KR20000062543A - 반도체 메모리용 계층적 사전 추출 - Google Patents
반도체 메모리용 계층적 사전 추출 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20000062543A KR20000062543A KR1020000006379A KR20000006379A KR20000062543A KR 20000062543 A KR20000062543 A KR 20000062543A KR 1020000006379 A KR1020000006379 A KR 1020000006379A KR 20000006379 A KR20000006379 A KR 20000006379A KR 20000062543 A KR20000062543 A KR 20000062543A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- semiconductor memory
- data rate
- data
- extraction
- bit
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1039—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using pipelining techniques, i.e. using latches between functional memory parts, e.g. row/column decoders, I/O buffers, sense amplifiers
Landscapes
- Dram (AREA)
Abstract
Description
Claims (23)
- 반도체 메모리에 있어서,각 단계들이 다른 단계들과 서로 다른 비트 데이타율을 포함하는 다수의 계층적 단계들을 가지는 데이타 경로를 포함하며,상기 단계들 사이에 배치되며, 데이타 비트들을 수신하여 계층상 다음 단계가 데이타 비트를 수신할 수 있을 때까지 데이타 비트들을 저장하며, 단계들 사이의 전체 데이타율이 실질적으로 동일하도록 상기 단계들 사이에 배치되는 적어도 두개의 사전 추출 회로를 포함하며, 그리고,사전 추출 회로가 단계들 사이에서 전체 데이타율을 유지하도록 적어도 두개의 래치를 제어하는 제어 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제 1 항에 있어서, 상기 사전 추출 회로는 8비트 깊이를 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제 1 항에 있어서, 상기 다수의 단계들은 계층상 낮은 제 1 단계와 계층상 높은 제 2 단계를 포함하며, 그 사이에 상기 제 1 단계의 비트 데이타율을 상기 제 2 단계의 비트 데이타율로 나눈 몫을 가장 가까운 정수값으로 라운드 업(round up)한 값 이상의 깊이를 가지는 사전 추출 회로를 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제 1 항에 있어서, 상기 단계들은 센스 증폭기와 FIFO(first-in/first-out)중 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제 1 항에 있어서, 상기 전체 데이타율은 초당 400메가비트 이상인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제 1 항에 있어서, 상기 계층적 단계들은 메모리셀의 어레이와 판독/기록 드라이버상의 계층적인 데이타 라인으로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 제 1 항에 있어서, 단계들 사이의 상기 전체 데이타율은 사전 추출 깊이와 상기 단계의 비트 데이타율을 곱하여 계산되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리.
- 반도체 메모리 칩에 있어서,각기 하나의 홀수 콜롬과 하나의 짝수 콜롬의 메모리 셀들을 포함하는 4개의 쿼드런트로 각각 구성된 섹션들을 가지는 메모리 어레이를 포함하며,메모리 데이타를 전송하는 국부 데이타 라인들을 포함하며 각각의 쿼드런트와 관련된 데이타 경로를 포함하는데, 상기 국부 데이타 라인들은 제 1 센스 증폭기를 포함하는 제 1 단계에 결합되며, 상기 제 1 단계는 마스터 데이타 라인에 의해 제 2 센스 증폭기를 포함하는 제 2 단계에 결합되며, 상기 제 2 단계는 판독/기록 드라이버 라인에 의해 FIFO/오프 칩 드라이버 회로를 포함하는 제 3 단계에 결합되며, 상기 FIFO/오프 칩 드라이버 회로는 입/출력 핀에 결합되며,데이타 경로를 통하여 전송되는 데이타에 사전 추출 기능을 제공하기 위해 단계들내에 배치되며, 데이타 비트들을 수신하여 데이타 경로의 다음 단계가 데이타 비트들을 수신할 수 있을 때까지 데이타 비트들을 저장하며, 단계들 사이의 데이타율이 원하는 단계당 데이타율과 실질적으로 동일해지도록 상기 단계들과 관련되는 적어도 두개의 래치 회로를 포함하며, 그리고,단계들 사이의 데이타율을 유지하기 위해 사전 추출 기능이 제공되도록 적어도 두개의 래치 회로를 제어하는 제어 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 래치 회로는 8비트 사전 추출 깊이를 제공하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩
- 제 9 항에 있어서, 상기 사전 추출 깊이가 제 2 단계에 4비트로, 제 3 단계에 2비트로 분배되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 9 항에 있어서, 상기 사전 추출 깊이가 제 1 단계, 제 2 단계 및 제 3 단계에 각각 2비트로 분배되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 사전 추출 깊이가 한 단계의 비트 데이타율을 다른 단계의 비트 데이타율로 나눈 몫을 가장 가까운 정수값으로 라운드 업(round up)한 값 이상인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 반도체 메모리 칩은 초당 400 메가 비트 이상의 전체 데이타율을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 제어 신호는 정확한 버스트 시퀀스로 단계들 사이에 데이타를 전송하기 위한 포인터 신호들을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 반도체 메모리 칩은 동기 DRAM 칩, 램버스 DRAM 칩 및 싱크 링크 DRAM 칩중 하나인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 제 2 단계는 제 2 단계를 인에이블 시키는 스위치들을 포함하며, 상기 제어 신호는 상기 스위치들을 가동 및 해제하는 포인터 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 제 3 단계는 제 3 단계를 인에이블 시키는 스위치들을 포함하며, 상기 제어 신호는 상기 스위치들을 가동 및 해제하는 제어 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 제 1 단계의 비트 데이타율이 비트당 약 20ns인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 제 2 단계의 비트 데이타율이 비트당 약 10ns 와 비트당 약 20ns 사이인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 제 3 단계의 비트 데이타율이 비트당 약 5ns인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 제어 신호를 발생시키는 연속적인 번지를 제공하기 위해, 짝수 또는 홀수 시작 번지로부터 번지들을 증가시키는 제어 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 제어 신호를 발생시키는 인터리빙된 번지를 제공하기 위해, 짝수 또는 홀수 시작 번지로부터 번지들을 조직화하는 제어 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
- 제 8 항에 있어서, 상기 단계들 사이의 전체 데이타율이 사전 추출 깊이와 단계에 대한 비트 데이타율을 곱하여 계산되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 칩.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11971399P | 1999-02-11 | 1999-02-11 | |
US60/119,713 | 1999-02-11 | ||
US09/333,539 US6081479A (en) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | Hierarchical prefetch for semiconductor memories |
US9/333,539 | 1999-06-15 | ||
US09/333,539 | 1999-06-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20000062543A true KR20000062543A (ko) | 2000-10-25 |
KR100393465B1 KR100393465B1 (ko) | 2003-08-06 |
Family
ID=26817618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0006379A KR100393465B1 (ko) | 1999-02-11 | 2000-02-11 | 반도체 메모리용 계층적 사전 추출 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1028427B1 (ko) |
JP (1) | JP2000251468A (ko) |
KR (1) | KR100393465B1 (ko) |
CN (1) | CN1279541C (ko) |
DE (1) | DE60035630T2 (ko) |
TW (1) | TW495763B (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100578233B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2006-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식메모리장치의 데이터 입출력 가변제어장치 |
KR100490657B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2005-05-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 |
JP2002304886A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP4607444B2 (ja) * | 2002-11-18 | 2011-01-05 | 三星電子株式会社 | 半導体装置、データ検索回路、メモリセルアレイ判読方法、およびデータ検索方法 |
KR100510512B1 (ko) | 2002-11-18 | 2005-08-26 | 삼성전자주식회사 | 이중 데이터율 동기식 반도체 장치의 데이터 출력 회로 및그 방법 |
KR100861854B1 (ko) * | 2003-11-06 | 2008-10-07 | 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 | 반도체 기억 장치 및 그 버스트 동작 방법 |
US7358872B2 (en) * | 2005-09-01 | 2008-04-15 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for converting parallel data to serial data in high speed applications |
US7613883B2 (en) * | 2006-03-10 | 2009-11-03 | Rambus Inc. | Memory device with mode-selectable prefetch and clock-to-core timing |
CN109872743A (zh) * | 2019-03-19 | 2019-06-11 | 济南德欧雅安全技术有限公司 | 一种基础工艺存储器 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60175293A (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-09 | Toshiba Corp | 半導体メモリ |
DE3543911A1 (de) * | 1984-12-14 | 1986-06-26 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Digitale verzoegerungseinheit |
JPH02500697A (ja) * | 1987-06-02 | 1990-03-08 | ヒューズ・エアクラフト・カンパニー | パイプラインメモリ構造 |
JPH08212778A (ja) * | 1995-02-09 | 1996-08-20 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置およびそのデータ読出方法 |
JPH08221978A (ja) * | 1995-02-13 | 1996-08-30 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP3351692B2 (ja) * | 1995-09-12 | 2002-12-03 | 株式会社東芝 | シンクロナス半導体メモリ装置 |
JPH09223389A (ja) * | 1996-02-15 | 1997-08-26 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
US5784705A (en) * | 1996-07-15 | 1998-07-21 | Mosys, Incorporated | Method and structure for performing pipeline burst accesses in a semiconductor memory |
-
2000
- 2000-01-22 EP EP00101322A patent/EP1028427B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-01-22 DE DE60035630T patent/DE60035630T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-02-10 JP JP2000034052A patent/JP2000251468A/ja not_active Withdrawn
- 2000-02-11 KR KR10-2000-0006379A patent/KR100393465B1/ko active IP Right Grant
- 2000-02-12 CN CNB001023217A patent/CN1279541C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2000-04-26 TW TW089102205A patent/TW495763B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1279541C (zh) | 2006-10-11 |
DE60035630D1 (de) | 2007-09-06 |
KR100393465B1 (ko) | 2003-08-06 |
JP2000251468A (ja) | 2000-09-14 |
CN1263347A (zh) | 2000-08-16 |
TW495763B (en) | 2002-07-21 |
DE60035630T2 (de) | 2008-02-07 |
EP1028427A1 (en) | 2000-08-16 |
EP1028427B1 (en) | 2007-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6151271A (en) | Integrated circuit memory devices having data selection circuits therein which are compatible with single and dual rate mode operation and methods of operating same | |
US5883855A (en) | High speed semiconductor memory with burst mode | |
US8601231B2 (en) | Semiconductor memory asynchronous pipeline | |
US7911862B2 (en) | Latency control circuit and method thereof and an auto-precharge control circuit and method thereof | |
KR100246868B1 (ko) | 디램 시스템, 디램 시스템의 동작 방법 | |
US7558127B2 (en) | Data output circuit and method in DDR synchronous semiconductor device | |
JP4870122B2 (ja) | デバイスのタイミングを補償する装置及び方法 | |
US6081479A (en) | Hierarchical prefetch for semiconductor memories | |
US20060161745A1 (en) | Methods of operating memory systems including memory devices set to different operating modes and related systems | |
KR100362193B1 (ko) | 디디알 동기식 메모리 장치의 데이터 출력 장치 | |
KR100623801B1 (ko) | 반도체 메모리 비동기식 파이프라인 | |
KR19980079560A (ko) | 준동기적 디램 회로 | |
KR100393465B1 (ko) | 반도체 메모리용 계층적 사전 추출 | |
KR100430658B1 (ko) | Cas 레이턴시가 1 동작과 cas 레이턴시가 2 이상인동작을 양립시키는 것이 가능한 반도체 기억 장치 | |
US6771557B2 (en) | Predecode column architecture and method | |
KR100341343B1 (ko) | 고속 액세스가 가능한 다이렉트형 감지 증폭기를 구비한 반도체 메모리 | |
KR100532444B1 (ko) | N 비트 프리패치 구조로 2n 비트 프리패치 스킴을구현하는 메모리 장치 및 이 메모리 장치의 2n 비트프리패치 방법 및 자동 프리차아지 방법 | |
KR20200119669A (ko) | 반도체장치 | |
KR0172427B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 확장된 데이타 출력을 갖는 쿼드 카스 모드 제어회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130711 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140711 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150709 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160630 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170630 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180629 Year of fee payment: 16 |