KR20010020971A - 기판처리장치 - Google Patents
기판처리장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20010020971A KR20010020971A KR1020000031750A KR20000031750A KR20010020971A KR 20010020971 A KR20010020971 A KR 20010020971A KR 1020000031750 A KR1020000031750 A KR 1020000031750A KR 20000031750 A KR20000031750 A KR 20000031750A KR 20010020971 A KR20010020971 A KR 20010020971A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- precooling
- cooling
- conveying
- processing
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 84
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 98
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 20
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 5
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 claims 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract description 103
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 17
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000009098 adjuvant therapy Methods 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
Claims (23)
- 기판처리장치에 있어서,기판에 처리액을 공급하여 처리하는 액처리장치와,기판을 소정 온도로까지 냉각처리하는 냉각처리장치와,기판을 가열처리하는 가열처리장치와,기판을 소정의 온도로까지 냉각처리하기 전에 당해 기판을 냉각하는 프리냉각장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,기판을 반송하는 제 1 반송장치, 제 2 반송장치 및 제 3 반송장치를 갖추고,상기 제 1 반송장치는, 가열처리장치와 프리냉각장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,상기 제 2 반송장치는, 액처리장치와 냉각처리장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,상기 제 3 반송장치는, 프리냉각장치와 냉각장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,기판을 반송하는 제 1 반송장치, 제 2 반송장치를 갖추고,상기 제 1 반송장치는, 가열처리장치와 프리냉각장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,상기 제 2 반송장치는, 액처리장치와 냉각처리장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,또한, 상기 제 1 반송장치 및 상기 제 2 반송장치 중의 적어도 하나가 프리냉각장치와 냉각장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,기판을 반송하는 제 1 반송장치, 제 2 반송장치 및 제 3 반송장치를 갖추고,상기 제 1 반송장치를 사이에 두고 가열처리장치와 프리냉각장치가 배치되고,상기 제 2 반송장치를 사이에 두고 액처리장치와 냉각처리장치가 배치되고,또한, 상기 제 1 반송장치는 가열처리장치와 프리냉각장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,상기 제 2 반송장치는 액처리장치와 냉각처리장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,상기 제 3 반송장치는 프리냉각장치와 냉각처리장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,기판을 반송하는 제 1 반송장치, 제 2 반송장치를 갖추고,상기 제 1 반송장치를 사이에 두고 가열처리장치와 프리냉각장치가 배치되고,상기 제 2 반송장치를 사이에 두고 액처리장치와 냉각처리장치가 배치되고,상기 가열장치와 상기 액처리장치와의 사이에 프리냉각장치와 냉각처리장치가 배치되고,상기 제 1 반송장치는 가열처리장치와 프리냉각장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,상기 제 2 반송장치는 액처리장치와 냉각처리장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되고,또한, 상기 제 1 반송장치 및 상기 제 2 반송장치 중의 적어도 어느 하나가 프리냉각장치와 냉각처리장치와의 사이에서 기판을 반송하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치는, 냉각처리장치의 상부에 적층되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치는, 기판을 지지할 수 있는 지지부재를 갖추는 평면판인 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 7에 있어서,상기 지지부재가 복수의 지지핀을 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 7에 있어서,상기 지지부재가 기판의 중앙부 및 그 근방을 지지하는 지지면을 가지는 지지체를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치는, 기판의 열을 방열하는 방열기구를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치는, 기판을 향하여 송풍하는 팬을 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치는, 기판을 향하여 냉각용 기체를 분출하는 기체분출부를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 12에 있어서,상기 냉각용 기체가 불활성기체를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치가, 상기 프리냉각장치 내를 강제적으로 배기하는 배기기구를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 프리냉각장치가 복수의 단으로 적층되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 15에 있어서,상기 복수의 단으로 적층된 프리냉각장치 중, 상단의 프리냉각장치로부터 기판을 반입하도록 제어하는 수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 15에 있어서,상기 복수의 단으로 적층된 프리냉각장치 중, 하단의 프리냉각장치로부터 기판을 반입하도록 제어하는 수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 15에 있어서,상기 복수의 단으로 적층된 프리냉각장치 중, 이미 기판이 반입되어 있는 프리냉각장치로부터 떨어진 위치의 프리냉각장치로 기판을 반입하도록 제어하는 수단을 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 기판처리장치에 있어서,기판에 처리액을 공급하여 처리하는 액처리장치가 배치된 제 1 영역과,기판을 가열처리하는 가열처리장치가 배치된 제 2 영역과,기판을 소정의 온도로까지 냉각처리하는 냉각처리장치와 기판을 소정 온도로까지 냉각처리하기 전에 당해 기판을 냉각하는 프리냉각장치가 적층배치된 제 3 영역과,제 1 영역과 제 2 영역과의 사이에 배치된 기판반송장치와,상기 제 2 영역과 제 3 영역과의 사이에 배치된 제 2 기판반송장치, 상기 액처리장치, 상기 냉각처리장치, 상기 가열처리장치 및 상기 프리냉각장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 19에 있어서,상기 제 2 영역에 다운 플로우(down flow)의 청정에어를 공급하는 에어공급부를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 20에 있어서,상기 프리냉각장치가 상기 청정에어를 상기 프리냉각장치 내에 도입하기 위한 도입부재를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 21에 있어서,상기 프리냉각장치가 복수의 단으로 적층배치되고, 하단의 상기 프리냉각장치의 상기 도입부재가 상단의 상기 프리냉각장치의 상기 도입부재보다 평면적으로 돌출되어 있는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
- 청구항 19에 있어서,상기 제 2 영역의 온도를 검출하는 온도센서와,상기 온도센서에 의한 검출결과에 의거하여 상기 에어공급부로부터 공급되는 청정에어의 공급량을 제어하는 제어부를 갖추는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP99-165099 | 1999-06-11 | ||
JP16509999 | 1999-06-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010020971A true KR20010020971A (ko) | 2001-03-15 |
KR100618108B1 KR100618108B1 (ko) | 2006-08-30 |
Family
ID=15805882
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000031750A KR100618108B1 (ko) | 1999-06-11 | 2000-06-09 | 기판처리장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6464789B1 (ko) |
KR (1) | KR100618108B1 (ko) |
TW (1) | TW451274B (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100776890B1 (ko) * | 2005-02-17 | 2007-11-19 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 반도체 제조 장치 및 반도체 제조 방법 |
KR100929815B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2009-12-07 | 세메스 주식회사 | 냉각 장치 및 이를 이용한 기판 냉각 방법 |
KR101026204B1 (ko) * | 2004-04-22 | 2011-03-31 | 고요 써모시스템 주식회사 | 표시용 패널 냉각 장치 |
KR101036898B1 (ko) * | 2010-03-03 | 2011-05-25 | 김근배 | 환경폐기물발생이 없는 시스템 붙박이장 |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10103253A1 (de) * | 2001-01-25 | 2002-08-01 | Leica Microsystems | Verfahren und Anordnung zum Transportieren und Inspizieren von Halbleitersubstraten |
JP3832292B2 (ja) * | 2001-08-31 | 2006-10-11 | 株式会社ダイフク | 荷保管設備 |
JP2004281475A (ja) * | 2003-03-12 | 2004-10-07 | Seiko Epson Corp | 枚葉搬送装置および枚葉搬送方法 |
JP4280159B2 (ja) * | 2003-12-12 | 2009-06-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
US7798764B2 (en) | 2005-12-22 | 2010-09-21 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing sequence in a cartesian robot cluster tool |
US7819079B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-10-26 | Applied Materials, Inc. | Cartesian cluster tool configuration for lithography type processes |
US7651306B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-01-26 | Applied Materials, Inc. | Cartesian robot cluster tool architecture |
US7396412B2 (en) * | 2004-12-22 | 2008-07-08 | Sokudo Co., Ltd. | Coat/develop module with shared dispense |
US7699021B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-04-20 | Sokudo Co., Ltd. | Cluster tool substrate throughput optimization |
US7654010B2 (en) * | 2006-02-23 | 2010-02-02 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing system, substrate processing method, and storage medium |
JP4614455B2 (ja) * | 2006-04-19 | 2011-01-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送処理装置 |
JP2008135440A (ja) * | 2006-11-27 | 2008-06-12 | Toshiba Corp | 半導体製造装置および半導体製造方法 |
KR100847888B1 (ko) * | 2006-12-12 | 2008-07-23 | 세메스 주식회사 | 반도체 소자 제조 장치 |
KR100782540B1 (ko) | 2006-12-13 | 2007-12-06 | 세메스 주식회사 | 기판 이송 장치 |
US7694688B2 (en) | 2007-01-05 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Wet clean system design |
US20080166210A1 (en) * | 2007-01-05 | 2008-07-10 | Applied Materials, Inc. | Supinating cartesian robot blade |
US7950407B2 (en) | 2007-02-07 | 2011-05-31 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for rapid filling of a processing volume |
US20080292433A1 (en) * | 2007-05-11 | 2008-11-27 | Bachrach Robert Z | Batch equipment robots and methods of array to array work-piece transfer for photovoltaic factory |
US20080279672A1 (en) * | 2007-05-11 | 2008-11-13 | Bachrach Robert Z | Batch equipment robots and methods of stack to array work-piece transfer for photovoltaic factory |
JP5006122B2 (ja) | 2007-06-29 | 2012-08-22 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5128918B2 (ja) | 2007-11-30 | 2013-01-23 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5179170B2 (ja) | 2007-12-28 | 2013-04-10 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5001828B2 (ja) | 2007-12-28 | 2012-08-15 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP2010182906A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
JP4880004B2 (ja) | 2009-02-06 | 2012-02-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム |
JP5060517B2 (ja) * | 2009-06-24 | 2012-10-31 | 東京エレクトロン株式会社 | インプリントシステム |
JP2011009362A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Tokyo Electron Ltd | インプリントシステム、インプリント方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 |
JP2012243335A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Sony Corp | ディスク搬送装置及びディスクストレージシステム |
US11254154B1 (en) * | 2021-06-30 | 2022-02-22 | CreateMe Technologies LLC | Garment personalization with autonomous robots |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02196414A (ja) * | 1989-01-25 | 1990-08-03 | Fujitsu Ltd | レジスト処理装置 |
DE634699T1 (de) * | 1993-07-16 | 1996-02-15 | Semiconductor Systems Inc | Gruppiertes fotolithografisches System. |
JP3033009B2 (ja) * | 1994-09-09 | 2000-04-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
US5620560A (en) * | 1994-10-05 | 1997-04-15 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for heat-treating substrate |
JPH1074818A (ja) * | 1996-09-02 | 1998-03-17 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH1079372A (ja) * | 1996-09-03 | 1998-03-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置 |
KR19980053396A (ko) * | 1996-12-26 | 1998-09-25 | 문정환 | 반도체 제조방법 |
JP2000040731A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-08 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
US6287025B1 (en) * | 1998-08-14 | 2001-09-11 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus |
JP3851751B2 (ja) * | 1999-03-24 | 2006-11-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理システム |
-
2000
- 2000-06-08 TW TW089111155A patent/TW451274B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-06-08 US US09/589,404 patent/US6464789B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-06-09 KR KR1020000031750A patent/KR100618108B1/ko active IP Right Grant
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101026204B1 (ko) * | 2004-04-22 | 2011-03-31 | 고요 써모시스템 주식회사 | 표시용 패널 냉각 장치 |
KR100776890B1 (ko) * | 2005-02-17 | 2007-11-19 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 반도체 제조 장치 및 반도체 제조 방법 |
KR100929815B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2009-12-07 | 세메스 주식회사 | 냉각 장치 및 이를 이용한 기판 냉각 방법 |
KR101036898B1 (ko) * | 2010-03-03 | 2011-05-25 | 김근배 | 환경폐기물발생이 없는 시스템 붙박이장 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW451274B (en) | 2001-08-21 |
US6464789B1 (en) | 2002-10-15 |
KR100618108B1 (ko) | 2006-08-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100618108B1 (ko) | 기판처리장치 | |
US20230042033A1 (en) | Substrate treating apparatus | |
US7549811B2 (en) | Substrate treating apparatus | |
JP5318403B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP3779393B2 (ja) | 処理システム | |
US8375884B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
KR20090031823A (ko) | 상압 건조장치 및 기판처리장치 및 기판처리방법 | |
JP4083371B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP3441681B2 (ja) | 処理装置 | |
JP6656305B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP5442890B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP5572666B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP2001168167A (ja) | 処理システム及び処理方法 | |
JP5608148B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP6557647B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP6049929B2 (ja) | 基板処理方法 | |
JP5466728B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP6209554B2 (ja) | 基板処理方法 | |
JP2012165025A (ja) | 基板処理装置 | |
JP5442889B2 (ja) | 基板処理装置 | |
KR20020072202A (ko) | 처리장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120802 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130801 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140808 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150716 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160721 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170720 Year of fee payment: 12 |