KR20000054963A

KR20000054963A - Ｐｃｂ검사장치 및 ｐｃｂ검사방법

Info

Publication number: KR20000054963A
Application number: KR1019990003357A
Authority: KR
Inventors: 박상곤
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1999-02-02
Filing date: 1999-02-02
Publication date: 2000-09-05

Abstract

본 발명은, 본 발명은 PCB검사장치 및 PCB검사방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 PCB검사장치는, 검사대상 PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 갖는 픽스쳐를 포함하며, 특히, 상기 PCB를 사이에 두고 상기 픽스쳐의 대향측에 배치되어 상기 PCB상에 자기장을 형성시키는 자기장발생부와; 상기 자기장에 의해 상기 테스트핀에 유기되는 전압을 계측하는 전압계측부와; 상기 전압계측부의 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 오류판단부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 테스트핀의 각 접점부에 대한 접촉여부를 정확하게 판별할 수 있다.

Description

ＰＣＢ검사장치 및 ＰＣＢ검사방법{PCB INSPECTION APPRATUS AND METHOD}

본 발명은, PCB검사장치 및 PCB검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 테스트핀과 PCB의 각 접점부의 접촉여부를 신속하고 정확하게 판별할 수 있도록 한 PCB검사장치 및 PCB검사방법에 관한 것이다.

일반적으로 PCB검사장치는 PCB상의 회로소자의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 가진 픽스쳐를 구비하고 있다. PCB검사장치는 PCB상의 특정 회로소자에 신호를 인가하고 회로소자로부터의 신호값을 다시 측정한 다음 소정의 기준값과 측정된 신호값을 비교함으로써, 특정 회로소자의 양, 불량을 검사하게 된다. 이러한 PCB검사장치에 있어서는 테스트핀과 각 접점부의 접촉여부가 중요하게 되며, PCB검사장치의 검사에 앞서 각 테스트핀의 각 접점부에 대한 접촉여부를 검사하게 된다.

도 3은 종래의 PCB검사장치의 테스트핀의 접촉검사방법을 설명하기 위한 개략적 도면이다. 도시된 바와 같이, 검사대상 PCB(101)는 소정의 회로가 인쇄된 기판(102)과, 기판(102)에 땜납 등의 방법에 의해 결합되는 복수의 회로소자(103)를 가진다. 기판(102)의 일표면에는 각 회로소자(103)의 접점부(105)가 형성되어 있다.

PCB검사장치는 각 회로소자(103)의 접점부(105)에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀(109)과 이들 테스트핀(109)을 지지하는 지지체(108)를 갖는 픽스쳐(107)와, 각 테스트핀(109)에 신호선(111)으로 연결되는 핀선택부(113)와, 핀선택부(113)에 연결되어 선택된 테스트핀(109)간의 임피던스를 측정하는 임피던스측정부(115)와, 각 회로소자(103)의 양, 불량을 검사하는 검사부(117)를 구비하고 있다.

이러한 구성에 의하여, 각 테스트핀(109)의 접촉여부를 검사할 경우, 핀선택부(113)에 의해 특정 회로소자(103)의 접점부(105)에 접촉된 테스트핀(109)이 선택되면, 임피던스측정부(115)는 선택된 테스트핀(109)간의 임피던스를 측정한다. 이 때, 측정된 임피던스값이 소정의 기준값보다 작은 경우, 선정된 테스트핀(109)의 접촉상태는 양호한 것으로 판단한다.

그런데, 이러한 종래의 PCB검사장치의 테스트핀 접촉검사방법에 있어서는, 특정 회로소자가 PCB상에 결합되지 않은 경우에도 테스트핀이 해당 회로소자의 접점부에 접촉되지 않은 접촉불량으로 판단하게 되어 검사결과의 신뢰도가 저하되는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은, 테스트핀과 PCB의 접점부의 접촉여부를 정확하게 판별할 수 있어 검사결과의 신뢰도를 향상시킬 수 있는 PCB검사장치 및 PCB검사방법을 제공하는 것이다.

도 1은 본 발명에 따른 PCB검사장치의 개략적인 구성도,

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 PCB검사방법을 설명하기 위한 순서도,

도 3은 종래의 PCB검사장치의 테스트핀의 접촉검사방법을 설명하기 위한 개략적 도면이다.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

1 : PCB 3 : 회로소자

5 : 접점부 7 : 픽스쳐

9 : 테스트핀 11 : 신호선

13 : 자기장발생부 15 : 코일

17 : 정현파발생부 19 : 핀선택부

21 : 전압계측부 23 : 오류판단부

25 : 검사부 27 : 표시부

상기 목적은, 본 발명에 따라, 검사대상 PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 갖는 픽스쳐를 포함하는 PCB검사장치에 있어서, 상기 PCB를 사이에 두고 상기 픽스쳐의 대향측에 배치되어 상기 PCB상에 자기장을 형성시키는 자기장발생부와; 상기 자기장에 의해 상기 테스트핀에 유기되는 전압을 계측하는 전압계측부와; 상기 전압계측부의 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 오류판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치에 의해 달성된다.

여기서, 상기 자기장발생부는 상기 PCB를 관통하는 자속을 발생시키도록 배치되는 코일과, 상기 코일에 정현파의 전원을 인가하는 정현파발생부를 포함하는 것이 바람직하다.

그리고, 상기 오류는 상기 테스트핀과 상기 접점부의 접촉여부를 포함하는 것이 효과적이다.

또한, 상기 PCB의 각 회로소자의 양,불량을 검사하는 검사부를 더 포함하도록 하며, 상기 각 테스트핀에 연결되어 계측될 테스트핀을 선택하는 핀선택부를 더 포함하는 것이 바람직하다.

상기 오류판단부의 판단결과를 외부에 표시하는 표시부를 더 포함하는 것이 효과적이다.

한편, 본 발명의 다른 분야에 따르면, 검사대상 PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 갖는 픽스쳐를 사용한 PCB검사방법에 있어서, 상기 테스트핀과 상기 PCB의 접점부를 접촉시키는 단계와; 상기 픽스쳐의 대향측으로부터 상기 PCB를 관통하도록 자기장을 발생시키는 단계와; 상기 자기장에 의해 상기 테스트핀에 유기된 전압을 계측하는 단계와; 상기 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사방법이 제공된다.

여기서, 상기 전압을 계측하는 단계전에 테스트핀을 선택하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.

그리고, 상기 오류를 판단하는 단계는 상기 테스트핀의 상기 접점부에 대한 접촉여부를 판단하는 단계를 더 포함하는 것이 효과적이다.

상기 오류를 판단하는 단계후 판단결과를 외부에 표시하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명에 따른 PCB검사장치의 개략적인 구성도이다. 도시된 바와 같이, PCB(1)는 기판(2)과, 기판(2)에 땜납 등에 의해 결합되는 복수의 회로소자(3)를 가진다. 기판(2)의 일표면에는 각 회로소자(3)의 접점부(5)가 형성되어 있다.

본 발명에 따른 PCB검사장치는, 검사대상 PCB(1)에 전기적으로 접촉되는 픽스쳐(7)와, PCB(1)를 사이에 두고 픽스쳐(7)와 대향배치되어 자기장을 발생시키는 자기장발생부(13)를 가진다.

자기장발생부(13)는 PCB(1)를 관통하는 자기장을 형성하도록 PCB(1)의 상측에 배치되는 코일(15)과, 코일(15)에 정현파의 전원을 인가하는 정현파발생부(17)를 가진다. 여기서, 코일(15)은 자기장이 PCB(1)의 전역을 관통할 수 있도록 충분한 크기로 형성되도록 하며 검사대상 PCB(1)와 적절한 거리를 유지할 수 있도록 한다.

픽스쳐(7)는 판상의 지지체(8)와, 지지체(8)를 관통하여 상호 이격배치되며 PCB(1)의 각 접점부(5)에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀(9)을 가진다. 각 테스트핀(9)은 신호선(11)에 의해 측정될 테스트핀(9)을 순서적으로 선택하는 핀선택부(19)에 연결되어 있다.

핀선택부(19)에는 자기장에 의해 각 테스트핀(9)에 유기된 전압을 계측하는 전압계측부(21)와, PCB(1)상의 각 회로소자(3)의 양, 불량을 검사하는 검사부(25)가 각각 연결되어 있다. 전압계측부(21)에는 전압계측부(21)의 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 오류판단부(23)가 연결되어 있으며, 이들 오류판단부(23) 및 검사부(25)에는 이들의 판단결과 및 검사결과를 소정의 형태로 외부에 표시하는 표시부(27)가 각각 연결되어 있다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 PCB검사방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도시된 바와 같이, 픽스쳐(7)의 각 테스트핀(9)에 각 접점부(5)가 상호 접촉되도록 검사대상 PCB(1)가 안착되면(S10), 도시 않은 제어부는 정현파발생부(17)를 제어하여 코일(15)에 전원이 인가되도록 하여 PCB(1)를 관통하는 자기장이 형성되도록 한다(S20).

그러면, 핀선택부(19)는 측정될 테스트핀(9)을 순서적으로 선택하고(S30), 전압계측부(21)는 자기장에 의해 테스트핀(9)에 유기된 전압을 계측한다(S40). 이 때, 오류판단부(23)는 전압계측부(21)로부터 계측된 해당 테스트핀(9)의 계측값과, 소정의 기준값을 상호 비교하고(S50), 테스트핀(9)의 접점부(5)에 대한 접촉여부를 판단하게 된다(S60).

한편, 이러한 순서에 의해 오류판단부(23)가 테스트핀(9)의 접촉여부를 판단하면, 제어부는 표시부(27)를 제어하여 그 결과를 외부에 표시되도록 한다. 그리고, 테스트핀(9)의 접촉검사가 완료되면, 핀선택부(19) 및 검사부(25)를 제어하여 PCB(1)상의 회로소자(3)의 양, 불량을 검사하도록 한다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 검사대상 PCB를 관통하도록 자기장을 형성하고, PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉된 테스트핀에 자기장에 의해 유기된 전압을 계측함으로써, 테스트핀의 각 접점부에 대한 접촉여부를 정확하게 판별할 수 있는 PCB검사장치 및 PCB검사방법이 제공된다.

Claims

검사대상 PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 갖는 픽스쳐를 포함하는 PCB검사장치에 있어서,

상기 PCB를 사이에 두고 상기 픽스쳐의 대향측에 배치되어 상기 PCB상에 자기장을 형성시키는 자기장발생부와;

상기 자기장에 의해 상기 테스트핀에 유기되는 전압을 계측하는 전압계측부와;

상기 전압계측부의 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 오류판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치.
제1항에 있어서,

상기 자기장발생부는 상기 PCB를 관통하는 자속을 발생시키도록 배치되는 코일과, 상기 코일에 정현파의 전원을 인가하는 정현파발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치.
제1항에 있어서,

상기 오류는 상기 테스트핀과 상기 접점부의 접촉여부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치.
제1항에 있어서,

상기 PCB의 각 회로소자의 양,불량을 검사하는 검사부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치.
제4항에 있어서,

상기 각 테스트핀에 연결되어 계측될 테스트핀을 선택하는 핀선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 오류판단부의 판단결과를 외부에 표시하는 표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사장치.
검사대상 PCB의 각 접점부에 전기적으로 접촉되는 복수의 테스트핀을 갖는 픽스쳐를 사용한 PCB검사방법에 있어서,

상기 테스트핀과 상기 PCB의 접점부를 접촉시키는 단계와;

상기 픽스쳐의 대향측으로부터 상기 PCB를 관통하도록 자기장을 발생시키는 단계와;

상기 자기장에 의해 상기 테스트핀에 유기된 전압을 계측하는 단계와;

상기 계측결과로부터 소정의 오류를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사방법.
제7항에 있어서,

상기 전압을 계측하는 단계전에 테스트핀을 선택하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사방법.
제7항에 있어서,

상기 오류를 판단하는 단계는 상기 테스트핀의 상기 접점부에 대한 접촉여부를 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사방법.
제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 오류를 판단하는 단계후 판단결과를 외부에 표시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB검사방법.