KR19980075055A - Bump Structure of Liquid Crystal Display - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정 표시 장치의 그로스 테스트에 관한 것으로, COG 방식의 LCD 패널을 그로스 테스트하기 위해서 게이트 및 데이터 라인들 단부에 형성되어 있는 각각의 범프들에서 게이트 및 데이터 라인들을 소정길이 연장하고 그 말단에 범프보다 면적이 큰 그로스 테스트용 범프들을 밀집시켜 형성함으로써, 그로스 테스트할 경우 구동 드라이브 IC 실장 영역과 범프 면적으로 인해 게이트 라인 및 데이터 라인에 형성되어 있는 범프들이 도전성 고무에 오접촉되는 것을 방지하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gross test of a liquid crystal display device, and in order to gross test a COG type LCD panel, gates and data lines are extended to predetermined lengths at respective bumps formed at the ends of the gate and data lines. By forming dense gross test bumps that are larger than the bumps, the bumps formed on the gate line and the data line are prevented from contacting the conductive rubber due to the drive drive IC mounting area and the bump area. Can improve the reliability.
Description
본 발명은 LCD 패널의 그로스 테스트(Gross Test)에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 게이트 라인 및 데이터 라인의 범프(bump)에서 게이트 라인 및 데이터 라인을 소정 길이 연장하여 그로스 테스트용 범프를 형성한 액정 표시 장치의 범프 구조에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gross test of an LCD panel, and more particularly, to a liquid crystal display in which bumps for gross test are formed by extending the gate lines and data lines by a predetermined length from bumps of the gate lines and data lines. It relates to the bump structure of the device.
일반적으로 그로스 테스트는 LCD 패널에 구동 드라이브 IC를 부착하기 전 LCD 패널의 픽셀(pixel) 상태를 확인하는 것으로, LCD 패널의 그로스 테스트 방법에는 주로 TAB(Tape Automated Bonding) 실장 방식에 적용되는 핀 콘택(pin contact) 방법과, COG(Chip on Glass) 방식에 적용되는 도전성 러버 콘택(rubber contact) 방법 등이 이용되고 있다.In general, the gross test checks the pixel state of the LCD panel before attaching the driving drive IC to the LCD panel. The gross test method of the LCD panel is mainly a pin contact method applied to a tape automated bonding (TAB) mounting method. A pin contact method, a conductive rubber contact method applied to a chip on glass (COG) method, and the like are used.
여기서, COG 방식이란, LCD 패널의 게이트 및 데이터 영역에 형성되어 있는 본딩 패드에 구동용 IC를 탑재하여 전기적으로 도통시키는 방식으로, 보통 이방성 도전 필름을 사용하여 구동용 IC를 본딩 패드에 접속시킨다. 이와 같이 COG 방식에 사용되는 IC는 TAB 방식에 필름 캐리어를 제거한 TAB 베어(bare)와 COG 전용 IC이다. 여기서, COG 방식 전용 IC의 제작이 어려워 보통 TAB 제어 IC가 사용된다.Here, the COG method is a method in which the driving IC is mounted on the bonding pads formed in the gate and data region of the LCD panel to be electrically conductive, and the driving IC is usually connected to the bonding pad using an anisotropic conductive film. As such, the ICs used in the COG method are TAB bares and COG dedicated ICs in which the film carrier is removed in the TAB method. Here, a TAB control IC is usually used because it is difficult to manufacture a dedicated COG IC.
도 1은 종래의 COG 방식의 LCD 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.1 is a plan view schematically showing a conventional COG type LCD panel.
도 1을 참조하면, COG 방식의 LCD 패널(1)은 TFT 소자가 형성된 TFT 기판(10)과, TFT 기판(10) 상부면에 부착되며 하부면에 칼라필터 패턴이 형성된 칼라필터 기판(20)으로 구성되어 있다.Referring to FIG. 1, a COG type LCD panel 1 includes a TFT substrate 10 having a TFT element formed thereon, and a color filter substrate 20 attached to an upper surface of the TFT substrate 10 and having a color filter pattern formed on the lower surface thereof. It consists of.
TFT 기판(10)의 세로 방향에는 복수개의 게이트 라인들(13)이 형성되어 있는 게이트 영역(11))이 있고, TFT 기판(10)의 가로 방향에는 복수개의 데이터 라인들(18)이 형성된 데이터 영역(15)이 있다. 여기서, 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(18) 단부 각각에는 구동용 드라이브 IC(미도시)를 부착하기 위한 범프들(19)이 형성되어 있다. 여기서, 게이트 및 데이터 구동 드라이브 IC는 TAB 베어 IC 또는 COG 전용 IC인 것이 바람직하다.There is a gate region 11 in which a plurality of gate lines 13 are formed in a vertical direction of the TFT substrate 10, and data in which a plurality of data lines 18 are formed in a horizontal direction of the TFT substrate 10. There is an area 15. Here, bumps 19 are formed at the ends of the gate lines 13 and the data lines 18 to attach a driving IC (not shown). Here, the gate and data drive drive IC is preferably a TAB bare IC or a COG dedicated IC.
이와 같이 구성된 COG 방식의 LCD 패널을 테스트하기 위해서는 도 3에 도시된 바와 같은 테스트 장치가 이용된다. 도 2는 종래의 도전성 러버 콘택 방식에 적용되는 그로스 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.In order to test the COG type LCD panel configured as described above, a test apparatus as shown in FIG. 3 is used. 2 is a perspective view schematically illustrating a gross test apparatus applied to a conventional conductive rubber contact method.
도 2에 도시된 바와 같이, 그로스 테스트 장치(30)는 소정의 리세스부(38)를 갖는 베이스 플레이트(31)가 있고, 베이스 플레이트(31)의 리세스부(38) 상부면 각 변에는 LCD 패널(1)을 수용하여 테스트하기 위한 인쇄회로 기판들(33)이 소정 높이로 돌출되어 있으며, 각각의 인쇄회로 기판들(33) 가장자리에는 LCD 패널(1)이 인쇄회로 기판들(33)에서 이탈되는 것을 방지하기 위한 턱부(35)가 형성되어 있다.As shown in FIG. 2, the gross test apparatus 30 has a base plate 31 having a predetermined recessed portion 38, and each side of the upper surface of the recessed portion 38 of the base plate 31 is provided. The printed circuit boards 33 for accommodating and testing the LCD panel 1 protrude to a predetermined height, and the LCD panel 1 is printed circuit boards 33 at the edge of each printed circuit board 33. The jaw portion 35 is formed to prevent the departure from.
또한, LCD 패널(1)의 게이트 영역(11)과 데이터 영역(15)이 접촉되는 인쇄회로 기판들(33) 상부면에는 도전성 고무(37)가 부착되어 있으며, 각각의 인쇄회로 기판들(33)에는 도전성 고무(37)에 전원을 인가하기 위한 전선(39)이 설치되어 있다.In addition, conductive rubbers 37 are attached to upper surfaces of the printed circuit boards 33 to which the gate area 11 and the data area 15 of the LCD panel 1 come into contact with each other. ) Is provided with an electric wire 39 for applying electric power to the conductive rubber 37.
또한, 베이스 플레이트(31) 일측면에는 그로스 테스트시 베이스 플레이트(31) 전면을 덮도록 커버(43)가 힌지되어 있고, 커버(43) 하부면에는 각각의 인쇄회로 기판들(33)에 대응되도록 사각형상의 가압부(45)가 돌출되어 있다.In addition, the cover 43 is hinged on one side of the base plate 31 so as to cover the front surface of the base plate 31 during the gross test, and the lower surface of the cover 43 corresponds to each of the printed circuit boards 33. The rectangular pressing part 45 protrudes.
이와 같이 구성된 LCD 패널의 그로스 테스트 방법을 설명하면 다음과 같다.The gross test method of the LCD panel configured as described above is as follows.
먼저, 테스트할 LCD 패널(30)을 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 올려놓는데, 이때, 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(15)의 단부에 형성되어 있는 각각의 범프들(19)은 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 부착된 도전성 고무(37)와 접촉된다.First, the LCD panel 30 to be tested is placed on the upper surface of the printed circuit boards 33, wherein each bumps 19 formed at the ends of the gate lines 13 and the data lines 15 are placed. ) Is in contact with the conductive rubber 37 attached to the upper surfaces of the printed circuit boards 33.
이후, 일측이 힌지고정된 커버(43)로 베이스 플레이트(31) 전면을 덮게 되면 커버(43)로부터 돌출 형성된 가압부(45)는 LCD 패널(1)을 가압하여 복수개의 범프들(19)을 도전성 고무(57)에 밀착시킨다.Subsequently, when one side covers the front surface of the base plate 31 with the hinged cover 43, the pressing unit 45 protruding from the cover 43 presses the LCD panel 1 to press the plurality of bumps 19. It comes in close contact with the conductive rubber 57.
이어서, 도전성 고무(37)에 전압을 인가하면 도전성 고무(37)에 첨가되어 있던 도전성 입자들(미도시)에 전압이 인가되고 도전성 입자들과 접촉되어 있는 각각의 게이트 라인(13) 및 데이터 라인들(15)의 범프들(19)은 도전성 입자에 의해서 전압이 공급된다. 이때, 테스트하고자 하는 LCD 패널(1)이 예를 들어, 노말 화이트 상태의 LCD 패널(1)인 경우 전압이 인가되면 블랙 상태로 디스플레이되지만, 복수개의 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(18)중 어느 한 라인에 불량이 발생되면 그 라인에만 전압이 인가되지 않으므로 그 부분만이 화이트 상태로 존재하게 되어 LCD 패널(1) 불량 유무를 확인할 수 있다.Subsequently, when a voltage is applied to the conductive rubber 37, a voltage is applied to the conductive particles (not shown) added to the conductive rubber 37, and the respective gate lines 13 and data lines are in contact with the conductive particles. The bumps 19 of the fields 15 are energized by conductive particles. In this case, when the LCD panel 1 to be tested is, for example, the LCD panel 1 in a normal white state, the display is displayed in a black state when a voltage is applied, but the plurality of gate lines 13 and data lines 18 are displayed. If a defect occurs in any one of the lines, the voltage is not applied to only that line, so only that part is present in the white state, so that the LCD panel 1 can be checked for defects.
그러나, 피치가 넓은 TAB용 베어 IC를 사용하는 COG 방식의 LCD 패널은 게이트 라인 및 데이터 라인의 TAB 베어 IC 실장 영역(17)이 COG 전용 IC를 사용하는 LCD 패널에 형성되어 있는 COG 전용 IC 실장 영역 보다 크다. 이 때문에 게이트 라인 및 데이터 라인 단부에 형성되어 있는 범프들을 균일하게 가압하지 못하여 도전성 고무에 밀착되지 않는 게이트 라인 및 데이터 라인이 발생되어 제품의 신뢰도가 저하되는 문제점이 있었다.However, in the COG type LCD panel using the wide pitch TAB bare IC, the COG dedicated IC mounting area in which the TAB bare IC mounting area 17 of the gate line and data line is formed in the LCD panel using the COG dedicated IC is used. Greater than For this reason, the bumps formed at the ends of the gate line and the data line may not be uniformly pressed, so that the gate line and the data line which do not come into close contact with the conductive rubber are generated, thereby reducing the reliability of the product.
또한, 피치가 작은 COG 전용 IC를 사용하는 LCD 패널의 경우 게이트 라인 및 데이터 라인 단부에 형성되어 있는 범프의 면적이 작기 때문에 범프를 도전성 고무에 접촉시키는데 어려움이 있어 게이트 라인 및 데이터 라인중 도전성 고무에 접촉되지 않는 라인이 발생되어 제품의 신뢰도가 저하되는 문제점이 있었다.In addition, LCD panels that use COG dedicated ICs with small pitches have difficulty in contacting the bumps with the conductive rubber because of the small area of the bumps formed at the ends of the gate lines and data lines. There was a problem in that the reliability of the product is lowered due to the non-contact line is generated.
따라서, 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로써, 게이트 라인 및 데이터 라인에 형성된 범프에서 게이트 라인 및 데이터 라인들을 소정길이 연장하고 본딩 패드 보다 면적이 넓은 그로스 테스트용 본딩 패드들을 밀집시켜 형성하여 제품의 신뢰성를 향상시킨 액정 표시 장치의 범프 구조를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention has been devised in view of the above problems, and extends the gate lines and data lines by a predetermined length in bumps formed on the gate lines and data lines, and bonds pads for growth test having a larger area than the bonding pads. The present invention provides a bump structure of a liquid crystal display device which is formed by densely improving the reliability of a product.
도 1은 종래의 COG 방식의 LCD 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이고,1 is a plan view schematically showing a conventional COG type LCD panel,
도 2는 종래의 도전성 러버 콘택 방식에 적용되는 그로스 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이며,Figure 2 is a perspective view schematically showing a gross test apparatus applied to a conventional conductive rubber contact method,
도 3은 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 평면도이다.3 is a plan view schematically showing the structure of a liquid crystal display according to the present invention.
이와 같은 목적을 달성하기 위해서 본 발명은 상부면에 TFT 소자가 형성되어 있고 측면에 게이트 라인들 및 데이터 라인들이 형성된 게이트 영역 및 데이터 영역으로 구성된 TFT 기판과, 상기 TFT 기판 상부면에 부착되며 하부면에 칼라 필터 패턴이 형성된 칼라 필터 기판을 포함하는 액정 표시 장치에 있어서,In order to achieve the above object, the present invention provides a TFT substrate including a gate region and a data region in which a TFT element is formed on an upper surface and gate lines and data lines are formed on a side thereof, and is attached to an upper surface of the TFT substrate. In the liquid crystal display device containing the color filter substrate in which the color filter pattern was formed,
상기 게이트 라인들 및 상기 데이터 라인들 단부에 형성되어 있는 범프에서 상기 게이트 라인 및 상기 데이터 라인을 소정 길이 연장하고 상기 연장된 상기 게이트 라인 및 상기 데이터 라인 말단에 상기 범프 보다 면적이 넓은 그로스 테스트용 범프가 밀집되어 형성된 것을 특징으로 한다.A bump for growth test which extends the gate line and the data line by a predetermined length from the bumps formed at the end of the gate lines and the data lines, and has a larger area than the bump at the ends of the extended gate line and the data line. It is characterized in that the densely formed.
이하 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 그로스 테스트에 대해 첨부된 도면 도 2 및 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the gross test of the liquid crystal display according to the present invention will be described with reference to FIGS. 2 and 3.
도 3은 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 평면도이다.3 is a plan view schematically showing the structure of a liquid crystal display according to the present invention.
도시된 바와 같이 COG 방식의 LCD 패널(100)은 TFT 소자가 형성된 TFT 기판(110)과, TFT 기판(110) 상부면에 부착되며 하부면에 칼라필터 패턴이 형성된 칼라필터 기판(130)으로 구성되어 있다.As shown, the COG type LCD panel 100 includes a TFT substrate 110 having a TFT element formed thereon, and a color filter substrate 130 attached to an upper surface of the TFT substrate 110 and having a color filter pattern formed on the lower surface thereof. It is.
TFT 기판(110)의 세로 방향에는 복수개의 게이트 라인들(113)이 형성되어 있는 게이트 영역(111)이 있고, TFT 기판(111)의 가로 방향에는 복수개의 데이터 라인(121)이 형성된 데이터 영역(115)이 있다. 여기서, 게이트 라인(113) 및 데이터 라인들(121) 단부 각각에는 구동용 드라이브 IC(미도시)를 부착하기 위한 범프들(123)이 형성되어 있다. 또한, 각각의 범프들(123) 단부에서 게이트 라인(113´) 및 데이터 라인들(121´)이 소정 길이 연장되어 있고, 연장된 각각의 게이트 라인(113´) 및 데이터 라인들(121´) 단부에는 각각의 범프들(123) 보다 면적이 큰 그로스 테스트용 범프들(125)이 임의의 영역에 밀집되어 형성되어 있다.There is a gate region 111 in which a plurality of gate lines 113 are formed in the vertical direction of the TFT substrate 110, and a data region in which a plurality of data lines 121 are formed in a horizontal direction of the TFT substrate 111. 115). Here, bumps 123 for attaching a driving driver IC (not shown) are formed at each end of the gate line 113 and the data lines 121. In addition, at the end of each bump 123, the gate line 113 ′ and the data lines 121 ′ extend a predetermined length, and each of the extended gate lines 113 ′ and the data lines 121 ′ is extended. At the end, the growth test bumps 125 having a larger area than the respective bumps 123 are densely formed in an arbitrary region.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 COG 방식의 LCD 패널을 테스트하기 위한 그로스 테스트 장치는 도 2에 도시된 종래의 그로스 테스트 장치와 구조가 동일하므로 생략하기로 하고 도 2를 참조하여 그로스 테스트 방법에 대해 설명하면 다음과 같다.The gross test apparatus for testing a COG type LCD panel according to the present invention configured as described above has the same structure as the conventional gross test apparatus shown in FIG. 2 and will be omitted, and the gross test method will be described with reference to FIG. 2. Is as follows.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 LCD 패널의 그로스 테스트 방법을 설명하면 다음과 같다.Referring to the gross test method of the LCD panel according to the present invention configured as described above are as follows.
먼저, 테스트할 COG 방식의 LCD 패널(100)을 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 올려놓는데, 이때, LCD 패널(100)의 게이트 라인(113) 및 데이터 라인들(121) 각각에서 연장되어 형성된 그로스 테스트용 범프들(125)이 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 부착된 도전성 고무(37)와 접촉된다.First, the COG type LCD panel 100 to be tested is placed on the upper surfaces of the printed circuit boards 33. At this time, the LCD panel 100 extends from each of the gate line 113 and the data lines 121 of the LCD panel 100. The formed growth test bumps 125 are in contact with the conductive rubber 37 attached to the upper surfaces of the printed circuit boards 33.
이후, 일측이 힌지고정된 커버(43)로 베이스 플레이트(31) 전면을 덮게 되면 커버(43)로부터 돌출 형성된 가압부(45)는 LCD 패널(100)을 가압하여 복수개의 그로스 테스트용 범프들(125)을 도전성 고무(37)에 밀착시킨다. 이와 같이 가압부(45)가 그로스 테스트용 범프들(125)을 가압하면 임의의 영역에 밀집되어 있는 그로스 테스트용 범프들(125)이 가압부(45)에 의해서 균일하게 가압되며, 또한, 그로스 테스트용 범프들(125)의 면적이 넓어 도전성 입자와 접촉되는 면적이 크므로 그로스 테스트용 범프들(125)의 오접촉을 방지할 수 있다.Subsequently, when one side covers the front surface of the base plate 31 with the hinged cover 43, the pressing unit 45 protruding from the cover 43 presses the LCD panel 100 to press the plurality of gross test bumps ( 125 is brought into close contact with the conductive rubber 37. As such, when the pressing unit 45 presses the growth test bumps 125, the growth test bumps 125, which are concentrated in an arbitrary region, are uniformly pressed by the pressing unit 45, and further, the growth Since the area of the test bumps 125 is large and the area of contact with the conductive particles is large, erroneous contact of the gross test bumps 125 may be prevented.
이어서, 도전성 고무(37)에 전압을 인가하면 도전성 고무(37)에 첨가되어 있는 도전성 입자들(미도시)에 전압이 인가되고 도전성 입자들과 접촉되어 있는 각각의 그로스 테스트용 범프들(125)은 도전성 입자에 의해서 전압이 공급된다. 이때, 테스트하고자 하는 LCD 패널(100)이 예를 들어, 노말 화이트 상태의 LCD 패널(100)인 경우 전압이 인가되면 블랙 상태로 디스플레이되지만, 복수개의 게이트 라인(113) 또는 데이터 라인들(1211)중 어느 한 라인이 불량이면 그 라인에만 전압이 인가되지 않으므로 그 부분만이 화이트 상태로 존재하게 되어 LCD 패널(100) 불량 유무를 확인할 수 있다.Subsequently, when a voltage is applied to the conductive rubber 37, each of the gross test bumps 125 is applied to the conductive particles (not shown) added to the conductive rubber 37 and is in contact with the conductive particles. Voltage is supplied by silver electroconductive particle. In this case, when the LCD panel 100 to be tested is, for example, the LCD panel 100 in a normal white state, the display is displayed in a black state when a voltage is applied, but the plurality of gate lines 113 or data lines 1211 are displayed. If any one of the lines is defective, no voltage is applied to only that line, so only that portion is present in the white state, so that the LCD panel 100 can be checked for defects.
이와 같이 범프 말단에서 게이트 라인 및 데이터 라인을 소정길이 연장하여 범프보다 면적이 큰 그로스 테스트용 범프를 임의의 영역에 밀집하여 형성함으로써 TAB용 베어(bare) IC를 사용하는 COG 방식의 LCD 패널이나 COG 전용 IC를 사용하는 LCD 패널을 그로스 테스트할 경우 구동 드라이브 IC 실장 영역과 범프 면적으로 인해 게이트 라인 및 데이터 라인에 형성되어 있는 범프들이 도전성 고무에 오접속되는 것을 방지할 수 있다.In this way, the gate line and the data line are extended by a predetermined length from the bump end to form a dense gross test bump larger in area than the bump in an arbitrary area, thereby forming a COG type LCD panel or COG using a bare IC for TAB. When gross testing LCD panels using dedicated ICs, the bumps formed on the gate lines and data lines can be prevented from being misconnected to the conductive rubber due to the drive drive IC mounting area and the bump area.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 COG 방식의 LCD 패널을 그로스 테스트하기 위해서 게이트 및 데이터 라인들 단부에 형성되어 있는 각각의 범프들에서 게이트 및 데이터 라인들을 소정길이 연장하고 그 말단에 범프보다 면적이 큰 그로스 테스트용 범프들을 밀집시켜 형성함으로써, 그로스 테스트할 경우 구동 드라이브 IC 실장 영역과 범프 면적으로 인해 게이트 라인 및 데이터 라인에 형성되어 있는 범프들이 도전성 고무에 오접촉되는 것을 방지하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention extends the gate and data lines by a predetermined length in each of the bumps formed at the ends of the gate and the data lines to grossly test the COG type LCD panel, and has a larger area than the bumps at the ends thereof. Gross test bumps are densely formed to improve product reliability by preventing bumps formed in the gate line and data line from contacting the conductive rubber due to the drive drive IC mounting area and the bump area during the gross test. It can be effective.
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
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| KR100973803B1 (en) * | 2003-07-24 | 2010-08-03 | 삼성전자주식회사 | Liquid crystal display |
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