KR19980041088A - 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법 - Google Patents

박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR19980041088A
KR19980041088A KR1019960060357A KR19960060357A KR19980041088A KR 19980041088 A KR19980041088 A KR 19980041088A KR 1019960060357 A KR1019960060357 A KR 1019960060357A KR 19960060357 A KR19960060357 A KR 19960060357A KR 19980041088 A KR19980041088 A KR 19980041088A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
semiconductor layer
layer pattern
gate line
tft
forming
Prior art date
Application number
KR1019960060357A
Other languages
English (en)
Inventor
김철하
서영우
Original Assignee
엄길용
오리온전기 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엄길용, 오리온전기 주식회사 filed Critical 엄길용
Priority to KR1019960060357A priority Critical patent/KR19980041088A/ko
Priority to TW085116327A priority patent/TW348323B/zh
Priority to PCT/KR1996/000279 priority patent/WO1998023997A1/en
Publication of KR19980041088A publication Critical patent/KR19980041088A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78696Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film characterised by the structure of the channel, e.g. multichannel, transverse or longitudinal shape, length or width, doping structure, or the overlap or alignment between the channel and the gate, the source or the drain, or the contacting structure of the channel
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66007Multistep manufacturing processes
    • H01L29/66075Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
    • H01L29/66227Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
    • H01L29/66409Unipolar field-effect transistors
    • H01L29/66477Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
    • H01L29/66742Thin film unipolar transistors
    • H01L29/6675Amorphous silicon or polysilicon transistors
    • H01L29/66765Lateral single gate single channel transistors with inverted structure, i.e. the channel layer is formed after the gate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78606Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device
    • H01L29/78618Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film with supplementary region or layer in the thin film or in the insulated bulk substrate supporting it for controlling or increasing the safety of the device characterised by the drain or the source properties, e.g. the doping structure, the composition, the sectional shape or the contact structure
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

본 발명은 TFT-LCD 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 게이트 라인 상에 중첩되게 반도체층 패턴을 형성하되, 데이타 라인과 중첩되는 부분에서는 데이타 라인방향으로 양측으로 돌출되도록 하고, 타측에서는 한 방향으로만 돌출되어 전체적으로 J자 형성이 되도록 형성한 후, 상기 반도체층 패턴의 일측과 중첩되어 접촉되는 데이타 라인을 형성하고, 타측으로는 화소전극과 연결시켰으므로, 제조 공정이 간단하여 수율이 향상되며, 개구율이 증가되어 화질 및 휘도 등이 향상된다.

Description

박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법
본 발명은 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 TFT라 칭함)를 화소의 스위칭 소자로 사용하는 TFT형 액정표시장치(Liquid Crystal Display; 이하 LCD라 칭함) 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 특히 게이트전극이 채널의 하부에 형성되는 하부 게이트형 TFT에서 게이트라인 상부에 채널이 되는 반도체층 패턴을 형성하되, 데이타 라인과 중첩되는 부분에는 양측으로 게이트 라인을 벗어나게 형성하고 화소전극과 연결되는 부분도 일측으로 돌출되게 형성함으로써 제조 공정이 간단하고, 게이트라인과 데이타 라인간의 단락을 방지하며, TFT가 차지하는 면적을 감소시켜 개구율을 향상시킬 수 있는 TFT LCD 및 그 제조방법을 제공함에 있다.
평판표시장치(Flat Panel Display)의 일종인 LCD는 액체의 유동성과 결정의 광학적 성질을 겸비하는 액정(Liquid Crystal)에 전계를 인가하여 광학적 이방성을 변화시켜 얻어지는 명암의 차이로 화상을 얻는 장치로서, 사용되는 액정의 종류에 따라 TN(Twisted Nematic), STN(Super TN), 강유전성(Ferroelectric) LCD 등으로 나누어지고, 화소의 스위칭 소자인 TFT를 각 화소마다 내장하는 TFT LCD 등이 사용되고 있다.
이러한 LCD는 종래 음극선관(Cathode Ray Tube)에 비해 소비전력이 낮고, 경박단소화가 용이하며 칼라화, 대형화 및 고정세화가 가능하여 차츰 사용 범위가 넓어지고 있으며, 최근에는 액정의 응답속도가 빠르고 고화질화에 유리한 TFT-LCD가 주목받고 있다.
상기의 LCD는 각각 투명전극 패턴들이 형성되어 있는 상.하측 기판의 사이에 액정이 밀봉되어 있는 형태로 구성되는데, 상기의 LCD는 석영이나 유리 또는 플라스틱 필름 등과 같은 투명 재질의 상.하측기판 상에 인듐.틴.옥사이드(indium thin oxide; 이하 ITO라 칭함)나 SnO2등으로된 화소전극과 공통전극이 되는 투명전극패턴과, 상기 투명전극 패턴의 단락을 방지하기 위한 보호막과, 액정을 일정 방향으로 배열시키기 위한 배향막이 형성되어 있다. 여기서 상기 배향막은 방향성을 주기 위하여 원통형의 코아에 천이 감겨 있는 러빙 롤로 러빙을 실시하여 일정 방향의 골들이 형성되어 있으며, 상기 하측 액정기판에는 칼라 필터가 형성되어 있다.
또한 상기 상.하측기판은 일정한 셀갭을 갖고 실패턴에 의해 봉합되어 있으며, 상기 상.하측기판 사이의 셀갭에는 액정이 밀봉되어 있다.
상기의 LCD는 독립적으로 화면을 나타내지 못하고 발광 소자, 예를 들어 이.엘(electroluminescence; EL) 소자나 발광 다이오드(light emitting diode) 판넬 또는 냉음극선관(Cold Cathode Fluorescence Lamp) 등의 광원을 구비하는 모듈의 형태로 사용되며, 바탕색과 액정 구동 시의 색으로 화면을 구성한다.
여기서 TFT-LCD는 하측기판에 형성되어 있는 각 화소전극의 일측에 화소전극을 스위칭하는 TFT가 형성되어 있으며, 상기의 TFT는 실리콘을 채널층으로하여 게이트가 채널 층의 하부에 형성되는 하부 게이트형과 그 반대인 상부 게이트형이 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 TFT-LCD에서 TFT부분의 레이아웃도로서, 하부 게이트의 예이다.
먼저, 투명한 절연기판(10)상에 일측으로 연장되어 있는 게이트라인(12)과 그 일측이 돌출되어 있는 게이트전극(13)이 형성되어 있으며, 상기 게이트전극(13)의 중앙 부분과 중첩되는 채널이 되는 반도체층 패턴(14)이 사각 형상으로 형성되어 있고, 상기 게이트라인(12)과 직교하는 방향으로 데이타 라인(16)이 형성되어 있으며, 상기 데이타 라인(16)의 일측이 돌출되어 상기 반도체층 패턴(14)과 접속되는 드레인전극(17)이 형성되어 있다. 여기서 상기 게이트라인(12)과 게이트전극(13)상에는 게이트절연막(도시되지 않음)이 형성되어 있어 반도체층 패턴(14) 및 데이타 라인(16)과를 절연시킨다.
또한 상기 게이트라인(12)과 데이타 라인(16)이 직교하며 형성되는 공간의 절연기판(10)상에 투명전극 패턴으로된 화소전극(18)이 형성되어 있고, 상기 화소전극(18)과 반도체층 패턴(14)을 연결하는 소오스전극(19)이 형성되어 있다.
상기와 같은 종래 기술에 따른 TFT LCD의 제조 공정을 살펴보면, 절연 기판상에 화소전극 패턴닝 → 게이트라인과 게이트전극 패턴닝 → 게이트절연막 증착 → 반도체층 패턴닝 → 절연막 전면 증착 및 소오스/드레인 콘택홀 형성 → 데이타라인 및 소오스/드레인전극 패턴닝 등의 여러 마스크를 사용하는 공정 단계를 거치므로 제조 공정이 복잡하여 수율이 떨어지고, 제조단가가 상승하는 문제점이 있다.
또한 게이트전극 양측에 형성되는 소오스/드레인전극의 콘택 형성시 오정렬에 의해 배선간 단락이 일어나기 쉬워 공정수율이 떨어지는 다른 문제점이 있다.
또한 종래에는 TFT가 게이트라인 및 데이타 라인과 떨어져 따로 형성되는데, 이 부분은 블랙 메트릭스로 덮어지므로 개구율이 떨어져 화질 및 휘도가 저하되는 또 다른 문제점이 있다.
이러한 개구율 저하를 방지하기 위하여 도 2에 도시되어 있는 바와 같이, 별도의 게이트 전극을 형성하지 않고 게이트라인(12)의 일부를 게이트 전극으로 사용하여 게이트라인(12)상에 반도체층 패턴(14)을 형성하고, 상기 반도체층 패턴(14)의 일측을 소오스전극(19)으로 화소전극(18)과 연결시키며, 데이타 라인(16)의 일측을 돌출시켜 드레인전극(17)으로서 반도체층 패턴(14)의 타측과 연결시키는 구조가 제안되어 있으나, 이 구조도 돌출된 드레인전극에 의해 개구율이 떨어지고, 소오스전극 및 소오스/드레인 콘택을 모두 별도로 형성하여야 하므로 공정이 복잡하여 수율이 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 게이트 라인 상에 반도체층 패턴을 형성하고, 상기의 반도체층 패턴이 데이타 라인과 중첩되도록 형성하여 TFT가 배선라인 상에 위치하여 개구율을 향상시켜 소자동작의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 TFT LCD를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 소오스/드레인전극을 따로 형성하지 않아 제조 공정이 간단하고, 개구율이 향상되어 공정수율 및 소자 동작의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 TFT LCD의 제조방법을 제공함에 있다.
도 1은 종래 기술의 일 실시예에 따른 TFT-LCD의 레이아웃도.
도 2는 종래 기술의 다른 실시예에 따른 TFT-LCD의 레이아웃도.
도 3은 본 발명에 따른 TFT-LCD의 레이아웃도.
도 4는 도 3에서의 선 I-I에 따른 단면도.
도 5a 내지 도 5d는 본 발명에 따른 TFT-LCD의 제조 공정도.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
10 : 절연기판12 : 반도체층 패턴
13 : 게이트전극14 : 게이트 라인
16 : 데이타 라인17 : 드레인 전극
18 : 화소전극19 : 소오스전극
22 : 게이트절연막24 : 고농도불순물영역
26 : 소오스/드레인 콘택홀28 : 절연막
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 TFT-LCD의 특징은,
절연 기판상에 일측으로 연장되어 있는 게이트라인과,
상기 게이트라인과 중첩되며 일측의 데이타 라인과 중첩되는 부분에서는 양방향으로 돌출되어 있고, 화소전극과의 접촉을 위하여 타측이 한 방향으로 돌출되어 있는 반도체층 패턴과,
상기 게이트라인과 직교하는 방향으로 형성되고, 상기 반도체층 패턴 일측의 양측으로 돌출되어 있는 부분에서 중첩되어 서로 상하로 접촉되는 데이타 라인과,
상기 반도체층 패턴 타측에 돌출되어 있는 부분에서 접촉되는 화소전극을 구비함에 있다.
다른 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 TFT LCD 제조 방법의 특징은,
절연 기판상에 게이트 라인을 형성하는 공정과,
상기 구조의 전표면에 게이트절연막을 형성하는 공정과,
상기 게이트라인과 중첩되되, 일측은 양방향으로 돌출되어 있고, 타측은 한방향으로만 돌출되어 있는 반도체층 패턴을 형성하는 공정과,
상기 반도체층 패턴에서 게이트라인과 중첩되지 않는 부분에 고농도 불순물영역을 형성하는 공정과,
상기 반도체층 패턴 상에 절연막을 형성하는 공정과,
상기 고농도 불순물영역상의 절연막을 제거하여 소오스/드레인 콘택홀을 형성하는 공정과,
상기 게이트라인과 직교하여 상기 노출된 고농도 불순물영역과 접촉되는 데이타 라인을 형성하는 공정을 구비함에 있다.
이하, 본 발명에 따른 TFT-LCD 및 그 제조방법에 관하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 TFT LCD의 레이아웃도로서, 하나의 화소를 도시한 예이다.
먼저, 투명 재질, 예를 들어 유리나 석영 또는 플라스틱 재질의 절연기판(10)상에 일측으로 연장되어 있는 게이트라인(12)이 Al, W, Ti, Cr 등의 합금으로 형성되어 있으며, 상기 게이트라인(12)과 중첩되는 채널이 되는 반도체층 패턴(14)이 다결정이나 비정질 또는 마이크로 크리스탈 실리콘으로 소정 형상, 예를 들어 중앙의 직사각 형상에서 데이타 라인과 중첩되는 부분에서는 수직한 방향으로 일측이 양방향으로 돌출되어 있고, 화소전극과의 접촉을 위하여 타측이 한 방향으로 돌출되어 있어 전체적으로 J자 형상으로 형성되어 있다. 여기서 상기 게이트라인(12)과 중첩되지 않고 돌출된 세부분에는 소오스/드레인 영역이 되는 고농도 불순물층(24)이 형성되어 있다.
또한 상기 게이트라인(12)과 직교하는 방향으로 데이타 라인(16)이 형성되되, 상기 반도체층 패턴(14) 일측의 양측으로 돌출되어 있는 부분에서 중첩되어 서로 상하로 접촉되고, 상기 게이트라인(12)과 데이타 라인(16)에 의해 형성되는 중앙 공간부의 절연기판(10)상에는 화소전극(18)이 형성되고, 상기의 화소전극(18)은 상기 게이트라인(12) 타측의 일측으로 돌출되어 있는 부분과 접촉되어 있다.
상기의 레이아웃을 가지는 TFT LCD는 TFT가 차지하는 면적이 거의 없고, 게이트라인과 데이타라인의 사이에 반도체층 패턴이 개재되어 있어 토폴로지가 양호하므로 패턴닝 상의 불량 발생도 방지할 수 있다.
도 5a 내지 도 5c는 본 발명에 따른 TFT LCD의 제조 공정도이다.
먼저, 투명한 절연기판(10)상에 게이트 라인(12)을 형성하고, 상기 구조의 전표면에 산화규소나 질화규소로 게이트절연막(22)을 형성하며, 상기 게이트라인(12)상에 반도체층 패턴(14)을 형성하되 도 3에 도시되어 있는 바와 같이 전체적으로 J자 형상으로 형성한다 (도 5a 참조).
그다음 상기 반도체층 패턴(14)에서 게이트라인(12)과 중첩되지 않는 부분에는 As, P 또는 B 등의 불순물을 고농도로 이온주입하여 오옴믹 접촉을 위한 고농도 불순물 영역(24)을 형성한 후, 상기 반도체층 패턴(14)상에 산화규소나 질화규소 재질의 절연막(28)을 형성한다. 여기서는 반도체층 패턴(14) 표면에만 절연막(28)을 형성하였으나, 전표면에 형성할 수도 있다 (도 5b 참조).
그 후, 상기 반도체층 패턴(14)에서 소오스/드레인전극과의 콘택으로 예정되어 있는 부분상의 절연막(28)을 제거하여 콘택홀(26)을 형성하여 상기 고농도불순물영역(24)을 노출시킨다. 이때 상기 데이타 라인(16)과의 콘택을 J자형 반도체층 패턴(14)에서 양측으로 돌출되어 있는 부분 모두에 형성하여 콘택 저항을 감소시킬 수도 있다 (도 5c 참조).
그다음 상기 게이트라인(12)과 직교하여 상기 반도체층 패턴(14)과 접촉되는 데이타 라인(16)을 형성하고, 상기 게이트라인(12)과 데이타 라인(16)이 직교하여 형성되는 공간에 ITO SnO2등의 투명 도전재질로된 화소전극(18)을 형성하되, 상기 소오스/드레인 콘택홀(26)을 통하여 고농도 불순물영역(24)과 접촉되도록 형성한다. 여기서 상기 화소전극(18)은 미리 형성할 수도 있고, 이 경우에는 콘택을 위한 소오스전극을 별도로 형성하여야 한다 (도 5d 참조).
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 TFT-LCD 및 그 제조방법은 게이트 라인 상에 중첩되게 반도체층 패턴을 형성하되, 데이타 라인과 중첩되는 부분에서는 데이타 라인 방향으로 양측으로 돌출되도록 하고, 타측에서는 한 방향으로만 돌출되어 전체적으로 J자 형상이 되도록 형성한 후, 상기 반도체층 패턴의 일측과 중첩되어 접촉되는 데이타 라인을 형성하고, 타측으로는 화소전극과 연결시켰으므로, 제조 공정이 간단하여 수율이 향상되며, 개구율이 증가되어 화질 및 휘도 등이 향상되는 이점이 있다.

Claims (10)

  1. 절연 기판상에 일측으로 연장되어 있는 게이트라인과,
    상기 게이트라인과 중첩되며 일측의 데이타 라인과 중첩되는 부분에서는 양방향으로 돌출되어 있고, 화소전극과의 접촉을 위하여 타측이 한 방향으로 돌출되어 있는 반도체층 패턴과,
    상기 게이트라인과 직교하는 방향으로 형성되고, 상기 반도체층 패턴 일측의 양측으로 돌출되어 있는 부분에서 중첩되어 서로 상하로 접촉되는 데이타 라인과,
    상기 반도체층 패턴 타측에 돌출되어 있는 부분에서 접촉되는 화소전극을 구비하는 TFT LCD.
  2. 제1항에 있어서, 상기 절연기판이 유리나 석영 또는 플라스틱으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 TFT LCD.
  3. 제1항에 있어서, 상기 게이트라인이 Al, W, Ti 또는 Cr 합금중 어느 하나로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 TFT LCD.
  4. 제1항에 있어서, 상기 반도체층 패턴이 다결정이나 비정질 또는 마이크로 크리스탈 실리콘중 어느 하나로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 TFT LCD.
  5. 제1항에 있어서, 상기 화소전극이 ITO 또는 SnO2로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 TFT LCD.
  6. 절연 기판상에 게이트 라인을 형성하는 공정과,
    상기 구조의 전표면에 게이트절연막을 형성하는 공정과,
    상기 게이트라인과 중첩되되, 일측을 양방향으로 돌출되어 있고, 타측은 한방향으로만 돌출되어 있는 반도체층 패턴을 형성하는 공정과,
    상기 반도체층 패턴에서 게이트라인과 중첩되지 않는 부분에 고농도 불순물 영역을 형성하는 공정과,
    상기 반도체층 패턴 상에 절연막을 형성하는 공정과,
    상기 고농도 불순물영역상의 절연막을 제거하여 소오스/드레인 콘택홀을 형성하는 공정과,
    상기 게이트라인과 직교하여 상기 노출된 고농도 불순물영역과 접촉되는 데이타 라인을 형성하는 공정을 구비하는 TFT LCD의 제조방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 게이트절연막을 산화 규소 또는 질화 규소로 형성하는 것을 특징으로 하는 TFT LCD의 제조방법.
  8. 제6항에 있어서, 상기 고농도 불순물영역을 As, P 또는 B로 형성하는 것을 특징으로 하는 TFT LCD의 제조방법.
  9. 제6항에 있어서, 상기 반도체층 패턴의 타측과 접촉되는 화소전극을 게이트라인 형성 전에 형성하고, 별도의 소오스전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 TFT LCD의 제조방법.
  10. 제6항에 있어서, 상기 반도체층 패턴의 하측과 접촉되는 화소전극을 소오스/드레인 콘택홀 형성후에 형성하여 소오스 전극도 함께 형성되도록 하는 것을 특징으로 하는 TFT LCD의 제조방법.
KR1019960060357A 1996-11-30 1996-11-30 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법 KR19980041088A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960060357A KR19980041088A (ko) 1996-11-30 1996-11-30 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법
TW085116327A TW348323B (en) 1996-11-30 1996-12-31 Thin film transistor-liquid crystal display and method of fabricating the same
PCT/KR1996/000279 WO1998023997A1 (en) 1996-11-30 1996-12-31 Thin film transistor-liquid crystal display and method of fabricating the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960060357A KR19980041088A (ko) 1996-11-30 1996-11-30 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980041088A true KR19980041088A (ko) 1998-08-17

Family

ID=19485009

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960060357A KR19980041088A (ko) 1996-11-30 1996-11-30 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법

Country Status (3)

Country Link
KR (1) KR19980041088A (ko)
TW (1) TW348323B (ko)
WO (1) WO1998023997A1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100379291B1 (ko) * 1999-04-27 2003-04-10 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 액정 디스플레이 장치용 박막 트랜지스터 어레이
KR100542303B1 (ko) * 1998-08-24 2006-04-06 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정 표시 장치

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1296765C (zh) * 2003-03-18 2007-01-24 友达光电股份有限公司 一种薄膜晶体管液晶显示器面板的制作方法
US8988624B2 (en) 2011-06-23 2015-03-24 Apple Inc. Display pixel having oxide thin-film transistor (TFT) with reduced loading
CN102368499B (zh) * 2011-10-27 2014-04-16 深圳市华星光电技术有限公司 Tft阵列基板及液晶面板

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3200639B2 (ja) * 1992-05-19 2001-08-20 カシオ計算機株式会社 薄膜トランジスタパネルの製造方法
KR970006733B1 (ko) * 1993-12-14 1997-04-29 엘지전자 주식회사 박막트랜지스터 제조방법
JPH08240817A (ja) * 1995-12-21 1996-09-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd アクティブマトリクス表示装置の作製方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100542303B1 (ko) * 1998-08-24 2006-04-06 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정 표시 장치
KR100379291B1 (ko) * 1999-04-27 2003-04-10 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 액정 디스플레이 장치용 박막 트랜지스터 어레이

Also Published As

Publication number Publication date
WO1998023997A1 (en) 1998-06-04
TW348323B (en) 1998-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11036098B2 (en) Liquid crystal display device having rectangular-shaped pixel electrodes overlapping with comb-shaped counter electrodes in plan view
KR100675631B1 (ko) 횡전계방식 액정표시장치 및 그 제조방법
US7130010B2 (en) Array substrate for in-plane switching liquid crystal display device and method of fabricating the same with polycrystalline silicon pixel electrode
KR100611697B1 (ko) 화소 암점화 방법
US6853427B2 (en) Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
US8350975B2 (en) Array substrate and method for manufacturing the same
US20030122990A1 (en) Array substrate for in-plane switching mode liquid crystal display device and method of fabricating the same
CN1637474B (zh) 液晶显示器件及其制造方法
KR19980041088A (ko) 박막트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법
US6757033B2 (en) Liquid crystal display device and method for manufacturing the same
KR20010016714A (ko) 액정 표시장치
US6906760B2 (en) Array substrate for a liquid crystal display and method for fabricating thereof
KR0151876B1 (ko) 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
KR19980023377A (ko) 박막 트랜지스터 액정표시장치의 박막 트랜지스터 제조방법
KR100412121B1 (ko) 박막 트랜지스터의 제조방법
KR19980023376A (ko) 박막 트랜지스터 액정표시장치의 박막 트랜지스터 제조방법
KR0151877B1 (ko) 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
KR0174031B1 (ko) 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
KR100446384B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이의 제조방법
KR0174034B1 (ko) 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
KR19980041089A (ko) 박막 트랜지스터 액정표시장치의 박막 트랜지스터 제조방법
KR100517594B1 (ko) 액정표시장치용 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조방법
KR19980023375A (ko) 박막 트랜지스터 액정표시장치의 박막 트랜지스터 제조방법
KR0146252B1 (ko) 액정표시장치용 박막트랜지스터 및 그 제조방법
KR0146249B1 (ko) 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
SUBM Submission of document of abandonment before or after decision of registration