces the existing excessive content of lead oxide (PbO) with barium oxide (BaO) and alkali-free waste glass, thereby shortening the softening and crystallization time. The heat treatment time can be reduced by more than half, and in particular, as shown in the second embodiment, there is an advantage of reducing the raw material cost by using an inexpensive alkali free waste glass. In addition, there will be a useful effect that can be suitably used for low melting point crystalline frit glass used for sealing a flat panel display (PDP sealing), a semiconductor package (package) and the like.
본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하며, 따라서 그러한 변형예 또는 수정예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 해야 할 것이다.It is apparent to those skilled in the art that the present invention is not limited to the described embodiments and that various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention, and therefore such modifications or Modifications should be within the scope of the claims of the present invention.
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